芯片的调试方法和装置、存储介质及电子装置制造方法及图纸

本申请公开了一种芯片的调试方法和装置、存储介质及电子装置，该芯片的调试方法包括：接收功能调试请求，其中，功能调试请求用于请求对芯片中的目标功能进行调试；响应功能调试请求，在初始调试模型中创建目标功能，得到目标调试模型，其中，初始调试模型用于模拟芯片的运行环境；控制目标调试模型执行目标功能，得到目标功能的目标调试结果，采用上述技术方案，解决了相关技术中，芯片调试的效率较低等问题。问题。问题。

【技术实现步骤摘要】
芯片的调试方法和装置、存储介质及电子装置


[0001]本申请涉及芯片领域，具体而言，涉及一种芯片的调试方法和装置、存储介质及电子装置。

技术介绍

[0002]芯片的调试对于后续芯片功能的正常使用具有至关重要的作用，现有技术中，往往是通过在芯片中设置触发条件或中断芯片的运行过程的方式，在芯片中进行真实的调试，这样的方式存在着无法设置准确的触发条件的问题，并且也难以准确的定位芯片在调试过程中出现的问题，导致芯片调试难度大，效率低。
[0003]针对相关技术中，芯片调试的效率较低等问题，尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种芯片的调试方法和装置、存储介质及电子装置，以至少解决相关技术中，芯片调试的效率较低等问题。
[0005]根据本申请实施例的一个实施例，提供了一种芯片的调试方法，包括：接收功能调试请求，其中，所述功能调试请求用于请求对芯片中的目标功能进行调试；
[0006]响应所述功能调试请求，在初始调试模型中创建所述目标功能，得到目标调试模型，其中，所述初始调试模型用于模拟所述芯片的运行环境；
[0007]控制所述目标调试模型执行所述目标功能，得到所述目标功能的目标调试结果。
[0008]可选的，所述在初始调试模型中创建所述目标功能，得到目标调试模型，包括：
[0009]获取所述目标功能的功能操作，其中，所述功能操作用于实现所述目标功能；
[0010]在所述初始调试模型中实现所述功能操作，得到所述目标调试模型。<br/>[0011]可选的，所述在所述初始调试模型中实现所述功能操作，得到所述目标调试模型，包括：
[0012]获取所述功能操作所包括的操作步骤集合；
[0013]在所述初始调试模型中创建所述操作步骤集合中所包括的每个操作步骤对应的操作模块，得到操作模块集合；
[0014]按照所述功能操作的实现逻辑创建所述操作模块集合中所包括的操作模块之间的操作逻辑，得到所述目标调试模型。
[0015]可选的，所述控制所述目标调试模型执行所述目标功能，得到所述目标功能的目标调试结果，包括：
[0016]控制所述目标调试模型所包括的操作模块使用所述操作模块对应的操作数据按照操作逻辑运行，其中，具有所述操作逻辑的所述操作模块用于实现所述目标功能；
[0017]获取所述操作模块的运行结果作为所述目标调试结果。
[0018]可选的，所述控制所述目标调试模型所包括的操作模块使用所述操作模块对应的操作数据按照操作逻辑运行，包括：
[0019]从预先存储的功能数据中获取所述操作模块对应的所述操作数据，其中，所述功能数据是从所述芯片上获取的所述目标功能的数据；
[0020]控制所述操作模块使用所述操作数据按照所述操作逻辑运行。
[0021]可选的，所述控制所述目标调试模型所包括的操作模块使用所述操作模块对应的操作数据按照操作逻辑运行，包括：
[0022]向所述芯片发送数据查询请求，其中，所述数据查询请求用于请求查询在所述芯片中执行所述操作模块所对应的操作时所使用的数据；
[0023]接收所述芯片响应所述数据查询请求返回的所述操作数据；
[0024]控制所述操作模块使用所述操作数据按照所述操作逻辑运行。
[0025]可选的，在所述控制所述目标调试模型执行所述目标功能，得到所述目标功能的目标调试结果之后，所述方法还包括：
[0026]获取在参考调试模型中执行所述目标功能所得到的所述目标功能的参考调试结果，其中，所述参考调试模型用于在所述芯片的运行环境中使用模拟出的参考数据执行所述目标功能；
[0027]对所述目标调试结果与所述参考调试结果进行比对，得到比对结果，其中，所述比对结果用于对所述目标调试结果进行评估。
[0028]根据本申请实施例的另一个实施例，还提供了一种芯片的调试装置，包括：
[0029]接收模块，用于接收功能调试请求，其中，所述功能调试请求用于请求对芯片中的目标功能进行调试；
[0030]创建模块，用于响应所述功能调试请求，在初始调试模型中创建所述目标功能，得到目标调试模型，其中，所述初始调试模型用于模拟所述芯片的运行环境；
[0031]处理模块，用于控制所述目标调试模型执行所述目标功能，得到所述目标功能的目标调试结果。
