一种自动测试线性度的测试方法技术

本发明专利技术涉及线性度测试领域，且公开了一种自动测试线性度的测试方法，包括以下步骤：Step1：设定基础线性测试区间，进行局部划分；Step2：设定光功率测试的步径范围；Step3：调整光衰值，使得光功率达到待测试产生的目标光功率；Step4：调整光衰值，使得光功率达到待测试的目标光功率，并重复五次；Step5：若五次光衰和功率值相差小于目标值，则使用五次的平均值作为光衰和功率实际值，生成响应度线性测试校准计算依据。本发明专利技术通过增加可进行自动测试产品线性度的方案，测试效率高，能够极好的适应量产，生产成本低，并且能够提供较为便利的校准措施，便于用户通过编程光衰和光功率完成自动测试，可验证测试准确性，保证成品的合格率。保证成品的合格率。保证成品的合格率。

【技术实现步骤摘要】
一种自动测试线性度的测试方法


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，具体为一种自动测试线性度的测试方法。

技术介绍

[0002]线性度是描述传感器产品静态特性的一个重要指标，以被测输入量处于稳定状态为前提，在规定条件下，传感器校准曲线与拟合直线间的最大偏差与满量程输出的百分比，称为线性度，该值越小，表明线性特性越好，由传感器的基本误差极限和影响量，如温度变化、湿度变化、电源波动、频率改变等引起的改变量极限确定精度，测试时，可通过如光功率与光衰进行测试。
[0003]但是，现有的针对产品的测试，缺乏进行自动测试的方案，而手动测试效率低，可重复性差，无法适应量产，生产成本高，并且无法提供较为便利的校准措施，也缺乏验证测试准确性的措施。

