一种量子芯片检测系统技术方案

本申请公开了一种量子芯片检测系统，所述量子芯片上形成有量子电路，所述检测系统包括第一探测组件，在检测过程中，与量子电路的输入端口形成电学连接；第二探测组件，在检测过程中，与量子电路的输出端口形成电学连接；第一观察组件，用于观察第一探测组件与所述输入端口是否接触以形成电学连接；第二观察组件，用于观察第二探测组件与所述输出端口是否接触以形成电学连接；分别与所述第一探测组件和所述第二探测组件电连接的检测元件，通过设置第一观察组件和第二观察组件，可以独立地对第一探测组件、第二探测组件进行观察，从而能够同时清晰地观察到第一探测组件、第二探测组件与量子电路的输入端口、输出端口的接触情况。输出端口的接触情况。输出端口的接触情况。

【技术实现步骤摘要】
一种量子芯片检测系统


[0001]本申请属于量子计算领域，特别是一种量子芯片检测系统。

技术介绍

[0002]量子计算机是一类遵循量子力学规律进行高速数学和逻辑运算、存储及处理量子信息的物理装置。量子计算机的特点主要有运行速度较快、处置信息能力较强、应用范围较广等。量子芯片作为量子计算机的核心部件，是量子计算机的重要组成部分。
[0003]目前量子芯片的研发还处于探索阶段，现有技术中，量子芯片制备完成后，为了保障量子芯片的良品率，需要对量子芯片进行测试，现有的量子芯片检测系统通常采用接触式测试技术，利用探测组件与量子芯片上量子电路的各个端口分别接触形成电学连接，从而实现对量子电路的检测。
[0004]然而，所述端口的面积较小，为了能够看清所述探测组件与所述端口的接触情况，需要将观察组件的倍率调大，然而随着倍率的调大，观察组件的视野范围必将缩小，由于量子电路上各个端口之间的距离较远，现有量子芯片检测系统的观察组件难以同时清晰地观察到各个探测组件与所述量子电路上各个端口的接触情况，难以满足人们的使用需求。
[0005]需要说明的是，公开于本申请
技术介绍
部分的信息仅仅旨在加深对本申请一般
技术介绍
的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。

