一种用于磁场干扰环境下的坡度规制造技术

本发明专利技术涉及一种用于磁场干扰环境下的坡度规，包括主体结构，主体结构为块状体结构，穿孔设置在主体结构上，结构面倾角刻度盘环绕设置在穿孔外围的主体结构表面上，主体结构穿孔处内部设置有滑槽，主体结构穿孔处通过滑槽设置有结构面走向值测量机构，结构面走向值测量机构包括水准器，水准器外围设置有环圈，环圈外侧对称设置有一对支撑杆，支撑杆端头分别设置有滑块，滑块与滑槽滑动连接，走向倾向刻度盘环绕设置在环圈表面；指针可旋转地设置在水准器中部上表面，所述主体结构由对称的两块组成，主体结构上设置有空缺，用作把手。本发明专利技术提供一种坡度规，能够适用于磁场干扰环境下的结构面产状数据测量。构面产状数据测量。构面产状数据测量。

【技术实现步骤摘要】
一种用于磁场干扰环境下的坡度规


[0001]本专利技术属于岩体工程质量评价
，具体涉及一种用于磁场干扰环境下的坡度规。

技术介绍

[0002]结构面调查作为岩体工程质量评价的基础工作十分重要。为解决矿山工程、土木工程等岩体稳定性问题时，常常需要进行现场实地调查。其中，结构面产状数据一般采用罗盘测得，但在有磁场干扰的环境下（比如磁铁矿）罗盘的精确度受到严重干扰，难以实现罗盘良好的测量效果。通常技术人员会采用坡度规进行替代使用，但传统坡度规在操作时，由于人工移动、转动坡度规次数过于频繁，使得测量过程繁琐、效率低、精度差。一般在磁场干扰环境下难以实现罗盘测量结构面的应用，普通常规坡度规使用操作步骤繁琐、效率低、精度也因步骤繁多而变差。因此，研究一种简易的抗磁场干扰的坡度规来提高测量效率，增加数据精度尤为重要。

