一种光谱仪用治具结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光谱仪用治具结构，安装于光谱仪台板上，所述光谱仪台板上设有激发孔；其特征在于，所述治具结构包括：样品送料组，所述样品送料组包括驱动模组、沿所述驱动模组长度方向进行运动的送料架以及对样品进行放置的料块，所述料块上设有容纳腔；样品定位组，所述样品定位组包括支撑座、位于所述支撑座上的驱动器以及位于所述驱动器上的定位半环，所述样品定位组数量为两组且呈相对设置，两个定位半环对样品进行夹持定位。本实用新型专利技术能够对样品进行输送定位，使光谱仪能够对小于φ14mm孔径的样品进行测量分析，无需增加陶瓷小孔径，减少了成本的支出，并且能够保证光谱仪对小于φ14mm孔径的样品进行精确地测量分析。量分析。量分析。

【技术实现步骤摘要】
一种光谱仪用治具结构


[0001]本技术属于光谱仪
，尤其涉及一种光谱仪用治具结构。

技术介绍

[0002]光谱仪又称分光仪，广泛为人知的为直读光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。它由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上（或扫描某一波段）进行强度测定
[0003]火花放电原子发射光谱仪是光谱仪的一种，该光谱仪将样品材料通过设备内的火花放电生成蒸汽，在这个过程中，释放的原子和离子收到激发并发射光谱，从而通过仪器传感器进行测量。
[0004]现有的火花放电原子发射光谱仪的台板孔径是φ14mm，所以我们需要分析的样品的孔径必须要大于φ14mm，这样就会导致小于φ14mm孔径的样品无法进行有效地测量分析，目前往往是采用小孔径火花台对小于φ14mm孔径的样品进行测量分析，这种方式增加了陶瓷小孔径，但陶瓷小孔径容易破损，导致增加小孔径激发台与陶瓷片的成本，并且影响测量分析结果，因此需要采用治具结构对样品进行定位，以实现对样品的测量分析。

