低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法及装置制造方法及图纸

技术编号:34388732 阅读:19 留言:0更新日期:2022-08-03 21:14
本发明专利技术公开了一种低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法及装置,获取低压综合配电箱上的超声波传感器检测到的待测元件发生击穿时所发出的超声波信号的方向信息;根据方向信息确定超声波信号发射源的位置,以进行击穿位置的定位,进而实现在不打开低压综合配电箱的盖板的情况下对击穿位置的定位。箱的盖板的情况下对击穿位置的定位。箱的盖板的情况下对击穿位置的定位。

【技术实现步骤摘要】
低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法及装置


[0001]本专利技术属于配网物资入网检测
,特别是涉及一种低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法、装置及计算机设备。

技术介绍

[0002]低压综合配电箱是一种能够实现电能分配、控制、保护以及无功补偿的配电设备,是配电网中的关键设备,因此,低压综合配电箱的电气性能将直接影响配网系统的安全运行。工频耐压试验是综合配电箱入网试验的一项重要实验,主要考核综合配电箱内部元件的绝缘性能。综合配电箱的工频耐压试验中,将工频耐压试验装置与综合配电箱内的电气元件连接起来,将试验电压施加于电气元件上,如果元件的绝缘性能不合格,就会在绝缘薄弱处发生击穿现象。
[0003]工频耐压试验必须模拟配电箱的实际运行状态,所以试验中配电箱的盖板必须处于关闭状态,使得综合配电箱成为封闭的箱体,这就导致了在发生工频耐压击时,无法确定箱体内的击穿位置,无法针对击穿位置进行电气元件针对性调整。

