本发明专利技术公开了一种定位方法、装置、电子设备及介质。所述方法包括：基于目标元器件的高度图，确定所述目标元器件的多组等高线轮廓数据；基于候选轮廓的轮廓信息，确定预设高度范围内多组等高线轮廓数据所形成待分类轮廓的属性值；基于各待分类轮廓的属性值，确定各待分类轮廓的类别信息和每类对应的置信度；基于置信度最高的类别所对应的等高线轮廓数据确定所述目标元器件的位置信息。该方法基于目标元器件的高度图得到多组等高线轮廓数据和目标元器件的候选轮廓以对目标元器件定位，能够避免干扰因素带来的影响，增强定位方法的稳定性，同时，通过选取置信度最高的类别所对应的等高线轮廓数据来确定目标元器件的位置信息，提高了定位的准确性。提高了定位的准确性。提高了定位的准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种定位方法、装置、电子设备及介质
[0001]本专利技术涉及检测方法
，尤其涉及一种定位方法、装置、电子设备及介质。
技术介绍
[0002]元器件定位是自动光学检测（Automated Optical Inspection，AOI）过程中十分重要的一步，元器件定位不准确会导致批量性事故和整块印刷电路板组件（Printed Circuit Board Assembly，PCBA）的失效。
[0003]现有的元器件定位方法主要有两种：抽色算法和模板匹配算法。其中，抽色算法为一种抽取符合设定色度范围和亮度范围的图像抽取算法，模板匹配算法则研究某一特定对象物（如元器件）的图案位于图像的位置，进而识别对象物。
[0004]然而，抽色算法对于复杂颜色的PCBA板卡无法准确抽取元器件颜色，降低了元器件定位的准确性；模板匹配算法则依赖于元器件表面的颜色、丝印特征，并且当环境因素（如图像位置、光照）发生变化时，该算法的定位效果大幅度下降，甚至完全失效，故稳定性较差。
技术实现思路
[0005]本专利技术提供了一种定位方法、装置、电子设备及介质，以增强定位方法的准确性和稳定性。
[0006]根据本专利技术的一方面，提供了一种定位方法，包括：基于目标元器件的高度图，确定所述目标元器件的多组等高线轮廓数据，每组等高线轮廓数据为同一高度的数据；基于候选轮廓的轮廓信息，确定预设高度范围内多组等高线轮廓数据所形成待分类轮廓的属性值，所述候选轮廓为从由各组等高线轮廓数据形成的轮廓中选取的轮廓；基于各待分类轮廓的属性值，确定各待分类轮廓的类别信息和每类对应的置信度；基于置信度最高的类别所对应的等高线轮廓数据确定所述目标元器件的位置信息。
[0007]根据本专利技术的另一方面，提供了一种定位装置，包括：第一确定模块，用于基于目标元器件的高度图，确定所述目标元器件的多组等高线轮廓数据，每组等高线轮廓数据为同一高度的数据；第二确定模块，用于基于候选轮廓的轮廓信息，确定预设高度范围内多组等高线轮廓数据所形成待分类轮廓的属性值，所述候选轮廓为从由各组等高线轮廓数据形成的轮廓中选取的轮廓；第三确定模块，用于基于各待分类轮廓的属性值，确定各待分类轮廓的类别信息和每类对应的置信度；第四确定模块，用于基于置信度最高的类别所对应的等高线轮廓数据确定所述目
标元器件的位置信息。
[0008]根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的定位方法。
[0009]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的定位方法。
[0010]本专利技术实施例提供了一种定位方法、装置、电子设备及介质。所述方法包括：基于目标元器件的高度图，确定所述目标元器件的多组等高线轮廓数据，每组等高线轮廓数据为同一高度的数据；基于候选轮廓的轮廓信息，确定预设高度范围内多组等高线轮廓数据所形成待分类轮廓的属性值，所述候选轮廓为从由各组等高线轮廓数据形成的轮廓中选取的轮廓；基于各待分类轮廓的属性值，确定各待分类轮廓的类别信息和每类对应的置信度；基于置信度最高的类别所对应的等高线轮廓数据确定所述目标元器件的位置信息。利用上述技术方案，基于目标元器件的高度图得到多组等高线轮廓数据和目标元器件的候选轮廓以对目标元器件进行定位，能够避免干扰因素带来的影响，增强定位方法的稳定性，同时，通过选取置信度最高的类别所对应的等高线轮廓数据来确定目标元器件的位置信息，提高了定位的准确性。
[0011]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0012]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1是根据本专利技术实施例一提供的一种定位方法的流程图；图2是根据本专利技术实施例二提供的一种定位方法的流程图；图3是根据本专利技术实施例二提供的一种定位方法的流程示意图；图4是根据本专利技术实施例二提供的一种等高线轮廓数据的示意图；图5是根据本专利技术实施例二提供的一种识别出的目标元器件的示意图；图6是根据本专利技术实施例三提供的一种定位装置的结构示意图；图7是实现本专利技术实施例定位方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0014]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是
