一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置，涉及异常像素实时检测修复技术领域。该发明专利技术Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，包括：根据LED芯片的分区排布，模拟实际显示模式下背光(BLU)的分区分时点亮；通过检测BLU各分区模块的电流大小与标准值对比；判定像素异常情况，不用超负荷全点亮BLU，采用逐个分区点亮检测电流的方式实时判定异常像素点，不会造成因检测手段不合理产生的BLU不良，解决了检测时造成BLU损坏的风险的问题。造成BLU损坏的风险的问题。造成BLU损坏的风险的问题。

A real-time detection and repair method and device for abnormal pixels of microled or miniled

【技术实现步骤摘要】
一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置


[0001]本专利技术涉及异常像素实时检测修复
，具体为一种基于卡尔曼的改进型路径跟踪控制方法。

技术介绍

[0002]随着市场消费者对显示面板的对比度提出越来越高的要求，普通LCD产品对背光(BLU)提出改进成Miniled(LED大于100um)或取消液晶面板直接将LED微缩化和矩阵化，让LED单元小于100um，以上两种显示面板，均需要将大量的LED芯片转移到PCB基或Glass基上。LED芯片制备和转移过程不良和基板阵列排线不良，是Miniled和Mircoled良率的关键，越是提前检测并修复不良，越是能提高产品良率及降低材料成本。
[0003]目前BLU厂家继续沿用传统BLU的方式，将所有LED芯片全部固晶好后，将所有阳极短接、所有阴极短接通电后将所有LED芯片点亮再通过肉眼或者高倍相机拍照透过亮度对比差异来判定NG的像素点。
[0004]但是全部通电的方式，并不是Miniled或Mircoled BLU正常的工作方式，一般PM方式的BLU均是共阴极通过逐行扫描，实际工作阴极的额定电流仅为全部点亮的1/N(N≥2)，所以会存在极大可能的检测造成BLU损坏的风险，如果降低电流大小又无法使LED达到正常的工作亮度，又存在漏检。