技术实现思路

[0004]有鉴于此,本专利技术提供一种低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法、装置及计算机设备,主要目的在于实现在不打开低压综合配电箱的盖板的情况下确定击穿位置。
[0005]一个方面,本专利技术提供了一种低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法,包括:
[0006]获取低压综合配电箱上的超声波传感器检测到的待测元件发生击穿时所发出的超声波信号的方向信息;
[0007]根据方向信息确定超声波信号发射源的位置,以进行击穿位置的定位。
[0008]其中,超声波传感器为超声波声强传感器,超声波传感器所在的位置包括位于低压综合配电箱上的有别于待测元件所在侧壁的其他侧壁上。
[0009]其中,低压综合配电箱上的超声波传感器检测待测元件发生击穿时所发出的超声波信号的方向信息,包括:
[0010]获取超声波传感器在多个预设扫描方向上依次进行超声波扫描得到的超声波信号的信号强度;
[0011]根据信号强度和预设扫描方向确定方向信息。
[0012]其中,多个预设扫描方向包括超声波传感器所在水平面内的预设扫描方向,以及平行于超声波传感器所在的综合配电箱的侧壁的竖直面内的预设扫描方向;
[0013]其中,超声波传感器在任一预设扫描方向上以扇形扫描面进行扫描。
[0014]其中,根据方向信息确定超声波信号发射源的位置信息,以进行击穿位置的定位,包括:
[0015]根据超声波传感器在低压综合配电箱上的位置以及方向信息,确定超声波传感器基于方向信息的延长线与低压综合配电箱的侧壁的焦点;
[0016]根据焦点确定超声波信号发射源的位置。
[0017]其中,超声波传感器的数量至少为四个,根据焦点确定超声波信号发射源的位置,包括:
[0018]获取各个超声波传感器对应的焦点;
[0019]计算各个焦点的中心位置得到超声波信号发射源的位置。
[0020]其中,超声波传感器的数量至少为四个,超声波传感器设置于低压综合配电箱同一侧壁上,且超声波传感围绕低压综合配电箱的侧壁的边缘均匀分布。
[0021]另一方面,本专利技术实施例还提供了一种低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位装置,包括:
[0022]方向信息获取模块,用于获取低压综合配电箱上的超声波传感器检测待测元件发生击穿时所发出的超声波信号的方向信息;
[0023]击穿位置确定模块,用于根据方向信息确定超声波信号发射源的位置,以进行击穿位置的定位。
[0024]又一方面,本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现以下步骤:
[0025]获取低压综合配电箱上的超声波传感器检测到的待测元件发生击穿时所发出的超声波信号的方向信息;
[0026]根据方向信息确定超声波信号发射源的位置,以进行击穿位置的定位。
[0027]再一方面,本专利技术实施例还提供一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,处理器执行程序时实现以下步骤:
[0028]获取低压综合配电箱上的超声波传感器检测到的待测元件发生击穿时所发出的超声波信号的方向信息;
[0029]根据方向信息确定超声波信号发射源的位置,以进行击穿位置的定位。
[0030]本专利技术实施例提供的低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法、装置及计算机设备,实现在不打开低压综合配电箱的盖板的情况下确定击穿位置。现有技术中,工频耐压试验必须模拟配电箱的实际运行状态,所以试验中配电箱的盖板必须处于关闭状态,导致在发生工频耐压击时,无法确定箱体内的击穿位置,无法针对击穿位置进行电气元件针对性调整。与现有技术相比,本技术方案中,在低压综合配电箱上设置超声波传感器,当待测元件发生击穿时,击穿位置将产生超声波并向外围传播,超声波传感器检测超声波信号的方向,进而根据超声波信号的方向以及低压综合配电箱的结构即可得到击穿位置,实现不打开低压综合配电箱即可获取击穿位置,使得工频耐压试验过程的规范,获得结果准确。
附图说明
[0031]通过阅读下文优选实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中,用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中:
[0032]图1示出了本专利技术实施例提供的低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法的
示例性系统架构示意图;
[0033]图2示出了本专利技术实施例提供的一种低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法流程图;
[0034]图3示出了本专利技术实施例提供的另一种低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法流程图;
[0035]图4示出了本专利技术实施例提供的超声波传感器在低压综合配电箱上的分布位置的示意图;
[0036]图5示出了本专利技术实施例提供的一种低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位装置组成框图;
[0037]图6示出了本专利技术实施例提供的另一种低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位装置组成框图。
具体实施方式
[0038]这里将详细地对示例性实施例进行说明,其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本专利技术相一致的所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本专利技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。
[0039]在本专利技术使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本专利技术。在本专利技术和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解,本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
[0040]应当理解,尽管在本专利技术可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息,但本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法,其特征在于,包括:获取所述低压综合配电箱上的超声波传感器检测到的待测元件发生击穿时所发出的超声波信号的方向信息;根据所述方向信息确定所述超声波信号发射源的位置,以进行所述击穿位置的定位。2.根据权利要求1所述的低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法,其特征在于,所述超声波传感器为超声波声强传感器,所述超声波传感器所在的位置包括位于所述低压综合配电箱上的有别于所述待测元件所在侧壁的其他侧壁上。3.根据权利要求2所述的低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法,其特征在于,所述低压综合配电箱上的超声波传感器检测待测元件发生击穿时所发出的超声波信号的方向信息,包括:获取所述超声波传感器在多个预设扫描方向上依次进行超声波扫描得到的所述超声波信号的信号强度;根据所述信号强度和所述预设扫描方向确定所述方向信息。4.根据权利要求3所述的低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法,其特征在于,多个所述预设扫描方向包括所述超声波传感器所在水平面内的预设扫描方向,以及平行于所述超声波传感器所在的综合配电箱的侧壁的竖直面内的预设扫描方向;其中,所述超声波传感器在任一所述预设扫描方向上以扇形扫描面进行扫描。5.根据权利要求1所述的低压综合配电箱的工频耐压击穿位置定位方法,其特征在于,所述根据所述方向信息确定所述超声波信号发射源的位置信息,以进行所述击穿位置的定位,包括:根据所述超声波传感器在所述低压综合...

【专利技术属性】
技术研发人员:程胤璋李亚国陈昱同王瑞珏李小婧刘星廷杨冬冬董理科郑志宏张凯徐玉东王海旗
申请(专利权)人:国网山西省电力公司电力科学研究院
类型:发明
国别省市:

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