液晶面板的亮点修补方法及液晶面板技术

本申请提供一种液晶面板的亮点修补方法及液晶面板。该方法包括提供液晶面板；液晶面板包括阵列基板；阵列基板包括呈阵列式排布的多个像素电极、对应每一行像素电极设置的沿横向延伸的多条扫描线、对应每一列像素电极设置的沿纵向延伸的多条数据线；检测出液晶面板的显示异常像素电极；根据显示异常像素电极的轮廓确定阻断路径；沿阻断路径去除显示异常像素电极中的部分像素电极，以阻断显示异常像素电极的主体部与数据线的连接，以及阻断显示异常像素电极的主体部与扫描线的连接。该方法能够完全阻断异常像素电极与数据线和扫描线的连接；且能够有效避免因切割公共电极线造成金属溅射，导致液晶面板的其它线路异常的问题发生。生。生。

【技术实现步骤摘要】
液晶面板的亮点修补方法及液晶面板


[0001]本专利技术涉及液晶显示
，尤其涉及一种液晶面板的亮点修补方法及液晶面板。

技术介绍

[0002]在液晶面板的制程过程中，会产生许多颗粒物，这些颗粒物的部分可能会残留于液晶面板上(Array side or CF side，阵列基板或彩膜基板)，而残留于液晶面板上的颗粒物，易造成短路而使液晶面板点亮时处于常亮状态，即形成异常像素点。为了保证液晶面板的品质以及人眼的感官，亮点是绝不可有的，因此需要将亮点修补成暗点。
[0003]目前，一般采用切割工艺进行亮点修补，即，将像素电极与薄膜晶体管的漏极切断，或将数据线与薄膜晶体管的源极切断；然而，该方法修补之后的异常像素点仍然可能处于常亮状态。现有技术中也有通过在公共走线上打孔，从而将公共走线与像素电极短路的方式进行修补，但该工艺极易造成金属溅射，而导致液晶面板的其它线路异常。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种液晶面板的亮点修补方法及液晶面板，该液晶面板的亮点修补方法能够解决修补之后的异常像素点仍然常亮的问题，且不会造成金属溅射而导致的液晶面板的其它线路异常的问题。
[0005]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种液晶面板的亮点修补方法。该方法包括：提供液晶面板；所述液晶面板包括阵列基板；所述阵列基板包括呈阵列式排布的多个像素电极、对应每一行像素电极设置的沿横向延伸的多条扫描线、对应每一列像素电极设置的沿纵向延伸的多条数据线；检测出所述液晶面板的显示异常像素电极；该方法进一步还包括：根据所述显示异常像素电极的轮廓确定阻断路径；沿所述阻断路径去除所述显示异常像素电极中的部分像素电极，以阻断所述显示异常像素电极的主体部与所述数据线的连接，以及阻断所述显示异常像素电极的主体部与所述扫描线的连接。
[0006]其中，相邻两根所述数据线与相邻两根所述扫描线围设形成像素区域；所述像素区域包括至少一个所述显示异常像素电极，每一所述显示异常像素电极对应的所述阻断路径均沿所述显示异常像素电极的周圈延伸且呈闭环状。
[0007]其中，所述阻断路径的每一位置与所述显示异常像素电极的周向边缘之间的垂直距离均相同。
[0008]其中，相邻两根所述数据线与相邻两根所述扫描线围设形成像素区域；所述像素区域包括所述显示异常像素电极和显示正常像素电极；所述阻断路径至少沿所述显示异常像素的整个边缘轮廓除去与所述显示正常像素电极对应的部分边缘轮廓之外的其他部分边缘轮廓延伸。
[0009]其中，两个相邻所述显示异常像素电极之间没有所述数据线和所述扫描线，两个相邻所述显示异常像素电极对应一个环形阻断路径。
[0010]其中，所述阻断路径对应所述显示异常像素电极的周向边缘且与所述显示异常像素电极的周向边缘重合；所述沿所述阻断路径去除所述显示异常像素电极中的部分像素电极的步骤具体包括：沿所述显示异常像素电极的周向方向去除所述显示异常像素电极的边缘部分。
[0011]其中，所述阻断路径对应所述显示异常像素电极的周向边缘且与所述显示异常像素电极的周向边缘间隔；所述沿所述阻断路径去除所述显示异常像素电极中的部分像素电极的步骤具体包括：沿所述显示异常像素电极的周向方向去除所述显示异常像素电极靠近边缘的部分，以将所述显示异常像素电极切割成主体部以及围绕所述主体部且与所述环绕部之间间隔且绝缘设置的环绕部。
[0012]为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种液晶面板。该液晶面板为采用上述所涉及的液晶面板的亮点修补方法进行修补后的液晶面板。
