一种Mark点定位方法、系统、装置、计算机设备及介质制造方法及图纸

本申请的实施例公开了一种Mark点定位方法、系统、装置、计算机设备及介质，该方法包括：S10、判断图像采集装置的当前视野是否存在Mark点，若否，判断图像是否缺失Mark点，若是，执行S20

【技术实现步骤摘要】
一种Mark点定位方法、系统、装置、计算机设备及介质


[0001]本专利技术涉及OLED屏生产设备
更具体地，涉及一种Mark点定位方法、系统、装置、计算机设备及介质。

技术介绍

[0002]现有技术中，通过相机拍摄产品Mark图片，用模板匹配或轮廓抓取的方式获取图片上Mark坐标，以用于计算偏移量，并将该偏移量给到运动控制系统，实现对位目的。然而当产品Mark缺失、损坏或来料Mark位置超出相机视野，无法获取到Mark坐标位置导致无法对位。

技术实现思路

[0003]为了解决上述问题中的至少一个，本申请第一个实施例提供了一种Mark点定位方法，该方法包括：
[0004]S10、判断图像采集装置的当前视野是否存在Mark点，若否，判断图像是否缺失Mark点，若是，执行S20
‑
S60，若否，响应于用户的第一操作将所述Mark点移动至当前视野，以实现对所述Mark点的定位；
[0005]S20、响应于用户的第二操作在所述图像标记第一位置；
[0006]S30、获取所述第一位置的位置坐标；
[0007]S40、将所述位置坐标按照预设规则转换为像素坐标；
[0008]S50、响应于用户的第三操作，存储所述像素坐标为像素坐标文件；
[0009]S60、利用所述像素坐标文件实现对所述Mark点的定位。
[0010]在一个具体实施例中，所述方法还包括：
[0011]获取所述图像的宽iw、所述图像的高iH、所述当前视野的宽cW及所述当前视野的高cH；
[0012]计算所述当前视野的中间坐标(ccRoW，ccCol)，其中，
[0013]ccRoW＝cH/2；ccCol＝cW/2
[0014]计算所述图像的中间坐标(icRow、icCol)，其中，
[0015]icRow＝iH/2；icCol＝iW/2
[0016]计算所述当前视野的高宽比cR，其中，cR＝cH/cW；
[0017]计算所述图像的高宽比iR，其中，iR＝iH/iW。
[0018]在一个具体实施例中，所述第一位置的位置坐标记为(X1，Y1)，所述像素坐标记为(X2，Y2)。
[0019]在一个具体实施例中，所述像素坐标(X2，Y2)与所述当前视野的高宽比cR及所述图像的高宽比iR相关，其中，
[0020]当cR>iR时，所述像素坐标(X2，Y2)满足：
[0021]X2＝(X1
‑
ccCol)
×
(iW/cW)+icCol
[0022]Y2＝(Y1
‑
ccRoW)
×
(iW/cW)+icRow
[0023]当cR<＝iR时，所述像素坐标(X2，Y2)满足：
[0024]X2＝(X1
‑
ccCol)
×
(iH/cH)+icCol；
[0025]Y2＝(Y1
‑
ccRoW)
×
(iH/cH)+icRow。
[0026]在一个具体实施例中，所述S60包括：
[0027]响应于用户的第四操作，重新对所述图像进行识别，从所述存储单元获取所述像素坐标文件，利用所述像素坐标文件实现对所述Mark点的定位。
[0028]本申请第二个实施例提供了一种Mark点定位系统，该系统包括图像采集装置、控制装置和对位装置，所述控制装置包括存储单元，其中，
[0029]所述控制装置被配置为实现本申请第一个实施例所述的一种Mark点定位方法。
[0030]在一个具体实施例中，所述对位装置为XYT对位控制装置。
[0031]本申请第三个实施例提供了一种Mark点定位装置，该装置包括：
[0032]判断模块，用于判断图像采集装置的当前视野是否存在Mark点，若否，判断图像是否缺失Mark点，若是，跳转至标记模块、获取模块、转换模块、存储模块以及定位模块，若否，响应于用户的第一操作将所述Mark点移动至当前视野，以实现对所述Mark点的定位；
[0033]标记模块，用于响应于用户的第二操作在所述图像标记第一位置；
[0034]获取模块，用于获取所述第一位置的位置坐标；
[0035]转换模块，用于将所述位置坐标按照预设规则转换为像素坐标；
[0036]存储模块，用于响应于用户的第三操作，存储所述像素坐标为像素坐标文件；
[0037]定位模块，用于利用所述像素坐标文件实现对所述Mark点的定位。
