本实用新型专利技术公开了一种incell产品TP线缺陷检测装置，接通TP SW线，使得所有TP线所连接的三极管的栅极打开，然后分别给TP ODD线和TP EVEN线两条快检线通电，即可以使得待检incell显示屏显示出间隔设置的黑白格画面，若相邻的TP线出现了短路，或者相邻的TP分块出现短路，则黑白格画面会有分块显示异常；若TP线出现了断线，同样地，黑白格画面也会有分块显示异常。从而快速对TP线的缺陷进行检测，以使得其在绑定IC前即可把TP线缺陷的产品挑选出来，以避免TP线缺陷流到后段，造成成本资源的浪费。该TP线缺陷检测方法简单，检测设备结构简单，设备成本较低，检测效率较高，从而大幅降低了TP线缺陷的检测成本，提高了产品的竞争力。提高了产品的竞争力。提高了产品的竞争力。
【技术实现步骤摘要】
一种incell产品TP线缺陷检测装置
[0001]本技术涉及一种液晶显示模组检测
，更具体地说，涉及一种incell产品TP线缺陷检测装置。
技术介绍
[0002]Incell是指将触摸面板功能嵌入到液晶像素中的方法，现在越来越多的液晶显示产品都采用把触控设计在TFT显示模组内部，特别是手机类显示产品，因此在对incell产品的产品缺陷进行检测尤为重要。在绑定IC前需要把TP线缺陷的产品挑选出来，以避免TP线缺陷流到后段，造成成本资源的浪费，传统的TP线缺陷检测方法复杂，检测设备结构复杂，设备成本高昂，检测效率低下，从而大幅提高了TP线缺陷的检测成本，降低了产品的竞争力，无法满足生产企业日益增长的品质要求。
技术实现思路
[0003]本技术所要解决的技术问题是如何快速检测TP线缺陷。由于TP ODD线分别与奇数列TP分块上的偶数TP线和偶数列TP分块上的奇数TP线连接；TP EVEN线分别与奇数列TP分块上的奇数TP线和偶数列TP分块上的偶数TP线连接，且每一列的m条所述TP线中与所在列的每排所述TP分块均按顺序分别导通，即第一列的第一条TP线与所在列的第一排TP分块导通，第一列的第二条TP线与所在列的第二排TP分块导通，以此类推直至第一列的第m条TP线与所在列的第m排TP分块导通，第二列直至第n列亦是如此，当需要对TP线进行检测时，接通TP SW线，使得所有TP线所连接的三极管的栅极打开，然后分别给TP ODD线和TP EVEN线两条快检线通电，即可以使得待检incell显示屏显示出间隔设置的黑白格画面，若相邻的TP线出现了短路，或者相邻的TP分块出现短路，则黑白格画面会有分块显示异常；若TP线出现了断线，同样地，黑白格画面也会有分块显示异常。从而快速对TP线的缺陷进行检测，以使得其在绑定IC前即可把TP线缺陷的产品挑选出来，以避免TP线缺陷流到后段，造成成本资源的浪费。该TP线缺陷检测方法简单，检测设备结构简单，设备成本较低，检测效率较高，从而大幅降低了TP线缺陷的检测成本，提高了产品的竞争力，以此满足生产企业日益增长的品质要求。
[0004]本技术所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：
[0005]为解决上述技术问题，本技术提供了一种incell产品TP线缺陷检测装置，其包括待检incell显示屏、TP ODD线、TP EVEN线和TP SW线，所述待检incell显示屏，其包括多个呈矩阵排列的TP分块，多个所述TP分块的排数和列数分别为m和n，每一列所述TP分块上均设置有m条TP线，每一列的m条所述TP线均由左到右依次顺序排列，每一列的m条所述TP线中与所在列的每排所述TP分块均按顺序分别导通；所述TP ODD线分别与奇数列TP分块上的偶数TP线和偶数列TP分块上的奇数TP线连接；所述TP EVEN线分别与奇数列TP分块上的奇数TP线和偶数列TP分块上的偶数TP线连接；所述TP SW线与所有所述TP线的栅极连接。
[0006]作为本技术提供的所述incell产品TP线缺陷检测装置的一种优选实施方式，
所述待检incell显示屏包括由下到上依次顺序设置的阵列基板、彩膜基板和盖板，所述阵列基板长于所述彩膜基板并向外伸出，所述阵列基板的上表面的边缘设置有凸起，所述阵列基板的上表面于所述凸起与所述彩膜基板之间设置有缓冲胶，所述缓冲胶与所述盖板抵接。
[0007]作为本技术提供的所述incell产品TP线缺陷检测装置的一种优选实施方式，所述凸起的上表面与所述彩膜基板的上表面平齐。
[0008]作为本技术提供的所述incell产品TP线缺陷检测装置的一种优选实施方式，所述缓冲胶为硅酮胶。
