本实用新型专利技术公开石英晶片外观缺陷检测装置，石英晶片外观缺陷检测装置包括检测装置主体，所述主体一侧设有若干夹持件，所述主体包括轨道、滑块和检测件，所述检测件为超声波检测设备，将所述检测件设置在所述滑块上，所述滑块滑动在所述轨道上，当所述夹持件上放置石英晶片时，滑块滑动后，检测件能对石英晶片进行检测。采用超声波检测设备对石英外表进行检测，同时配合反馈的信号，快速准确的判断石英晶片是否有缺陷进行快速检测，同时针对不同大小的石英晶片，通过触发件和滑块的配合，实现检测件使用的时间可以随着石英晶片的大小而调整，适配程度高，用于生产中，速度较快，生产效率提高。效率提高。效率提高。
【技术实现步骤摘要】
石英晶片外观缺陷检测装置
[0001]本技术涉及检测装置
，尤其是石英晶片外观缺陷检测装置。
技术介绍
[0002]石英晶体不仅具有压电效应，而且还具有优良的机械特性、电学特性和温度特性，用它设计制作的谐振器在稳频和选频方面都有突出的优点。石英晶片是石英谐振器中的核心部件，不同切型的石英晶片电学特性和温度特性各异，现有技术中，针对石英晶片的检测问题，一般采用人工目测方式，不仅检测结果可靠性较差，同时效率有限，不能匹配生产速度。
技术实现思路
[0003]本技术针对现有技术中的不足，提供了石英晶片外观缺陷检测装置。
[0004]为解决上述技术问题，本技术通过下述技术方案得以解决：石英晶片外观缺陷检测装置包括检测装置主体，所述主体一侧设有若干夹持件，所述主体包括轨道、滑块和检测件，所述检测件为超声波检测设备，将所述检测件设置在所述滑块上，所述滑块滑动在所述轨道上，当所述夹持件上放置石英晶片时，滑块滑动后，检测件能对石英晶片进行检测。
[0005]上述方案中，优选的是，所述夹持件和检测装置主体均设置在工作台上。
[0006]上述方案中，优选的是，所述夹持件包括第一夹板和第二夹板，所述第一夹板固定在所述工作台上，第二夹板滑动连接在所述工作台上，所述第一夹板和第二夹板之间通过第一弹性件连接。
[0007]上述方案中，优选的是，在所述第一夹板内部设置电磁铁，在所述第二夹板内部设置磁铁，所述第一夹板和第二夹板相对一侧的磁极为同极磁极，当所述电磁铁启动时，在磁力作用下，第一弹性件为伸展状态。
[0008]上述方案中，优选的是，所述轨道的截面为“凹”形，在所述轨道内部设置触发件，所述触发件包括若干组连续的连接块，所述连接块包括凹陷部和凸出部，相邻的两组连接块之间的凸出部位于凹陷部中。
[0009]上述方案中，优选的是，所述触发件一侧转动连接在所述轨道内部，在所述轨道内部设置横板，所述连接块位于横板上方。
[0010]上述方案中，优选的是，在所述横板下方设置连杆，所述连杆与所述第二夹板连接。
[0011]上述方案中，优选的是，在所述连接块底部设置第二磁铁，在所述连杆上设置第三磁铁，所述第二磁铁和第三磁铁相对一侧为同极磁极。
[0012]上述方案中，优选的是，所述检测件的开关设置在所述滑块的底部。
[0013]上述方案中，优选的是，所述滑块和凸起的触发件接触后，所述检测件启动。
[0014]本技术的有益效果是：采用超声波检测设备对石英外表进行检测，同时配合
反馈的信号，快速准确的判断石英晶片是否有缺陷进行快速检测，同时针对不同大小的石英晶片，通过触发件和滑块的配合，实现检测件使用的时间可以随着石英晶片的大小而调整，适配程度高，用于生产中，速度较快，生产效率提高。
附图说明
[0015]图1为本技术结构示意图。
[0016]图2为本技术俯视图。
[0017]图3为图2的A
‑
A向部分剖视图。
[0018]图4为图3的B处放大图。
[0019]图5为图3的C处放大图。
具体实施方式
[0020]下面结合附图与具体实施方式对本技术作进一步详细描述：参见图1
‑
图5，石英晶片外观缺陷检测装置，所述检测装置主体1设置工作台6上，所述主体1包括轨道3、滑块4和检测件5，所述轨道3放置在所述工作台6上，而所述滑块4则滑动连接在所述轨道3中，优选的，所述滑块4和轨道3可以采用气缸，进而实现滑块4的滑动。
[0021]在所述滑块4上方设置检测件5，所述检测件5优选为超声波检测设备，利用超声波检测设备对石英晶片进行外观检测，一般来说就是利用声波的特性，同时针对石英晶片的外观进行扫描，进而通过超声波信号来判断，石英晶片是否存在外观缺陷、不均匀性，该方式可以快速有效的检测外观是否合格。
