一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法技术

技术编号:34370855 阅读:87 留言:0更新日期:2022-07-31 11:05
本发明专利技术公开了一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法,包括步骤S1:通信模块上电后与双目黑光灯进行第一通信连接并且与测量终端进行第二通信连接,通信模块自动判断是否分别与双目黑光灯和测量终端通信连接成功。本发明专利技术公开的一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法,其利用双目黑光灯代替人眼进行图像采集,并通过通信模块传送到测量终端,测量终端设有专用图像接收单元,并有专用缺陷尺寸测量的图像测量单元进行图像缺陷选取并进行尺寸测量,从根本上减少人力成本的投入,同时也避免工人长期工作在UV

An automatic measurement method of defect size based on binocular black light lamp

【技术实现步骤摘要】
一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法


[0001]本专利技术属于荧光粉尺寸探伤测量
,具体涉及一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法。

技术介绍

[0002]在荧光磁粉探伤中,缺陷观察及尺寸测量环节需要专业技工进行操作,一方面人力成本极高,其次人眼观察具有主观性强、稳定性差以及漏检率高等劣势;人工尺寸测量具有操作误差及测量误差,给测量结果的准确性造成很大影响。
[0003]因此,针对上述问题,予以进一步改进。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提供一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法,其利用双目黑光灯代替人眼进行图像采集,并通过通信模块传送到测量终端,测量终端设有专用图像接收单元,将图片资料保存至专用文件夹,并有专用缺陷尺寸测量的图像测量单元进行图像缺陷选取并进行尺寸测量,从根本上减少人力成本的投入,同时也避免工人长期工作在UV

A(黑光灯)环境下,降低了身体产生职业性疾病的风险,解决了行业的痛点。
[0005]为达到以上目的,本专利技术提供一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法,用于荧光磁粉探伤,包括以下步骤:
[0006]步骤S1:通信模块上电后与双目黑光灯进行第一通信连接并且与测量终端进行第二通信连接,通信模块自动判断是否分别与双目黑光灯和测量终端通信连接成功,如果是则执行步骤S2,否则对通信连接不成功的支路进行继续连接并且生成相对应的连接故障信息进行显示(如果第一通信连接出现故障则可以通过声光显示第一故障,如果第二通信连接出现故障则可以通过声光显示第二故障);
[0007]步骤S2:双目黑光灯通过图像采集单元对检测部件进行图像采集,从而形成图像采集数据并且对图像采集数据进行第一处理,从而判断当前获得的图像采集数据是否完整,如果完整则将图像采集数据传输到通信模块的输入端;
[0008]步骤S3:测量终端通过图像接收单元接收从通信模块的输出端输出的图像采集数据,从而形成图像接收数据并且对图像接收数据进行第二处理,从而判断当前获得的图像接收数据是否完整,如果完整则将图像接收数据传输到图像测量单元;
[0009]步骤S4:图像测量单元对图像接收数据进行测量,以形成图像缺陷数据并且对图像缺陷数据进行第三处理,从而判断当前获得的图像缺陷数据是否完整,如果完整则将图像缺陷数据进行输出。
[0010]作为上述技术方案的进一步优选的技术方案,步骤S2具体实施为以下步骤:
[0011]步骤S2.1:如果当前获得的图像采集数据完整,则执行步骤S3:
[0012]步骤S2.2:如果当前获得的图像采集数据不完整,则对图像采集单元进行处理(优选为重启,关闭再打开)后再次对检测部件进行图像采集(从而再次判断新的图像采集数据
是否完整),直至采集到完整的图像采集数据,并且在预设的时间内无法采集到完整的图像采集数据,则生成图像采集故障信息进行显示(以提醒工作人员查看相关情况,避免图像采集单元无限制进行采集)。
[0013]作为上述技术方案的进一步优选的技术方案,
[0014]作为上述技术方案的进一步优选的技术方案,步骤S3具体实施为以下步骤:
[0015]步骤S3.1:如果当前获得的图像接收数据完整,则执行步骤S4:
[0016]步骤S3.2:如果当前获得的图像接收数据不完整,则对图像接收单元进行处理(优选为重启,关闭再打开)后再次对通信模块传输的进行图像采集数据进行接收(从而再次判断新的图像接收数据是否完整),直至接收到完整的图像接收数据,并且在预设的时间内无法接收到完整的图像接收数据,则生成图像接收故障信息进行显示(以提醒工作人员查看相关情况,避免图像接收单元无限制进行接收)。
[0017]作为上述技术方案的进一步优选的技术方案,步骤S4具体实施为以下步骤:
[0018]步骤S4.1:如果当前获得的图像缺陷数据完整,则对图像缺陷数据进行保存输出;
[0019]步骤S4.2:如果当前获得的图像缺陷数据不完整,则对图像测量单元进行处理(优选为重启,关闭再打开)后再次对图像接收单元传输的进行图像接收数据进行接收(从而再次判断新的图像缺陷数据是否完整),直至接收到完整的图像缺陷数据,并且在预设的时间内无法接收到完整的图像缺陷数据,则生成图像缺陷故障信息进行显示(以提醒工作人员查看相关情况,避免图像测量单元无限制进行接收)。
[0020]作为上述技术方案的进一步优选的技术方案,步骤S4之后还包括步骤S5:通信模块下电并且分别断开与双目黑光灯和测量终端的通信连接。
[0021]本专利技术的有益效果在于:
[0022]1、本专利技术利用双目黑光灯代替人眼进行图像信息的采集,并将其传输至测量终端,首先大大减少了荧光磁粉探伤的人工成本投入,其次,利用机器视觉代替人眼,检测速率更快、效率更高、漏检率更低。
[0023]2、本专利技术利用专用缺陷尺寸测量单元进行缺陷尺寸的准确测量,并保存至特定文件夹,首先减少了传统缺陷尺寸测量的操作误差及测量误差,其次,检测信息保存具有数据的可追溯性,提高后续检查的效率。
[0024]3、本专利技术可实现缺陷尺寸的自动化测量,避免工人长期处于UV

