芯片测试座体制造技术

本实用新型专利技术涉及一种芯片测试座体，包括主体，所述主体包括底座和上盖，上盖套设在底座上，底座上设有电连接器，电连接器包括动作端、上连接端、下连接端和固定端，动作端和上连接端相连，固定端包括固定脚和伸出脚，底座上设有芯片放置槽，芯片放置槽两侧设有分隔板，分隔板之间形成固定槽，底座底部设有伸出孔，固定脚和伸出脚穿设在伸出孔上，上盖两侧设有容纳槽，容纳槽底面从上到下向内倾斜，动作端设置在容纳槽内并与容纳槽底面抵接，底座两侧设有卡槽，上盖上设有与卡槽配合的卡钩。本实用新型专利技术得到的一种芯片测试座体，具有以下优点：结构简单，芯片安装固定方便，且固定效果好，不会对芯片的外观造成损伤，且更换芯片方便。且更换芯片方便。且更换芯片方便。

Chip test base

【技术实现步骤摘要】
芯片测试座体


[0001]本技术涉及芯片测试领域，特别是涉及一种芯片测试座体。

技术介绍

[0002]芯片在封装制造及出厂前，均需经过多重的测试程序，以筛选、淘汰瑕疵品，维护其芯片产品的品质，避免增加后续产品维修的成本。现有芯片的连接通常采用焊接的方式，而在测试中若采用这种方式，会影响芯片的外观，且测试后的更换也较为麻烦。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是为了解决上述技术的不足而提供一种不易损伤芯片外观、且更换方便的芯片测试座体。
[0004]本技术所提供的一种芯片测试座体，包括主体，所述主体包括底座和上盖，上盖套设在底座上，底座上设有电连接器，电连接器包括动作端、上连接端、下连接端和固定端，芯片脚设置在上连接端和下连接端之间，动作端和上连接端相连，动作端和上连接端两者联动，固定端包括固定脚和伸出脚，底座上设有芯片放置槽，芯片放置槽两侧设有分隔板，分隔板之间形成固定槽，上连接端和下连接端穿过固定槽，底座底部设有伸出孔，固定脚和伸出脚穿设在伸出孔上，上盖两侧设有容纳槽，容纳槽底面从上到下向内倾斜，动作端设置在容纳槽内并与容纳槽底面抵接，底座两侧设有卡槽，上盖上设有与卡槽配合的卡钩。
[0005]为了对芯片固定牢固，所述动作端和上连接端相交形成相交段，电连接器的相交段和固定端之间设有具有弹性的第一连接段。
[0006]为了更便于上盖稳定移动，所述底座和上盖之间设有相互配合的导向杆和导向孔。
[0007]为了在提高效率的同时防止相互干扰，所述芯片放置槽不少于2个，两个芯片放置槽之间设有挡板，挡板能减少两个芯片之间的互相干扰。
[0008]为了更利于散热，所述芯片放置槽底部设有通槽，通槽用于散热，上盖截面呈四边形，中空便于散热。
[0009]为了便于机械手定位，所述上盖顶部设有圆槽，圆槽用于机械手定位，底座底部设有定位凸台。
[0010]为了保证下连接端的定位准确，所述下连接端与固定端之间设有第二连接段，第二连接段与固定槽底面抵接。
[0011]为了上盖移动可靠，所述底座两侧设有延伸柱，延伸柱设置在上盖内侧面旁。
[0012]本技术得到的一种芯片测试座体，具有以下优点：结构简单，芯片安装固定方便，且固定效果好，不会对芯片的外观造成损伤，且更换芯片方便，稳定性好，动作可靠。
附图说明
[0013]图1是本技术实施例1的结构示意图；
[0014]图2是本技术实施例1的俯视图；
[0015]图3是图2中A
‑
A的截面图；
[0016]图4是图2中B
‑
B的截面图。
[0017]图中：主体1、底座2、上盖3、电连接器4、动作端5、上连接端6、下连接端7、固定端8、固定脚9、伸出脚10、芯片放置槽11、分隔板12、固定槽13、伸出孔14、容纳槽15、卡槽16、卡钩17、相交段18、第一连接段19、导向杆20、导向孔21、挡板22、通槽23、圆槽24、定位凸台25、第二连接段26、延伸柱27、芯片28。
具体实施方式
[0018]为更进一步阐述本技术为实现预定技术目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本技术的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
[0019]实施例1：
[0020]本实施例提供的一种芯片测试座体，如图1
‑
