一种分光光度计制造技术

本实用新型专利技术属于实验设备领域，具体涉及了一种分光光度计。本实用新型专利技术的分光光度计包括壳体、方形比色皿、显示屏、方形凹槽、几字形测量臂、平移装置以及升降装置，该分光光度计在保持方形比色皿不变的前提下，通过发射模块和接收模块的移动，实现水平方向的平移测量和竖直方向的升降测量，解决了单点或数点测量时，由于方形比色皿的平行度、壁厚不均匀以及频繁拿放导致放置位置不同等造成的误差，提高了测量准确性。量准确性。量准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种分光光度计


[0001]本技术属于实验设备领域，具体涉及了一种分光光度计。

技术介绍

[0002]分光光度计是一种利用分光光度法对物质定性及定量分析的仪器，其工作原理是将复杂成份的光分解为光谱线并加以分析，光线透过测试的样品溶液后，部分光线被吸收，此时在屏上所显示的光谱已不再是光源的光谱，它出现了几条暗线，即光源发射光谱中某些波长的光因被样品溶液吸收而消失，这种被样品溶液吸收后的光谱称为该溶液的吸收光谱。不同物质的吸收光谱是不同的，因此根据吸收光谱,可以鉴别溶液中所含的物质及含量。其通常的操作方法是将样品溶液放入比色皿中，将比色皿放入仪器内部，测试光源穿过比色皿从而穿过样品，接收器接收透过光源，对其进行测试分析。现有分光光度计在使用过程中，在装入空白样品或标样进行校准或测量样品前后，不可避免地需要拿放比色皿以清洗换液，拿放会造成比色皿相对测量装置的位置发生变化。同时，当比色皿为长方体时，由于制作工艺的缺陷，平行度、壁厚不均匀等差异也将影响光通过液层的厚度，使校准时光通过液层的厚度和测量样品时光通过液层的厚度不一致。上述操作以及差异都会给测量带来一定的误差。
[0003]CN202022693205.6公开了一种正交双光束光度测量装置，该装置通过将两路入射光强度信号计算为2个吸光度值，以算术平均值表达测量结果，减小误差，消除圆形比色管的不圆度误差。CN201721706578.4公开了一种设置分光光度计，可以对比色皿的上下多个点进行检测，使实验数据更加可靠、科学，散热效果好，有效减小分光光度计的体积。但都未全部解决上述缺陷。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是提供一种测量分光光度计，该测量装置不仅解决了单点或数点测量吸光度或散光度时，由于方形比色皿的平行度、壁厚不均匀以及频繁拿放导致放置位置不同等造成的误差，提高了测量准确性，而且适用范围广泛。
[0005]为了实现上述目的，本技术提供一种分光光度计，该分光光度计包括：
[0006]壳体；
[0007]方形比色皿；
[0008]显示屏；
[0009]方形凹槽，竖直设立并固定于所述壳体内，用于放置所述方形比色皿；
[0010]几字形测量臂，架设于所述方形比色皿上，包括顶板、两个侧板和两个下翼板，所述侧板的一端与所述顶板连接，另一端与所述下翼板连接，所述两个下翼板分别构成所述几字形测量臂左右两侧的翻边段；所述两个下翼板上分别设置有发射模块和接收模块，所述发射模块提供投射至所述方形比色皿的光源，所述接收模块接收经所述方形比色皿后透射的光线，并将接收到的透射的光线的光强度转化为电信号；
[0011]平移装置，用于实现所述几字形测量臂在水平方向上的移动；
[0012]升降装置，用于实现所述几字形测量臂在竖直方向上的移动。
[0013]优选地，所述发射模块包括发光二极管、限流电阻和挡光板。
[0014]优选地，所述发光二极管为单冷色发光二极管，所述限流电阻为阻值为800～1200Ω的限流电阻。
[0015]优选地，所述接收模块包括光电倍增管和挡光板。
[0016]优选地，所述光电倍增管为滨松IR21或滨松R105。
[0017]优选地，所述挡光板的孔径为3～10mm。
[0018]优选地，所述平移装置包括平移步进电机和平移导轨。
[0019]优选地，所述平移导轨水平设置；所述平移步进电机架设于所述平移导轨上，并与所述几字形测量臂连接。
[0020]优选地，所述升降装置包括升降步进电机和升降导轨。
[0021]优选地，所述升降导轨竖直设置；所述升降步进电机架设于所述升降导轨上，并与所述几字形测量臂连接。
[0022]与现有技术相比，本技术具有如下优点：