[0009]作为本技术提供的所述incell产品TP线缺陷检测装置的一种优选实施方式，所述凸起与所述阵列基板之间设置有倒圆角。
[0010]作为本技术提供的所述incell产品TP线缺陷检测装置的一种优选实施方式，所述凸起与所述阵列基板之间设置有倒直角。
[0011]作为本技术提供的所述incell产品TP线缺陷检测装置的一种优选实施方式，所述凸起的侧面开设有排气槽。
[0012]作为本技术提供的所述incell产品TP线缺陷检测装置的一种优选实施方式，所述阵列基板的上表面和所述凸起的侧面为粗糙表面。
[0013]作为本技术提供的所述incell产品TP线缺陷检测装置的一种优选实施方式，所述粗糙表面为磨砂面。
[0014]作为本技术提供的所述incell产品TP线缺陷检测装置的一种优选实施方式，所述粗糙表面为菱形滚花。
[0015]本技术具有如下有益效果：
[0016]由于TP ODD线分别与奇数列TP分块上的偶数TP线和偶数列TP分块上的奇数TP线连接；TP EVEN线分别与奇数列TP分块上的奇数TP线和偶数列TP分块上的偶数TP线连接，且每一列的m条所述TP线中与所在列的每排所述TP分块均按顺序分别导通，即第一列的第一条TP线与所在列的第一排TP分块导通，第一列的第二条TP线与所在列的第二排TP分块导通，以此类推直至第一列的第m条TP线与所在列的第m排TP分块导通，第二列直至第n列亦是如此，当需要对TP线进行检测时，接通TP SW线，使得所有TP线所连接的三极管的栅极打开，然后分别给TP ODD线和TP EVEN线两条快检线通电，即可以使得待检incell显示屏显示出间隔设置的黑白格画面，若相邻的TP线出现了短路，或者相邻的TP分块出现短路，则黑白格画面会有分块显示异常；若TP线出现了断线，同样地，黑白格画面也会有分块显示异常。从而快速对TP线的缺陷进行检测，以使得其在绑定IC前即可把TP线缺陷的产品挑选出来，以避免TP线缺陷流到后段，造成成本资源的浪费。该TP线缺陷检测方法简单，检测设备结构简单，设备成本较低，检测效率较高，从而大幅降低了TP线缺陷的检测成本，提高了产品的竞争力，以此满足生产企业日益增长的品质要求。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本申请中的方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一个简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本技术提供的一种incell产品TP线缺陷检测装置的结构示意图。
[0019]图2为待检incell显示屏检测正常时的黑白格显示图。
[0020]图3为图1中出现断线缺陷时的结构示意图。
[0021]图4为图1中出现短路缺点时的结构示意图。
[0022]图5为实施例2的结构示意图。
具体实施方式
[0023]为了使本
的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种incell产品TP线缺陷检测装置，其特征在于，其包括:待检incell显示屏，其包括多个呈矩阵排列的TP分块，多个所述TP分块的排数和列数分别为m和n，每一列所述TP分块上均设置有m条TP线，每一列的m条所述TP线均由左到右依次顺序排列，每一列的m条所述TP线中与所在列的每排所述TP分块均按顺序分别导通；TP ODD线，其分别与奇数列TP分块上的偶数TP线和偶数列TP分块上的奇数TP线连接；TP EVEN线，其分别与奇数列TP分块上的奇数TP线和偶数列TP分块上的偶数TP线连接；TP SW线，其与所有所述TP线的栅极连接。2.根据权利要求1所述的incell产品TP线缺陷检测装置，其特征在于，所述待检incell显示屏包括由下到上依次顺序设置的阵列基板、彩膜基板和盖板，所述阵列基板长于所述彩膜基板并向外伸出，所述阵列基板的上表面的边缘设置有凸起，所述阵列基板的上表面于所述凸起与所述彩膜基板之间设置有缓冲胶，所述缓冲胶与所述盖板抵接。3...
【专利技术属性】
技术研发人员：王欢，汪雨廷，余光棋，董欣，王新志，
申请(专利权)人：信利仁寿高端显示科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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