技术实现思路

[0005]本技术克服了现有技术的不足，提供一种光谱仪用治具结构，以解决现有技术中存在的问题。
[0006]为达到上述目的，本技术采用的技术方案为：一种光谱仪用治具结构，安装于光谱仪台板上，所述光谱仪台板上设有激发孔；所述治具结构包括：
[0007]样品送料组，所述样品送料组包括驱动模组、沿所述驱动模组长度方向进行运动的送料架以及对样品进行放置的料块，所述料块上设有容纳腔；
[0008]样品定位组，所述样品定位组包括支撑座、位于所述支撑座上的驱动器以及位于所述驱动器上的定位半环，所述样品定位组数量为两组且呈相对设置，两个定位半环对样品进行夹持定位。
[0009]本技术一个较佳实施例中，所述驱动模组为伺服电机直线模组。
[0010]本技术一个较佳实施例中，所述送料架前端设置有升降气缸，所述料块位于所述升降气缸的活塞杆端。
[0011]本技术一个较佳实施例中，所述料块上设置有弧形凸起，所述弧形凸起对样品进行放置定位。
[0012]本技术一个较佳实施例中，所述弧形凸起与所述定位半环呈错位设置。
[0013]本技术一个较佳实施例中，所述驱动器为驱动气缸。
[0014]本技术解决了
技术介绍
中存在的缺陷，本技术具备以下有益效果：
[0015]本技术在样品送料组与样品定位组的配合作用下，对样品进行输送定位，使
光谱仪能够对小于φ14mm孔径的样品进行测量分析，无需增加陶瓷小孔径，减少了成本的支出，并且能够保证光谱仪对小于φ14mm孔径的样品进行精确地测量分析。
附图说明
[0016]下面结合附图和实施例对本技术进一步说明；
[0017]图1为本技术优选实施例的整体结构示意图；
[0018]图2为图1中A部放大图；
[0019]图3为本技术优选实施例样品定位组的结构示意图；
[0020]图中：10、光谱仪台板；11、激发孔；20、样品送料组；21、驱动模组；22、送料架；23、料块；231、容纳腔；30、样品定位组；31、支撑座；32、驱动器；33、定位半环；40、升降气缸；50、弧形凸起。
具体实施方式
[0021]以下将以图式揭露本技术的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本技术。也就是说，在本技术的部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化图式起见，一些习知惯用的结构与组件在图式中将以简单的示意的方式绘示之。
[0022]另外，在本技术中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，并非特别指称次序或顺位的意思，亦非用以限定本技术，其仅仅是为了区别以相同技术用语描述的组件或操作而已，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。
[0023]如图1所示，一种光谱仪用治具结构，安装于光谱仪台板10上，光谱仪台板10上设有激发孔11；在样品测量之前，需将样品放置于激发孔11的对应位置处，保证光谱仪对样品进行有效测量，确保对样品测量的精度。
[0024]在本实施例中，治具结构包括样品送料组20与样品定位组30，样品送料组20对样品送料后，由样品定位组30对样品进行定位，以便光谱仪进行后续测量分析操作。
[0025]结合图1与图2所示，样品送料组20包括驱动模组21、沿驱动模组21长度方向进行运动的送料架22以及对样品进行放置的料块23，料块23上设有容纳腔231，将样品置于料块23的容纳腔231内，在驱动模组21作用下，将样品输送至待测量位置处，再由样品定位组30对样品进行定位。
[0026]在本实施例中，送料架22前端设置有升降气缸40，料块23位于升降气缸40的活塞杆端，升降气缸40的存在，能够驱动料块23进行升降，保证样品能够顺利进入样品定位组30的待定位位置处，进而保证后续测量分析的精度。
[0027]具体地，本实施例中采用的驱动模组21为伺服电机直线模组。
[0028]进一步地，料块23上设置有弧形凸起，弧形凸起对样品进行放置定位，对样品侧面进行限位，保证样品能够顺利进入样品定位组30的待定位位置处。
[0029]结合图1与图3所示，样品定位组30包括支撑座31、位于支撑座31上的驱动器32以及位于驱动器32上的定位半环33，样品定位组30数量为两组且呈相对设置，两个定位半环33对样品进行夹持定位，当样品送料组20将样品送入待定位置处后，样品定位组30的驱动器32驱动定位半环33进行运动，由两个定位半环33对样品进行夹持定位，定位后，由光谱仪对样品进行测量分析即可。
[0030]在本实施例中，弧形凸起与定位半环33呈错位设置，避免弧形凸起与定位半环33之间出现干涉，保证样品能够顺利从样品送料组20移至样品定位组30，进而保证对样品后续的测量分析。
[0031]具体地，本实施例中采用的驱动器32为驱动气缸。
[0032]总而言之，本技术在样品送料组20与样品定位组30的配合作用下，对样品进行输送定位，使光谱仪能够对小于φ14mm孔径的样品进行测量分析，无需增加陶瓷小孔径，减少了成本的支出，并且能够保证光谱仪对小于φ14mm孔径的样品进行精确地测量分析。
[0033]以上依据本技术的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关人员完全可以在不偏离本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光谱仪用治具结构，安装于光谱仪台板上，所述光谱仪台板上设有激发孔；其特征在于，所述治具结构包括：样品送料组，所述样品送料组包括驱动模组、沿所述驱动模组长度方向进行运动的送料架以及对样品进行放置的料块，所述料块上设有容纳腔；样品定位组，所述样品定位组包括支撑座、位于所述支撑座上的驱动器以及位于所述驱动器上的定位半环，所述样品定位组数量为两组且呈相对设置，两个定位半环对样品进行夹持定位。2.根据权利要求1所述的光谱仪用治具结构，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁婷婷，
申请(专利权)人：苏州莱测检测科技有限公司，
类型：新型
国别省市：