材料检测方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种材料检测方法、装置、设备及存储介质，方法包括：获取待检测材料的太赫兹反射波形数据，从太赫兹反射波形数据中提取出有效脉冲特征并获取有效脉冲特征所对应的扫描点索引，生成待检测材料的有效脉冲特征集合和扫描点索引集合；采用预设的第一自组织映射网络对有效脉冲特征集合中的每个有效脉冲特征进行特征信息聚类处理，生成第一聚类类型集合；根据第一聚类类型集合，采用预设的第二自组织映射网络对扫描点索引集合中的每个扫描点进行脉冲类型聚类处理，生成第二聚类类型集合；根据第二聚类类型集合，对待检测材料进行成像处理，生成待检测材料的成像结果图。该方法可以有效减少太赫兹波谱信息丢失，成像可靠性高。靠性高。靠性高。

【技术实现步骤摘要】
材料检测方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请涉及材料检测
，尤其涉及一种材料检测方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着高新技术的发展，各种高性能的新材料被广泛应用于航天航空、电力电气等各个领域的设备中，而设备在生产、运输、运行过程中，材料内部会出现如气隙、孔洞、裂痕、夹杂等缺陷，这些缺陷从外观上无法鉴别且会影响设备性能、造成经济损失，甚至人员伤亡。太赫兹波成像技术是最被广泛使用的用于对特定材料内部缺陷进行无损检测的一种直观、快捷的手段之一。然而，目前现有的太赫兹成像技术大多使用单一的一个波谱特征参数来进行成像，这种方法会造成大量信息丢失，无法有效利用整个频率范围太赫兹波谱信息进行成像，不足以对类型多样、复杂的实际结构性缺陷进行有效成像，成像可靠性差。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本申请实施例提供了一种材料检测方法、装置、设备及存储介质，可以有效利用整个频率范围太赫兹波谱信息进行成像，减少太赫兹波谱信息丢失，提高成像可靠性。
[0004]本申请实施例的第一方面提供了一种材料检测方法，包括：
[0005]获取待检测材料的太赫兹反射波形数据，从所述太赫兹反射波形数据中提取出有效脉冲特征并获取所述有效脉冲特征所对应的扫描点索引，生成所述待检测材料的有效脉冲特征集合和扫描点索引集合；
[0006]采用预设的第一自组织映射网络对所述有效脉冲特征集合中的每个有效脉冲特征进行特征信息聚类处理，生成第一聚类类型集合；
[0007]根据所述第一聚类类型集合，采用预设的第二自组织映射网络对所述扫描点索引集合中的每个扫描点进行脉冲类型聚类处理，生成第二聚类类型集合；
[0008]根据所述第二聚类类型集合，对所述待检测材料进行成像处理，生成所述待检测材料的成像结果图。
[0009]结合第一方面，在第一方面的第一种可能实现方式中，获取待检测材料的太赫兹反射波形数据的步骤，还包括：
[0010]采用太赫兹成像设备对所述待检测材料进行太赫兹波扫描，生成所述待检测材料的双极性脉冲数据；
[0011]对所述双极性脉冲数据进行反卷积处理，生成对应的单极性脉冲数据，将所述单极性脉冲数据获取为所述待检测材料的太赫兹反射波形数据。
[0012]结合第一方面或第一方面的第一种可能实现方式，在第一方面的第二种可能实现方式中，从所述太赫兹反射波形数据中提取出有效脉冲特征的步骤，包括：
[0013]从所述太赫兹反射波形数据中提取每个扫描点对应的脉冲峰值，分别将所述每个
扫描点对应的脉冲峰值与预设的峰值阈值进行比较，若所述脉冲峰值大于预设的峰值阈值，则将所述脉冲峰值确定为有效脉冲特征；
[0014]将所有被确定为有效脉冲特征的脉冲峰值进行集合，生成有效脉冲峰值集合，并根据所述有效脉冲峰值集合，从所述太赫兹反射波形数据中提取出与所述有效脉冲峰值集合中的每个脉冲峰值对应的峰值时间，将所述每个脉冲峰值对应的峰值时间进行集合，生成有效脉冲峰值时间集合。
[0015]结合第一方面，在第一方面的第三种可能实现方式中，根据所述第一聚类类型集合，采用预设的第二自组织映射网络对所述扫描点索引集合中的每个扫描点进行脉冲类型聚类处理，生成第二聚类类型集合的步骤，包括：
[0016]根据所述第一聚类类型集合和所述扫描点索引集合，对所述扫描点索引集合中的每个扫描点进行的太赫兹波形信息进行编码处理，生成编码矩阵，将所述编码矩阵作为输入向量输入至所述第二自组织映射网络中进行脉冲类型聚类处理，以生成第二聚类类型集合。
[0017]结合第一方面，在第一方面的第四种可能实现方式中，根据所述第二聚类类型集合，对所述待检测材料进行成像处理，生成所述待检测材料的成像结果图的步骤，包括：
[0018]根据所述第二聚类类型集合，将每个扫描点对应的脉冲类型转化为图像像素值，按照扫描点将所述每个扫描点对应的图像像素值填充至所述待检测材料的图像矩阵中，以生成所述待检测材料的成像结果图。
[0019]本申请实施例的第二方面提供了一种材料检测装置，所述材料检测装置包括：
[0020]提取模块，用于获取待检测材料的太赫兹反射波形数据，从所述太赫兹反射波形数据中提取出有效脉冲特征并获取所述有效脉冲特征所对应的扫描点索引，生成所述待检测材料的有效脉冲特征集合和扫描点索引集合；
