一种半导体器件检测的可循环仓储装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种半导体器件检测的可循环仓储装置，包括仓储单元、控制器和控制开关，所述仓储单元包括料仓组、推送机构、升降机构，所述料仓组包括左右并列设置的第一料仓和第二料仓，所述控制开关设置于所述料仓组上，推送机构包括设置于所述第一料仓顶部的第一推送机构和所述第二料仓底部的第二推送机构，升降机构包括多个用于放置载盘的托盘、设置于所述第一料仓的第一升降器、第一升降驱动器，设置于所述第二料仓的第二升降器、第二升降驱动器。其有益效果为：通过两个料仓可循环不间断的给抓取装置提供载盘，既增加了载盘的仓储数量，又提高了半导体器件的检测效率，托盘槽的设计便于托盘的放入和取出。设计便于托盘的放入和取出。设计便于托盘的放入和取出。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体器件检测的可循环仓储装置


[0001]本专利技术涉及半导体器件的生产检测领域，特别涉及一种半导体器件检测的可循环仓储装置。

技术介绍

[0002]半导体器件在完成生产后，大多装载于自吸附盒的载盘内等待下一步的检测，待通过检测后，再进行相应的封装。对于批量自动化的检测场景，一般是通过抓取装置逐个抓取载盘，依次有序地进行检测。目前是由人工先将多个载盘放入相应位置，再由抓取装置抓取，因装载的载盘数量有限，每次抓取完后，需停留一段时间，人工重新在所有空缺位置补充好载盘后，抓取装置才能再次进行抓取，此过程无法保证抓取的连续性，大大降低了批量检测的效率。

