一种纠偏装置和卷绕机制造方法及图纸

技术编号:34330534 阅读:26 留言:0更新日期:2022-07-31 01:59
本申请提供一种纠偏装置和卷绕机。纠偏装置用于极片的纠偏,所述极片包括涂层;该纠偏装置包括:宽度检测装置,用于检测所述涂层的宽度;处理器,与所述宽度检测装置通信连接,被配置为根据所述涂层的宽度确定所述极片的中心线位置;纠偏机构,被配置为根据所述极片的中心线位置和预设的中心线标准位置对所述极片进行纠偏。该纠偏装置用以实现有效且准确的极片纠偏。极片纠偏。极片纠偏。

A deviation correction device and winding machine

【技术实现步骤摘要】
一种纠偏装置和卷绕机


[0001]本申请涉及电池领域,具体而言,涉及一种纠偏装置和卷绕机。

技术介绍

[0002]在电芯的卷绕工艺中,为了提升卷芯的品质,通过纠偏机构对极片进行纠偏。
[0003]现有技术中,采用对边纠偏技术,以非极耳侧边缘为纠偏基准。这种纠偏方式,纠偏机构纠偏后,仍需人为调整纠偏基准以保证电芯品质。
[0004]因此,现有的纠偏方式不能实现有效且准确的极片纠偏。

技术实现思路

[0005]本申请的目的在于提供一种纠偏装置和卷绕机,用以实现有效且准确的极片纠偏。
[0006]第一方面,本申请提供一种纠偏装置,用于极片的纠偏,所述极片包括涂层;该纠偏装置包括:宽度检测装置,用于检测所述涂层的宽度;处理器,与所述宽度检测装置通信连接,被配置为根据所述涂层的宽度确定所述极片的中心线位置;纠偏机构,被配置为根据所述极片的中心线位置和预设的中心线标准位置对所述极片进行纠偏。
[0007]本申请实施例的技术方案中,检测涂层的宽度,确定极片的中心线位置,进而基于该中心线位置和预设的中心线标准位置进行纠偏。其中,极片上的涂层的宽度可以代表有效极片宽度,基于该宽度确定的中心线位置可代表极片的中心线位置。与现有的纠偏方案相比,采用对中纠偏,以极片的中心线为基准,当极片的宽度异常时,可以把宽度异常部分均分至极片两侧,使电芯阳极片和阴极片的中心线保持一致,进而避免纠偏后电芯阳极包阴极超规格,更有效兼容极片的宽度变化。并且,纠偏机构基于中心线位置自动纠偏,无需人工干预。因此,该技术方案能够实现有效且准确的极片纠偏。
[0008]在一些实施例中,所述宽度检测装置包括:第一检测装置,所述第一检测装置的检测范围大于所述极片的宽度;基准标签,所述基准标签设置在所述极片的一侧,且所述基准标签在所述第一检测装置的检测范围内;其中,所述第一检测装置用于检测所述涂层的边缘与所述基准标签之间的距离。
[0009]在本申请实施例的技术方案中,在极片的一侧设置基准标签,第一检测装置通过检测涂层的边缘与基准标签之间的距离,实现涂层的宽度的有效检测。
[0010]在一些实施例中,所述涂层包括:沿预设方向相邻设置的第一涂层和第二涂层;所述第一检测装置用于检测所述第一涂层靠近所述基准标签一侧的边缘与所述基准标签之间的第一距离,以及用于检测所述第二涂层靠近所述基准标签一侧的边缘与所述基准标签之间的第二距离;所述处理器被配置为根据所述第一距离和所述第二距离确定所述极片的中心线位置与所述基准标签之间的距离,根据所述极片的中心线位置与所述基准标签的之间的距离和所述基准标签的位置确定所述极片的中心线位置。
[0011]在本申请实施例的技术方案中,基于沿预设方向相邻设置的第一涂层和第二涂
层,第一检测装置分别检测第一距离和第二距离,基于第一距离和第二距离,可确定极片的中心线位置与基准标签之间的距离,基于该距离,可实现极片的中心线位置的有效且准确的确定。
[0012]在一些实施例中,所述极片的中心线位置与所述基准标签之间的距离表示为:L=(L1+L2)/2,L1为所述第一距离,L2为所述第二距离。
[0013]在本申请实施例的技术方案中,由于第一涂层和第二涂层沿预设方向相邻设置,因此,将第一距离和第二距离求和之后再取一半,可实现极片的中心线位置与基准标签之间的距离的简单确定。
[0014]在一些实施例中,所述第一涂层为极片活性材质涂层,所述第二涂层为极片保护涂层。
[0015]在本申请实施例的技术方案中,极片活性材质涂层相当于需纠偏的目标涂层,极片保护涂层相当于极片的保护层,通过上述的纠偏方式,实现需纠偏的目标涂层的中心线位置的有效且准确的确定。
[0016]在一些实施例中,所述第一检测装置为线阵相机。
[0017]在本申请实施例的技术方案中,通过线阵相机,可实现较大范围内的宽度检测,保证涂层宽度的有效检测。
[0018]在一些实施例中,所述涂层包括沿预设方向相邻设置的第一涂层和第二涂层;所述宽度检测装置包括:第一边缘检测装置,用于检测所述第一涂层远离所述第二涂层一侧边缘的第一检测值;第二边缘检测装置,用于检测所述第二涂层远离所述第一涂层一侧边缘的第二检测值;第二检测装置,用于检测所述第二涂层沿所述预设方向的宽度;所述处理器被配置为:获取所述第一边缘检测装置的设置位置和所述第二边缘检测装置的设置位置之间的间距;根据所述第一检测值、所述第二检测值、所述间距和所述第二涂层沿所述预设方向的宽度确定所述极片的中心线位置与所述第一涂层远离所述第二涂层的一侧边缘之间的距离;根据所述第一涂层远离所述第二涂层的一侧边缘的位置和所述距离确定所述极片的中心线位置。
[0019]在本申请实施例的技术方案中,通过第一边缘检测装置检测第一检测值,通过第二边缘检测装置检测第二检测值,以及通过第二检测装置检测第二涂层的宽度;进而,处理器基于第一检测值、第二检测值、间距和第二涂层的宽度确定极片的中心线位置与第一涂层远离第二涂层的一侧边缘之间的距离,基于该距离,实现极片的中心线位置的有效且准确的确定;且由于针对涂层的边缘能进行检测,进而能适应用于当极片包括多涂层时,准确地确定特定涂层的宽度以及特定涂层的中心线位置。
[0020]在一些实施例中,所述距离表示为:L=(L3+L4+L5

