多通道测试控制设备、自动化多通道测试系统及方法技术方案

本申请公开一种多通道测试控制设备、自动化多通道测试系统及方法。多通道测试控制设备包括：连接LCR测试仪的LCR连接器、连接DCR测试仪的DCR连接器、切换模块、多个通道输出模块与处理模块。处理模块基于计算机装置发送的不同控制指令控制切换模块导通连接LCR连接器或DCR连接器，及控制与不同控制指令对应的通道输出模块与其对应的待测试产品导通连接或断开连接后，传输对应的确认信息给计算机装置，以使计算机装置基于不同控制指令及其对应的确认信息控制LCR测试仪或DCR测试仪通过切换模块对与通道输出模块导通连接的待测试产品进行测试。因此，LCR测试与DCR测试集成至一个工站，并实现多通道测试。并实现多通道测试。并实现多通道测试。

【技术实现步骤摘要】
多通道测试控制设备、自动化多通道测试系统及方法


[0001]本申请涉及电子元器件测试的
，尤其涉及一种多通道测试控制设备、自动化多通道测试系统及方法。

技术介绍

[0002]工业生产电子元器件后需对其采用专用测试装置进行测试，以判断电子元器件是否异常。举例而言，采用LCR测试仪测量电容、电阻、电感元件的相应物理参数，采用DCR测试仪测量电子元器件的直流阻抗（Direct Current Resistance，DCR）。
[0003]电子元器件的测试过程中，不同的专用测试装置需设置不同的测试工站，存在相关设备的使用数量多且占用空间大的问题。此外，现有的LCR测试程序与DCR测试程序通过人工方式操作分别操作LCR测试仪与DCR测试仪对一个电子元器件进行参数测试，并人工转移和重新测试下一个电子元器件。在大批量的电子元器件需进行LCR测试与DCR测试的情况下，存在测试效率和生产效率低的问题。
[0004]因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是目前本领域技术人员需要解决的问题。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供一种多通道测试控制设备、自动化多通道测试系统及方法，其能够解决因不同的专用测试装置需设置不同的测试工站而存在相关设备的使用数量多且占用空间大的问题，以及通过人工操作对电子元器件一一进行LCR测试与DCR测试而存在测试效率和生产效率低的问题。
[0006]为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：本申请提供了一种多通道测试控制设备，连接计算机装置、LCR测试仪与DCR测试仪。多通道测试控制设备包括：连接LCR测试仪的LCR连接器、连接DCR测试仪的DCR连接器、切换模块、多个通道输出模块与处理模块，多个通道输出模块连接切换模块的输出端，处理模块连接切换模块与多个通道输出模块。切换模块用于导通连接LCR连接器或DCR连接器；每一个通道输出模块用于与对应的待测试产品导通连接或断开连接；处理模块用于基于计算机装置发送的不同控制指令控制切换模块导通连接LCR连接器或DCR连接器，及控制与不同控制指令对应的通道输出模块与其对应的待测试产品导通连接或断开连接后，传输对应的确认信息给计算机装置，以使计算机装置基于不同控制指令及其对应的确认信息控制LCR测试仪通过切换模块对与通道输出模块导通连接的待测试产品进行LCR测试，或控制DCR测试仪通过切换模块对与通道输出模块导通连接的待测试产品进行DCR测试。
[0007]本申请提供了一种自动化多通道测试系统，其包括：LCR测试仪、DCR测试仪、测试治具、计算机装置与本申请的多通道测试控制设备，计算机装置连接LCR测试仪、DCR测试仪与多通道测试控制设备，多通道测试控制设备连接测试治具。测试治具设置有载体与移动模块，载体用于承载多个待测试产品，移动模块用于移动载体。本申请的多通道测试控制设