技术实现思路

[0003]本专利技术为了克服现有技术的缺点，提供一种半导体器件检测的可循环仓储装置，通过两个可循环料仓的设置，可仓储多个载盘，并且可持续的对空缺位置进行载盘的补充，使抓取装置可连续的工作，无需中间过程的停留，保证了检测工作的连续性，提高了批量检测的自动化程度和工作效率。
[0004]本专利技术的一种半导体器件检测的可循环仓储装置，包括仓储单元、控制器和控制开关，所述仓储单元包括料仓组、推送机构、升降机构，
[0005]所述料仓组包括左右并列设置的第一料仓和第二料仓，所述控制开关设置于所述料仓组上；
[0006]所述推送机构包括设置于所述第一料仓顶部的第一推送机构和所述第二料仓底部的第二推送机构；
[0007]所述升降机构包括多个用于放置载盘的托盘、设置于所述第一料仓的第一升降器、第一升降驱动器，设置于所述第二料仓的第二升降器、第二升降驱动器，两个升降器上沿竖直方向均开设有多个可插入托盘的托盘槽；
[0008]所述控制器与控制开关、推送机构、升降机构电连接，所述第一升降驱动器和所述第二升降驱动器分别驱动所述第一升降器和所述第二升降器升降运动。
[0009]进一步地，还包括依次设置于所述第一料仓一侧的第一限位板、所述第二料仓一侧的第二限位板和所述第一料仓与所述第二料仓间的第三限位板，所述第三限位板的上方和下方留有可供托盘横向通过的空间。
[0010]进一步地，所述第一推送机构为第一伸缩杆，固定于所述第一料仓靠近所述第一限位板的一侧，所述第一伸缩杆与所述第一料仓顶部的托盘槽位于同一水平面，所述第一伸缩杆朝所述第二料仓方向伸出，可将第一料仓顶部的托盘槽内的托盘推送至第二料仓顶部的托盘槽内。
[0011]进一步地，所述第二推送机构为第二伸缩杆，固定于所述第二料仓靠近所述第二
限位板的一侧，所述第二伸缩杆与所述第二料仓底部的托盘槽位于同一水平面，所述伸缩杆朝所述第一料仓方向伸出，可将第二料仓底部的托盘槽内的托盘推送至第一料仓底部的托盘槽内。
[0012]更进一步地，所述第一升降驱动器和所述第二升降驱动器为伺服电机。
[0013]更进一步地，所述托盘槽的高度略大于托盘的厚度。
[0014]进一步地，还包括第三料仓，所述第三料仓用于存储已检半导体器件的载盘。
[0015]本专利技术的一种半导体器件检测的可循环仓储装置具有以下优点：
[0016]1、通过两个料仓可循环不间断的给抓取装置提供载盘，既增加了载盘的仓储数量，又提高了半导体器件的检测效率。
[0017]2、托盘槽的设计便于托盘的放入和取出，简化了操作步骤，方便托盘的替换；
[0018]3、在两个料仓的基础上增加一个料仓，既可在需要时作为对料仓仓储空间的补充，又可存放检测后的载盘，便于载盘的分类管理。
附图说明
[0019]图1为本专利技术一种半导体器件检测的可循环仓储装置的结构示意图。
[0020]其中，1
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仓储单元、2
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控制器、3
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控制开关、4
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料仓组、41
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第一料仓、42
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第二料仓、43
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第三料仓、5
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推送机构、51
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第一伸缩杆、52
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第二伸缩杆、6
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升降机构、61
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托盘、62
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第一升降器、63
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第一升降驱动器、64
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第二升降器、65
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第二升降驱动器、66
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托盘槽、7
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第一限位板、8
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第二限位板、9
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第三限位板、10
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抓取装置。
具体实施方式
[0021]下面将结合附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，均属于本专利技术保护的范围。
[0022]如图1所示，本专利技术的一种半导体器件检测的可循环仓储装置，包括仓储单元、控制器和控制开关，仓储单元包括料仓组、推送机构、升降机构，
[0023]料仓组包括左右并列设置的第一料仓和第二料仓，控制开关设置于料仓组的后壁上，用于控制装置的打开和关闭；
[0024]升降机构包括多个用于放置载盘的托盘、设置于所述第一料仓的第一升降器、第一升降驱动器，设置于所述第二料仓的第二升降器、第二升降驱动器，两个升降器上沿竖直方向均开设有多个可插入托盘的托盘槽，托盘用于放置待检测的载盘；
[0025]第一升降驱动器和所述第二升降驱动器为伺服电机，由控制器来控制。
[0026]推送机构包括设置于第一料仓顶部的第一推送机构和第二料仓底部的第二推送机构；
[0027]为了更好的限定载盘的位置，还包括依次设置于所述第一料仓一侧的第一限位板、所述第二料仓一侧的第二限位板和所述第一料仓与所述第二料仓间的第三限位板，所述第三限位板的上方和下方留有可供托盘横向通过的空间。
[0028]作为本专利技术的一种优选方案，第一推送机构为第一伸缩杆，通过螺栓固定于第一
料仓靠近所述第一限位板的一侧，第一伸缩杆与第一料仓顶部的托盘槽位于同一水平面，第一伸缩杆朝第二料仓方向伸出，正好可将第一料仓顶部的托盘槽内的托盘推送至第二料仓顶部的托盘槽内。
[0029]第二推送机构为第二伸缩杆，通过螺栓固定于第二料仓靠近第二限位板的一侧，第二伸缩杆与所述第二料仓底部的托盘槽位于同一水平面，伸缩杆朝所述第一料仓方向伸出，正好可将第二料仓底部的托盘槽内的托盘推送至第一料仓底部的托盘槽内。
[0030]为了使托盘更稳定的放置于托盘槽内，托盘槽的高度略大于托盘的厚度。
[0031]控制器与控制开关、推送机构、升降机构电连接，第一升降驱动器和第二升降驱动器分别驱动第一升降器和第二升降器做升降运动。
[0032]本专利技术的装置在使用时，将待检测载盘放入载盘槽内，当打开控制开关，抓取装置开始抓取第一料仓最上层的载盘，抓取完成后，控制器控制第一推送装置将本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体器件检测的可循环仓储装置，包括仓储单元、控制器和控制开关，其特征在于：所述仓储单元包括料仓组、推送机构、升降机构，所述料仓组包括左右并列设置的第一料仓和第二料仓，所述控制开关设置于所述料仓组上；所述推送机构包括设置于所述第一料仓顶部的第一推送机构和所述第二料仓底部的第二推送机构；所述升降机构包括多个用于放置载盘的托盘、设置于所述第一料仓的第一升降器、第一升降驱动器，设置于所述第二料仓的第二升降器、第二升降驱动器，两个升降器上沿竖直方向均开设有多个可插入托盘的托盘槽；所述控制器与控制开关、推送机构、升降机构电连接，所述第一升降驱动器和所述第二升降驱动器分别驱动所述第一升降器和所述第二升降器升降运动。2.根据权利要求1所述的一种半导体器件检测的可循环仓储装置，其特征在于：还包括依次设置于所述第一料仓一侧的第一限位板、所述第二料仓一侧的第二限位板和所述第一料仓与所述第二料仓间的第三限位板，所述第三限位板的上方和下方留有可供托盘横向通过的空间。3.根据权利要求2所述的一种半导体器件检测的可循环仓储...

【专利技术属性】
技术研发人员：饶炯辉，雷畅，
申请(专利权)人：武汉人和睿视科技有限公司，
类型：新型
国别省市：