本实用新型专利技术涉及一种电子元件测试装置，包括用于放置电子元件的测试座、压接机构及驱动机构。压接机构包括承载板及至少两个测试压头，至少两个测试压头均安装在承载板。驱动机构与承载板驱动连接，用于带动承载板做升降运动，使承载板带动至少两个测试压头分别压接在测试座的电子元件上。作业时，驱动机构对承载板施加作用力，带动承载板做下降运动，进而带动所有的测试压头压接在电子元件进行测试作业。完成测试后，驱动机构对承载板施加作用力，带动承载板做上升运动，进而带动所有的测试压头上抬至与电子元件分离。如此，相比于每个测试工位均设置一个气缸进行压接，可简化结构，降低成本。降低成本。降低成本。
【技术实现步骤摘要】
电子元件测试装置
[0001]本技术涉及电子元件测试
，特别是涉及一种电子元件测试装置。
技术介绍
[0002]电子元件是电子信息产业的核心，制造完成后，需要采用电子元件测试装置对电子元件的性能进行测试。具体将电子元件放置在测试工位上，电子元件测试装置向下运动压在电子元件上进行压接测试。然而，常见电子元件测试装置的每个测试工位均采用一个气缸进行压接，成本高，结构复杂。
技术实现思路
[0003]基于此，有必要提供一种电子元件测试装置，简化结构，降低成本。
[0004]一种电子元件测试装置，包括：
[0005]测试座，所述测试座用于放置电子元件；
[0006]压接机构，所述压接机构包括承载板及至少两个测试压头，至少两个所述测试压头均安装在所述承载板；及
[0007]驱动机构，所述驱动机构与所述承载板驱动连接，用于带动所述承载板做升降运动，使所述承载板带动至少两个所述测试压头分别压接在所述测试座的电子元件上。
[0008]在其中一个实施例中，所述承载板的侧部设有第一导向部；所述电子元件测试装置还包括第二导向部，所述第二导向部能够与所述第一导向部滑动配合；所述驱动机构连接于所述第二导向部，用于带动所述第二导向部平移，使所述承载板在所述第一导向部与所述第二导向部的配合下能够做升降运动。
[0009]在其中一个实施例中，所述第一导向部包括能够与所述第二导向部滑动配合的斜槽，所述斜槽相对所述承载板的高度方向倾斜设置；所述第一导向部还包括能够与所述第二导向部滑动配合的横槽，所述横槽设于所述斜槽的顶部，并与所述斜槽连通，所述横槽沿所述第二导向部的平移方向延伸设置。
[0010]在其中一个实施例中，所述电子元件测试装置还包括对应所述第一导向部设置的导轨及滑块，所述驱动机构连接于所述滑块；所述第二导向部设于所述滑块朝向所述第一导向部的一侧，并在所述导轨与所述滑块的配合下做平移运动。
[0011]在其中一个实施例中，所述承载板的板面设有至少一个导向孔，所述导向孔内穿设有沿所述承载板高度方向延伸的导向轴，所述承载板在所述第一导向部与所述第二导向部的滑动配合下能够沿所述导向轴移动。
[0012]在其中一个实施例中，所述驱动机构包括动力件及与所述动力件驱动连接的连杆组件，所述连杆组件与所述第二导向部连接。
[0013]在其中一个实施例中，所述连杆组件包括与所述动力件输出轴驱动连接的第一连杆、与所述第一连杆活动连接的第二连杆、与所述第二连杆活动连接的第三连杆、及与所述第三连杆活动连接的第四连杆，所述第四连杆与所述第二导向部活动连接；所述第一连杆
设有第一旋转中心部，所述第一连杆能够绕所述第一旋转中心部旋转；所述第三连杆设有第二旋转中心部，所述第三连杆能够绕所述第二旋转中心部旋转。
[0014]在其中一个实施例中，所述第一导向部与所述第二导向部均设有至少两个，至少两个所述第一导向部分别设于所述承载板的两侧部，至少两个所述第二导向部分别设于所述承载板的两侧；所述第二连杆、所述第三连杆及所述第四连杆均设有两个，其中一个所述第二连杆活动连接于所述第一连杆的中部，另外一个所述第二连杆活动连接于所述第一连杆远离所述动力件的一端；两个所述第四连杆分别活动连接于所述承载板两侧的至少两个所述第二导向部，并通过两个所述第三连杆分别与两个所述第二连杆活动一一对应连接。
[0015]在其中一个实施例中，所述压接机构包括安装在所述承载板板面的膜片气缸，所述膜片气缸与所述测试压头驱动连接，用于带动所述测试压头做升降运动；所述压接机构还包括浮动结构，所述浮动结构设于所述膜片气缸与所述测试压头之间。
[0016]在其中一个实施例中，所述电子测试装置还包括壳体，所述壳体的顶部设有与所述承载板适配的开口，所述承载板安装在所述开口，并与所述壳体围成测试腔；所述压接机构与所述测试座均位于所述测试腔内。
[0017]上述的电子元件测试装置，测试作业时，启动驱动机构，驱动机构对承载板施加作用力，带动承载板做下降运动，进而带动承载上上所有的测试压头压接在电子元件进行测试作业。待测试作业完成后，驱动机构对承载板施加作用力，带动承载板做上升运动，进而带动承载板上所有的测试压头上抬至与电子元件分离。如此，相比于每个测试工位均设置一个气缸进行压接，本实施例采用驱动机构带动承载板做升降运动，进而带动承载板上所有的测试压头进行压接测试，这样能够简化结构，降低成本。
附图说明
[0018]构成本申请的一部分的附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。