[0038]本申请第四个实施例提供了一种计算机设备，包括：
[0039]一个或多个处理器；
[0040]存储装置，用于存储一个或多个程序；
[0041]当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如本申请第一个实施例所述的一种Mark点定位方法。
[0042]本申请第五个实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本申请第一个实施例所述的一种Mark点定位方法。
[0043]本专利技术的有益效果如下：
[0044]本申请针对目前现有问题，制定了一种Mark点定位方法、系统、装置、计算机设备及介质，能够解决产品Mark缺失、损坏或来料Mark位置超出相机视野导致无法获取到Mark坐标位置导致无法对位的问题，使用该方法后无需增加硬件成本，操作人员能够快速处理生产异常，无需调试参数使生产设备快速恢复生产，有效提高了工作效率以及Mark点定位的精度。
附图说明
[0045]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0046]图1示出根据本申请的一个实施例所述的一种Mark点定位方法的流程图；
[0047]图2示出现有技术中常见的多种Mark标志示意图；
[0048]图3示出根据本申请的又一个实施例所述的Mark点定位方法的流程图。
[0049]图4示出根据本申请的又一个实施例所述的Mark点定位装置的示意图。
[0050]图5示出示出适用于本申请的计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
[0051]为了更清楚地说明本专利技术，下面结合优选实施例和附图对本专利技术做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本专利技术的保护范围。
[0052]常用的Mark定位方法有两种：Hough变换和模板匹配。Hough变换是将图像上的具有一定关系的像素进行聚类。具体来说，是将具有直线关系，或者是圆关系的像素进行聚类，然后取本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种Mark点定位方法，其特征在于，包括：S10、判断图像采集装置的当前视野是否存在Mark点，若否，判断图像是否缺失Mark点，若是，执行S20
‑
S60，若否，响应于用户的第一操作将所述Mark点移动至当前视野，以实现对所述Mark点的定位；S20、响应于用户的第二操作在所述图像标记第一位置；S30、获取所述第一位置的位置坐标；S40、将所述位置坐标按照预设规则转换为像素坐标；S50、响应于用户的第三操作，存储所述像素坐标为像素坐标文件；S60、利用所述像素坐标文件实现对所述Mark点的定位。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述图像的宽iw、所述图像的高iH、所述当前视野的宽cW及所述当前视野的高cH；计算所述当前视野的中间坐标(ccRoW，ccCol)，其中，ccRoW＝cH/2；ccCol＝cW/2计算所述图像的中间坐标(icRow、icCol)，其中，icRow＝iH/2；Col＝iW/2计算所述当前视野的高宽比cR，其中，cR＝cH/cW；计算所述图像的高宽比iR，其中，iR＝iH/iW。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一位置的位置坐标记为(X1，Y1)，所述像素坐标记为(X2，Y2)。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，像素坐标(X2，Y2)与所述当前视野的高宽比cR及所述图像的高宽比iR相关，其中，当cR>iR时，所述像素坐标(X2，Y2)满足：X2＝(X1
‑
ccCol)
×
(iW/cW)+icColY2＝(Y1
‑
ccRoW)
×
(iW/cW)+icRow当cR<＝iR时，所述像素坐标(X2，Y2)满足：X2＝(X1
‑
ccCol)
...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦凯，杨康，李靖宇，
申请(专利权)人：华兴源创成都科技有限公司，
类型：发明
国别省市：