一种用于检测Cable线绝缘层破损的检测电路及终端制造技术

本申请提供了一种用于检测Cable线绝缘层破损的检测电路及终端，涉及通信技术领域，可以检测到Cable线的绝缘层破损情况。该检测电路包括：输入电源、上拉电阻、第一高频扼流线圈、第一待检验Cable线和电平检测电路；所述上拉电阻的一端与所述输入电源连接，所述上拉电阻的另一端与所述第一高频扼流线圈的一端连接；同时，所述上拉电阻的另一端还连接有电平检测电路，所述电平检测电路用于检测所述上拉电阻与所述第一高频扼流线圈中间连接点的电平；所述第一高频扼流线圈的另一端与所述第一待检测Cable线的一端的外导体电连接，所述第一待检测Cable线的两端的外导体分别通过电容接地。接地。接地。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测Cable线绝缘层破损的检测电路及终端


[0001]本申请涉及电子设备
，尤其涉及一种用于检测Cable线绝缘层破损的检测电路及终端。

技术介绍

[0002]终端的广泛应用，使得终端的产线尤其忙碌，在终端的中框结构的两侧，分别设置天线和主板，即天线和主板分离。具体的，天线和主板之间通过cable线连接，主板用于发射射频。
[0003]在实际生产产线上，进行cable线组装过程中，经常出现cable线的绝缘层被磨损且损坏的情况。事实上，cable线通常通过卡扣固定在中框内或者是终端的拐角处，在cable线安装过程中会出现绝缘层的挤压破损。例如：三段式手机中连接主板和下天线的Cable在组装过程中，需要在线槽中增加凸包用于固定Cable线，由于中框制造一致性等原因，经常会出现Cable线绝缘层破损，造成Cable的外导体与手机金属中框接触，从而导致以下问题：在整机测试，导致自干扰测试项测试失败、RSE测试项测试失败。由于需要更换破损的Cable线需要将已经组装完成的整机拆机，进一步导致成本和人力效率的浪费。如果在整机测试阶段无法拦截Cable绝缘层破损，还可能造成发货后市场的FFR升高问题。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题，本申请提供一种用于检测Cable线绝缘层破损的检测电路及终端。可以检测到Cable绝缘层破损后造成的等效电阻的阻值，同时，还可以根据等效阻值判断Cable绝缘层是否破损。
[0005]本申请实施例提供一种Cable线检测电路，包括：输入电源、上拉电阻、第一高频扼流线圈、第一待检验Cable线和电平检测电路；所述上拉电阻的一端与所述输入电源连接，所述上拉电阻的另一端与所述第一高频扼流线圈的一端连接；同时，所述上拉电阻的另一端还连接有电平检测电路，所述电平检测电路用于检测所述上拉电阻与所述第一高频扼流线圈中间连接点的电平；所述第一高频扼流线圈的另一端与所述第一待检测Cable线的一端的外导体电连接，所述第一待检测Cable线的两端的外导体分别通过电容接地。
[0006]本Cable线检测电路中，采用输入电源提供整体电路的电压来源，采用上拉电阻调整接入电路内的固定电阻值，采用高频扼流线圈可以通直流阻交流，从而使得输入电源的直流电流能够通过高频扼流线圈流经待检测Cable线与电平检测电路连通，形成完整电路，以使电平检测电路可以检测上拉电阻与第一高频扼流线圈中间连接点的电平。其中，待检测Cable线的绝缘层如果发生磨损，会使得待检测Cable线的外导体与终端的中框直接接触，从而产生固定数值的等效电阻，当绝缘层未磨损时，该等效电阻的阻值趋于∞大，当绝缘层发生磨损时，该等效电阻的阻值可以为固定的数值。该固定的数值可以通过本申请的检测电路测出。
[0007]示例性的，当绝缘层发生磨损时，该等效电阻的阻值可以为0～10Ω或者10Ω～20
Ω。
[0008]在一些可能实现的方式中，所述电容为第一滤波电容和第二滤波电容，所述第一滤波电容和所述第二滤波电容分别设置在所述第一待检测Cable线的两端，所述第一滤波电容和所述第二滤波电容的一端均与所述第一待检测Cable线的外导体电连接，另一端均接地。采用本申请的检测电路，基于第一滤波电容和第二滤波电容的应用，能够使得对检测电路通入直流电时，电流能够经流等效电阻，并使等效电阻产生分压的作用。另外，两个滤波电容的应用还可以进一步消除检测电路中的高频成分。
[0009]在一些可能实现的方式中，所述电平检测电路包括处理模块MCU和模数转换器件ADC，所述处理模块MCU和所述模数转换器件ADC均集成在芯片内；所述处理模块MCU与所述模数转换器件ADC的一端耦合，所述模数转换器件ADC的另一端与所述第一高频扼流线圈的一端耦合。其中，处理模块MCU可以直接显示本申请的检测电路的电流值及电压值。
[0010]示例性的，本申请的处理模块MCU可以集成在终端的芯片内，也可以单独设置。
