芯片运行数据的采集方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提出了一种芯片运行数据的采集方法、装置、电子设备及存储介质，涉及图像检测技术领域，该方法包括：对仿真日志中的测试用例进行遍历，以从遍历到的测试用例中获取基础仿真数据；确定测试用例的仿真类型，并基于测试用例的基础仿真数据，对仿真类型对应的初始数据采集表进行填充，以生成第一数据采集表；在遍历结束后，针对每个仿真类型的第一数据采集表，基于仿真类型，对第一数据采集表进行补全，生成仿真类型对应的第二数据采集表。根据仿真类型的不同，对日志文件进行自动化分析，从而增加验证的效率和正确率，提升芯片的质量。提升芯片的质量。提升芯片的质量。

【技术实现步骤摘要】
芯片运行数据的采集方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本公开涉及图像检测
，尤其涉及一种芯片运行数据的采集方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着芯片性能的提升，系统级芯片(System on Chip，SOC)设计规模越来越大，SOC芯片的性能得到了很大的提升，对于SOC性能验证的需求也越来越高。
[0003]当前技术中，SOC性能验证的测试用例特点是数量多，模式多，每个测试用例要按照不同的配置模式仿真多次，最后仿真出的日志文件(log)数量巨大，分析成本很高，因此对于log的自动化分析至关重要。
[0004]公开内容
[0005]本公开旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
[0006]为此，本公开的一个目的在于提出一种芯片运行数据的采集方法。
[0007]本公开的第二个目的在于提出一种芯片运行数据的采集装置。
[0008]本公开的第三个目的在于提出一种电子设备。
[0009]本公开的第四个目的在于提出一种非瞬时计算机可读存储介质。
[0010]为达上述目的，本公开第一方面实施方式提出了一种芯片运行数据的采集方法，包括：对仿真日志中的测试用例进行遍历，以从遍历到的测试用例中获取基础仿真数据；确定测试用例的仿真类型，并基于测试用例的基础仿真数据，对仿真类型对应的初始数据采集表进行填充，以生成第一数据采集表；在遍历结束后，针对每个仿真类型的第一数据采集表，基于仿真类型，对第一数据采集表进行补全，生成仿真类型对应的第二数据采集表。
[0011]根据本公开的一个实施方式，芯片运行数据的采集方法还包括：基于仿真类型，对测试用例进行分类，获取属于同一仿真类型的测试用例组；获取测试用例组中每个测试用例的延迟数据；针对每个仿真类型，基于属于仿真类型的延迟数据，对仿真类型的第一数据采集表进行补全，生成仿真类型对应的第二数据采集表。
[0012]根据本公开的一个实施方式，芯片运行数据的采集方法还包括：从属于仿真类型的延迟数据中，获取最大读取延迟、最小读取延迟、最大写入延迟、最小写入延迟、平均读取延迟和平均写入延迟中的至少一个参数；将获取到的至少一个参数写入仿真类型对应的第一数据采集表中，生成仿真类型对应的第二数据采集表。
[0013]根据本公开的一个实施方式，芯片运行数据的采集方法还包括：响应于仿真类型为延迟类型，获取仿真类型属于延迟类型的第一测试用例；获取第一测试用例对应的指定主线程和指定主线程对应的所有从线程的第一延迟数据；基于第一延迟数据对第一数据采集表进行补全，生成延迟类型对应的第二数据采集表。
[0014]根据本公开的一个实施方式，芯片运行数据的采集方法还包括：响应于仿真类型为单主线程类型，获取仿真类型属于单主线程类型的第二测试用例；获取第二测试用例对应的单主线程和单主线程对应的各个从线程的访问数据；基于访问数据生成单主线程类型
对应的分析数据；基于分析数据对第一数据采集表进行补全，生成单主线程类型对应的第二数据采集表。
[0015]根据本公开的一个实施方式，芯片运行数据的采集方法还包括：响应于仿真类型为多主线程类型，获取仿真类型属于多主线程类型的第三测试用例；获取第三测试用例对应的所有主线程和主线程对应的从线程的第二延迟数据；基于第二延迟数据对第一数据采集表进行补全，生成多主线程类型对应的第二数据采集表。
[0016]根据本公开的一个实施方式，芯片运行数据的采集方法还包括：获取测试用例的仿真目录；确定仿真目录中仿真成功的目标日志数据；基于目标日志数据确定测试用例功能配置数据和带宽数据；基于功能配置数据和带宽数据确定测试用例的基础仿真数据。
[0017]根据本公开的一个实施方式，芯片运行数据的采集方法还包括：将功能配置数据填充至第一数据采集表中；基于带宽数据对测试用例进行筛选，将筛选后的测试用例的带宽数据，填充至第一数据采集表。
[0018]根据本公开的一个实施方式，芯片运行数据的采集方法还包括：根据带宽数据确定目标日志数据的读取吞吐量、写入吞吐量和总吞吐量；基于读取吞吐量、写入吞吐量和总吞吐量对第一数据采集表进行填充。
[0019]为达上述目的，本公开第二方面实施例提出了一种芯片运行数据的采集装置，包括：遍历模块，用于对仿真日志中的测试用例进行遍历，以从遍历到的测试用例中获取基础仿真数据；第一生成模块，用于确定测试用例的仿真类型，并基于测试用例的基础仿真数据，对仿真类型对应的初始数据采集表进行填充，以生成第一数据采集表；第二生成模块，用于在遍历结束后，针对每个仿真类型的第一数据采集表，基于仿真类型，对第一数据采集表进行补全，生成仿真类型对应的第二数据采集表。
[0020]为达上述目的，本公开第三方面实施例提出了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以实现如本公开第一方面实施例的芯片运行数据的采集方法。
[0021]为达上述目的，本公开第四方面实施例提出了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，计算机指令用于实现如本公开第一方面实施例的芯片运行数据的采集方法。
附图说明
[0022]图1是本公开一个实施方式的一种芯片运行数据的采集方法的示意图；