[0019]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获取其他的附图。
[0020]图1为本技术一实施例的电子元件测试装置在初始状态下的结构示意图；
[0021]图2为图1所示的电子元件测试装置在测试作业时的结构示意图；
[0022]图3为图1所示的电子元件测试装置的部分结构示意图一；
[0023]图4为图3所示的电子元件测试装置的部分结构示意图二；
[0024]图5为图4中A处的局部放大示意图；
[0025]图6为图1所示的电子元件测试装置在俯视状态下的简图；
[0026]图7为图1所示的电子元件测试装置的压接机构的结构示意图。
[0027]附图标号说明：10、测试座；11、测试工位；20、压接机构；21、承载板；211、第一导向部；2111、斜槽；2112、横槽；212、导向轴；22、测试压头；23、膜片气缸；24、浮动结构；30、驱动机构；31、动力件；32、连杆组件；321、第一连杆；3211、第一旋转中心部；322、第二连杆；323、第三连杆；3231、第二旋转中心部；324、第四连杆；40、第二导向部；50、滑块；60、导轨；70、壳
体；71、测试腔。
具体实施方式
[0028]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0029]请参阅图1、图2和图3，本技术一实施例的电子元件测试装置，包括测试座10、压接机构20及驱动机构30。测试座10用于放置电子元件。压接机构20包括承载板21及至少两个测试压头22，至少两个测试压头22均安装在承载板21。驱动机构30与承载板21驱动连接，用于带动承载板21做升降运动，使承载板21带动至少两个测试压头22分别压接在测试座本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电子元件测试装置，其特征在于，包括：测试座(10)，所述测试座(10)用于放置电子元件；压接机构(20)，所述压接机构(20)包括承载板(21)及至少两个测试压头(22)，至少两个所述测试压头(22)均安装在所述承载板(21)；及驱动机构(30)，所述驱动机构(30)与所述承载板(21)驱动连接，用于带动所述承载板(21)做升降运动，使所述承载板(21)带动至少两个所述测试压头(22)分别压接在所述测试座(10)的电子元件上。2.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述承载板(21)的侧部设有第一导向部(211)；所述电子元件测试装置还包括第二导向部(40)，所述第二导向部(40)能够与所述第一导向部(211)滑动配合；所述驱动机构(30)连接于所述第二导向部(40)，用于带动所述第二导向部(40)平移，使所述承载板(21)在所述第一导向部(211)与所述第二导向部(40)的配合下能够做升降运动。3.根据权利要求2所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述第一导向部(211)包括能够与所述第二导向部(40)滑动配合的斜槽(2111)，所述斜槽(2111)相对所述承载板(21)的高度方向倾斜设置；所述第一导向部(211)还包括能够与所述第二导向部(40)滑动配合的横槽(2112)，所述横槽(2112)设于所述斜槽(2111)的顶部，并与所述斜槽(2111)连通，所述横槽(2112)沿所述第二导向部(40)的平移方向延伸设置。4.根据权利要求2所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述电子元件测试装置还包括对应所述第一导向部(211)设置的导轨(60)及滑块(50)，所述驱动机构(30)连接于所述滑块(50)；所述第二导向部(40)设于所述滑块(50)朝向所述第一导向部(211)的一侧，并在所述导轨(60)与所述滑块(50)的配合下做平移运动。5.根据权利要求2所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述承载板(21)的板面设有至少一个导向孔，所述导向孔内穿设有沿所述承载板(21)高度方向延伸的导向轴(212)，所述承载板(21)在所述第一导向部(211)与所述第二导向部(40)的滑动配合下能够沿所述导向轴(212)移动。6.根据权利要求2至5任一项所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述驱动机构(30)包括动力件(31)及与所述动力件(31)驱动连接的连杆...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐铭阳，胡冲，鲍军其，王昭敦，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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