本实用新型专利技术涉及磁环加工技术领域，具体地说，涉及一种便于测量的磁环加工用尺寸检测装置，包括检测台，检测台内部为空心结构，检测台内部转动设置双向丝杆且双向丝杆一端贯穿检测台的侧壁，双向丝杆一端与第一丝杆螺母螺纹连接，双向丝杆另一端与第二丝杆螺母螺纹连接，第一丝杆螺母与第二丝杆螺母端部均固定设置连接杆，连接杆穿过检测台上表面开设的通槽与第一测量片固定连接，第一测量片边侧设有第二刻度尺，通槽一侧设有第一刻度尺，本实用新型专利技术，通过第一测量片、双向丝杆、第一丝杆螺母、第二丝杆螺、第一刻度尺、第二刻度尺、第二测量片、弹簧、第二滑块、第二滑槽、通槽、连接杆的配合，可同时测量出磁环的内外径与高度，且便于携带。携带。携带。
【技术实现步骤摘要】
一种便于测量的磁环加工用尺寸检测装置
[0001]本技术涉及磁环加工
，具体地说，涉及一种便于测量的磁环加工用尺寸检测装置。
技术介绍
[0002]在磁环加工过程中，为了避免磁环加工时发生误差，需要对磁环的尺寸进行检测，现有的检测方式通常是利用游卡标尺对磁环进行测量，由于绝大多数的磁环为圆环形状，游卡标尺检测磁环内径非常不便，且检测外径时由于磁环表面较为光滑，游卡标尺无法将其固定，会导致检测数据不准确，且无法同时对磁环的高度、内径进行测量，检测效率差，现有的可同时对磁环高度、内径测量的检测装置体积较大，不便携带，因此需要进行改进。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于提供一种便于测量的磁环加工用尺寸检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供一种便于测量的磁环加工用尺寸检测装置，包括检测台，所述检测台内部为空心结构，所述检测台内部转动设置双向丝杆且双向丝杆一端贯穿所述检测台的侧壁，所述双向丝杆一端与第一丝杆螺母螺纹连接，所述双向丝杆另一端与第二丝杆螺母螺纹连接，所述第一丝杆螺母与第二丝杆螺母端部均固定设置连接杆，所述连接杆穿过所述检测台上表面开设的通槽与第一测量片固定连接，所述第一测量片边侧设有第二刻度尺，所述通槽一侧设有第一刻度尺。
[0005]作为本技术方案的进一步改进，所述检测台上表面开对称的第二滑槽，两个所述第二滑槽内部均滑动两组对称的第二滑块，两组所述第二滑块端部均与第二测量片底部相连。
[0006]作为本技术方案的进一步改进，两个所述第二滑槽分布在所述通槽两侧，两个所述第二测量片设置在所述第一测量片两侧。
[0007]作为本技术方案的进一步改进，两个所述第二滑块之间设置弹簧，所述弹簧位于所述第二滑槽内。
[0008]作为本技术方案的进一步改进，所述第一测量片一侧设置指杆。
[0009]作为本技术方案的进一步改进，所述第一丝杆螺母与所述第二丝杆螺母下端均与第一滑块固定连接，所述第一滑块滑动在所述检测台内部底侧开设的第一滑槽内。
[0010]作为本技术方案的进一步改进，所述检测台下端固定设置支柱。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果：
[0012]该便于测量的磁环加工用尺寸检测装置中，检测时将磁环套在两个第一测量片之间，此时磁环同时位于第二测量片之间，第二测量片被磁环撑开，使得第二滑块带着第二测量片在第二滑槽内滑动，由于弹簧的作用，使得第二测量片紧紧贴合磁环外侧，转动双向丝杆，双向丝杆上的第一丝杆螺母与第二双杆螺母带着第一测量片反向移动将磁环固定在检
测台上，此时，可根据第一测量片上的第二刻度尺测量处磁环的高度，根据第一测量片一侧的指杆所指的第一刻度尺测量处磁环的内径，同时根据第二测量片之间的间距测量磁环的外径，使得测量数据更直观，测量效率更高，且检测台结构简单，体积较小，便于携带。
附图说明
[0013]图1为本技术实施例1的整体结构示意图；
[0014]图2为本技术实施例1的图1的A处结构示意图；
[0015]图3为本技术实施例1的检测台内部结构示意图。
[0016]图中各个标号意义为：