技术实现思路

[0006]本申请的目的是提供一种量子芯片检测系统，以解决现有技术中的不足，它提供了一种便于观察的量子芯片检测系统。
[0007]本申请的一个实施例提供了一种量子芯片检测系统，所述量子芯片上形成有量子电路，所述检测系统包括：
[0008]第一探测组件，在检测过程中，与所述量子电路的输入端口形成电学连接；
[0009]第二探测组件，在检测过程中，与所述量子电路的输出端口形成电学连接；
[0010]第一观察组件，用于观察所述第一探测组件与所述输入端口是否接触以形成电学连接；
[0011]第二观察组件，用于观察所述第二探测组件与所述输出端口是否接触以形成电学连接；
[0012]分别与所述第一探测组件和所述第二探测组件电连接的检测元件，在检测过程中，所述检测元件产生测试电流以测试所述量子电路是否为通路。
[0013]如上所述的检测系统，其中，所述第一观察组件和所述第二观察组件均为显微镜，所述第一探测组件和所述第二探测组件均为探针，在检测过程中，所述显微镜的视野覆盖所述探针的针尖。
[0014]如上所述的检测系统，其中，所述显微镜的中轴线不垂直于所述量子芯片所在的
平面。
[0015]如上所述的检测系统，其中，各所述中轴线与所述平面之间的夹角均相等。
[0016]如上所述的检测系统，其中，所述夹角的取值范围为78－89度。
[0017]如上所述的检测系统，其中，还包括：
[0018]安装在所述显微镜目镜上的相机；
[0019]与所述相机相连接的显示器。
[0020]如上所述的检测系统，其中，还包括与所述显微镜连接的位移调节组件。
[0021]如上所述的检测系统，其中，还包括安装于所述显微镜与所述位移调节组件之间的角位移台。
[0022]如上所述的检测系统，其中，还包括机械臂，所述显微镜安装于所述机械臂的自由端。
[0023]本申请的另一实施例还提供了一种量子芯片的检测方法，所述量子芯片上形成有量子电路，所述检测方法包括以下步骤：
[0024]在第一观察组件的观测下，利用第一探测组件与所述量子电路的输入端口接触以形成电学连接；
[0025]在第二观察组件的观测下，利用第二探测组件与所述量子电路的输出端口接触以形成电学连接；
[0026]利用检测元件产生依次通过所述第一探测组件、所述量子电路、所述第二探测组件的测试电流以测试所述量子电路是否为通路。
[0027]与现有技术相比，本申请提供了一种量子芯片检测系统，所述量子芯片上形成有量子电路，所述检测系统包括第一探测组件，在检测过程中，与所述量子电路的输入端口形成电学连接；第二探测组件，在检测过程中，与所述量子电路的输出端口形成电学连接；第一观察组件，用于观察所述第一探测组件与所述输入端口是否接触以形成电学连接；第二观察组件，用于观察所述第二探测组件与所述输出端口是否接触以形成电学连接；分别与所述第一探测组件和所述第二探测组件电连接的检测元件，在检测过程中，所述检测元件产生测试电流以测试所述量子电路是否为通路，在本申请中，通过设置用于观察第一探测组件的第一观察组件，和用于观察第二探测组件的第二观察组件，可以在测试量子电路时，独立地对第一探测组件、第二探测组件进行观察，从而能够同时清晰地观察到第一探测组件、第二探测组件与量子电路的输入端口、输出端口的接触情况，更加有利于第一探测组件、第二探测组件与输入端口、输出端口形成电学连接，便于量子电路测试作业的进行。
附图说明
[0028]图1为本申请提供的量子芯片检测系统的结构示意图；
[0029]图2为本申请提供的量子芯片检测系统的另一角度的示意图。
[0030]附图标记说明：1－固定架，2－位移调节组件，3－显微镜，4－相机，5－显示器，6－探针座，7－承载台；
[0031]21－高度调节机构，22－平面调节机构，23－角位移台。
具体实施方式
[0032]下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能解释为对本申请的限制。
[0033]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请的各实施例进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本申请各实施例中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施例的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。以下各个实施例的划分是为了描述方便，不应对本申请的具体实现方式构成任何限定，各个实施例在不矛盾的前提下可以相互结合相互引用。
[0034]需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0035]另外，应该理解的是，当层(或膜)、区域、图案或结构被称作在衬底、层(或膜)、区域和/或图案“上”时，它可以直接位于另一个层或衬底上，和/或还可以存在插入层。另外，应该理解，当层被称作在另一个层“下”时，它可以直接位于另一个层下，和/或还可以存在一个或多个插入层。另外，可以基于附图进行关于在各层“上”和“下”本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种量子芯片检测系统，其特征在于，所述量子芯片上形成有量子电路，所述检测系统包括：第一探测组件，在检测过程中，与所述量子电路的输入端口形成电学连接；第二探测组件，在检测过程中，与所述量子电路的输出端口形成电学连接；第一观察组件，用于观察所述第一探测组件与所述输入端口是否接触以形成电学连接；第二观察组件，用于观察所述第二探测组件与所述输出端口是否接触以形成电学连接；分别与所述第一探测组件和所述第二探测组件电连接的检测元件，在检测过程中，所述检测元件产生测试电流以测试所述量子电路是否为通路。2.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述第一观察组件和所述第二观察组件均为显微镜(3)，所述第一探测组件和所述第二探测组件均为探针，在检测过程中，所述显微镜(3)的视野覆盖所述探针的针尖。3.如权利要求2...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨晖，金贤胜，
申请(专利权)人：合肥本源量子计算科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：