[0032]根据本申请实施例的又一方面，还提供了一种计算机可读的存储介质，该计算机可读的存储介质中存储有计算机程序，其中，该计算机程序被设置为运行时执行上述芯片的调试方法。
[0033]根据本申请实施例的又一方面，还提供了一种电子装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，上述处理器通过计算机程序执行上述的芯片的调试方法。
[0034]在本申请实施例中，接收功能调试请求，其中，功能调试请求用于请求对芯片中的目标功能进行调试；响应功能调试请求，在初始调试模型中创建目标功能，得到目标调试模型，其中，初始调试模型用于模拟芯片的运行环境；控制目标调试模型执行目标功能，得到目标功能的目标调试结果，即如果接收到功能调试请求，可以表明希望能够对芯片中的目标功能进行调试，在这种情况下，可以在模拟了芯片的运行环境的初始调试模型中创建希望调试的目标功能，得到目标调试模型，通过控制目标调试模型执行目标功能的方式，得到芯片中目标功能的调试结果，这样通过目标调试模型模拟芯片中的运行环境和目标功能，进而通过目标调试模型实现了对目标功能的调试，相比于在芯片中对目标功能进行真实的调试的方式，能够降低芯片的调试难度，精准高效的得到芯片的调试结果，提升了芯片调试的效率。采用上述技术方案，解决了相关技术中，芯片调试的效率较低等问题，实现了提升
芯片调试的效率的技术效果。
附图说明
[0035]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。
[0036]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0037]图1是根据本申请实施例的一种芯片的调试方法的硬件环境示意图；
[0038]图2是根据本申请实施例的一种芯片的调试方法的流程图；
[0039]图3是根据本申请实施例的一种通过接口读取芯片中的功能数据的示意图；
[0040]图4是根据本申请实施例的一种从芯片中读取功能数据的示意图；
[0041]图5是根据本申请实施例的一种芯片的调试方法的示意图；
[0042]图6是根据本申请实施例的一种转发报文功能的芯片的调试方法的示意图；
[0043]图7是根据本申请实施例的一种芯片的调试装置的结构框图。
具体实施方式
[0044]为了使本技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片的调试方法，其特征在于，包括：接收功能调试请求，其中，所述功能调试请求用于请求对芯片中的目标功能进行调试；响应所述功能调试请求，在初始调试模型中创建所述目标功能，得到目标调试模型，其中，所述初始调试模型用于模拟所述芯片的运行环境；控制所述目标调试模型执行所述目标功能，得到所述目标功能的目标调试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在初始调试模型中创建所述目标功能，得到目标调试模型，包括：获取所述目标功能的功能操作，其中，所述功能操作用于实现所述目标功能；在所述初始调试模型中实现所述功能操作，得到所述目标调试模型。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述初始调试模型中实现所述功能操作，得到所述目标调试模型，包括：获取所述功能操作所包括的操作步骤集合；在所述初始调试模型中创建所述操作步骤集合中所包括的每个操作步骤对应的操作模块，得到操作模块集合；按照所述功能操作的实现逻辑创建所述操作模块集合中所包括的操作模块之间的操作逻辑，得到所述目标调试模型。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制所述目标调试模型执行所述目标功能，得到所述目标功能的目标调试结果，包括：控制所述目标调试模型所包括的操作模块使用所述操作模块对应的操作数据按照操作逻辑运行，其中，具有所述操作逻辑的所述操作模块用于实现所述目标功能；获取所述操作模块的运行结果作为所述目标调试结果。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述控制所述目标调试模型所包括的操作模块使用所述操作模块对应的操作数据按照操作逻辑运行，包括：从预先存储的功能数据中获取所述操作模块对应的所述操作数据，其中，所述功能数据是从所述芯片上获取的所述目标功能的数据；控制所述操作模块使用...

【专利技术属性】
技术研发人员：许俊，唐飞，周磊，
申请(专利权)人：苏州盛科通信股份有限公司，
类型：发明
国别省市：