[0022]但是，针对不同的石英晶片，检测件5的使用的时长，并不能根据大小不易的石金晶片而调整，因此针对该问题，在所述轨道3一侧设置夹持件2。
[0023]所述夹持件2包括第一夹板7和第二夹板8，所述第一夹板7固定连接在所述工作台6上，所述第二夹板8滑动连接在所述工作台6上，所述第一夹板7和第二夹板8之间通过第一弹性件9连接，当所述第一弹力件无外力影响时，所述第一夹板7和第二夹板8靠近被夹的石英晶片，即所述石英晶片被夹紧。
[0024]针对如何将第一夹板7和第二夹板8分离，优选的，在固定的第一夹板7内部设置电磁铁，在可以在第二夹板8上且对应第一夹持内部设置第一磁铁，所述电磁铁和第一磁铁之间的的磁极为相同磁极，即当所述电磁铁启动时，所述第一磁铁带动第二夹板8远离第一夹板7，将所述夹持件2撑开，可以将石英晶片放入。
[0025]同时，可以设置多组夹具位于所述轨道3一侧，便可以大量提高检测效率。
[0026]所述轨道3截面为“凹”形，所述轨道3上设置开口16，在所述轨道3中设置横板14，在所述横板14上设置触发件10，一般情况下，所述触发件10位于所述横板14上，开口16下方，所述触发件10一端转动连接在所述轨道3上，所述滑块4上的检测件5包括开关，所述开关设置在所述滑块4下方，且当所述开关与所述触发件10接触时，所述检测件5便开始工作。
[0027]因此当所述触发件10整体全部位于开口16处时，所述开关与位于开口16出的触发件10接触，所述检测件5开始工作。
[0028]包括所述触发件10包括若干块连续的连接块11，所述连接块11包括凹陷部13和凸出部12，相邻的两组连接块11之间的凸出部12位于凹陷部13中，即当所述任意一组连接块
11上升时，位于其凸出部12一侧的所有连接块11，可以一起移动至所述开口16处，另一侧的凹陷部13依旧位于横板14上。
[0029]针对如何控制触发件10的位置，将所述第二夹板8与连杆15连接，所述连杆15一端置于所述横板14下方，在所有的连接块11的底部设置第二磁铁，在位于横板14底部的连杆15上设置第三磁铁，所述第二磁铁和第三磁铁相对一侧为同极磁极，即当所述连杆15位移至何处，其上方的连接块11被相斥磁力向开口16一侧移动，进而实现根据石英大小第二夹持板的位置，而第二夹持板通过连杆15调节了，凸起连接块11的数量，实现触发件10的长度得以改变，进而实现检测件5持续时间，更加准确的检测石英晶片的外观。
[0030]以上实施例仅用以说明本技术的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例技术方案的精神和范围。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.石英晶片外观缺陷检测装置，其特征在于：包括检测装置主体，所述主体一侧设有若干夹持件，所述主体包括轨道、滑块和检测件，所述检测件为超声波检测设备，将所述检测件设置在所述滑块上，所述滑块滑动在所述轨道上，当所述夹持件上放置石英晶片时，滑块滑动后，检测件能对石英晶片进行检测。2.根据权利要求1所述的石英晶片外观缺陷检测装置，其特征在于：所述夹持件和检测装置主体均设置在工作台上。3.根据权利要求2所述的石英晶片外观缺陷检测装置，其特征在于：所述夹持件包括第一夹板和第二夹板，所述第一夹板固定在所述工作台上，第二夹板滑动连接在所述工作台上，所述第一夹板和第二夹板之间通过第一弹性件连接。4.根据权利要求3所述的石英晶片外观缺陷检测装置，其特征在于：在所述第一夹板内部设置电磁铁，在所述第二夹板内部设置磁铁，所述第一夹板和第二夹板相对一侧的磁极为同极磁极，当所述电磁铁启动时，在磁力作用下，第一弹性件为伸展状态。5.根据权利要求4所述的石英...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈康，徐兴华，伊利平，鲍旭伟，
申请(专利权)人：金华市创捷电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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