本公开涉及一种试卷图像处理方法、装置、存储介质及电子设备。该方法包括：获取待处理试卷图像对应的原始试卷图像；该待处理试卷图像为用户在原始试卷图像对应的试卷上作答后的图像；获取原始试卷图像与待处理试卷图像之间的光流信息；根据光流信息将原始试卷图像和待处理试卷图像进行图像对齐；根据对齐后的原始试卷图像和待处理试卷图像，获取待处理试卷图像对应的作答信息。这样，根据对齐后的图像可以更加准的获取用户的作答信息，提高了作答信息获取的准确率，同时，由于无需进行手写文字识别，针对题目和作答均为手写体的场景也可以准确获取作答信息，增加了试卷图像处理的应用场景，提高了作答信息获取的准确率。提高了作答信息获取的准确率。提高了作答信息获取的准确率。
【技术实现步骤摘要】
试卷图像处理方法、装置、存储介质及电子设备
[0001]本公开涉及计算机领域，具体地，涉及一种试卷图像处理方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
[0002]随着计算机和互联网技术的发展，人们越来越多的使用电子设备对学生试卷进行阅卷。例如，用户可以通过对试卷拍照或扫描的方式，将纸质版的试卷信息转换为试卷图像，上传至电子设备(例如服务器或终端设备)对该试卷图像进行阅卷。用户上传的试卷图像可以包括题目信息和作答信息，例如，题目信息可以是原始试卷上的打印体，作答信息可以是用户基于原始试卷作答的手写体。为了提高电子化阅卷效率，需要获取用户上传的试卷图像中的作答信息。在相关技术中，作答信息的获取不够准确。
技术实现思路
[0003]本公开的目的是提供一种试卷图像处理方法、装置、存储介质及电子设备，以部分地解决相关技术中存在的上述问题。
[0004]为了实现上述目的，本公开的第一方面提供了一种试卷图像处理方法，所述方法包括：
[0005]获取待处理试卷图像对应的原始试卷图像；所述待处理试卷图像为用户在原始试卷图像对应的试卷上作答后的图像；
[0006]获取所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像之间的光流信息；
[0007]根据所述光流信息将所述原始试卷图像和所述待处理试卷图像进行图像对齐；
[0008]根据对齐后的原始试卷图像和待处理试卷图像，获取所述待处理试卷图像对应的作答信息。
[0009]可选地，所述获取所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像之间的光流信息包括：
[0010]确定所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像的每个像素点的目标偏移矢量；
[0011]根据所述目标偏移矢量获取所述光流信息；
[0012]所述根据所述光流信息将所述原始试卷图像和所述待处理试卷图像进行图像对齐包括：
[0013]根据所述目标偏移矢量，对所述原始试卷图像的每个像素点在图像中的位置进行调整，以将所述原始试卷图像和所述待处理试卷图像对齐。
[0014]可选地，所述确定所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像的每个像素点的目标偏移矢量包括：
[0015]根据预设能量优化函数，计算得到所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像的每个像素点的目标偏移矢量；所述预设能量优化函数包括表征所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像的光流连续性约束参数。
[0016]可选地，所述预设能量优化函数还包括亮度约束参数、平滑性约束参数与特征匹配约束参数。
[0017]可选地，所述根据对齐后的原始试卷图像和待处理试卷图像，获取所述待处理试卷图像对应的作答信息包括：
[0018]对所述待处理试卷图像进行图像二值化处理，得到待处理二值图像；
[0019]对所述原始试卷图像进行图像二值化处理，得到原始二值图像；
[0020]根据所述待处理二值图像和原始二值图像，确定作答区域；
[0021]根据所述待处理试卷图像和所述作答区域确定所述作答信息。
[0022]可选地，所述获取待处理试卷图像对应的原始试卷图像包括：
[0023]获取待处理试卷图像中的图像标识；所述图像标识包括所述待处理试卷图像对应的试卷标识和所述待处理试卷图像的页码；
[0024]根据所述图像标识，从预设试卷库中获取与所述待处理试卷图像对应的所述原始试卷的原始试卷图像。
[0025]可选地，所述待处理试卷图像可以通过以下方式获取：
[0026]通过摄像装置获取用户在原始试卷图像对应的试卷上作答后的待定图像；
[0027]通过关键点检测算法确定所述待定图像的多个预设关键点；
[0028]根据所述预设关键点对所述待处理试卷图像进行裁切校正，得到所述待处理试卷图像。
[0029]第二方面，本公开提供了一种试卷图像处理装置，所述装置包括：
[0030]图像获取模块，用于获取待处理试卷图像对应的原始试卷图像；所述待处理试卷图像为用户在原始试卷图像对应的试卷上作答后的图像；
[0031]信息获取模块，用于获取所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像之间的光流信息；
[0032]图像对齐模块，用于根据所述光流信息将所述原始试卷图像和所述待处理试卷图像进行图像对齐；
