本实用新型专利技术提出一种测试装置，用于测试电路板。测试装置包括底座、测试治具、两运动组件、两探针组件及检测模组。测试治具设于底座，两运动组件均与底座滑动连接，每一探针组件分别转动连接于一运动组件，并位于两运动组件相对的侧面；检测模组与两探针组件均电连接，接收两探针组件的检测信号。本实用新型专利技术通过两运动组件分别带动两探针组件运动至电路板的第一检测点和第二检测点，以使两探针组件分别与第一检测点和第二检测点接触，检测模组用于接收两探针组件的检测信号，并对检测信号进行分析以得到电路板的测试结果，采用两探针组件配合所连接的检测装置完成对电路板的检测，降低了测试难度，提高了检测效率。提高了检测效率。提高了检测效率。
【技术实现步骤摘要】
测试装置
[0001]本技术涉及电路板检测
，尤其涉及一种测试装置备。
技术介绍
[0002]电路板作为电子类产品的核心部件之一，对电路板进行测试是判断电路板好坏的关键步骤。
[0003]电子类产品中又以智能手机或微电子设备类的电路板因其体积小，测试点密集，目前多采用人工的方式进行检测。然而，人工检测方式测试难度大且测试效率低。
技术实现思路
[0004]鉴于以上内容，有必要提出一种测试装置，以解决如何降低电路板测试难度、提高测试效率的技术问题。
[0005]本技术实施例提供一种测试装置，用于测试电路板，测试装置包括：
[0006]底座；
[0007]测试治具，设于所述底座，所述测试治具用于固定所述电路板；
[0008]两运动组件，均与所述底座滑动连接；
[0009]两探针组件，每一所述探针组件分别转动连接于一所述运动组件，并位于两所述运动组件相对的侧面，两所述运动组件用于分别驱动两所述探针组件运动至所述电路板的第一检测点和第二检测点，以使两所述探针组件分别与所述第一检测点和所述第二检测点接触；和
[0010]检测模组，与两所述探针组件均电连接，用于接收两所述探针组件的检测信号，并分析所述检测信号以得到所述电路板的测试结果。
[0011]上述测试装置中，电路板被固定在测试治具上，两运动组件分别带动两探针组件运动至电路板的第一检测点和第二检测点，以使两探针组件分别与第一检测点和第二检测点接触，检测模组接收两探针组件的检测信号，并对检测信号进行分析以得到电路板的测试结果，采用两探针组件配合所连接的检测装置完成对电路板的检测，降低了测试难度，提高了检测效率。
[0012]在一些实施例中，所述探针组件包括转动驱动件和探针，所述转动驱动件包括固定部和在所述固定部内转动设置的旋转部，所述固定部连接于所述运动组件，所述旋转部连接所述探针。
[0013]如此，通过将探针组件的固定部连接于运动组件，以在运动组件带动探针组件移动，并将探针组件的探针连接于旋转部，以在旋转部的旋转下，带动探针的倾斜角度进行调节，以实现探针组件对电路板上不同倾斜角度的目标检测点进行测试。
[0014]在一些实施例中，所述旋转部的旋转轴与所述运动组件的运动方向平行。
[0015]如此，通过将旋转部的旋转轴与运动组件的运动方向平行，以使运动组件带动探针组件的移动方向和旋转轴带动探针旋转方向不存在干涉，以实现探针组件测试电路板的
顺利进行。
[0016]在一些实施例中，所述测试装置还包括射频探针，所述射频探针连接于一所述旋转部，并与所述探针间隔设置。
[0017]如此，通过设置射频探针，并将射频探针连接于一旋转部，以实现利用单一射频探针即可实现对电路板进行测试。
[0018]在一些实施例中，所述测试治具包括治具主体和旋转组件，所述治具主体设于所述旋转组件上，所述旋转组件与所述底座连接，并用于驱动所述治具主体旋转，所述治具主体用于固定所述电路板。
[0019]如此，通过设置治具主体和旋转组件，治具主体用于固定电路板，旋转组件用于驱动治具主体旋转，治具主体旋转带动电路板旋转，以实现对电路板进行水平方向旋转调节，便于探针组件对电路板上的目标测试点进行检测，提高检测效率。
[0020]在一些实施例中，所述治具主体包括支撑架、支撑平台和翻转组件，所述支撑平台转动连接于所述支撑架，所述翻转组件分别连接所述支撑平台和所述支撑架，并用于驱动所述支撑平台在所述支撑架上翻转，所述支撑架设于所述旋转组件，所述支撑平台用于固定所述电路板。
[0021]如此，通过翻转组件驱动支撑平台旋转，支撑平台上固定电路板，以实现对电路板进行翻转，以对电路板上两个基面进行测试。
[0022]在一些实施例中，所述翻转组件包括第一驱动件，所述第一驱动件设于所述支撑架，并连接于所述支撑平台，以驱动所述支撑平台翻转。
[0023]如此，通过将第一驱动件连接于支撑架和支撑平台，以驱动支撑平台进行翻转，且第一驱动件的驱动方向所在平面与旋转组件的驱动方向所在平面垂直，以在第一驱动件和旋转组件的配合下，实现支撑平台上的电路板的多角度调节。
[0024]在一些实施例中，所述测试装置还包括对刀组件，所述对刀组件包括基座和对刀棒，所述对刀棒设于所述基座上，所述基座设于所述底座，所述对刀组件用于对所述探针进行标定或校正。