[0017]1、检测台；11、支柱；12、通槽；13、第一刻度尺；2、双向丝杆；21、第一丝杆螺母；22、第二丝杆螺母；23、连接杆；3、第一滑槽；31、第一滑块；4、第一测量片；41、指杆；42、第二刻度尺；5、第二滑槽；6、第二滑块；7、弹簧；8、第二测量片。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0020]实施例1
[0021]请参阅图1
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图3所示，本实施例提供一种便于测量的磁环加工用尺寸检测装置，包括检测台1，为了安装双向丝杆2，检测台1内部为空心结构，为了双向丝杆2可以转动，检测台1内部转动设置双向丝杆2且双向丝杆2一端贯穿检测台1的侧壁，为了可以测量磁环内径，并将其固定，双向丝杆2一端与第一丝杆螺母21螺纹连接，双向丝杆2另一端与第二丝杆螺母22螺纹连接，第一丝杆螺母21与第二丝杆螺母22端部均固定设置连接杆23，连接杆23穿过检测台1上表面开设的通槽12与第一测量片4固定连接，其中，第一次第一测量片4底部与检测台1的台面贴合，便于保证数据的准确，为了可以测量磁环的高度，第一测量片4边侧设有第二刻度尺42，为了测量磁环的内外径，通槽12一侧设有第一刻度尺13。
[0022]本实施例中，将磁环套在第一测量片4上，转动双向丝杆2，双向丝杆2以中心为对称左右两侧螺纹相反，右侧的正螺纹与第一丝杆螺母21螺纹连接，左侧的反螺纹与第二丝杆螺母22螺纹连接，第一丝杆螺母21与第二丝杆螺母22带着连接杆23以及上端的第一测量片4反向移动，将磁环固定，此时可根据第一测量片4所指的第一刻度尺13判定磁环的内径，根据第一测量片4上的第二刻度尺42判定磁环的高度。
[0023]为了对磁环的外径进行测量，检测台1上表面开对称的第二滑槽5，两个第二滑槽5 内部均滑动两组对称的第二滑块6，两组第二滑块6端部均与第二测量片8底部相连，磁环套
在第一测量片4上时，同时位于两个第二测量片8之间，利用第二滑块6在第二滑槽 5内的滑动来根据磁环的尺寸进行调整，便于对磁环外径的测量。
[0024]其中，两个第二滑槽5分布在通槽12两侧，两个第二测量片8设置在第一测量片4 两侧，将第二测量片8设置在第一测量片4两侧，便于磁环套在第一测量片4上时，能同时进行外径测量，省时省力。
[0025]进一步的，两个第二滑块6之间设置弹簧7，弹簧7位于第二滑槽5内，当磁环位于两个第二测量片8之间时，第二测量片8被撑开，使得第二滑块6滑动在第二滑槽5内，同时弹簧7被拉扯，当撑力结束后，弹簧7带着第二滑块6与第二测量片8对磁环进行包裹，使得第二测量片8紧紧与侧近贴合，防止磁环移动同时可测量磁环的外径。
[0026]为了测量数据便于读取，第一测量片4一侧设置指杆41，根据指杆41的指向可轻松记录磁环的内径数值，非常直观。
[0027]为了提高第一测量片4移动时的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种便于测量的磁环加工用尺寸检测装置，包括检测台(1)，其特征在于：所述检测台(1)内部为空心结构，所述检测台(1)内部转动设置双向丝杆(2)且双向丝杆(2)一端贯穿所述检测台(1)的侧壁，所述双向丝杆(2)一端与第一丝杆螺母(21)螺纹连接，所述双向丝杆(2)另一端与第二丝杆螺母(22)螺纹连接，所述第一丝杆螺母(21)与第二丝杆螺母(22)端部均固定设置连接杆(23)，所述连接杆(23)穿过所述检测台(1)上表面开设的通槽(12)与第一测量片(4)固定连接，所述第一测量片(4)边侧设有第二刻度尺(42)，所述通槽(12)一侧设有第一刻度尺(13)。2.根据权利要求1所述的便于测量的磁环加工用尺寸检测装置，其特征在于：所述检测台(1)上表面开对称的第二滑槽(5)，两个所述第二滑槽(5)内部均滑动两组对称的第二滑块(6)，两组所述第二滑块(6)端部均与第二测量片(8)底部相连。...
【专利技术属性】
技术研发人员：田立松，沈银江，陶蔚，
申请(专利权)人：安徽晶鸿电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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