[0023]1、本技术通过水平方向的平移测量和竖直方向的升降测量，解决了单点或数点测量吸光度或散光度时，由于方形比色皿的平行度、壁厚不均匀以及频繁拿放导致放置位置不同等造成的误差，提高了测量准确性。
[0024]2、本技术的分光光度计通过测量入射光和透射光的强度，进而计算满足朗伯
‑
比尔定律的离子浓度，例如硅酸根浓度、磷酸根浓度、铁离子浓度、铜离子浓度等，以及满足朗伯
‑
比尔定律的透射法浊度的计算，应用范围广泛。
[0025]本技术的其它特征和优点将在随后具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
[0026]通过结合附图对本技术示例性实施方式进行更详细的描述，本技术的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显，其中，在本技术示例性实施方式中，相同的参考标号通常代表相同部件。
[0027]图1示出了本技术一个具体实施例中分光光度计中未放置方形比色皿的正视图。
[0028]图2示出了本技术一个具体实施例中分光光度计中放置方形比色皿的正视图。
[0029]图3示出了本技术一个具体实施例中分光光度计的俯视图。
[0030]图4示出了本技术一个具体实施例中分光光度计沿水平移动的俯视图。
[0031]图5示出了本技术一个具体实施例中第一次放置位置的俯视图。
[0032]图6示出了本技术一个具体实施例中第二次放置位置的俯视图。
[0033]图7示出了本技术一个具体实施例中水平方向上初始扫描位置的示意图。
[0034]图8示出了本技术一个具体实施例中水平方向上中间扫描位置的示意图。
[0035]图9示出了本技术一个具体实施例中水平方向上最终扫描位置的示意图。
[0036]图10示出了本技术一个具体实施例中第一次放置位置水平方向上移动时接
收模块的测量值。
[0037]图11示出了本技术一个具体实施例中第二次放置位置水平方向上移动时接收模块的测量值。
[0038]图12示出了本技术一个具体实施例中第一次、第二次放置位置水平方向上光束经过方形比色皿时接收模块的测量值对比。
[0039]附图标记说明：
[0040]1、发射模块；2、接收模块；3、几字形测量臂；4、平移步进电机；5、水平方向导轨；6、升降步进电机；7、竖直方向导轨；8、方形比色皿；9、液面；10、方形凹槽。
具体实施方式
[0041]下面将更详细地描述本技术的优选实施方式。虽然以下描述了本技术的优选实施方式，然而应该理解，可以以各种形式实现本技术而不应被这里阐述的实施方式所限制。
[0042]本技术提供一种分光光度计，该分光光度计包括：
[0043]壳体；
[0044]方形比色皿；
[0045]显示屏；
[0046]方形凹槽，竖直设立并固定于所述壳体内，用于放置所述方形比色皿；
[0047]几字形测量臂，架设于所述方形比色皿上，包括顶板、两个侧板和两个下翼板，所述侧板的一端与所述顶板连接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种分光光度计，其特征在于，该分光光度计包括：壳体；方形比色皿；显示屏；方形凹槽，竖直设立并固定于所述壳体内，用于放置所述方形比色皿；几字形测量臂，架设于所述方形比色皿上，包括顶板、两个侧板和两个下翼板，所述侧板的一端与所述顶板连接，另一端与所述下翼板连接，所述两个下翼板分别构成所述几字形测量臂左右两侧的翻边段；所述两个下翼板上分别设置有发射模块和接收模块，所述发射模块提供投射至所述方形比色皿的光源，所述接收模块接收经所述方形比色皿后透射的光线，并将接收到的透射的光线的光强度转化为电信号；平移装置，用于实现所述几字形测量臂在水平方向上的移动；升降装置，用于实现所述几字形测量臂在竖直方向上的移动。2.根据权利要求1所述的分光光度计，其特征在于，所述发射模块包括发光二极管、限流电阻和挡光板。3.根据权利要求2所述的分光光度计，其特征在于，所述发光二极管为单冷色发光二极...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕运昌，陈云龙，边宝丽，丁瑞峰，刘海波，朱鸿鑫，王林涛，冯峰，王明朗，邢芳玉，张玉珍，李擎，李丹，李娟，王宏伟，于峰，王海，付发明，廖祥林，蒋占军，黄振鹏，
申请(专利权)人：北京华科仪科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：