一种双光学传感器测试平台制造技术

本实用新型专利技术旨在提供一种兼容性强、集成度高且功能完善的双光学传感器测试平台。本实用新型专利技术包括上位机、视觉相机以及PCB转接板，所述PCB转接板上设置有与产品配合的针点，所述视觉相机扫描产品二维码信息并传输给所述上位机，所述PCB转接板电连接有信号切换板和放大器，所述信号切换板电连接有源表，所述放大器电连接有数字万用表，所述源表和所述放大器分别给产品提供电流和电压，所述源表在输出的状态会触发所述数字万用表和所述信号切换板，所述信号切换板切换相应的测试通道，所述源表和所述数字万用表对产品进行数据采样，通过主机与所述上位机实现通讯。本实用新型专利技术应用于测试平台的技术领域。平台的技术领域。平台的技术领域。

A double optical sensor test platform

【技术实现步骤摘要】
一种双光学传感器测试平台


[0001]本技术应用于测试平台的
,特别涉及一种双光学传感器测试平台。

技术介绍

[0002]双光学传感器首次应用于耳机中，通过双光学传感器和运动加速度传感器共同检测耳机入耳状态，光学传感器具有非接触和非破坏性测量、抗干扰性强等特点，并且具有稳定性高、寿命长、相应速率快、耦合效率高等优点。近年来，随着消费电子科技含量高速的发展，人们对于电子产品的智能性要求越来越强，推动了消费市场的大规模需求，这也对双光学传感器的性能以及生产工艺提出了更高的要求，把控好双光学传感器的品质成为占领市场的关键因素。虽然国内的很多高端耳机品牌都开始使用双光学传感器，可以设计出性能优异的芯片，但是大部分公司都是在国内设计而没有进行封装测试，主要是因为国内的测试技术不够成熟，测试功能较为单一，无法测试光电传感器在多种反射卡的环境下的光学特性，因此有必要提供一种兼容性强、集成度高且功能完善的双光学传感器测试平台。