[0033]图像处理模块，用于根据对齐后的原始试卷图像和待处理试卷图像，获取所述待处理试卷图像对应的作答信息。
[0034]可选地，所述信息获取模块，用于确定所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像的每个像素点的目标偏移矢量；根据所述目标偏移矢量获取所述光流信息；
[0035]所述图像对齐模块，用于根据所述目标偏移矢量，对所述原始试卷图像的每个像素点在图像中的位置进行调整，以将所述原始试卷图像和所述待处理试卷图像对齐。
[0036]可选地，所述信息获取模块，用于根据预设能量优化函数，计算得到所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像的每个像素点的目标偏移矢量；所述预设能量优化函数包括表征所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像的光流连续性约束参数。
[0037]可选地，所述预设能量优化函数还包括亮度约束参数、平滑性约束参数与特征匹配约束参数。
[0038]可选地，所述图像处理模块，用于对所述待处理试卷图像进行图像二值化处理，得到待处理二值图像；对所述原始试卷图像进行图像二值化处理，得到原始二值图像；根据所述待处理二值图像和原始二值图像，确定作答区域；根据所述待处理试卷图像和所述作答
区域确定所述作答信息。
[0039]可选地，所述图像获取模块，用于获取待处理试卷图像中的图像标识；所述图像标识包括所述待处理试卷图像对应的试卷标识和所述待处理试卷图像的页码；根据所述图像标识，从预设试卷库中获取与所述待处理试卷图像对应的所述原始试卷的原始试卷图像。
[0040]可选地，所述图像获取模块，用于通过摄像装置获取用户在原始试卷图像对应的试卷上作答后的待定图像；通过关键点检测算法确定所述待定图像的多个预设关键点；根据所述预设关键点对所述待处理试卷图像进行裁切校正，得到所述待处理试卷图像。
[0041]第三方面，本公开提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现本公开第一方面所述方法的步骤。
[0042]第四方面，本公开提供一种电子设备，包括：存储器，其上存储有计算机程序；处理器，用于执行所述存储器中的所述计算机程序，以实现本公开第一方面所述方法的步骤。
[0043]采用上述技术方案，获取待处理试卷图像对应的原始试卷图像；该待处理试卷图像为用户在原始试卷图像对应的试卷上作答后的图像；获取原始试卷图像与待处理试卷图像之间的光流信息；根据光流信息将原始试卷图像和待处理试卷图像进行图像对齐；根据对齐后的原始试卷图像和待处理试卷图像，获取待处理试卷图像对应的作答信息。这样，根据对齐后的图像可以更加准的获取用户的作答信息，提高了作答信息获取的准确率，同时，由于无需进行手写文字识别，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种试卷图像处理方法，其特征在于，所述方法包括：获取待处理试卷图像对应的原始试卷图像；所述待处理试卷图像为用户在原始试卷图像对应的试卷上作答后的图像；获取所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像之间的光流信息；根据所述光流信息将所述原始试卷图像和所述待处理试卷图像进行图像对齐；根据对齐后的原始试卷图像和待处理试卷图像，获取所述待处理试卷图像对应的作答信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像之间的光流信息包括：确定所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像的每个像素点的目标偏移矢量；根据所述目标偏移矢量获取所述光流信息；所述根据所述光流信息将所述原始试卷图像和所述待处理试卷图像进行图像对齐包括：根据所述目标偏移矢量，对所述原始试卷图像的每个像素点在图像中的位置进行调整，以将所述原始试卷图像和所述待处理试卷图像对齐。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像的每个像素点的目标偏移矢量包括：根据预设能量优化函数，计算得到所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像的每个像素点的目标偏移矢量；所述预设能量优化函数包括表征所述原始试卷图像与所述待处理试卷图像的光流连续性约束参数。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设能量优化函数还包括亮度约束参数、平滑性约束参数与特征匹配约束参数。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据对齐后的原始试卷图像和待处理试卷图像，获取所述待处理试卷图像对应的作答信息包括：对所述待处理试卷图像进行图像二值化处理，得到待处理二值图像；对所述原始试卷图像进行图像二值化处理，得到原始二值图像；...
【专利技术属性】
技术研发人员：王少康，
申请(专利权)人：北京鼎事兴教育咨询有限公司，
类型：发明
国别省市：
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