[0025]如此，通过设置对刀组件，以利用对刀棒为基准坐标，探头在对刀棒上进行对刀，以对探针的坐标进行校正和标定，提高测试装置对电路板测试的准确性。
[0026]在一些实施例中，所述测试装置还包括成像组件，所述成像组件分别包括本体、第二驱动件和成像器件，所述第二驱动件连接于所述本体，所述成像器件连接于所述第二驱动件，所述本体连接于所述运动组件，所述成像组件用于对所述电路板取像。
[0027]如此，通过设置本体、第二驱动件和成像器件，以使运动组件带动成像组件运动，第二驱动件连接于成像器件并驱动成像器件移动，以实现成像器件对电路板的不同目标位置点的取像。
[0028]在一些实施例中，所述第一驱动件的驱动轴垂直于所述旋转组件的旋转轴。
[0029]如此，可实现在第一驱动件的驱动下及旋转组件的旋转下，可实现电路板的多角度调节，从而便于对电路板的测试。
附图说明
[0030]图1是本技术一实施例提供的测试装置和检测装置的结构示意图。
[0031]图2是本技术一实施例提供的测试装置的结构示意图。
[0032]图3A是图2中A处的放大示意图。
[0033]图3B是图2中B处的放大示意图。
[0034]图4是本技术一实施例提供的治具主体的结构示意图。
[0035]图5是本技术一实施例提供的成像组件的结构示意图。
[0036]主要元件符号说明
[0037]测试装置
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[0038]底座
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10
[0039]测试治具
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20
[0040]治具主体
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21
[0041]支撑架
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210
[0042]支撑平台
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211
[0043]翻转组件
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212
[0044]第一驱动件
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[0045]旋转组件
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[0046]运动组件
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试装置，用于测试电路板，其特征在于，所述测试装置包括：底座；测试治具，设于所述底座，所述测试治具用于固定所述电路板；两运动组件，均与所述底座滑动连接；两探针组件，每一所述探针组件分別转动连接于一所述运动组件，并位于两所述运动组件相对的侧面，两所述运动组件用于分别驱动两所述探针组件运动至所述电路板的第一检测点和第二检测点，以使两所述探针组件分别与所述第一检测点和所述第二检测点接触；和检测模组，与两所述探针组件均电连接，用于接收两所述探针组件的检测信号，并分析所述检测信号以得到所述电路板的测试结果。2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述探针组件包括转动驱动件和探针，所述转动驱动件包括固定部和在所述固定部内转动设置的旋转部，所述固定部连接于所述运动组件，所述旋转部连接所述探针。3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述旋转部的旋转轴与所述运动组件的运动方向平行。4.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括射频探针，所述射频探针连接于一所述旋转部，并与所述探针间隔设置。5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试治具包括治具主体和旋转组件，所述治具主体设于所述旋转组件上，所述旋转组件...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡兴亿，张东卫，卢程显，李健龙，杜康，陆贺身，刘金全，李玉辉，
申请(专利权)人：河南裕展精密科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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