备还包括：驱动模块与通信模块，通信模块用于接收不同控制指令与驱动指令，处理模块用于基于驱动指令控制驱动模块驱动移动模块将载体朝向或远离多个通道输出模块移动，以使多个待测试产品与对应的多个通道输出模块物理连接或断开物理连接。计算机装置用于发送不同控制指令与驱动指令至多通道测试控制设备及接收来自多通道测试控制设备的确认信息；基于不同控制指令及其对应的确认信息控制LCR测试仪进行LCR测试，并自LCR测试仪取得与通道输出模块导通连接的待测试产品的LCR测试结果，或控制DCR测试仪进行DCR测试，并自DCR测试仪取得与通道输出模块导通连接的待测试产品的DCR测试结果。
[0008]本申请提供了一种自动化多通道测试方法，其包括：提供多通道测试控制设备、计算机装置、测试治具、LCR测试仪与DCR测试仪，多通道测试控制设备连接计算机装置、测试治具、LCR测试仪与DCR测试仪，多通道测试控制设备包括：切换模块、多个通道输出模块与处理模块，多个通道输出模块对应连接固定于测试治具上的多个测试针，测试治具设置有载体与移动模块；计算机装置向多通道测试控制设备发送驱动指令，使处理模块控制移动模块将载体承载的多个待测试产品朝向多个测试针移动，从而相互物理连接；计算机装置循环执行LCR测试程序，直至取得各待测试产品的LCR测试结果，其中，LCR测试程序包括：向多通道测试控制设备发送第一控制指令，使处理模块控制切换模块导通连接LCR测试仪，及控制与第一控制指令对应的通道输出模块导通连接其对应的待测试产品后，回传第一确认信息给计算机装置；基于第一控制指令与第一确认信息控制LCR测试仪进行LCR测试，以自LCR测试仪取得对应的LCR测试结果；及向多通道测试控制设备发送第二控制指令，使处理模块控制与第一控制指令对应的通道输出模块断开连接其对应的待测试产品后回传第二确认信息给计算机装置；计算机装置循环执行DCR测试程序，直至取得各待测试产品的DCR测试结果，其中，DCR测试程序包括：向多通道测试控制设备发送第三控制指令，使处理模块控制切换模块导通连接DCR测试仪，及控制与第三控制指令对应的通道输出模块导通连接其对应的待测试产品后，回传第三确认信息给计算机装置；基于第三控制指令与第三确认信息控制DCR测试仪进行DCR测试，以自DCR测试仪取得对应的DCR测试结果；及向多通道测试控制设备发送第四控制指令，使处理模块控制与第三控制指令对应的通道输出模块断开连接其对应的待测试产品后回传第四确认信息给计算机装置；以及计算机装置向多通道测试控制设备发送另一驱动指令，使处理模块控制移动模块将载体承载的多个待测试产品远离多个测试针移动，从而断开多个待测试产品与多个测试针的物理连接。
[0009]在本申请实施例中，多通道测试控制设备应用于电子元器件的一个测试工站时，可作为链接各种设备（即计算机装置、LCR测试仪、DCR测试仪与测试治具）的桥梁，让LCR测试与DCR测试整合至一个测试工站，减少相关设备和控制板的使用数量及测试工站的占用空间，从而减少成本费用。另外，多通道测试控制设备通过处理模块控制切换模块切换测试模式（即切换导通连接LCR测试仪或DCR测试仪），及控制多个通道输出模块导通连接或断开连接对应的待测试产品，可实现多通道的LCR测试与DCR测试，提高测试效率和生产效率。此外，多通道测试控制设备应用于自动化多通道测试系统及方法时，通过驱动模块驱动移动治具，将多个待测试产品自动化移动至测试位置及离开测试位置，减少人力成本，提高测试效率，提高每小时的产量（units per hour，UPH）。
附图说明
[0010]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：图1为依据本申请的自动化多通道测试系统的一实施例框图；图2为本申请的切换模块、LCR连接器、DCR连接器与通道输出模块的一实施例连接示意图；图3为本申请的切换模块、LCR连接器、DCR连接器与通道输出模块的另一实施例连接示意图；图4为依据本申请的自动化多通道测试系统的另一实施例框图；以及图5为依据本申请的自动化多通道测试方法的一实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多通道测试控制设备，连接计算机装置、LCR测试仪与DCR测试仪，其特征在于，包括：LCR连接器，连接所述LCR测试仪；DCR连接器，连接所述DCR测试仪；切换模块，用于导通连接所述LCR连接器或所述DCR连接