本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0015]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0016]实施例一图1是根据本专利技术实施例一提供的一种定位方法的流程图，本实施例可适用于对元器件进行定位情况，该方法可以由定位装置来执行，该定位装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，该定位装置可配置于电子设备中。在本实施例中电子设备包括但不限于：计算机、笔记本电脑、平板电脑和/或手机等设备。
[0017]需要说明的是，AOI设备主要是基于光学原理来对印刷电路板（Printed Circuit Board，PCB）（即板卡）焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。在检测前AOI设备需要对标准 PCB 板卡，即标准板卡拍照，并制作标准 PCB 板卡对应的 PCB 板检测程式作为检验标准；在实际测试过程中，待测板卡流入AOI设备后，AOI设备将对待测板卡拍照并依据制作好的检测程式与标准PCB板卡进行对比，来判断待测板卡是否合格。待测板卡内的待定位的元器件可以认为是目标元器件，标准板卡内作为目标元器件参考的元器件可以为基准元器件。在目标元器件的位置信息与基准元器件的位置信息相同，或相差在设定范围内时，可以认为目标元器件的焊接合格。
[0018]其中，元本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种定位方法，其特征在于，包括：基于目标元器件的高度图，确定所述目标元器件的多组等高线轮廓数据，每组等高线轮廓数据为同一高度的数据；基于候选轮廓的轮廓信息，确定预设高度范围内多组等高线轮廓数据所形成待分类轮廓的属性值，所述候选轮廓为从由各组等高线轮廓数据形成的轮廓中选取的轮廓；基于各待分类轮廓的属性值，确定各待分类轮廓的类别信息和每类对应的置信度；基于置信度最高的类别所对应的等高线轮廓数据确定所述目标元器件的位置信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于目标元器件的高度图，确定所述目标元器件的多组等高线轮廓数据，包括：获取目标元器件的高度图中设定等值面的三维数据点；针对每个等值面内的三维数据点，确定每个栅格内的有效数据，所述栅格的大小基于所述高度图的尺寸确定；将每个等值面对应的有效数据映射至三维坐标系下，得到多组等高线轮廓数据。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于候选轮廓的轮廓信息，确定预设高度范围内多组等高线轮廓数据所形成待分类轮廓的属性值，包括：去除由所述多组等高线轮廓数据所形成的轮廓中的干扰轮廓，得到候选轮廓；基于候选轮廓的轮廓信息，确定预设高度范围；确定所述预设高度范围内每组等高线轮廓数据分别形成的待分类轮廓的属性值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于候选轮廓的轮廓信息，确定预设高度范围，包括：基于所述候选轮廓的轮廓信息对应的等高线轮廓数据中高度值的最大值和最小值，确定预设高度范围。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各待分类轮廓的属性值，确定各待分类轮廓的类别信息和每类对应的置信度，包括：基于各待分类轮廓所对应属性值，确定各待分类轮廓间的特征信息；基于各所述特征信息，对各待分类轮廓进行分类得到每个待分类轮廓的类别信息；针对每类轮廓，将对应属性值的加权结果确定为该类的置信度。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述属性值包括第一属性值和第二属性值，所述第一属性值包括外接矩形，所述第二属性值包括面积和周长；相应的，所述基于各待分类轮廓所对应属性值，确定各待分类轮廓间的特征信息，包括：基于各待分类轮廓所对应属性值中的第一属性值，确定各待分类轮廓间的特征信息；相应的，将对应属性值的加权结果...
【专利技术属性】
技术研发人员：林国柱，
申请(专利权)人：广州镭晨智能装备科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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