技术实现思路

[0004]（一）解决的技术问题针对现有技术所存在的上述缺点，本专利技术提供了一种自动测试线性度的测试方法，能够有效地解决现有技术缺乏进行自动测试的方案，而手动测试效率低，可重复性差，无法适应量产，生产成本高，并且无法提供较为便利的校准措施，也缺乏验证测试准确性措施的问题。
[0005]（二）技术方案为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现，本专利技术公开了一种自动测试线性度的测试方法，包括以下步骤：Step1：设定基础线性测试区间，进行局部划分；Step2：设定光功率测试的步径范围；Step3：调整光衰值，使得光功率达到待测试产生的目标光功率；Step4：调整光衰值，使得光功率达到待测试的目标光功率，并重复五次；Step5：若五次光衰和功率值相差小于目标值，则使用五次的平均值作为光衰和功率实际值，生成响应度线性测试校准计算依据；Step6：添加测试产品，进行响应度线性自动测试；Step7：设定偏差阈值；Step8：记录测试产品的光功率值，计算与校准数值的偏差值；Step9：对超出或者低于偏差阈值的测试产品进行标记；Step10：对完成测试的产品进行随机抽验检测；Step11：记录测试结果，生产检测报告。
[0006]更进一步地，所述步骤Step3中的光衰值，光衰是调整设置测试光路上的损耗的仪器，损耗是指光在光路中传输过程中因吸收或元件形变等原因导致的损失。
[0007]更进一步地，所述步骤Step5中的响应度，响应度是描述器件光电转换能力的物理量，响应度与器件材料、光波长相关联，单位为R，其大小为光检测器的平均输出电流Ip与光检测器的平均输入功率Po的比值，即输出电信号电流大小与输入光信号功率大小之比；公式表示为：R=Ip/Po，单位为A/W。
[0008]更进一步地，所述步骤Step5中的校准计算依据，作为产品质量数值的重要衡量依据，以被测输入量处于稳定状态为前提，在规定条件下，其校准计算依据与实际计算数据的最大偏差。
[0009]更进一步地，所述步骤Step7中的偏差阈值的设定方式，包括：人工在线编辑设定和软件远程编辑设定。
[0010]更进一步地，所述步骤10中的随机抽验检测的过程，包括以下步骤：S1：编辑算法，设置随机程序；S2：建立两个存储区域，对通过测试的产品与为未通过测试产品数据进行独立保存；S3：执行算法，导入随机程序至两个存储区域内，进行随机挑选；S4：调用所挑选产品的功率测量数据，重新执行偏差值的计算；S5：调取所挑选的产品重新参与自动测试；S6：对数值存在偏差的产品进行标记；S7：对测试结果与记录结果存在误差的产品进行标记；S8：生成检测报告，进行递交。
[0011]更进一步地，所述步骤S1中的随机程序，使用均匀随机位作为辅助输入来指导自己的行为，程序性能将会是一个随机变量，由随机位决定；其运行时间或输出都以随机变量的方式呈现。
[0012]更进一步地，所述步骤S2中的测试产品参与测试前，就分配有独立标签，以此独立标签作为索引目标，录入存储区域内。
[0013]更进一步地，所述步骤S5中的产品重新参与自动测试，将进行过测试的产品，依照标签重新调取，以初始参与测试状态二次参与测试。
[0014]更进一步地，所述步骤S8中的检测报告的属性，包括：初始测试时间、抽验时间、偏差数值、测试误差数值和数量。
[0015]（三）有益效果采用本专利技术提供的技术方案，与已知的公有技术相比，具有如下有益效果，1、本专利技术通过增加可进行自动测试产品线性度的方案，测试效率高，可重复性好，能够极好的适应量产，生产成本低，有利于扩大生产规模，并且能够提供较为便利的校准措施，校准效果好，适用性高，便于用户通过编程光衰和光功率完成自动测试，较为便捷。
[0016]2、本专利技术通过增加验证测试准确性的措施，能够在通过测试的产品与未通过测试的产品中进行随机抽取，以初始参与测试的状态，重新进行测试，自动验证两次测试的偏差数值，帮助用户及时了解测试机制的准确性，辅助用户及时进行重新校准，降低生产损失，保证成品的合格率。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为一种自动测试线性度的测试方法的流程示意图；图2为本专利技术中随机抽验检测的过程的流程示意图；图3为本专利技术的架构演示示意图。
具体实施方式
[0019]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0020]下面结合实施例对本专利技术作进一步的描述。
[0021]实施例1本实施例的一种自动测试线性度的测试方法，如图1和图3所示，包括以下步骤：Step1：设定基础线性测试区间，进行局部划分；Step2：设定光功率测试的步径范围；Step3：调整光衰值，使得光功率达到待测试产生的目标光功率；Step4：调整光衰值，使得光功率达到待测试的目标光功率，并重复五次；Step5：若五次光衰和功率值相差小于目标值，则使用五次的平均值作为光衰和功率实际值，生成响应度线性测试校准计算依据；Step6：添加测试产品，进行响应度线性自动测试；Step7：设定偏差阈值；Step8：记录测试产品的光功率值，计算与校准数值的偏差值；Step9：对超出或者低于偏差阈值的测试产品进行标记；Step10：对完成测试的产品进行随机抽验检测；Step11：记录测试结果，生产检测报告。
[0022]如图1所示，所述步骤Step3中的光衰值，光衰是调整设置测试光路上的损耗的仪器，损耗是指光在光路中传输过程中因吸收或元件形变等原因导致的损失。
[0023]如图1所示，所述步骤Step7中的偏差阈值的设定方式，包括：人工在线编辑设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动测试线性度的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：Step1：设定基础线性测试区间，进行局部划分；Step2：设定光功率测试的步径范围；Step3：调整光衰值，使得光功率达到待测试产生的目标光功率；Step4：调整光衰值，使得光功率达到待测试的目标光功率，并重复五次；Step5：若五次光衰和功率值相差小于目标值，则使用五次的平均值作为光衰和功率实际值，生成响应度线性测试校准计算依据；Step6：添加测试产品，进行响应度线性自动测试；Step7：设定偏差阈值；Step8：记录测试产品的光功率值，计算与校准数值的偏差值；Step9：对超出或者低于偏差阈值的测试产品进行标记；Step10：对完成测试的产品进行随机抽验检测；Step11：记录测试结果，生产检测报告。2.根据权利要求1所述的一种自动测试线性度的测试方法，其特征在于，所述步骤Step3中的光衰值，光衰是调整设置测试光路上的损耗的仪器，损耗是指光在光路中传输过程中因吸收或元件形变等原因导致的损失。3.根据权利要求1所述的一种自动测试线性度的测试方法，其特征在于，所述步骤Step5中的响应度，响应度是描述器件光电转换能力的物理量，响应度与器件材料、光波长相关联，单位为R，其大小为光检测器的平均输出电流Ip与光检测器的平均输入功率Po的比值，即输出电信号电流大小与输入光信号功率大小之比；公式表示为：R=Ip/Po，单位为A/W。4.根据权利要求1所述的一种自动测试线性度的测试方法，其特征在于，所述步骤Step5中的校准计算依据，作为产品质量数值的重要衡量依据，以被测输入量处于稳定状态为前提，在规定条件下，其校准计算依据与实际...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁超，方诚成，万远涛，况诗吟，
申请(专利权)人：浙江光特科技有限公司，
类型：发明
国别省市：