一种EMI滤波器测试夹具制造技术

本实用新型专利技术属于滤波器测试夹具领域,公开了一种EMI滤波器测试夹具,包括底托、测试板和压紧件，底托为金属件，测试板包括位于下层的绝缘基板层和位于绝缘基板层上的金属板层，测试板安装在底托的上端，测试板的上端对应底托的上端设有上下贯穿的放置孔，且放置孔左右两侧的绝缘基板层内延至放置孔内，且绝缘基板层两侧延伸处的上端均沿前后方向间隔设置有两个导电片，压紧件安装在测试板上，且测试板的左右侧均设置有与金属板层电连接的测试插头，绝缘基板层嵌设有与导电片和测试插头均电连接的测试电路，如此可减小测试插头至同侧两个导电片之间的线长，有效减小测试线的高频分布参数对EMI滤波器插入损耗测试结果的影响，提高了测试结果的可信度。高了测试结果的可信度。高了测试结果的可信度。

【技术实现步骤摘要】
一种EMI滤波器测试夹具


[0001]本技术属于滤波器测试夹具领域，尤其涉及一种EMI滤波器测试夹具。

技术介绍

[0002]EM I滤波器在使用前，要对其电性能指标——插入损耗进行测试。EMI滤波器的引出形式各不相同，有DI P插针式、甩出线式、螺栓式，焊片式、表贴式等等。针对螺栓/焊片式EMI滤波器，常用的测试方法就是在同轴线上焊接鳄鱼夹，同轴线一端加持在滤波器上，另一端连接在矢量网络分析仪上进行测试，因鳄鱼夹的引入，造成同轴线加长，线芯和地线之间分叉过长过大，从而使得测试线在高频时分布参数明显，对EMI滤波器插入损耗测试结果产生影响，使得测试结果不能反映真实值，降低了测试结果的可信度。

