一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及检测技术领域，公开了一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统及方法，所述的于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统包括：光源发生模块，其用于产生光源，并标定光源强度为I0。温度调节模块，其用于对异丙基丙烯酰胺薄膜材料进行定量加热获得温度t

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统及方法


[0001]本专利技术涉及检测
，具体涉及一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统及方法。

技术介绍

[0002]在目前全球变暖形势日益严峻的大背景下，为了保证日常生产生活的顺利进行，寻找一种高效降温技术迫在眉睫。然而，传统的降温手段存在各种各样的弊端。技术手段方面，传统的降温手段包括空调、冰箱等，但使用过程中会产生大量的电力消耗，在目前的能源结构依旧以火电的情况下，这会导致全球变暖的进一步加剧。材料方面，常用的降温材料如反射性涂料，金属基反射膜等，其生产难度高，生产工艺复杂，成本通常较高，虽然有较为明显的降温效果，但难以得到真正的普及应用。
[0003]辐射制冷技术作为一种新兴的降温技术，以其高效、零能耗的降温效果而受到研究者们广泛的关注。其主要机理是利用可见光高发射、中红外高发射的辐射制冷材料，在反射太阳光，减少可能量吸收的同时，通过中红外波段将自身能量透过大气窗口源源不断的发射出去，从而实现低于环境温度的降温。然而辐射制冷技术的降温通常无法受人工控制，它的降温是全时段全季节的。在寒冷的天气情况下，辐射制冷材料降温效果反而会导致更多的能耗。可以根据实际需求进行保温或者制冷温度的调控，从而可以适用多种保温和制冷环境，这种辐射制冷材料检测困难，不便于后续的制备调控。