[0021]第一聚类模块，用于采用预设的第一自组织映射网络对所述有效脉冲特征集合中的每个有效脉冲特征进行特征信息聚类处理，生成第一聚类类型集合；
[0022]第二聚类模块，用于根据所述第一聚类类型集合，采用预设的第二自组织映射网络对所述扫描点索引集合中的每个扫描点进行脉冲类型聚类处理，生成第二聚类类型集合；
[0023]成像模块，用于根据所述第二聚类类型集合，对所述待检测材料进行成像处理，生成所述待检测材料的成像结果图。
[0024]结合第二方面，在第二方面的第一种可能实现方式中，所述材料检测装置还包括：
[0025]扫描子模块，用于采用太赫兹成像设备对所述待检测材料进行太赫兹波扫描，生成所述待检测材料的双极性脉冲数据；
[0026]反卷积子模块，用于对所述双极性脉冲数据进行反卷积处理，生成对应的单极性脉冲数据，将所述单极性脉冲数据获取为所述待检测材料的太赫兹反射波形数据。
[0027]结合第二方面或第二方面的第一种可能实现方式，在第二方面的第二种可能实现方式中，所述材料检测装置还包括：
[0028]比较子模块，用于从所述太赫兹反射波形数据中提取每个扫描点对应的脉冲峰值，分别将所述每个扫描点对应的脉冲峰值与预设的峰值阈值进行比较，若所述脉冲峰值大于预设的峰值阈值，则将所述脉冲峰值确定为有效脉冲特征；
[0029]提取子模块，用于将所有被确定为有效脉冲特征的脉冲峰值进行集合，生成有效脉冲峰值集合，并根据所述有效脉冲峰值集合，从所述太赫兹反射波形数据中提取出与所述有效脉冲峰值集合中的每个脉冲峰值对应的峰值时间，将所述每个脉冲峰值对应的峰值时间进行集合，生成有效脉冲峰值时间集合。
[0030]本申请实施例的第三方面提供了一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在电子设备上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现第一方面提供的材料检测方法的各步骤。
[0031]本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面提供的材料检测方法的各步骤。
[0032]本申请实施例提供的一种材料检测方法、装置、电子设备及存储介质，具有以下有益效果：
[0033]本申请通过获取待检测材料的太赫兹反射波形数据，从太赫兹反射波形数据中提取出有效脉冲特征并获取有效脉冲特征所对应的扫描点索引，生成待检测材料的有效脉冲特征集合和扫描点索引集合；采用预设的第一自组织映射网络对有效脉冲特征集合中的每个有效脉冲特征进行特征本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种材料检测方法，其特征在于，包括：获取待检测材料的太赫兹反射波形数据，从所述太赫兹反射波形数据中提取出有效脉冲特征并获取所述有效脉冲特征所对应的扫描点索引，生成所述待检测材料的有效脉冲特征集合和扫描点索引集合；采用预设的第一自组织映射网络对所述有效脉冲特征集合中的每个有效脉冲特征进行特征信息聚类处理，生成第一聚类类型集合；根据所述第一聚类类型集合，采用预设的第二自组织映射网络对所述扫描点索引集合中的每个扫描点进行脉冲类型聚类处理，生成第二聚类类型集合；根据所述第二聚类类型集合，对所述待检测材料进行成像处理，生成所述待检测材料的成像结果图。2.根据权利要求1所述的材料检测方法，其特征在于，获取待检测材料的太赫兹反射波形数据的步骤，还包括：采用太赫兹成像设备对所述待检测材料进行太赫兹波扫描，生成所述待检测材料的双极性脉冲数据；对所述双极性脉冲数据进行反卷积处理，生成对应的单极性脉冲数据，将所述单极性脉冲数据获取为所述待检测材料的太赫兹反射波形数据。3.根据权利要求1或2所述的材料检测方法，其特征在于，从所述太赫兹反射波形数据中提取出有效脉冲特征的步骤，包括：从所述太赫兹反射波形数据中提取每个扫描点对应的脉冲峰值，分别将所述每个扫描点对应的脉冲峰值与预设的峰值阈值进行比较，若所述脉冲峰值大于预设的峰值阈值，则将所述脉冲峰值确定为有效脉冲特征；将所有被确定为有效脉冲特征的脉冲峰值进行集合，生成有效脉冲峰值集合，并根据所述有效脉冲峰值集合，从所述太赫兹反射波形数据中提取出与所述有效脉冲峰值集合中的每个脉冲峰值对应的峰值时间，将所述每个脉冲峰值对应的峰值时间进行集合，生成有效脉冲峰值时间集合。4.根据权利要求1所述的材料检测方法，其特征在于，根据所述第一聚类类型集合，采用预设的第二自组织映射网络对所述扫描点索引集合中的每个扫描点进行脉冲类型聚类处理，生成第二聚类类型集合的步骤，包括：根据所述第一聚类类型集合和所述扫描点索引集合，对所述扫描点索引集合中的每个扫描点进行的太赫兹波形信息进行编码处理，生成编码矩阵，将所述编码矩阵作为输入向量输入至所述第二自组织映射网络中进行脉冲类型聚类处理，以生成第二聚类类型集合。5.根据权利要求1所述的材料检测方法，其特征在于，根据所述第二聚类类型集合，对所述待检测材料进行成像处理，生成所述待检测材料的成像结果图的步骤，包括：根据所述第二聚类类型集合...

【专利技术属性】
技术研发人员：梅红伟，王书善，王黎明，
申请(专利权)人：清华大学深圳国际研究生院，
类型：发明
国别省市：