技术实现思路

[0003]本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种兼容性强、集成度高且功能完善的双光学传感器测试平台。
[0004]本技术所采用的技术方案是：本技术包括上位机、视觉相机以及PCB转接板，所述PCB转接板上设置有与产品配合的针点，所述视觉相机扫描产品二维码信息并传输给所述上位机，所述PCB转接板电连接有信号切换板和放大器，所述信号切换板电连接有源表，所述放大器电连接有数字万用表，所述源表和所述放大器分别给产品提供电流和电压，所述源表在输出的状态会触发所述数字万用表和所述信号切换板，所述信号切换板切换相应的测试通道，所述源表和所述数字万用表对产品进行数据采样，通过主机与所述上位机实现通讯。
[0005]由上述方案可见，所述PCB转接板放置在特定的socket上，外部驱动模组将所述socket移动至上料位，放置好待测产品，所述视觉相机扫描待测产品表面的二维码并输入至所述上位机，待测产品的引脚通过高频探针与测试系统进行连接，测试开始时所述上位机先从系统获得与socket绑定的产品SN信息，然后通过检测输出电流与电压的反馈来判断产品是否接触良好，通过所述源表和所述放大器分别给产品提供工作电流以及偏置电压，所述源表在输出的同时会同时触发所述数字万用表和所述信号切换板，所述信号切换板切换相应的测试通道，所述源表和所述数字万用表自动进行数据采样，通过所述主机处理后，将数据通过网口通信方式传输给所述上位机，由所述上位机保存为特定的文件格式，随后会调用客户提供的dll对获得的数据进行计算分析，并将结果显示在所述上位机的测试界面上，通过对比客户给定的范围值来判断产品的是否符合标准。所述双光学传感器测试平台可以测试产品在多种反射卡下的光学特性，通过简单的升级后可兼容测试不同类型的VCSEL产品，所述源表只有单通道输出，针点切换板可以实现多通道分时复用，升级周期短，
升级成本低，集成度高，具有较好的实用性。
[0006]一个优选方案是，所述放大器与产品的光电二极管电连接，所述放大器对所述光电二极管产生的暗电流进行放大，所述上位机读取所述数字万用表测量的数据，实现所述光电二极管暗电流的测量。
[0007]由上述方案可见，所述放大器向所述光电二极管提供偏置电压，所述光电二极管产生的暗电流通过所述放大器进行放大，再由所述数字万用表测量得到数据，随后所述上位机读取所述数字万用表测量得到数据，其中测量的最小单位为0.001nA，对所述放大器的噪声抑制极高。
[0008]一个优选方案是，所述信号切换板与所述光电二极管电连接，所述源表向产品提供电流并采集所述光电二极管正向电压，所述上位机读取所述源表测量得到数据，实现所述光电二极管正向电压的测量。
[0009]由上述方案可见，所述信号切换板切换到所述光电二极管电的正向电压测试状态，通过所述源表向产品提供电流，同时采集所述光电二极管的电压，随后所述上位机读取所述源表测量得到的数据，所述光电二极管正向电压的测量采用四线法，其中两根（RxA&RxC）用于产品供电流（Is），另外两根（RxA_SNS&RxC_SNS）用于电压（Vf）反馈，而产品的阻抗：Rpd = Vf/Is，在两线测量模式下，由于只有单个回路，此时V= I2*( Rd(产品阻抗)+Rc(线路阻抗))，实际得到的结果由于线路阻抗而造成误差，在四线模式下，电压反馈回路由于阻抗比较大，几乎没有电流流过，实际测得的电压为产品的实际电压，阻抗可以直接用欧姆定律计算得到。
[0010]一个优选方案是，所述信号切换板与产品的发光二极管电连接，所述源表向产品提供负电压并采集所述发光二极管的反向电流，所述上位机读取所述源表测量得到数据，实现所述发光二极管电反向电压的测量。
[0011]由上述方案可见，将PCB信号切换板切换到所述发光二极管的反向电流状态，通过所述源表向产品提供负电压，同时采集的所述发光二极管反向电流，随后所述上位机读取所述源表测量得到的数据，其中测量的最小单位为0.001nA，并且对于PCB的容抗要求高。
[0012]一个优选方案是，所述信号切换板包括MCU模块，所述MCU模块的芯片型号为STM32F103RCT6。
[0013]由上述方案可见，所述STM32F103RCT6是一种嵌入式
‑
微控制器的集成电路(IC)，芯体位宽为32位，速度是72MHz，程序存储器容量是256KB，程序存储器类型是FLASH，RAM容量是48K，RAM容量是48K。
[0014]一个优选方案是，所述MCU模块电连接有三组数字隔离器，三组所述数字隔离器的芯片型号均为ADuM140E0BRQZ。
[0015]由上述方案可见，所述ADuM140E0BRQZ的数据速率可达150Mbps，供电电压为1.7V ~ 5.5V。
[0016]一个优选方案是，所述信号切换板通过串口与所述上位机实现通信，所述串口的芯片型号为MAX3232CSE+。
[0017]由上述方案可见，所述MAX3232CSE+的针脚数为16个，电源电压最大为5.5V，电源电压最小为3V，所述MAX3232CSE+配备专有的低漏失电压发射器输出状态，通过双电荷泵，在3.0V至5.5V供压下，表现出真正的RS
‑
232协议器件性能。
[0018]一个优选方案是，所述MCU模块电连接有局域网，所述局域网的芯片型号为W5500。
[0019]由上述方案可见，所述W5500支持八路独立硬件Socket同时通信，通信效率互不影响，内部32K字节收发缓存供TCP/IP包处理。
[0020]一个优选方案是，所述信号切换板的GND包括DGND和AGND。
[0021]由上述方案可见，所述信号切换板的GND包括DGND和AGND，这样可以大幅度减小测量信号受到的干扰；漏电流测量回路需要做油墨“开窗”处理。
附图说明
[0022]图1是本技术的整体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双光学传感器测试平台，其特征在于：它包括上位机（1）、视觉相机（2）以及PCB转接板（3），所述PCB转接板（3）上设置有与产品配合的针点，所述视觉相机（2）扫描产品二维码信息并传输给所述上位机（1），所述PCB转接板（3）电连接有信号切换板（4）和放大器（5），所述信号切换板（4）电连接有源表（6），所述放大器（5）电连接有数字万用表（7），所述源表（6）和所述放大器（5）分别给产品提供电流和电压，所述源表（6）在输出的状态会触发所述数字万用表（7）和所述信号切换板（4），所述信号切换板（4）切换相应的测试通道，所述源表（6）和所述数字万用表（7）对产品进行数据采样，通过主机（8）与所述上位机（1）实现通讯。2.根据权利要求1所述的一种双光学传感器测试平台，其特征在于：所述放大器（5）与产品的光电二极管电连接，所述放大器（5）对所述光电二极管产生的暗电流进行放大，所述上位机（1）读取所述数字万用表（7）测量的数据，实现所述光电二极管暗电流的测量。3.根据权利要求2所述的一种双光学传感器测试平台，其特征在于：所述信号切换板（4）与所述光电二极管电连接，所述源表（6）向产品提供电流并采集所述光电二极管正向电压，所述上位机（1）...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈子强，秦宇，梁永才，庞凯尹，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：