提供显示装置的检查方法及显示装置的检查装置。显示器的装置检查方法包括：第一检查步骤，点亮包括配置有多个发光元件的多个像素的显示装置，并从所述像素获得点亮图像信息；基于所述点亮图像信息确认所述多个像素中是否存在点亮像素和未点亮像素的步骤；第二检查步骤，获得所述点亮图像信息中的所述未点亮像素的位置信息，并从所述未点亮像素获得发热图像信息；修复步骤，从发光信息获得所述未点亮像素的不良信息，并基于所述不良信息修复所述未点亮像素，所述发光信息从所述点亮图像信息以及所述发热图像信息获得，所述修复步骤包括去除在所述未点亮像素中配置的所述发光元件中的一部分的步骤或者将所述发光元件再转印到所述未点亮像素的步骤。到所述未点亮像素的步骤。到所述未点亮像素的步骤。
Inspection method of display device and inspection device of display device
【技术实现步骤摘要】
显示装置的检查方法及显示装置的检查装置
[0001]本专利技术涉及一种显示装置的检查方法及显示装置的检查装置。更详细而言，涉及一种检查和修复包括无机发光元件的显示装置的方法及其装置。
技术介绍
[0002]随着多媒体的发展，显示装置的重要性正在增加。响应此，正在使用有机发光显示装置(Organic Light Emitting Display，OLED)、液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)等之类的各种类型的显示装置。
[0003]作为显示装置的显示图像的装置，包括有机发光显示面板或液晶显示面板之类的显示面板。其中，作为发光显示面板，可以包括发光元件，例如，在发光二极管(Light Emitting Diode，LED)的情况下，存在利用将有机物作为发光物质的有机发光二极管、利用将无机物作为发光物质的无机发光二极管等。
技术实现思路
[0004]包括无机发光二极管的显示装置可以根据无机发光二极管的电连接来确定像素的不良与否。当多个无机发光二极管配置在一个像素中时，像素可能由于一部分二极管而发光不良，但是，若在相应像素中局部进行修复工艺，则可以弥补相应像素的不良。
[0005]本专利技术所要解决的课题在于，提供一种在包括无机发光二极管的显示装置中能够获得不良像素的信息并修复相应像素的检查装置及其方法。
[0006]本专利技术的课题不限定于以上提及的课题，本领域技术人员能够从以下的记载清楚地理解未提及的其它技术课题。
[0007]根据用于解决所述课题的一实施例的显示装置的检查方法包括：第一检查步骤，点亮包括配置有多个发光元件的多个像素的显示装置，并从所述像素获得点亮图像信息；基于所述点亮图像信息确认所述多个像素中是否存在点亮像素和未点亮像素的步骤；第二检查步骤，获得所述点亮图像信息中的所述未点亮像素的位置信息，并从所述未点亮像素获得发热图像信息；以及修复步骤，从发光信息获得所述未点亮像素的不良信息，并基于所述不良信息修复所述未点亮像素，所述发光信息从所述点亮图像信息以及所述发热图像信息获得，所述修复步骤包括去除在所述未点亮像素中配置的所述发光元件中的一部分的步骤或者将所述发光元件再转印到所述未点亮像素的步骤。
[0008]可以是，所述第一检查步骤由第一相机执行，所述第一相机在所述显示装置点亮时通过从所述像素发出的光来获得所述点亮图像信息，所述第二检查步骤由第二相机执行，所述第二相机在所述显示装置点亮时通过从所述像素产生的热来获得所述发热图像信息。
[0009]可以是，所述发光信息包括从所述点亮图像信息中获得的发光量信息以及从所述发热图像信息获得的发热量信息，所述不良信息包括与所述未点亮像素的不良原因的种类以及所述不良原因的位置相关的信息。
[0010]可以是，所述显示装置包括针对每个所述像素配置的第一电极和第二电极以及配置在所述第一电极上的第一连接电极和配置在所述第二电极上的第二连接电极，所述发光元件配置在所述第一电极和所述第二电极上并与所述第一连接电极以及所述第二连接电极接触。
[0011]可以是，所述第二检查步骤包括从所述发热图像信息获得在所述未点亮像素中配置的所述发光元件中不良发光元件的位置信息的步骤。
[0012]可以是，所述修复步骤包括将激光照射到所述未点亮像素中的所述不良发光元件的步骤。
[0013]可以是，所述第二检查步骤包括从所述发热图像信息获得配置在所述未点亮像素中的所述第一连接电极和所述第二连接电极短路的状态下发热量高于其它部分的点位的位置信息的步骤。
[0014]可以是，所述修复步骤包括将激光照射到所述未点亮像素中的所述第一连接电极和所述第二连接电极短路的点位的步骤。
[0015]可以是，所述第二检查步骤包括获得所述未点亮像素中的所述发光元件未连接到所述第一电极以及所述第二电极的未点亮像素的位置信息的步骤，所述修复步骤包括将所述发光元件再转印到相应未点亮像素的步骤。
[0016]可以是，所述显示装置的检查方法还包括：通过获得所述点亮像素的所述发光信息来将所述点亮像素分类为正常点亮像素以及具有与所述正常点亮像素不同的发光量的不良点亮像素的步骤；获得所述不良点亮像素的位置信息和所述不良点亮像素的所述发光信息的步骤；以及基于所述发光信息修复所述不良点亮像素的步骤。
[0017]可以是，对所述正常点亮像素和所述不良点亮像素进行分类的步骤包括：将在所述点亮像素中的发光量属于基准设定值范围内的所述点亮像素指定为所述正常点亮像素的步骤；以及与所述正常点亮像素比较发光量来指定为所述不良点亮像素的步骤。