技术实现思路

[0004]为解决上述技术问题，本专利技术提供一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统，所述的于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统包括：光源发生模块，其用于产生光源，并标定光源强度为I0；温度调节模块，其用于对异丙基丙烯酰胺薄膜材料进行定量加热获得温度t
i
；透射光强检测模块，其用于接收透射穿过异丙基丙烯酰胺薄膜材料的光并检测获得光强度，并将温度t
i
对应的透射强度标定为I
1i
；分析计算模块，其用于将I
1i
与I0进行对比获得吸收率，将A
i
与一个预先设置A
标
进行对比计算获得吸收率差。
[0005]优选的：所述用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统还包括反射光强检测模块，其用于接收异丙基丙烯酰胺薄膜材料反射的光并检测获得光强度，并将温度t
i
对应的反射强度标定为I
2i
；分析计算模块将I
2i
与I0进行对比获得反射率，将R
i
与一个预先设置R
标
进行对比计算获得反射率差，并以温度t
i
为横坐标，R
i
、R
标
、为纵坐标构建坐标系。
[0006]优选的：所述用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统还包括误差分析模块，误差分析模块用于通过至少一个波段光的吸收率差、吸收率A
i
和/或R
i
、查找一个预先设置的吸收/反射
‑
差值因子信息表，获得差距因子。
[0007]优选的：所述温度调节模块温度调控方法为：对检测环境进行一个预先设置的目标温度t1进行冷却，然后按照一个预先设置的升温速度T进行加热，达到一个预先设置的目标温度t
n
。
[0008]优选的：所述温度调节模块温度调控方法为：判断当前温度t
’
是否大于t
n
‑
t0，t0为一个预设的温度阈值，如果是，则升温速度。
[0009]优选的：所述的用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统还包括厚度检测模块，厚度检测模块用于检测反射点和/或折射点的异丙基丙烯酰胺薄膜材料厚度H，并判断厚度H与一个预先设置的厚度值H
标
是否相同，如果否，则输出
△
H=H
‑
H
标
。
[0010]优选的：所述用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统还包括厚度分析模块，厚度分析模块用于构建坐标系，在一个预先设置的坐标群内的坐标点进行检测获得H
i
，并计算厚度标准差，判断标准差V是否大于一个预先设置的V
标
，如果是，则判定为不合格。
[0011]本专利技术还包括一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的方法，应用于上述所述的一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统，所述用于测试分析控温薄膜材料光学性能的方法包括如下步骤：S1、对检测环境进行加热；S2、向异丙基丙烯酰胺薄膜材料发射光源，并标定光源强度为I0；S3、检测透射穿过异丙基丙烯酰胺薄膜材料的光强度，并将温度t
i
对应的透射强度标定为I
1i
；S4、计算获得吸收率；S5、将A
i
与一个预先设置A
标
进行对比计算获得吸收率差；S6、以温度t
i
为横坐标，A
i
、A
标
、为纵坐标构建坐标系。
[0012]优选的：所述用于测试分析控温薄膜材料光学性能的方法还包括如下步骤：S7、检测异丙基丙烯酰胺薄膜材料反射的光强度，并将温度t
i
对应的反射强度标定为I
2i
；S8、计算获得反射率；S9、将R
i
与一个预先设置R
标
进行对比计算获得反射率差；S10、以温度t
i
为横坐标，R
i
、R
标
、为纵坐标构建坐标系；S11、通过至少一个波段光的吸收率差、吸收率A
i
和/或R
i
、查找一个预先设
置的吸收/反射
‑
差值因子信息表，获得差距因子。
[0013]本专利技术的技术效果和优点：以温度t
i
为横坐标，A
i
、A
标
、为纵坐标构建坐标系，从而便于使用者观察分析，便于总结差异，方便PNIPAM制备的调控，使PNIPAM制备调控方便，便于提高制备质量。
附图说明
[0014]图1为本专利技术提出的一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统的结构框图。
[0015]图2为本专利技术提出的一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的方法的流程图。
[0016]图3为本专利技术提出的一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的方法中的反射光强检测模块的工作流程图。
[0017]图4为本专利技术实施例1的数据表格图。
具体实施方式
[0018]下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。本专利技术的实施例是为了示例和描述起见而给出的，而并不是无遗漏的或者将本专利技术限于所公开的形式。很多修改和变化对于本领域的普通技术人员而言是显而易见的。选择和描述实施例是为了更好说明本专利技术的原理和实际应用，并且使本领域的普通技术人员能够理解本专利技术从而设计适于特定用途的带有各种修改的各种实施例。
[0019]实施例1参考图1，在本实施例中提出了一种用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统，其特征在于，所述用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统包括：光源发生模块，其用于产生光源，并标定光源强度为I0；温度调节模块，其用于对异丙基丙烯酰胺薄膜材料进行定量加热获得温度t
i
；透射光强检测模块，其用于接收透射穿过异丙基丙烯酰胺薄膜材料的光并检测获得光强度，并将温度t
i
对应的透射强度标定为I
1i
；分析计算模块，其用于将I
1i
与I0进行对比获得吸收率，将A
i
与一个预先设置A
标
进行对比计算获得吸收率差。2.根据权利要求1所述的一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统，其特征在于，所述用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统还包括反射光强检测模块，其用于接收异丙基丙烯酰胺薄膜材料反射的光并检测获得光强度，并将温度t
i
对应的反射强度标定为I
2i
；分析计算模块将I
2i
与I0进行对比获得反射率，将R
i
与一个预先设置R
标
进行对比计算获得反射率差，并以温度t
i
为横坐标，R
i
、R
标
、为纵坐标构建坐标系。3.根据权利要求2所述的一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统，其特征在于，所述用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统还包括误差分析模块，误差分析模块用于通过至少一个波段光的吸收率差、吸收率A
i
和/或R
i
、查找一个预先设置的吸收/反射
‑
差值因子信息表，获得差距因子。4.根据权利要求1所述的一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统，其特征在于，所述温度调节模块温度调控方法为：对检测环境进行一个预先设置的目标温度t1进行冷却，然后按照一个预先设置的升温速度T进行加热，达到一个预先设置的目标温度t
n
。5.根据权利要求4所述的一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统，其特征在于，所述温度调节模块温度调控方法为：判断当前温度t
’
是否大于t
n
‑
t0，t0为一个预设的温度阈值，如果是，则升温速度。6.根据权利要求1所述的一种用于测试分析控温薄膜材料光学性能的系统，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：闵心喆，袁颖颖，
申请(专利权)人：江苏满星测评信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：