导轨表面质量测量与判定方法技术

本发明专利技术提供了导轨表面质量测量与判定方法，属于变形判定技术领域，包括：沿待测面的周向布置多个光源，保证当一个光源接通并发光时其他光源均处于断开状态。在其中一个光源发光时，获取包含待测面的图片；根据图片拾取出阴影区，根据阴影区和当前光源相对于待测面的位置确定出空间轮廓线。当所有光源均发光完成并且确定了多个空间轮廓线之后，将多个空间轮廓线进行整合从而确定出故障模型；通过故障模型判断出待测面的表面质量。本发明专利技术提供的导轨表面质量测量与判定方法通过各个角度的空间轮廓线对待测面上的故障特征进行提取，最终确定的故障模型能够真实反应故障具体的结构，保证了测量的精度，从而提供更好的数据支持。从而提供更好的数据支持。从而提供更好的数据支持。

Measurement and determination method of guide rail surface quality

【技术实现步骤摘要】
导轨表面质量测量与判定方法


[0001]本专利技术属于变形判定
，更具体地说，是涉及导轨表面质量测量与判定方法。

技术介绍

[0002]现有的多通过大型测量机来实现对导轨表面质量以及形变情况进行测量与判定，大型测量机例如三坐标测量机，其是目前最大的精密测量系统，广泛应用在航空航天、汽车、军工、机床制造、风电、核能等领域，尤其适用于超大零件的精密测量。
[0003]但是上述测量装置价格均较为昂贵，并且上述装置多采用测距仪来直接的进行测量，但是由于制造误差以及是动态测量等原因，测距仪所得到的数据在某些情况下无法真实的反映出导轨的真实情况，无法模拟出导轨真实的模型，得到的数据的精度较低。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供导轨表面质量测量与判定方法，旨在解决无法真实的反映出导轨的真实情况，无法模拟出导轨真实的模型，得到的数据的精度较低的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是：提供导轨表面质量测量与判定方法，包括：沿待测面的周向布置多个光源，保证当一个所述光源接通并发光时其他所述光源均处于断开状态；在其中一个所述光源发光时，获取包含所述待测面的图片；根据所述图片拾取出阴影区，根据所述阴影区和当前所述光源相对于所述待测面的位置确定出空间轮廓线；当所有所述光源均发光完成并且确定了多个所述空间轮廓线之后，将多个所述空间轮廓线进行整合从而确定出故障模型；通过所述故障模型判断出所述待测面的表面质量。
[0006]在一种可能的实现方式中，所述沿待测面的周向布置多个光源包括：将测量装置扣设在所述待测面上，通过沿所述测量装置内壁周向设置的多个所述光源依次照亮所述待测面；通过所述测量装置内的摄像机获取所述图片。
[0007]在一种可能的实现方式中，所述根据所述阴影区和当前所述光源相对于所述待测面的位置确定出空间轮廓线包括：根据当前所述光源相对于所述测量装置的位置以及所述测量装置相对于所述阴影区的位置，拟合出当前所述光源相对于所述阴影区的照射位置；根据所述照射位置，确定出一组所述空间轮廓线。
[0008]在一种可能的实现方式中，所述根据当前所述光源相对于所述测量装置的位置以及所述测量装置相对于所述阴影区的位置，拟合出当前所述光源相对于所述阴影区的照射位置包括：
根据所述照射位置将所述阴影区和当前所述光源均标定在三维软件内；将所光源与所述阴影区的边界进行连线，形成照射区间；在所述照射区间内进行神经演算模拟出一组所述空间轮廓线。
[0009]在一种可能的实现方式中，所述将多个所述空间轮廓线进行整合从而确定出故障模型包括：将多个不同角度的所述光源所确定的多组所述空间轮廓线进行剔除和筛选最终确定出符合各所述阴影区的空间轮廓线并进行拼接形成所述故障模型。
[0010]在一种可能的实现方式中，在所述将多个所述空间轮廓线进行整合从而确定出故障模型之后还包括：将所有所述图片上均没有出现阴影的区域设定为平整面；将所述平整面标定在所述三维软件内并与所述故障模型形成所述待测面的空间模型。
[0011]在一种可能的实现方式中，在所述将多个所述空间轮廓线进行整合从而确定出故障模型之后还包括：通过所述测量装置内的多个辅助源依次照射所述待测面，并通过所述摄像机得到多张校核图像；通过所述校核图像对所述空间模型进行修改。
[0012]在一种可能的实现方式中，所述通过所述校核图像对所述空间模型进行修改包括：当所述校核图像以及所述辅助源得到的校核模型与所述空间模型中的对应区域不相同时，通过所述测量装置中的多个测距仪逐点对相应区域进行测量，并根据测量的结果对所述空间模型进行修改。
[0013]在一种可能的实现方式中，所述通过所述故障模型判断出所述待测面的表面质量包括：使所述测量装置在沿导轨长度方向上依次罩设并进行测量；将生成的多个所述空间模型进行整合形成导轨模型，由所述导轨模型进行表面质量的判定。