[0023]图2是本公开一个实施方式的一种芯片运行数据的采集方法的图表示意图；
[0024]图3是本公开一个实施方式的另一种芯片运行数据的采集方法的示意图；
[0025]图4是本公开一个实施方式的另一种芯片运行数据的采集方法的示意图；
[0026]图5是本公开一个实施方式的另一种芯片运行数据的采集方法的图表示意图；
[0027]图6是本公开一个实施方式的一种芯片运行数据的采集方法的图表示意图；
[0028]图7是本公开一个实施方式的另一种芯片运行数据的采集方法的图表示意图；
[0029]图8是本公开一个实施方式的一种芯片运行数据的采集方法的图表示意图；
[0030]图9是本公开一个实施方式的另一种芯片运行数据的采集方法的图表示意图；
[0031]图10是本公开一个实施方式的另一种芯片运行数据的采集方法的图表示意图；
[0032]图11是本公开一个实施方式的一种芯片运行数据的采集装置的示意图；
[0033]图12是本公开一个实施方式的一种电子设备的示意图。
具体实施方式
[0034]下面详细描述本公开的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本公开，而不能理解为对本公开的限制。
[0035]在芯片开发的过程中，在客户确定好功能需求后，系统实际人员按照功能分为各个子系统，子系统被进一步划分为功能模块，并由设计同队实现，验证人员对设计功能展开本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片运行数据的采集方法，其特征在于，包括：对仿真日志中的测试用例进行遍历，以从遍历到的所述测试用例中获取基础仿真数据；确定所述测试用例的仿真类型，并基于所述测试用例的基础仿真数据，对所述仿真类型对应的初始数据采集表进行填充，以生成第一数据采集表；在遍历结束后，针对每个仿真类型的所述第一数据采集表，基于所述仿真类型，对所述第一数据采集表进行补全，生成所述仿真类型对应的第二数据采集表。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述仿真类型，对所述第一数据采集表进行补全，生成所述仿真类型对应的第二数据采集表，包括：基于所述仿真类型，对测试用例进行分类，获取属于同一仿真类型的测试用例组；获取所述测试用例组中每个测试用例的延迟数据；针对每个所述仿真类型，基于属于所述仿真类型的延迟数据，对所述仿真类型的第一数据采集表进行补全，生成所述仿真类型对应的第二数据采集表。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述延迟数据包括：读取延迟和/或写入延迟，其中，所述基于属于所述仿真类型的延迟数据，对所述仿真类型的第一数据采集表进行补全，生成所述仿真类型对应的第二数据采集表，包括：从所述属于所述仿真类型的延迟数据中，获取最大读取延迟、最小读取延迟、最大写入延迟、最小写入延迟、平均读取延迟和平均写入延迟中的至少一个参数；将获取到的所述至少一个参数写入所述仿真类型对应的第一数据采集表中，生成所述仿真类型对应的第二数据采集表。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述仿真类型，对所述第一数据采集表进行补全，生成所述仿真类型对应的第二数据采集表，包括：响应于所述仿真类型为延迟类型，获取仿真类型属于所述延迟类型的第一测试用例；获取所述第一测试用例对应的指定主线程和所述指定主线程对应的所有从线程的第一延迟数据；基于所述第一延迟数据对所述第一数据采集表进行补全，生成所述延迟类型对应的第二数据采集表。5.根据权利要求1
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3任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述仿真类型，对所述第一数据采集表进行补全，生成所述仿真类型对应的第二数据采集表，包括：响应于仿真类型为单主线程类型，获取仿真类型属于所述单主线程类型的第二测试用例；获取所述第二测试用例对应的单主线程和所述单主线程对应的各个从线程的访问数据；基于所述访问数据生成所述单主线程类型对应的分析数据；基于所述分析数据对所述第一数据采集表进行补全，生成所述单主线程类型对应的第二数据采集表。6.根据权利要求1
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3任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述仿真类型，对所述第一数据采集表进行补全，生成所述仿真类型对应的第二数据采集表，包括：响应于所述仿真类型为多主线程类型，获取仿真类型属于所述多主线程类型的第三测
试用例；获取所述第三测试用例对应的所有主线程和所述主线程对应的从线程的第二延迟数据；基于所述第二延迟数据对所述第一数据采集表进行补全，生成所述多主线程类型对应的第二数据采集表。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对仿真日志中的测试用例进行遍历，以从遍历到的所述测试用例中获取基础仿真数据，还包括：获取所述测试用例的仿真目录；确定所述仿真目录中仿真成功的目标日志数据；基于所述目标日志数据确定所述测试用例功能配置数据和带宽数据；基于所述功能配置数据和所述带宽数据确定所述测试用例的基础仿真数据。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试用例的基础仿真数据，对所述仿真类型对应的初始数据采集表进行填充，以生成第一数据采集表，还包括：将所述功能配置数据填充至所述第一数据采集表中；基于所述带宽数据对所述测试用例进行筛选，将所述筛选后的测试用例的带宽数据，填充至所述第一数据采集表。...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔昭华，
申请(专利权)人：北京爱芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：