检测平台及检测设备制造技术

本申请公开了一种检测平台及检测设备，检测平台应用于检测设备，检测平台包括测量底座、第一支架以及至少一个探测装置，所述第一支架与所述测量底座连接；探测装置包括镜头、固定架以及探测器；测量平台还包括第二支架以及组合位移台，第二支架与组合位移台连接，组合位移台与探测装置连接，组合位移台用于调整探测装置的位置、俯仰角度和旋转角度的至少一项。通过第一支架、第二支架以及组合位移台的组合使用，能够通过第一支架与第二支架对探测装置与测量底座之间的位置进行固定，并通过组合位移台对探测装置的设置位置与设置角度进行调整，从而降低了对探测装置的调节难度，提高对探测装置的调节精度，提高了检测设备的调节精度。节精度。节精度。

【技术实现步骤摘要】
检测平台及检测设备


[0001]本申请涉及检测
，尤其涉及一种检测平台及检测设备。

技术介绍

[0002]在光学检测领域中，通常是通过光源对待测件进行照射，待测件反射或漫反射后的光线进入探测器后，由探测器根据采集到的检测图像对待测件进行检测，在对待测件进行检测前，首先需要检测设备的探测装置能够获得清晰的待测件的检测图像，因此需要在进行检测前调整探测装置的位置与探测角度。
[0003]现有技术中，当检测设备有多个探测装置时，由于探测装置的重量较重，因此在对探测装置进行调节时，经常会出现调节误差较大的问题，从而导致检测设备的检测结果误差较大，检测效率低的问题。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种检测平台及检测设备。
[0005]第一方面，本申请实施例提供一种检测平台，应用于检测设备，所述检测平台包括测量底座、第一支架以及至少一个探测装置，所述第一支架与所述测量底座连接；
[0006]所述探测装置包括镜头、固定架以及探测器，所述固定架的两端分别于镜头以及探测器连接，所述检测设备的光源发出的光线照射至待测件，所述待测件反射或散射的光线透射经过所述镜头后传输至所述探测器；
[0007]所述第一支架具有通孔，所述镜头贯穿所述通孔设置；
[0008]所述检测平台还包括第二支架以及组合位移台，所述第二支架与所述第一支架连接，另一端与所述组合位移台的一端连接，所述组合位移台的另一端与所述探测装置连接，所述组合位移台用于调整所述探测装置的位置、俯仰角度和旋转角度的至少一项。
[0009]可选的，所述组合位移台包括第一位移台；
[0010]所述第一位移台的一端与所述第二支架连接，另一端与所述固定架连接；
[0011]所述第一位移台用于控制所述探测装置沿第一方向运动，所述第一方向与所述镜头的光轴方向相平行。
[0012]可选的，所述组合位移台还包括第二位移台，所述第二位移台的一端与所述第一位移台连接，另一端与所述探测装置连接，所述第二位移台用于控制所述探测装置沿第二方向移动，所述第二方向与所述第一方向垂直，所述第一方向与所述第二方向组成的平面与所述探测装置的探测方向平行。
[0013]可选的，所述组合位移台还包括第三位移台，所述第三位移台的一端与所述第二位移台连接，另一端与所述固定架连接，所述第三位移台用于调整所述探测装置的俯仰角度。
[0014]可选的，所述组合位移台还包括第四位移台，所述第四位移台的一端与所述第三位移台连接，另一端与所述固定架连接，所述第四位移台用于调整所述探测装置的旋转角
度。
[0015]可选的，所述第一支架与所述测量底座固定连接，所述第一支架包括多个子支架，每个所述子支架与所述探测装置一一对应，多个所述子支架沿所述探测装置的排布方向依次连接。
[0016]可选的，所述第二支架与所述子支架固定连接，多个所述子支架组合成一体式结构。
[0017]可选的，所述第二支架包括连接部与固定部，所述连接部与所述固定部固定连接，所述连接部与所述第一支架连接，所述固定部的延伸方向与所述第一方向相同。
[0018]可选的，多个所述探测装置的探测方向均指向所述承载装置，所述探测装置的倾斜角度等间隔分布。
[0019]第二方面，本申请实施例提供一种检测设备，所述检测设备包括如上述任一项实施方式所述的检测平台。
