射频测试系统及其射频测试电路技术方案

一种射频测试系统，包括射频信号源、天线、射频测试电路、测试探针及测试仪器，射频信号源用于产生射频信号。测试探针用于从射频测试电路撷取射频信号。测试仪器用于检测所述测试探针所撷取的射频信号。射频测试电路设置于电路板上，并包括第一接垫、第二接垫、传输线及一对接地，传输线位于所述接地之间。第二接垫位于第一接垫和天线之间且与第一接垫之间的距离为射频信号的四分之一波长。其中，测试时，测试探针与第一接垫电性接触，第二接垫接地。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种射频测试系统，其特征在于，包括：　射频信号源，用于产生射频信号；　天线；　射频测试电路，设置于电路板上，所述射频测试电路包括第一接垫、第二接垫、传输线及一对接地，所述传输线位于所述接地之间，所述第二接垫位于所述第一接垫和所述天线之间且与所述第一接垫之间的距离为射频信号的四分之一波长；　测试探针，用于从所述射频测试电路撷取射频信号：及　测试仪器，用于检测所述测试探针所撷取的射频信号；　其中，测试时，所述测试探针与所述第一接垫电性接触，所述第二接垫接地。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴正宇，颜涛，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]