技术实现思路

[0003]为了解决上述技术问题，本专利技术提供一种坡度规，能够适用于磁场干扰环境下的结构面产状数据测量。
[0004]具体技术方案为:一种用于磁场干扰环境下的坡度规，包括：主体结构，所述主体结构为块状体结构，用于承载各部分元件；以及穿孔，所述穿孔设置在主体结构上，用于结构面走向值测量机构的安装；结构面倾角刻度盘，所述结构面倾角刻度盘环绕设置在穿孔外围的主体结构表面上，用于在水准器调平时，测量结构面倾角；主体结构穿孔处内部设置有滑槽；所述结构面走向值测量机构包括水准器，所述水准器活动设置在主体结构的穿孔内，水准器外围设置有环圈，环圈外侧对称设置有一对支撑杆，支撑杆端头分别设置有滑块，滑块与滑槽滑动连接；以及走向倾向刻度盘，走向倾向刻度盘环绕设置在环圈表面；指针，所述指针可旋转地设置在水准器中部上表面。进一步，指针有一个，水准器与环圈固定连接。进一步，指针有两个，水准器与环圈固定连接，两个指针重叠设置在水准器中部上表面。进一步，滑块呈球形，滑槽与滑块的形状相匹配，支撑杆与环圈固定连接。进一步，滑块呈倒圆角的矩形体状，滑槽与滑块的形状相匹配，支撑杆与环圈转动连接。进一步，所述主体结构由对称的两块组成。进一步，主体结构上设置有空缺，用作把手。
[0005]本坡度规主要利用物理几何结构，通过调平水准器，利用指针读取结构面倾角刻度盘倾角度数，翻转结构面走向值测量机构，实现结构面走向值测量机构与主体结构分离，调整指针读取走向相对度数差，借助已知走向工程参照物计算结构面走向，进而计算出结构面走向值，能够适用于具有磁场干扰的环境下的结构面倾角和结构面走向值测算。本专利技术具有抗干扰能力强、操作简便、携带方便，能够广泛用于磁场环境中进行结构面调查和测量，对岩体稳定性分析和质量评价具有重要意义。
附图说明
[0006]图1为本专利技术一个指针方案的主视图；
[0007]图2为本专利技术一个指针方案的组合示意图；
[0008]图3为本专利技术一个指针方案的结构面走向值测量机构示意图；
[0009]图4为本专利技术主结构体的剖视图；
[0010]图5为滑块呈球形的结构面走向值测量机构主视图；
[0011]图6为滑块呈倒圆角的矩形体状的结构面走向值测量机构主视图；
[0012]图7为本专利技术两个指针方案的主视图；
[0013]图8为本专利技术两个指针方案的结构面走向值测量机构示意图；
[0014]图9为结构面走向值测量过程示意图；
[0015]其中，1主体结构；2穿孔；21环圈；22支撑杆；23滑块；24滑槽；3结构面倾角刻度盘；4把手；5走向倾向刻度盘；6指针；7水准器；8气泡液体。
具体实施方式
[0016]实施例1
[0017]如图1~4所示，一种用于磁场干扰环境下的坡度规，包括：主体结构1，所述主体结构1为块状体结构，用于承载各部分元件；以及穿孔2，所述穿孔2设置在主体结构1上，用于结构面走向值测量机构的安装；结构面倾角刻度盘3，所述结构面倾角刻度盘3（0~360
°
）环绕设置在穿孔2外围的主体结构1表面上，用于在水准器7调平时，测量结构面倾角；主体结构1穿孔2处内部设置有滑槽24（用作轨道）；所述结构面走向值测量机构包括水准器7，所述水准器7活动设置在主体结构1的穿孔2内，水准器7外围设置有环圈21，环圈21外侧对称设置有一对支撑杆22，支撑杆22端头分别设置有滑块23，滑块23与滑槽24滑动连接；以及走向倾向刻度盘5（0~360
°
），走向倾向刻度盘5环绕设置在环圈21表面；指针6，所述指针6可旋转地设置在水准器7中部上表面。所述主体结构1由对称的两块组成。主体结构1上设置有空缺，用作把手4。指针有一个，水准器7与环圈21固定连接。
[0018]如图6所示，滑块23呈倒圆角的矩形体状，滑槽24与滑块23的形状相匹配，支撑杆22与环圈21转动连接。
[0019]工作过程：具体实施中，技术人员手持手柄2，将坡度规的长边紧贴在结构面上，并让坡度规平面与大地垂直（即坡度规平面与大地铅垂直），然后转动水准器7，当气泡处于水平中心位置时，读出指针6指向结构面倾角刻度盘3上的度数，记录数据为结构面倾角。此时，让水准器7、指针6、环圈21以及走向倾向刻度盘5、绕支撑杆22转动（滑块23呈倒圆角的矩形体状，只可以在滑槽24中旋转，但是支撑杆22与环圈21转动连接，支撑杆22两端设置有凸起，对应的环圈21上设置有凹槽，支撑杆22的凸起与凹槽活动卡接，可通过3D打印技术一体成型；倒圆角矩形体状的滑块23在环圈中转动时比较稳定，不容易产生变动），使环圈21以及走向倾向刻度盘5与大地水平（即与水平面平行），同时保持水准器7内的气泡8处于中心位置，此时记录指针6所指向走向倾向刻度盘5的度数a(一般情况下，此时指针6与水准器7垂直设置），然后转动指针6，让指针6与参照物（如井下已知走向的巷道，巷道走向α为已知的）走向平行，记录此刻的刻度盘5的度数b，b与a的差值即为结构面走向与参照物走向的度数差c，根据参照物走向即可计算出结构面走向值。
[0020]如图9，假设，结构面走向值为β；
[0021]c=b
‑
a，即第一次测量的角度和第二次测量的角度差值；
[0022]此时，根据已知巷道走向α；
[0023]结构面走向值β=α
‑
c或360
°
+（α
‑
c）；
[0024]（1）即当c≤α，β=α
‑
c；如，α=30
°
，c=20
°
，β=α
‑
c=10
°
；
[0025]（2）即当c＞α，β=360
°
+（α
‑
c）；如，α=30
°
，c=40
°
，β=360
°
+（α
‑
c）=350
°
。
[0026]实施例2
[0027]在实施例1的基础上与实施例1不同的是：
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于磁场干扰环境下的坡度规，其特征在于，包括：主体结构，所述主体结构为块状体结构，用于承载各部分元件；以及穿孔，所述穿孔设置在主体结构上，用于结构面走向值测量机构的安装；结构面倾角刻度盘，所述结构面倾角刻度盘环绕设置在穿孔外围的主体结构表面上，用于在水准器调平时，测量结构面倾角；主体结构穿孔处内部设置有滑槽；所述结构面走向值测量机构包括水准器，所述水准器活动设置在主体结构的穿孔内，水准器外围设置有环圈，环圈外侧对称设置有一对支撑杆，支撑杆端头分别设置有滑块，滑块与滑槽滑动连接；以及走向倾向刻度盘，走向倾向刻度盘环绕设置在环圈表面；指针，所述指针可旋转地设置在水准器中部上表面。2.如权利要求1所述的一种用于磁场干扰环境下的坡度规，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：翟会超，孙长坤，董志富，胡巍巍，
申请(专利权)人：云南黄金矿业集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：