[0020]可以看出，在本申请中，所述检测平台应用于检测设备，所述检测平台包括测量底座、第一支架以及至少一个探测装置，所述第一支架与所述测量底座连接；所述探测装置包括镜头、固定架以及探测器，所述固定架的两端分别于镜头以及探测器连接，所述检测设备的光源发出的光线照射至待测件，所述待测件反射或散射的光线透射经过所述镜头后传输至所述探测器；所述第一支架具有通孔，所述镜头贯穿所述通孔设置；所述检测平台还包括第二支架以及组合位移台，所述第二支架与所述第一支架连接，另一端与所述组合位移台的一端连接，所述组合位移台的另一端与所述探测装置连接，所述组合位移台用于调整所述探测装置的位置、俯仰角度和旋转角度的至少一项。通过第一支架、第二支架以及组合位移台的组合使用，能够通过第一支架与第二支架对探测装置与测量底座之间的位置进行固定，并通过组合位移台对探测装置的设置位置与设置角度进行调整，从而降低了对所述探测装置的调节难度，提高对探测装置的调节精度，提高了所述检测设备的调节精度。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]图1是本申请实施例提供的一种检测平台的结构示意图；
[0023]图2是本申请实施例提供的一种检测平台的正视图；
[0024]图3是本申请实施例提供的一种探测装置与组合位移台的结构示意图。
[0025]附图标号说明：
[0026]标号名称标号名称10测量底座40第二支架20第一支架41连接部21通孔42固定部30探测装置50组合位移台31镜头51第一位移台
32固定架52第二位移台33探测器53第三位移台34转台54第四位移台
具体实施方式
[0027]为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
[0028]以下分别进行详细说明。
[0029]本申请的说明书和权利要求书及所述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”和“第四”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0030]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
[0031]请参见图1至图3，图1是检测平台的结构示意图，
[0032]所述检测平台包括测量底座10、第一支架20以及至少一个探测装置30，
[0033]其中，为了方便测量底座10与第一支架20进行固定连接，所述测量底座10为具有多个安装孔的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测平台，其特征在于，应用于检测设备，所述检测平台包括测量底座、第一支架以及至少一个探测装置，所述第一支架与所述测量底座连接；所述探测装置包括镜头、固定架以及探测器，所述固定架的两端分别于镜头以及探测器连接，所述检测设备的光源发出的光线照射至待测件，所述待测件反射或散射的光线透射经过所述镜头后传输至所述探测器；所述第一支架具有通孔，所述镜头贯穿所述通孔设置；所述检测平台还包括第二支架以及组合位移台，所述第二支架与所述第一支架连接，另一端与所述组合位移台的一端连接，所述组合位移台的另一端与所述探测装置连接，所述组合位移台用于调整所述探测装置的位置、俯仰角度和旋转角度的至少一项。2.根据权利要求1所述的检测平台，其特征在于，所述组合位移台包括第一位移台；所述第一位移台的一端与所述第二支架连接，另一端与所述固定架连接；所述第一位移台用于控制所述探测装置沿第一方向运动，所述第一方向与所述镜头的光轴方向相平行。3.根据权利要求2所述的检测平台，其特征在于，所述组合位移台还包括第二位移台，所述第二位移台的一端与所述第一位移台连接，另一端与所述探测装置连接，所述第二位移台用于控制所述探测装置沿第二方向移动，所述第二方向与所述第一方向垂直，所述第一方向与所述第二方向组成的平面与所述探测装置的探测方向平行。4.根据权利要求3所述的检测平台，其特征在于，所述组合位移...

【专利技术属性】
技术研发人员：王赢，张龙，陈鲁，张嵩，
申请(专利权)人：深圳中科飞测科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：