W)/2,其中,L3为所述第一检测值,L4为所述第二检测值,L5为所述间距,W为所述第二涂层沿所述预设方向的宽度。
[0021]在本申请实施例的技术方案中,通过上述距离的计算公式,实现距离的准确确定。
[0022]在一些实施例中,所述第一涂层为极片活性材质涂层,所述第二涂层为极片保护涂层。
[0023]在本申请实施例的技术方案中,极片活性材质涂层相当于需纠偏的目标涂层,极片保护涂层相当于极片的保护层,通过上述的纠偏方式,实现需纠偏的目标涂层的中心线位置的有效且准确的确定。
[0024]在一些实施例中,所述第一边缘检测装置和所述第二边缘检测装置为光电传感器,所述第二检测装置为面阵相机。
[0025]在本申请实施例的技术方案中,通过光电传感器,可实现相应的边缘检测值的有效确定;通过面阵相机,可实现小范围内的宽度的有效检测。
[0026]第二方面,本申请提供一种卷绕机,包括:卷针,用于对第一极片、隔膜和第二极片进行卷绕;如第一方面以及第一方面的任一种实施方式中所述的纠偏装置,用于对所述第一极片和所述第二极片进行纠偏,使所述第一极片和/或所述第二极片的中线与预设中线的误差保持在预定范围内,进而保证卷绕后的电极组件中第一极片和第二极片的对齐度。
[0027]在本申请实施例的技术方案中,通过前述的纠偏装置,对第一极片和第二极片进行纠偏,使第一极片和/或第二极片的中线与预设中线的误差保持在预定范围内,进而保证卷绕后的电极组件中第一极片和第二极片的对齐度,提高卷绕电芯成型优率,减少因极片宽度差异导致的卷芯报废,以及降低员工操作难度,进一本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种纠偏装置,用于极片的纠偏,所述极片包括涂层;其特征在于,所述纠偏装置包括:宽度检测装置,用于检测所述涂层的宽度;处理器,与所述宽度检测装置通信连接,被配置为根据所述涂层的宽度确定所述极片的中心线位置;纠偏机构,被配置为根据所述极片的中心线位置和预设的中心线标准位置对所述极片进行纠偏。2.根据权利要求1所述的纠偏装置,其特征在于,所述宽度检测装置包括:第一检测装置,所述第一检测装置的检测范围大于所述极片的宽度;基准标签,所述基准标签设置在所述极片的一侧,且所述基准标签在所述第一检测装置的检测范围内;其中,所述第一检测装置用于检测所述涂层的边缘与所述基准标签之间的距离。3.根据权利要求2所述的纠偏装置,其特征在于,所述涂层包括:沿预设方向相邻设置的第一涂层和第二涂层 ;所述第一检测装置用于检测所述第一涂层靠近所述基准标签一侧的边缘与所述基准标签之间的第一距离,以及用于检测所述第二涂层靠近所述基准标签一侧的边缘与所述基准标签之间的第二距离;所述处理器被配置为根据所述第一距离和所述第二距离确定所述极片的中心线位置与所述基准标签之间的距离,根据所述极片的中心线位置与所述基准标签的之间的距离和所述基准标签的位置确定所述极片的中心线位置。4.根据权利要求3所述的纠偏装置,其特征在于,所述极片的中心线位置与所述基准标签之间的距离表示为:L=(L1+L2)/2,L1为所述第一距离,L2为所述第二距离。5.根据权利要求3所述的纠偏装置,其特征在于,所述第一涂层为极片活性材质涂层,所述第二涂层为极片保护涂层。6.根据权利要求2

5任一项所述的纠偏装置,其特征在于,所述第一检测装置为线阵相机。7.根据权利要求1所述的纠偏装...

【专利技术属性】
技术研发人员:王培潮王艺若谢超黄国达胡圣生林纲
申请(专利权)人:宁德时代新能源科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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