A环境下而产生眼部及皮肤性疾病,可解决荧光磁粉检测的行业痛点。
附图说明
[0025]图1是本专利技术的一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法的示意图。
具体实施方式
[0026]以下描述用于揭露本专利技术以使本领域技术人员能够实现本专利技术。以下描述中的优选实施例只作为举例,本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本专利技术的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本专利技术的精神和范围的其他技术方案。
[0027]在本专利技术的优选实施例中,本领域技术人员应注意,本专利技术所涉及的上电、下电等
可被视为现有技术。
[0028]优选实施例。
[0029]本专利技术公开了一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法,用于荧光磁粉探伤,包括以下步骤:
[0030]步骤S1:通信模块上电后与双目黑光灯进行第一通信连接并且与测量终端进行第二通信连接,通信模块自动判断是否分别与双目黑光灯和测量终端通信连接成功,如果是则执行步骤S2,否则对通信连接不成功的支路进行继续连接并且生成相对应的连接故障信息进行显示(如果第一通信连接出现故障则可以通过声光显示第一故障,如果第二通信连接出现故障则可以通过声光显示第二故障);
[0031]步骤S2:双目黑光灯通过图像采集单元对检测部件进行图像采集,从而形成图像采集数据并且对图像采集数据进行第一处理,从而判断当前获得的图像采集数据是否完整,如果完整则将图像采集数据传输到通信模块的输入端;
[0032]步骤S3:测量终端通过图像接收单元接收从通信模块的输出端输出的图像采集数据,从而形成图像接收数据并且对图像接收数据进行第二处理,从而判断当前获得的图像接收本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法,用于荧光磁粉探伤,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:通信模块上电后与双目黑光灯进行第一通信连接并且与测量终端进行第二通信连接,通信模块自动判断是否分别与双目黑光灯和测量终端通信连接成功,如果是则执行步骤S2,否则对通信连接不成功的支路进行继续连接并且生成相对应的连接故障信息进行显示;步骤S2:双目黑光灯通过图像采集单元对检测部件进行图像采集,从而形成图像采集数据并且对图像采集数据进行第一处理,从而判断当前获得的图像采集数据是否完整,如果完整则将图像采集数据传输到通信模块的输入端;步骤S3:测量终端通过图像接收单元接收从通信模块的输出端输出的图像采集数据,从而形成图像接收数据并且对图像接收数据进行第二处理,从而判断当前获得的图像接收数据是否完整,如果完整则将图像接收数据传输到图像测量单元;步骤S4:图像测量单元对图像接收数据进行测量,以形成图像缺陷数据并且对图像缺陷数据进行第三处理,从而判断当前获得的图像缺陷数据是否完整,如果完整则将图像缺陷数据进行输出。2.根据权利要求1所述的一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法,其特征在于,步骤S2具体实施为以下步骤:步骤S2.1:如果当前获得的图像采集数据完整,则执行步骤S3:步骤S2.2:如果当前获得的图像采集数据不完整,则对图像采集...

【专利技术属性】
技术研发人员:李龙杨芸陈翠丽孙宏飞李婷婷
申请(专利权)人:嘉兴市磁海无损检测设备制造有限公司
类型:发明
国别省市:

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