[0018]可以是，所述不良点亮像素包括：第一点亮像素，具有高于所述正常点亮像素的发光量；以及第二点亮像素，具有低于所述正常点亮像素的发光量。
[0019]可以是，在修复所述不良点亮像素的步骤中，对所述第一点亮像素执行去除所述发光元件中的一部分的工艺，对所述第二点亮像素执行再转印所述发光元件的工艺。
[0020]根据用于解决所述课题的一实施例的显示装置的检查装置，其中，所述显示装置包括配置有多个发光元件的多个像素，所述显示装置的检查装置包括：相机装置，从所述显示装置的所述像素获得多个图像信息；处理器，从所述获得的图像信息获得所述像素的发光信息以及所述像素的不良信息；以及修复装置，基于在所述处理器中获得的所述不良信息对所述像素执行修复工艺，所述处理器通过从所述图像信息获得与点亮像素和未点亮像素有关的所述发光信息来获得所述未点亮像素的所述不良信息，所述修复装置对所述未点亮像素执行所述修复工艺。
[0021]可以是，所述图像信息包括：点亮图像信息，基于所述像素点亮时发出的发光量；以及发热图像信息，基于所述像素点亮时产生的发热量，所述相机装置包括获得所述点亮图像信息的第一相机以及获得所述发热图像信息的第二相机。
[0022]可以是，所述发光信息包括所述像素的发光量信息以及所述像素的发热量信息，所述处理器基于所述发光量信息对所述点亮像素和所述未点亮像素进行分类，并从所述发
光量信息以及所述发热量信息获得所述未点亮像素的所述不良信息。
[0023]可以是，所述处理器以所述点亮像素的所述发光量信息为基准将所述点亮像素区分为正常点亮像素以及具有与所述正常点亮像素不同的发光量的不良点亮像素。
[0024]可以是，所述不良信息包括与所述像素的不良原因的种类以及所述不良原因的位置相关的信息，所述修复装置包括：激光装置，基于所述不良信息去除在所述像素中配置的所述发光元件中的一部分；以及再转印装置，基于所述不良信息将所述发光元件转印到所述像素。
[0025]可以是，所述显示装置包括针对每个所述像素配置的第一电极和第二电极以及配置在所述第一电极上的第一连接电极和配置在所述第二电极上的第二连接电极，所述发光元件配置在所述第一电极和所述第二电极上并与所述第一连接电极以及所述第二连接电极接触。
[0026]可以是，所述激光装置去除所述未点亮像素中的所述第一连本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示装置的检查方法，其中，包括：第一检查步骤，点亮包括配置有多个发光元件的多个像素的显示装置，并从所述像素获得点亮图像信息；基于所述点亮图像信息确认所述多个像素中是否存在点亮像素和未点亮像素的步骤；第二检查步骤，获得所述点亮图像信息中的所述未点亮像素的位置信息，并从所述未点亮像素获得发热图像信息；以及修复步骤，从发光信息获得所述未点亮像素的不良信息，并基于所述不良信息修复所述未点亮像素，所述发光信息从所述点亮图像信息以及所述发热图像信息获得，所述修复步骤包括去除在所述未点亮像素中配置的所述发光元件中的一部分的步骤或者将所述发光元件再转印到所述未点亮像素的步骤。2.根据权利要求1所述的显示装置的检查方法，其中，所述第一检查步骤由第一相机执行，所述第一相机在所述显示装置点亮时通过从所述像素发出的光来获得所述点亮图像信息，所述第二检查步骤由第二相机执行，所述第二相机在所述显示装置点亮时通过从所述像素产生的热来获得所述发热图像信息。3.根据权利要求1所述的显示装置的检查方法，其中，所述发光信息包括从所述点亮图像信息获得的发光量信息以及从所述发热图像信息获得的发热量信息，所述不良信息包括与所述未点亮像素的不良原因的种类以及所述不良原因的位置相关的信息。4.根据权利要求1所述的显示装置的检查方法，其中，所述显示装置包括针对每个所述像素配置的第一电极和第二电极以及配置在所述第一电极上的第一连接电极和配置在所述第二电极上的第二连接电极，所述发光元件配置在所述第一电极和所述第二电极上并与所述第一连接电极以及所述第二连接电极接触。5.根据权利要求4所述的显示装置的检查方法，其中，所述第二检查步骤包括从所述发热图像信息获得在所述未点亮像素中配置的所述发光元件中不良发光元件的位置信息的步骤。6.根据权利要求5所述的显示装置的检查方法，其中，所述修复步骤包括将激光照射到所述未点亮像素中的所述不良发光元件的步骤。7.根据权利要求4所述的显示装置的检查方法，其中，所述第二检查步骤包括从所述发热图像信息获得配置在所述未点亮像素中的所述第一连接电极和所述第二连接电极短路的状态下发热量高于其它部分的点位的位置信息的步骤。8.根据权利要求7所述的显示装置的检查方法，其中，所述修复步骤包括将激光照射到所述未点亮像素中的所述第一连接电极和所述第二连接电极短路的点位的步骤。9.根据权利要求4所述的显示装置的检查方法，其中，所述第二检查步骤包括获得所述未点亮像素中的所述发光元件未连接到所述第一电
极以及所述第二电极的未点亮像素的位置信息的步骤，所述修复步骤包括将所述发光元件再转印到相应未点亮像素的步骤。10.根据权利要求3所述的显示装置的检查方法，其中，所述显示装置的检查方法还包括：通过获得所述点亮像素的所述发光信息来将所述点亮像素分类为正常点亮像素以及具有与所述正常点亮像素不同的发光量的不良点亮像素的步骤；获得所述不良点亮像素的位置信息和所述不良点亮像素的所述发光信息的步骤；以及基于所述发光信息修复所述不...
【专利技术属性】
技术研发人员：金宰完，宋明镐，孙在珉，申大根，池熙成，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。