[0013]为解决上述技术问题，本申请采用的又一个技术方案是：提供一种经亮点修补后的液晶面板，包括：阵列基板，包括呈阵列式排布的多个像素电极、对应每一行像素电极设置的沿横向延伸的多条扫描线、对应每一列像素电极设置的沿纵向延伸的多条数据线；其中，所述多个像素电极中包括显示异常像素电极，所述显示异常像素电极的主体部与所述扫描线和所述数据线均间隔且绝缘设置。
[0014]其中，所述显示异常像素电极还包括围绕所述主体部的环绕部，所述主体部与所述环绕部之间间隔且绝缘设置。
[0015]本申请提供的液晶面板的亮点修补方法及液晶面板，该液晶面板的亮点修补方法通过提供液晶面板；然后检测出液晶面板的显示异常像素电极；之后根据显示异常像素电极的轮廓确定阻断路径；并沿阻断路径去除显示异常像素电极中的部分像素电极，以阻断显示异常像素电极的主体部与数据线的连接，以及阻断显示异常像素电极的主体部与扫描线的连接；该方法不仅能够对显示异常像素进行修补，以使其处于常暗状态；且该方法能够完全阻断异常像素电极与数据线和扫描线的连接；同时由于该方法不会对液晶面板的公共电极线进行切割，从而能够有效避免因切割公共电极线造成金属溅射，导致液晶面板的其它线路异常的问题发生。
附图说明
[0016]图1为本申请一实施例提供的液晶面板的亮点修补方法的流程图；
[0017]图2为本申请一实施例提供的液晶面板的亮点修补方法中液晶面板的剖面结构示意图；
[0018]图3为本申请第一实施例提供的阵列基板上阻断路径的示意图；
[0019]图4为本申请第二实施例提供的阵列基板上阻断路径的示意图；
[0020]图5为本申请第三实施例提供的阵列基板上阻断路径的示意图；
[0021]图6为本申请第四实施例提供的阵列基板上阻断路径的示意图；
[0022]图7为本申请第五实施例提供的阵列基板上阻断路径的示意图；
[0023]图8为本申请第六实施例提供的阵列基板上阻断路径的示意图；
[0024]图9为沿图7所示的阻断路径去除显示异常像素电极靠近边缘的部分后的示意图。
[0025]附图标记说明
[0026]阵列基板1；像素电极11；显示异常像素电极11a；主体部111；环绕部112；阻断沟槽113；第一电极区域114；第二电极区域115；连接区域116；显示正常像素电极11b；扫描线12；数据线13；公共电极线14；薄膜晶体管15；第二配向层16；像素区域A；彩膜基板2；公共电极21；第一配向层22。
具体实施方式
[0027]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0028]本申请中的术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种液晶面板的亮点修补方法，包括：提供液晶面板；所述液晶面板包括阵列基板；所述阵列基板包括呈阵列式排布的多个像素电极、对应每一行像素电极设置的沿横向延伸的多条扫描线、对应每一列像素电极设置的沿纵向延伸的多条数据线；检测出所述液晶面板的显示异常像素电极；其特征在于，所述方法进一步还包括：根据所述显示异常像素电极的轮廓确定阻断路径；沿所述阻断路径去除所述显示异常像素电极中的部分像素电极，以阻断所述显示异常像素电极的主体部与所述数据线的连接，以及阻断所述显示异常像素电极的主体部与所述扫描线的连接。2.根据权利要求1所述的液晶面板的亮点修补方法，其特征在于，相邻两根所述数据线与相邻两根所述扫描线围设形成像素区域；所述像素区域包括至少一个所述显示异常像素电极，每一所述显示异常像素电极对应的所述阻断路径均沿所述显示异常像素电极的周圈延伸且呈闭环状。3.根据权利要求2所述的液晶面板的亮点修补方法，其特征在于，所述阻断路径的每一位置与所述显示异常像素电极的周向边缘之间的垂直距离均相同。4.根据权利要求1所述的液晶面板的亮点修补方法，其特征在于，相邻两根所述数据线与相邻两根所述扫描线围设形成像素区域；所述像素区域包括所述显示异常像素电极和显示正常像素电极；所述阻断路径至少沿所述显示异常像素的整个边缘轮廓除去与所述显示正常像素电极对应的部分边缘轮廓之外的其他部分边缘轮廓延伸。5.根据权利要求1所述的液晶面板的亮点修补方法，其特征在于，两个相邻所述显示异常像素电极之间没有所述数据线和所述扫描线，两个相邻所述显示异常像素电极对应一个环形阻断路径。6.根据权利要求1<...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘旭，董硕硕，袁海江，
申请(专利权)人：惠科股份有限公司，
类型：发明
国别省市：