一种LD激光芯片测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种LD激光芯片测试设备，包括底板、转盘、支架以及安装在支架上测试机构，所述转盘通过传动轴安装在底板上，所述底板上设有驱动转盘转动的驱动件，所述转盘上具有凹槽，所述转盘上通过铰座连接有压杆，所述压杆上具有通槽，所述转盘上设有作用于通槽、使得压杆转动的动力件。本申请中，芯片置于凹槽处，在电动推杆推动连接环在竖直方向上移动的过程中，移动销在通槽内部滑动，压杆带动压块对芯片压紧固定，在驱动件驱动转盘转动的过程中，测试机构对芯片进行检测，相比现有技术中的测试装置，可避免芯片测试过程中发生窜动，稳定性更高。稳定性更高。稳定性更高。

【技术实现步骤摘要】
一种LD激光芯片测试设备


[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种LD激光芯片测试设备。

技术介绍

[0002]为方便于芯片的测试，现有技术中公开了申请号为202120395929.4的一种半导体激光器芯片测试装置，通过在测试仪的下端加设伸缩筒、伸缩杆与测试轮等结构，使得在对芯片进行测试时，可以通过芯片与测试轮之间的滑动使得可以省略伸缩装置，从而可以减少伸缩过程浪费的时间，提高测试效率。
[0003]但是该测试装置上缺少对芯片固定的工装，芯片与测试轮接触时，芯片窜动，稳定性较差，因此，一种半导体激光器芯片测试装置。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于：为了解决上述问题，而提出的一种LD激光芯片测试设备。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]一种LD激光芯片测试设备，包括底板、转盘、支架以及安装在支架上测试机构，所述转盘通过传动轴安装在底板上，所述底板上设有驱动转盘转动的驱动件，所述转盘上具有凹槽，所述转盘上通过铰座连接有压杆，所述压杆上具有通槽，所述转盘上设有作用于通槽、使得压杆转动的动力件。
[0007]优选地，所述驱动件包括安装在传动轴底部的皮带轮一，所述底板上安装有电机，所述电机的输出端安装有皮带轮二，所述皮带轮一和皮带轮二之间通过传动皮带连接。
[0008]优选地，所述动力件包括贯穿转盘的移动杆，所述移动杆上成型有贯穿通槽的移动销，所述移动杆之间通过连接环相固定，所述转盘上安装有与连接环相连接的电动推杆。
[0009]优选地，所述压杆的端部固定有压块。
[0010]优选地，所述压块为橡胶材质。
[0011]综上所述，由于采用了上述技术方案，本技术的有益效果是：
[0012]本申请中，芯片置于凹槽处，在电动推杆推动连接环在竖直方向上移动的过程中，移动销在通槽内部滑动，压杆带动压块对芯片压紧固定，在驱动件驱动转盘转动的过程中，测试机构对芯片进行检测，相比现有技术中的测试装置，可避免芯片测试过程中发生窜动，稳定性更高。
附图说明
[0013]图1示出了根据本技术实施例提供的测试设备结构示意图；
[0014]图2示出了根据本技术实施例提供的底板仰视结构示意图；
[0015]图3示出了根据本技术实施例提供的转盘仰视结构示意图；
[0016]图4示出了根据本技术实施例提供的图1中A局部放大结构示意图。
[0017]图例说明：
[0018]1、底板；2、转盘；3、测试机构；4、支架；5、凹槽；6、电机；7、传动轴；8、皮带轮一；9、皮带轮二；10、传动皮带；11、移动杆；12、连接环；13、电动推杆；14、压杆；15、通槽；16、移动销；17、压块。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]请参阅图1
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4，本技术提供一种技术方案：
[0021]一种LD激光芯片测试设备，包括底板1、转盘2、支架4以及安装在支架4上测试机构3，支架4固定在底板1的一侧，测试机构3在对比文件中已公开，本申请在此不作赘述，转盘2通过传动轴7安装在底板1上，传动轴7与转盘2固定连接，传动轴7与底板1通过轴承转动连接，底板1上设有驱动转盘2转动的驱动件，转盘2上具有凹槽5，凹槽5用于放置芯片，转盘2上通过铰座连接有压杆14，压杆14与铰座转动连接，铰座固定在转盘2的上表壁，压杆14上具有通槽15，转盘2上设有作用于通槽15、使得压杆14转动的动力件，通槽15呈横向分布的长条状设置。
[0022]具体的，如图2所示，驱动件包括安装在传动轴7底部的皮带轮一8，底板1上安装有电机6，电机6的输出端安装有皮带轮二9，皮带轮一8和皮带轮二9之间通过传动皮带10连接，电机6驱动皮带轮二9转动，在传动皮带10的作用下，皮带轮一8可带动传动轴7进行转动。
[0023]具体的，如图3和图4所示，动力件包括贯穿转盘2的移动杆11，移动杆11呈竖直状设置，移动杆11与转盘2滑动配合，移动杆11上成型有贯穿通槽15的移动销16，移动销16与通槽15滑动配合，移动销16在通槽15内移动的过程中，压杆14围绕铰座进行转动，移动杆11之间通过连接环12相固定，转盘2上安装有与连接环12相连接的电动推杆13，电动推杆13可通过连接环12驱动移动杆11和移动销15在竖直方向上移动。
[0024]具体的，如图4所示，压杆14的端部固定有压块17，压块17为橡胶材质，避免压杆14与芯片的刚性接触，同时橡胶材质的摩擦系数较大，可更好对芯片进行固定。
[0025]综上所述，本实施例所提供的对芯片测试时，将芯片放置在凹槽5的内部，打开电动推杆13，电动推杆13推动连接环12移动，移动杆11跟随连接环12移动的过程中，移动杆11上的移动销16在通槽16内部移动，压杆14带动压块17对芯片压紧固定；
[0026]打开电机6，在皮带轮一8、皮带轮二9和传动皮带10的作用下，传动轴7带动转盘2进行转动，在转动过程中测试机构3可对芯片进行测试，相比现有技术中的测试装置，可避免芯片测试过程中发生窜动。
[0027]实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本技术。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本技术的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本技术将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LD激光芯片测试设备，包括底板(1)、转盘(2)、支架(4)以及安装在支架(4)上测试机构(3)，其特征在于，所述转盘(2)通过传动轴(7)安装在底板(1)上，所述底板(1)上设有驱动转盘(2)转动的驱动件，所述转盘(2)上具有凹槽(5)，所述转盘(2)上通过铰座连接有压杆(14)，所述压杆(14)上具有通槽(15)，所述转盘(2)上设有作用于通槽(15)、使得压杆(14)转动的动力件。2.根据权利要求1所述的一种LD激光芯片测试设备，其特征在于，所述驱动件包括安装在传动轴(7)底部的皮带轮一(8)，所述底板(1)上安装有电机(6)，所述电机(6)的输出端安...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡志宏，张文，杨劲华，
申请(专利权)人：武汉芯荃通科技有限公司，
类型：新型
国别省市：