光纤陀螺热噪声、散粒噪声及强度噪声分离的方法技术

本发明专利技术公开一种光纤陀螺热噪声、散粒噪声及强度噪声分离的方法。按预先选取的相位调制深度序列对系统进行相位调制；同时由高速数字采集电路对系统在不同调制深度下的输出信号进行采样，得到对应的采样序列；通过对该采样序列进行分析处理，得到与该调制深度相对应的噪声均方值；根据三种不同类型噪声的均方值和调制深度具有不同的函数关系，拟和计算即可分离得到这三种白噪声各自的均方值大小。该测试方法不需附加硬件，而且在线测试，在光纤陀螺的实际工作环境中进行，方法简单可靠，能准确定位制约系统性能的主要噪声源，为抑制主要噪声源，提高光纤陀螺的静态性能提供一个实用的分析方法。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
光纤陀螺热噪声、散粒噪声及强度噪声分离的方法，其特征在于该方法的步骤如下：（１）在０～φ↓［ｍａｘ］，φ↓［ｍａｘ］＞２π相位区域内，选取一定数目Ｎ＋１个数组成一个相位制深度序列φ↓［ｍ］（ｋ）；（２）按照（１）中的相位调制 深度序列一个相位调制深度φ↓［ｍ］，通过数字或模拟波形对光纤陀螺系统进行相位调制；（３）对处于该相位调制深度下光纤陀螺的输出信号，由高速数字采集电路进行采样，得到相应的采样序列，通过对该采样序列的分析处理得到该相位调制深度下的噪声均 方值ＳＴＤ↑［２］（φ↓［ｍ］）；（４）对含Ｎ＋１个数的相位调制深度序列中的每个相位调制深度值，重复以上（２）、（３）步骤，以（２）的方法对系统进行相位调制，并按照（３）中的方法得到对应于相应相位调制深度的噪声均方值，从而得到对应与 （１）中相位调制速度序列相应的噪声均方值序列ＳＴＤ↑［２］［φ↓［ｍ］（ｋ）］；（５）根据ＳＴＤ↑［２］［φ↓［ｍ］（ｋ）］＝ａ＋ｂｘ（ｋ）＋ｃｘ↑［２］（ｋ），对（４）中得到噪声均方值序列ＳＴＤ↑［２］［φ↓［ｍ］（ｋ）］，以及由 相位调制序列φ↓［ｍ］（ｋ）生成的拟和自变量序列ｘ（ｋ）＝１＋ｃｏｓφ↓［ｍ］（ｋ），用最小二乘的方法进行拟和计算，得到拟和自变量的常数项系数ａ和一次项系数ｂ、二次项的系数ｃ，分别对应于热噪声、散粒噪声及强度噪声均方值，从而实现三种噪声的测试分离。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈杏藩，刘承，舒晓武，胡慧珠，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：86[中国|杭州]