器；多个通道输出模块，连接所述切换模块的输出端，所述多个通道输出模块中的每一个通道输出模块用于与对应的待测试产品导通连接或断开连接；以及处理模块，连接所述切换模块与所述多个通道输出模块，用于基于所述计算机装置发送的不同控制指令控制所述切换模块导通连接所述LCR连接器或所述DCR连接器，及控制与所述不同控制指令对应的通道输出模块与其对应的待测试产品导通连接或断开连接后，传输对应的确认信息给所述计算机装置，以使所述计算机装置基于所述不同控制指令及其对应的所述确认信息控制所述LCR测试仪通过所述切换模块对与通道输出模块导通连接的待测试产品进行LCR测试，或控制所述DCR测试仪通过所述切换模块对与通道输出模块导通连接的待测试产品进行DCR测试。2.如权利要求1所述的多通道测试控制设备，其特征在于，还包括电源转换模块，连接所述处理模块、所述切换模块与所述多个通道输出模块，用于对所述多通道测试控制设备接入的电源电压进行转换，以为所述处理模块、所述切换模块与所述多个通道输出模块供电。3.如权利要求1所述的多通道测试控制设备，其特征在于，还包括显示模块，连接所述处理模块，用于显示所述切换模块及所述多个通道输出模块中的每一个通道输出模块当前的连接状态。4.如权利要求1所述的多通道测试控制设备，其特征在于，还包括按键模块，连接所述处理模块，所述按键模块包括复位按键、启动按键与暂停按键，所述复位按键用于向所述处理模块发送初始化指令，所述启动按键用于向所述处理模块发送启动指令，所述暂停按键用于向所述处理模块发送暂停指令。5.如权利要求1所述的多通道测试控制设备，其特征在于，所述DCR测试与所述LCR测试采用4线测量法时，所述切换模块与所述多个通道输出模块中的每一个通道输出模块分别为相互隔离的两个双刀继电器、四刀继电器或四组光耦MOS管。6.如权利要求5所述的多通道测试控制设备，其特征在于，所述切换模块为所述四刀继电器时，所述四刀继电器包括：四个第一共通触点、四个第一常闭触点与四个第一常开触点，所述四个第一共通触点构成连接所述多个通道输出模块的所述切换模块的输出端，所述四个第一常闭触点连接所述LCR连接器，所述四个第一常开触点连接所述DCR连接器。7.如权利要求5所述的多通道测试控制设备，其特征在于，所述切换模块为相互隔离的所述两个双刀继电器，所述两个双刀继电器中的每一个双刀继电器包括：两个第二共通触点、两个第二常闭触点与两个第二常开触点，所述两个双刀继电器的四个第二共通触点构成连接所述多个通道输出模块的所述切换模块的输出端，所述两个双刀继电器的四个第二常闭触点连接所述LCR连接器，所述两个双刀继电器的四个第二常开触点连接所述DCR连接器。8.如权利要求5所述的多通道测试控制设备，其特征在于，所述多个通道输出模块中的
每一个通道输出模块均为所述四刀继电器，所述四刀继电器包括：四个第三共通触点、四个第三常闭触点与四个第三常开触点；在所述每一个通道输出模块中，所述四个第三共通触点连接所述切换模块的输出端，所述四个第三常开触点连接对应的所述待测试产品。9.如权利要求5所述的多通道测试控制设备，其特征在于，所述多个通道输出模块中的每一个通道输出模块均为相互隔离的所述两个双刀继电器，所述两个双刀继电器中的每一个双刀继电器包括：两个第四共通触点、两个第四常闭触点与两个第四常开触点；在所述每一个通道输出模块中，所述两个双刀继电器的四个第四共通触点连接所述切换模块的输出端，所述两个双刀继电器的四个第四常开触点连接对应的所述待测试产品。10.如权利要求1所述的多通道测试控制设备，其特征在于，所述DCR测试与所述LCR测试采用4线测量法时，所述LCR连接器由4组BNC连接器组成，所述DCR连接器由2组双排链接端子组成。11.如权利要求1所述的多通道测试控制设备，其特征在于，还包括屏蔽壳体，所述处理模块、所述切换模块、所述多个通道输出模块、部分所述LCR连接器与部分所述DCR连接器设置于所述屏蔽壳体内，所述多个通道输出模块中的每一个通道输出模块与对应的所述待测试产品...

【专利技术属性】
技术研发人员：王扣成，梁飞云，满洋，赵志强，朱玲，
申请(专利权)人：立臻精密智造昆山有限公司，
类型：发明
国别省市：