[0011]在一些可能实现的方式中，所述检测电路还包括第二高频扼流线圈和第二待检测Cable线，所述第二高频扼流线圈的一端与所述第一高频扼流线圈的另一端耦合，所述第二高频扼流线圈的另一端与所述第二待检测Cable线的一端的外导体电连接，所述第二待检测Cable线的另一端的外导体通过电容接地。采用本申请的第二待检测Cable线与第一待检测Cable线的并联连接的电路结构，同样采用高频扼流线圈通直流隔交流，从而使得输入电源的直流电流能够同时流经两个待检测Cable线，实现整体电路的电流流通，从而测量两个待检测Cable线的等效电阻的阻值。
[0012]在一些可能实现的方式中，所述检测电路还包括第三滤波电容和第四滤波电容，所述第三滤波电容和所述第四滤波电容分别设置在所述第二待检测Cable线的两端；所述第三滤波电容的一端与所述第二待检测Cable线的外导体电连接，另一端接地；所述第四滤波电容的一端与所述第二待检测Cable线的外导体电连接，另一端接地。采用本申请的检测电路，基于第三滤波电容和第四滤波电容的应用，能够使得对检测电路通入直流电时，电流能够经流等效电阻，并使等效电阻产生分压的作用。另外，两个滤波电容的应用还可以进一步消除检测电路中的高频成分。
[0013]在一些可能实现的方式中，所述检测电路还包括第三高频扼流线圈和第三待检测Cable线，所述第三高频扼流线圈的一端与所述第一待检测Cable线的另一端的外导体电连接，所述第三高频扼流线圈的另一端与所述第三待检测Cable线的另一端的外导体电连接，所述第三待检测Cable线的另一端的外导体通过电容接地。本申请的检测电路可以同时检测多条待检测Cable线的等效电阻的阻值。
[0014]示例性的，本申请的多个待检测Cable线可以并联设置，各支路上的高频扼流线圈可以根据终端的需要，设定在待检测Cable线的绝缘层可能磨损位置的两端的任意一端，只要能够与外导体电连接即可。
[0015]在一些可能实现的方式中，所述检测电路还包括第五滤波电容和第六滤波电容，所述第五滤波电容和所述第六滤波电容分别设置在所述第三待检测Cable线的两端；所述第五滤波电容的一端与所述第三待检测Cable线的外导体电连接，另一端接地；所述第六滤波电容的一端与所述第三待检测Cable线的外导体电连接，另一端接地。采用本申请的检测电路，基于第五滤波电容和第六滤波电容的应用，能够使得对检测电路通入直流电时，电流
能够经流等效电阻，并使等效电阻产生分压的作用。另外，两个滤波电容的应用还可以进一步消除检测电路中的高频成分。
[0016]在一些可能实现的方式中，所述输入电压的电压范围为0.5V～2V。如此，能够减少整体检测电路的功耗。
[0017]在一些可能实现的方式中，所述上拉电阻的阻值范围为0～10Ω。能够减少整体检测电路的功耗。
[0018]本申请提供一种终端，包括处理模块MCU、模数转换器件ADC和上述的检测电路。本申请提供的终端，能够实现上述检测电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测Cable线绝缘层破损的检测电路，其特征在于，包括：输入电源、上拉电阻、第一高频扼流线圈、第一待检验Cable线和电平检测电路；所述上拉电阻的一端与所述输入电源连接，所述上拉电阻的另一端与所述第一高频扼流线圈的一端连接，同时，所述上拉电阻的另一端还连接有电平检测电路，所述电平检测电路用于检测所述上拉电阻与所述第一高频扼流线圈中间连接点的电平；所述第一高频扼流线圈的另一端与所述第一待检测Cable线的一端的外导体电连接，所述第一待检测Cable线的两端的外导体分别通过电容接地。2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述电容为第一滤波电容和第二滤波电容，所述第一滤波电容和所述第二滤波电容分别设置在所述第一待检测Cable线的两端，所述第一滤波电容和所述第二滤波电容的一端均与所述第一待检测Cable线的外导体电连接，另一端均接地。3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述电平检测电路包括处理模块MCU和模数转换器件ADC，所述处理模块MCU和所述模数转换器件ADC均集成在芯片内；所述处理模块MCU与所述模数转换器件ADC的一端耦合，所述模数转换器件ADC的另一端与所述第一高频扼流线圈的一端耦合。4.根据权利要求2或3所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括第二高频扼流线圈和第二待检测Cable线，所述第二高频扼流线圈的一端与所述第一高频扼流线圈的另一端耦合，所述第二高频扼流线圈的另一端与所述第二待检测Cable线的一端的外导体电连接，所述第二待检测Cable线的另一端的外导体通过电容接地。5.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜丕锦，江成，张庭伟，
申请(专利权)人：荣耀终端有限公司，
类型：新型
国别省市：