一种可调式中心距卡尺示值误差校准装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于计量检测技术领域，具体公开的一种可调式中心距卡尺示值误差校准装置，包括第一中心距标准样块、第二中心距标准样块及普通量块；所述第一中心距标准样块包括第一标准孔，用于插接配合其中一个校准点测头；所述第二中心距标准样块包括第二标准孔，用于插接配合另一个校准点测头；所述第一中心距标准样块与所述第二中心距标准样块相对设置并夹持所述普通量块；所述第一标准孔与所述第二标准孔的中心距≥40mm；所述第一中心距标准样块、所述第二中心距标准样块及所述普通量块配合构成所需校准点尺寸。本实用新型专利技术能够利用现有量块，组合出需要的任意规格尺寸的中心距标准样块，灵活方便，操作简单，极大的降低检测成本。本。本。

【技术实现步骤摘要】
一种可调式中心距卡尺示值误差校准装置


[0001]本技术涉及计量检测
，尤其涉及可调式中心距卡尺示值误差校准装置。

技术介绍

[0002]原有校准方法使用专用尺寸中心距标准样块进行校准，根据测量范围不同，需配置不同规格专用中心距标准样块，规格繁多，不易配齐，且花费大。因此有必要予以改进。

技术实现思路

[0003]为解决上述问题，本技术公开了一种可调式中心距卡尺示值误差校准装置，包括第一中心距标准样块、第二中心距标准样块及普通量块；所述第一中心距标准样块包括第一标准孔，且所述第一中心距标准样块的边缘保持锐角，用于插接配合其中一个校准点测头；所述第二中心距标准样块包括第二标准孔，且所述第二中心距标准样块的边缘保持锐角，用于插接配合另一个校准点测头；所述第一中心距标准样块与所述第二中心距标准样块相对设置并夹持所述普通量块；所述第一标准孔与所述第二标准孔的中心距为A，其中，40mm≤A；所述第一中心距标准样块、所述第二中心距标准样块及所述普通量块配合构成所需校准点尺寸。
[0004]作为一种优选：所述第一中心距标准样块与所述第二中心距标准样块相互对称。
[0005]作为一种优选：所述第一标准孔设置于所述第一标准样块的中心，所述第一标准孔的直径为B，其中，B≤20mm。
[0006]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0007]本可调式中心距卡尺示值误差校准装置能够利用现有量块，组合出需要的任意规格尺寸的中心距标准样块，具有灵活方便，操作简单的效果，极大的降低检测成本。<br/>附图说明
[0008]附图是用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本技术，但并不构成对本技术的限制。
[0009]图1为对圆柱测头中心距卡尺进行示值误差测量的结构示意图；
[0010]图2为对圆锥测头中心距卡尺进行示值误差测量的结构示意图；
[0011]图3为本可调式中心距卡尺示值误差校准装置的主视图；
[0012]图4为中心距标准样块的主视图。
[0013]图中：1
‑
第一中心距标准样块；2
‑
普通量块；3
‑
第二中心距标准样块；4
‑
第一标准孔；5
‑
第二标准孔。
具体实施方式
[0014]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新
型实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0015]实施例，如图1至图4所示，本实施例公开了一种可调式中心距卡尺示值误差校准装置，包括第一中心距标准样块、第二中心距标准样块及普通量块；第一中心距标准样块包括第一标准孔，且第一中心距标准样块的边缘保持锐角，用于插接配合其中一个校准点测头；第二中心距标准样块包括第二标准孔，且第二中心距标准样块的边缘保持锐角，用于插接配合另一个校准点测头；第一中心距标准样块与第二中心距标准样块相对设置并夹持普通量块；第一中心距标准样块、第二中心距标准样块及普通量块配合构成所需校准点尺寸；第一标准孔与第二标准孔的中心距为A，其中，40mm≤A。例如，A可设置为40mm、42mm。
[0016]第一中心距标准样块与第二中心距标准样块相互对称。
[0017]第一标准孔设置于第一标准样块的中心，第一标准孔的直径为B，其中，B≤20mm，例如B可设置为8mm、10mm、12mm、15mm、20mm。
[0018]本可调式中心距卡尺示值误差校准装置的具体工作过程如下：
[0019]用中心距标准样块校准，校准点的分布，对于测量范围在300mm内的中心距卡尺，不少于均匀分布3点。对于测量范围大于300mm的中心距卡尺，设置不少于均匀分布6点。校准时，根据测量范围选定校准点，确定使用配合的量块(3)尺寸，使中心距卡尺的两测头分别与第一中心距标准样块、第二中心距标准样块上的两孔壁相接触，根据测头形式不同，在各测量点上进行读数，经数据处理得到各测量点中心距示值误差。
[0020]显然，本技术的上述实施例仅仅是为了清楚说明本技术所作的举例，而并非是对本技术的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术权利要求的保护范围之内。为了更好的说明本技术的目的和优点，下面结合附图和实例对
技术实现思路
做进一步说明，但本技术不只限于该实例。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可调式中心距卡尺示值误差校准装置，其特征在于：包括第一中心距标准样块、第二中心距标准样块及普通量块；所述第一中心距标准样块包括第一标准孔，且所述第一中心距标准样块的边缘保持锐角，用于插接配合其中一个校准点测头；所述第二中心距标准样块包括第二标准孔，且所述第二中心距标准样块的边缘保持锐角，用于插接配合另一个校准点测头；所述第一中心距标准样块与所述第二中心距标准样块相对设置并夹持所述普通量块；所述第一标准孔与所述第二标...

【专利技术属性】
技术研发人员：张俊芳，宋贝贝，郝宝峰，刘开军，王志翔，包鹏，潘晓宇，张艳珍，王丽萍，杨文天，师文静，
申请(专利权)人：山西北方机械制造有限责任公司，
类型：新型
国别省市：