图3所示，包括主体1，所述主体1包括底座2和上盖3，上盖3套设在底座2上，底座2上设有电连接器4，电连接器4包括动作端5、上连接端6、下连接端7和固定端8，芯片脚设置在上连接端6和下连接端7之间，动作端5和上连接端6相连，动作端5和上连接端6两者联动，两者联动能够使得动作端5动作时同步带动上连接端6便于操作，固定端8包括固定脚9和伸出脚10，固定脚9用于在伸出孔14上固定，使得电连接器4安装牢固，防止脱出，伸出脚10便于和测试设备连接，底座2上设有芯片放置槽11，芯片放置槽11用于放置芯片28，芯片放置槽11两侧设有分隔板12，分隔板12能分隔电连接器4，降低相互之间的影响，且更便于电连接器4的安装，分隔板12之间形成固定槽13，上连接端6和下连接端7穿过固定槽13，底座2底部设有伸出孔14，固定脚9和伸出脚10穿设在伸出孔14上，如图4所示，上盖3两侧设有容纳槽15，容纳槽15底面从上到下向内倾斜，动作端5设置在容纳槽15内并与容纳槽15底面抵接，容纳槽15用于容纳动作端5，且动作端5与容纳槽15底面抵接，而容纳槽15底面倾斜设置，使得动作端5在容纳槽15底面上由下往上运动时能带动上连接端6向外打开，底座2两侧设有卡槽16，上盖3上设有与卡槽16配合的卡钩17，卡钩17与卡槽16配合，使得上盖3和底座2组装后，上盖3不会从上端脱出。
[0021]为了对芯片28固定牢固，所述动作端5和上连接端6相交形成相交段18，电连接器4的相交段18和固定端8之间设有具有弹性的第一连接段19。形成相交段18能保证动作端5和上连接端6的同步运动，且两者之间连接可靠，第一连接段19能提供运动空间，方便动作端5的动作。本实施例中第一连接段19采用C型，C型设计有较多的压缩空间，且能向两侧伸展，保证动作端5的动作。
[0022]为了更便于上盖3稳定移动，所述底座2和上盖3之间设有相互配合的导向杆20和导向孔21。导向杆20和导向孔21配合设计，能使得上盖3移动过程中有导向，防止上盖3运动时脱出或斜向运动造成卡顿，使得上盖3移动更顺畅。
[0023]为了在提高效率的同时防止相互干扰，所述芯片放置槽11不少于2个，两个芯片放置槽11之间设有挡板22，挡板22能减少两个芯片之间的互相干扰。本实施例中芯片放置槽11设置2个，挡板22能有效，且使得芯片放置槽11位置明显，更便于芯片28的放置。
[0024]为了更利于散热，所述芯片放置槽11底部设有通槽23，通槽23用于散热，上盖3截
面呈四边形，中空便于散热。通槽23和上盖3四边形的造型，能便于空气流通，有利于芯片28散热。
[0025]为了便于机械手定位，所述上盖3顶部设有圆槽24，圆槽24用于机械手定位，底座2底部设有定位凸台25。圆槽24能起到定位作用，更便于机械手定位拿取，定位凸台25能起到定位作用，更便于和测试装置安装。
[0026]为了保证下连接端7的定位准确，所述下连接端7与固定端8之间设有第二连接段26，第二连接段26与固定槽13底面抵接。第二连接段26固定槽13底面抵接，能保证第二连接段26的定位准确，进而保证下连接端7所在位置准确，便于和芯片脚抵接。
[0027]为了上盖3移动可靠，所述底座2两侧设有延伸柱27，延伸柱27设置在上盖3内侧面旁。延伸柱27能起到导向作用，防止上盖3运动时倾斜产生卡顿。
[0028]通过上述设计，使用时，下压上盖3，容纳槽15底面从下到上为向外倾斜，动作端5又与容纳槽15底面抵接，会推动动作端5打开，动作端5逐渐本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试座体，包括主体(1)，其特征在于所述主体(1)包括底座(2)和上盖(3)，上盖(3)套设在底座(2)上，底座(2)上设有电连接器(4)，电连接器(4)包括动作端(5)、上连接端(6)、下连接端(7)和固定端(8)，动作端(5)和上连接端(6)相连，固定端(8)包括固定脚(9)和伸出脚(10)，底座(2)上设有芯片放置槽(11)，芯片放置槽(11)两侧设有分隔板(12)，分隔板(12)之间形成固定槽(13)，底座(2)底部设有伸出孔(14)，固定脚(9)和伸出脚(10)穿设在伸出孔(14)上，上盖(3)两侧设有容纳槽(15)，容纳槽(15)底面从上到下向内倾斜，动作端(5)设置在容纳槽(15)内并与容纳槽(15)底面抵接，底座(2)两侧设有卡槽(16)，上盖(3)上设有与卡槽(16)配合的卡钩(17)。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试座体，其特征是：所述动作端(5)和上连接端(6)相交形成相交段(18)，电连接器(4)的相交段(...

【专利技术属性】
技术研发人员：殷凌一，
申请(专利权)人：宁波芯测电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：