技术实现思路

[0003]为了解决上述技术问题，本技术的目的在于提供一种结构简单，且测试精确度高的EMI滤波器测试夹具。
[0004]为了实现上述目的，本技术的技术方案如下：一种EMI滤波器测试夹具,包括底托、测试板和压紧件，所述底托为金属件，所述测试板包括位于下层的绝缘基板层和位于绝缘基板层上的金属板层，所述测试板安装在所述底托的上端，所述测试板的上端对应所述底托的上端设有上下贯穿的放置孔，且所述放置孔左右两侧的绝缘基板层内延至所述放置孔内，且所述绝缘基板层两侧延伸处的上端均沿前后方向间隔设置有两个导电片，所述压紧件安装在所述测试板上，且所述测试板的左右侧均设置有测试插头，所述测试插头与所述金属板层电连接，且所述绝缘基板层嵌设有与导电片和测试插头均电连接的测试电路，所述放置孔内用于放置EM I滤波器，且所述EM I滤波器在所述放置孔内搁在所述底托上，所述压紧件用以将所述EM I滤波器压紧在所述底托上，且所述EM I滤波器的四个引出端子一一对应的搁在四个所述导电片上，两个所述测试插头用以矢量网络分析仪电连接。
[0005]上述技术方案的有益效果在于：如此可减小测试插头至同侧两个导电片之间的线长，从而有效减小测试线的高频分布参数对EM I滤波器插入损耗测试结果的影响，使得测试结果更加接近真实值，提高了测试结果的可信度。
[0006]上述技术方案中所述放置孔、压紧件和测试电路均设有两个，两个所述放置孔沿前后方向间隔分布，所述测试板的位于每个所述放置孔的左右两侧各设有一个测试插头，其中一个所述测试电路为共模测试电路，另一个所述测试电路为差模测试电路，两个所述测试电路与两个所述放置孔一一对应，每个所述测试电路分别与对应的放置孔内的四个所述导电片电连接，且每个所述放置孔两侧的两个测试插头与其对应的所述测试电路电连接，两个所述压紧件与两个所述放置孔对应设置，并分别位于对应所述放置孔旁，所述EM I滤波器择一放置在任意一个所述放置孔内。
[0007]上述技术方案的有益效果在于：如此使得其集成性更高，同时功能更多，既分别对EM I滤波器的共模和差模等效电路进行分析。
[0008]上述技术方案中所述压紧件为肘夹。
[0009]上述技术方案的有益效果在于：其使用方便，且下压效果好。
[0010]上述技术方案中所述底托为内部中空的方体形盒。
[0011]上述技术方案的有益效果在于：如此可在必要时在底托内装入巴伦电感进行感应测量。
[0012]上述技术方案中两个所述压紧件沿前后方向间隔分布，且两个所述放置孔位于两个所述压紧件之间。
[0013]上述技术方案的有益效果在于：如此减小两个压紧件对测试电路的干扰。
附图说明
[0014]图1为本技术实施例所述EMI滤波器测试夹具的配合示意图；
[0015]图2为本技术实施例所述EMI滤波器测试夹具与EM I滤波器分离时的示意图；
[0016]图3为本实施例所述EMI滤波器测试夹具的俯视图；
[0017]图4为EM I滤波器的俯视图。
[0018]图中：1底托、2测试板、21绝缘基板层、22金属板层、23放置孔、3压紧件、4导电片、5测试插头、6EMI滤波器、61引出端子。
具体实施方式
[0019]以下结合附图对本技术的原理和特征进行描述，所举实施例只用于解释本技术，并非用于限定本技术的范围。
[0020]如图1
‑
图4所示，本实施例提供了一种EMI滤波器测试夹具,包括底托1、测试板2和压紧件3，所述底托1为金属件，所述测试板2包括位于下层的绝缘基板层21和位于绝缘基板层21上的金属板层22，所述测试板2安装在所述底托1的上端，所述测试板2的上端对应所述底托1的上端设有上下贯穿的放置孔23，且所述放置孔23左右两侧的绝缘基板层21内延至所述放置孔23内，且所述绝缘基板层21两侧延伸处的上端均沿前后方向间隔设置有两个导电片4(可以为方形的导电泡棉)，所述压紧件3安装在所述测试板2上，且所述测试板2的左右侧均设置有测试插头5，所述测试插头5与所述金属板层22电连接，且所述绝缘基板层21嵌设有与导电片4和测试插头5均电连接的测试电路，所述放置孔23内用于放置EM I滤波器6，且所述EMI滤波器6在所述放置孔23内搁在所述底托1上，所述压紧件3用以将所述EMI滤波器6压紧在所述底托1上，且所述EM I滤波器6的四个引出端子61一一对应的搁在四个所述导电片4上，两个所述测试插头5用以矢量网络分析仪电连接，如此可减小测试插头至同侧两个导电片之间的线长，从而有效减小测试线的高频分布参数对EMI滤波器插入损耗测试结果的影响，使得测试结果更加接近真实值，提高了测试结果的可信度。
[0021]上述技术方案中所述放置孔23、压紧件3和测试电路均设有两个，两个所述放置孔23沿前后方向间隔分布，所述测试板2的位于每个所述放置孔23的左右两侧各设有一个测试插头5，其中一个所述测试电路为共模测试电路，另一个所述测试电路为差模测试电路(其中，共模测试电路和差模测试电路均为现有电路，在此不作赘述)，两个所述测试电路与两个所述放置孔23一一对应，每个所述测试电路分别与对应的放置孔23内的四个所述导电片4电连接，且每个所述放置孔23两侧的两个测试插头5与其对应的所述测试电路电连接，
两个所述压紧件3与两个所述放置孔23对应设置，并分别位于对应所述放置孔23旁，所述EMI滤波器6择一放置在任意一个所述放置孔23内，如此使得其集成性更高，同时功能更多，既分别对EMI滤波器的共模和差模等效电路进行分析。
[0022]上述技术方案中所述压紧件3为肘夹(其属于现有产品，在此不作赘述)，其使用方便，且下压效果好。
[0023]上述技术方案中所述底托1为内部中空的方体形盒，如此可在必要时在底托内装入巴伦电感进行感应测量。
[0024]上述技术方案中两个所述压紧件3沿前后方向间隔分布，且两个所述放置孔23位于两个所述压紧件3之间，如此减小两个压紧件对测试电路的干扰。
[0025]本实施例所提供的EMI滤波器测试夹具两个测试工位不能同时使用。
[0026]以上所述仅为本技术的较佳实施例，并不用以限制本技术，凡在本实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种EMI滤波器测试夹具,其特征在于,包括底托(1)、测试板(2)和压紧件(3)，所述底托(1)为金属件，所述测试板(2)包括位于下层的绝缘基板层(21)和位于绝缘基板层(21)上的金属板层(22)，所述测试板(2)安装在所述底托(1)的上端，所述测试板(2)的上端对应所述底托(1)的上端设有上下贯穿的放置孔(23)，且所述放置孔(23)左右两侧的绝缘基板层(21)内延至所述放置孔(23)内，且所述绝缘基板层(21)两侧延伸处的上端均沿前后方向间隔设置有两个导电片(4)，所述压紧件(3)安装在所述测试板(2)上，且所述测试板(2)的左右侧均设置有测试插头(5)，所述测试插头(5)与所述金属板层(22)电连接，且所述绝缘基板层(21)嵌设有与导电片(4)和测试插头(5)均电连接的测试电路，所述放置孔(23)内用于放置EMI滤波器(6)，且所述EMI滤波器(6)在所述放置孔(23)内搁在所述底托(1)上，所述压紧件(3)用以将所述EMI滤波器(6)压紧在所述底托(1)上，且所述EMI滤波器(6)的四个引出端子(61)一一对应的搁在四个所述导电片(4)上，两个所述测试插头(5)用以矢量网络分析仪电连接。2.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：张雪泽，刘金元，张中元，郭森，刘兵超，孙江超，
申请(专利权)人：北京航天微电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：