[0014]在一种可能的实现方式中，所述将生成的多个所述空间模型进行整合形成导轨模型包括：使两个相邻的所述空间模型中相同的区域重合。
[0015]本专利技术提供的导轨表面质量测量与判定方法的有益效果在于：与现有技术相比，本专利技术导轨表面质量测量与判定方法中在待测面的周向布置多个光源，当其中一个光源接通并发光时，其余的光源均处于断开的状态，与此同时获取当前状态下包含待测面的图片。
[0016]当待测面上出现凹坑或者凸起等故障时，光线照射在故障部位上，在故障部位的背面必然会出现阴影，并且阴影的形状与故障部位的空间轮廓线存在直接的联系，通过图片并结合此时发光光源与待测面的相对位置能够确定出故障部位在某一方向上的空间轮廓线。当所有的光源均发光之后，就能够得到多张图片，每张图片中均能够提取出相应的空间轮廓线，根据多个空间轮廓线就能够整合出故障模型，由于故障模型确定了，那么导轨也即待测面的表面质量也能够确定。
[0017]本申请中，通过各个角度的空间轮廓线对待测面上的故障特征进行提取，最终确
定的故障模型能够真实反应故障具体的结构，保证了测量的精度，从而提供更好的数据支持。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为本专利技术实施例提供的导轨表面质量测量与判定方法的流程图。
具体实施方式
[0020]为了使本专利技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0021]请参阅图1，现对本专利技术提供的导轨表面质量测量与判定方法进行说明。导轨表面质量测量与判定方法，包括：沿待测面的周向布置多个光源，保证当一个光源接通并发光时其他光源均处于断开状态。
[0022]在其中一个光源发光时，获取包含待测面的图片；根据图片拾取出阴影区，根据阴影区和当前光源相对于待测面的位置确定出空间轮廓线。
[0023]当所有光源均发光完成并且确定了多个空间轮廓线之后，将多个空间轮廓线进行整合从而确定出故障模型；通过故障模型判断出待测面的表面质量。
[0024]本专利技术提供的导轨表面质量测量与判定方法的有益效果在于：与现有技术相比，本专利技术导轨表面质量测量与判定方法中在待测面的周向布置多个光源，当其中一个光源接通并发光时，其余的光源均处于断开的状态，与此同时获取当前状态下包含待测面的图片。
[0025]当待测面上出现凹坑或者凸起等故障时，光线照射在故障部位上，在故障部位的背面必然会出现阴影，并且阴影的形状与故障部位的空间轮廓线存在直接的联系，通过图片并结合此时发光光源与待测面的相对位置能够确定出故障部位在某一方向上的空间轮廓线。当所有的光源均发光之后，就能本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.导轨表面质量测量与判定方法，其特征在于，包括：沿待测面的周向布置多个光源，保证当一个所述光源接通并发光时其他所述光源均处于断开状态；在其中一个所述光源发光时，获取包含所述待测面的图片；根据所述图片拾取出阴影区，根据所述阴影区和当前所述光源相对于所述待测面的位置确定出空间轮廓线；当所有所述光源均发光完成并且确定了多个所述空间轮廓线之后，将多个所述空间轮廓线进行整合从而确定出故障模型；通过所述故障模型判断出所述待测面的表面质量。2.如权利要求1所述的导轨表面质量测量与判定方法，其特征在于，所述沿待测面的周向布置多个光源包括：将测量装置扣设在所述待测面上，通过沿所述测量装置内壁周向设置的多个所述光源依次照亮所述待测面；通过所述测量装置内的摄像机获取所述图片。3.如权利要求2所述的导轨表面质量测量与判定方法，其特征在于，所述根据所述阴影区和当前所述光源相对于所述待测面的位置确定出空间轮廓线包括：根据当前所述光源相对于所述测量装置的位置以及所述测量装置相对于所述阴影区的位置，拟合出当前所述光源相对于所述阴影区的照射位置；根据所述照射位置，确定出一组所述空间轮廓线。4.如权利要求3所述的导轨表面质量测量与判定方法，其特征在于，所述根据当前所述光源相对于所述测量装置的位置以及所述测量装置相对于所述阴影区的位置，拟合出当前所述光源相对于所述阴影区的照射位置包括：根据所述照射位置将所述阴影区和当前所述光源均标定在三维软件内；将所光源与所述阴影区的边界进行连线，形成照射区间；在所述照射区间内进行神经演算模拟出一组所述空间轮廓线。5.如权利要求4所述的导轨表面质量测量与判定方法，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：于洋，
申请(专利权)人：维迪智能装备邯郸有限公司，
类型：发明
国别省市：