技术实现思路

[0005](一)解决的技术问题
[0006]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种基于卡尔曼的改进型路径跟踪控制方法，不用超负荷全点亮BLU，采用逐个分区点亮检测电流的方式实时判定异常像素点，不会造成因检测手段不合理产生的BLU不良，解决了检测时造成BLU损坏的风险的问题。
[0007](二)技术方案
[0008]为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：
[0009]第一方面，提供了一种基于卡尔曼的改进型路径跟踪控制方法，包括：
[0010]根据LED芯片的分区排布，模拟实际显示模式下背光(BLU)的分区分时点亮；
[0011]通过检测BLU各分区模块的电流大小与标准值对比；
[0012]判定像素异常情况。
[0013]优选的，所述BLU各分区模块的电流大小的检测通过检测Driver IC的固定的输入端的电流大小来判断。
[0014]优选的，通过SPI Interface输入信号控制BLU分区显示模拟正常点灯画面，通过侦测Power口的Vled通道的电流大小与标准预设值做对比，实时检测到异常像素点。
[0015]优选的，BLU全灰阶检测通过主动改变输出信号实现。
[0016]优选的，通过二分法检测，从1/2BLU区域至最小分区逐步开始侦测电流大小来判
断异常情况。
[0017]优选的，所述像素异常情况在部分LED转移完成实时检测，而非全部LED固晶完检测。
[0018]第二方面，提供了一种异常像素实时检测修复装置，所述异常像素实时检测修复装置用于执行第一方面实施例所述的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法。
[0019](三)有益效果
[0020]本专利技术提供了一种基于卡尔曼的改进型路径跟踪控制方法，解决现有的跟踪控制方法没有对点源目标路径进行跟踪控制建模导致精度不高的问题。
附图说明
[0021]图1为本专利技术方法流程图；
[0022]图2为本专利技术Miniled BLU分区示意图；
[0023]图3为本专利技术驱动控制板示意图。
具体实施方式
[0024]下面将结合本专利技术的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0025]实施例
[0026]如图1所示，第一方面，提供了一种基于卡尔曼的改进型路径跟踪控制方法，包括：
[0027]根据LED芯片的分区排布，模拟实际显示模式下背光(BLU)的分区分时点亮；
[0028]通过检测BLU各分区模块的电流大小与标准值对比；
[0029]判定像素异常情况。
[0030]当然可选的，BLU各分区模块的电流大小的检测通过检测Driver IC的固定的输入端的电流大小来判断。
[0031]当然可选的，通过SPI Interface输入信号控制BLU分区显示模拟正常点灯画面，通过侦测Power口的Vled通道的电流大小与标准预设值做对比，实时检测到异常像素点。
[0032]当然可选的，BLU全灰阶检测通过主动改变输出信号实现
[0033]当然可选的，通过二分法检测，从1/2BLU区域至最小分区逐步开始侦测电流大小来判断异常情况。
[0034]当然可选的，所述像素异常情况在部分LED转移完成实时检测，而非全部LED固晶完检测。
[0035]第二方面，提供了一种异常像素实时检测修复装置，所述异常像素实时检测修复装置用于执行第一方面实施例的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法。
[0036]Micro
‑
LED又称微型发光二极管，是指高密度集成的LED阵列，阵列中的LED像素点距离在10微米量级，每一个LED像素都能自发光。得益于新一代的显示技术——Micro
‑
LED技术，即LED微缩化和矩阵化技术。指的是在一个芯片上集成的高密度微小尺寸的LED阵列，
如LED显示屏每一个像素可定址、单独驱动点亮，可看成是户外LED显示屏的微缩版，将像素点距离从毫米级降低至微米级。该技术将传统的无机LED阵列微小化，每个尺寸在10微米尺寸的LED像素点均可以被独立的定位、点亮。也就是说，原本小间距LED的尺寸可进一步缩小至10微米量级。Micro
‑
LED的显示方式十分直接，将10微米尺度的LED芯片连接到TFT驱动基板上，从而实现对每个芯片放光亮度的精确控制，进而实现图像显示。
[0037]而Micro LED display，则是底层用正常的CMOS集成电路制造工艺制成LED显示驱动电路，然后再用MOCVD机在集成电路上制作LED阵列，从而实现了微型显示屏，也就是所说的LED显示屏的缩小版。
[0038]同LED一样，MicroLED典型结构是一个半导体器件，由直接能隙半导体材料构成。半导体晶片由两部分组成，一部分是P型半导体，在它里面空穴占主导地位，另一端是N型半导体，在这边主要是电子。但这两种半导体连接起来的时候，它们之间就形成一个P
‑
N结。当电流通过导线作用于这个晶片的时候，电子就会被推向P区，在P区里电子跟空穴复合，然后就会以光子的形式发出能量。Micro
‑
LED光谱主波长度约为20nm的紫外光，可提供极高的色饱和度。
[0039]显示器晶片表本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，其特征在于，包括：根据LED芯片的分区排布，模拟实际显示模式下背光(BLU)的分区分时点亮；通过检测BLU各分区模块的电流大小与标准值对比；判定像素异常情况。2.根据权利要求1所述的一种基于卡尔曼的改进型路径跟踪控制方法，其特征在于，所述BLU各分区模块的电流大小的检测通过检测Driver IC的固定的输入端的电流大小来判断。3.根据权利要求1所述的一种基于卡尔曼的改进型路径跟踪控制方法，其特征在于，通过SPI Interface输入信号控制BLU分区显示模拟正常点灯画面，通过侦测Power口的Vled通道的电流大小与标准预设值做对比，实时检测到异常像素点。4...

【专利技术属性】
技术研发人员：何旺旺，莊孟儒，李晴宇，陈亮，
申请(专利权)人：重庆翰博显示科技研发中心有限公司，
类型：发明
国别省市：