分析物传感器的承载器具、检测设备和测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及一种分析物传感器的承载器具、检测设备和测试设备，分析物传感器包括传感器主体和设于传感器主体的探测部，承载器具包括：主体部，主体部具有第一表面，主体部的第一表面形成有至少一个容置区，容置区被配置为限位并容置分析物传感器的传感器主体。本实用新型专利技术的承载器具能够用于分析物传感器制造生产时容置分析物传感器以使分析物传感器静置在预定位置，且可以在不同的生产设备上生产或测试无需更换承载器具，能够达到多种设备通用的有益效果。用的有益效果。用的有益效果。

Loading apparatus, detection equipment and test equipment of analyte sensor

【技术实现步骤摘要】
分析物传感器的承载器具、检测设备和测试设备


[0001]本技术大体涉及一种分析物传感器的测试制造，具体涉及一种分析物传感器的承载器具、检测设备和测试设备。

技术介绍

[0002]分析物传感器(或生物电极、生物传感器)可以广泛应用于环境监测、医疗和工业生产等领域。分析物传感器一般以生物材料为敏感元件，可以依靠生物体内物质间特有的亲合力实现识别功能。例如，对于连续葡萄糖监测系统中用于葡萄糖的浓度检测的分析物传感器，可以采集用户的葡萄糖的浓度以减少了采集指血这个过程，具有良好的用户体验。因此，分析物传感器是否能够稳定地工作显得至关重要。在分析物传感器的生产工艺中，常常需要对分析物传感器进行检验，及时发现有缺陷的分析物传感器以保证分析物传感器的质量。分析物传感器的体积一般较薄而小且工作区域的敏感元件需要特定维护，经常更换装载器皿容易损伤分析物传感器，因而在生产制造时需要针对分析物传感器的小、薄、易损的特性设计一种满足其生产的承载器具或设备。

技术实现思路

[0003]本技术有鉴于上述现有技术的状况而完成，其目的在于提供一种分析物传感器的承载器具、检测设备和测试设备，承载器具能够用于分析物传感器制造生产时容置分析物传感器以使分析物传感器静置在预定位置，且可以在不同的生产设备上生产或测试而无需更换承载器具，能够达到多种设备通用的有益效果。
[0004]根据本技术的第一方面，能够提供一种用于生产分析物传感器的承载器具，所述分析物传感器包括传感器主体和设于所述传感器主体的探测部，所述承载器具包括：主体部，所述主体部具有第一表面，所述主体部的第一表面形成有至少一个容置区，所述容置区被配置为限位并容置所述传感器主体。
[0005]在这种情况下，通过形成有容置区的承载器具能够限位并容置分析物传感器，在分析物传感器生产制造时，能够使分析物传感器位于预定位置上，减少分析物传感器在生产制造过程中位置发生变化的情况。
[0006]根据本技术所涉及的承载器具，可选地，至少一个所述容置区为凹设于所述主体部的第一表面的凹槽。在这种情况下，能够将分析物传感器容置在凹设于承载器具主体部的凹槽，并被限定在凹槽这一固定位置，减少分析物传感器在生产制造过程中位置发生变化的情况。
[0007]根据本技术所涉及的承载器具，可选地，每一所述凹槽分别包括第一凹槽和与所述第一凹槽相连通的第二凹槽，所述第一凹槽被配置为容置所述传感器主体；所述第二凹槽被配置为当所述探测部凸伸出所述传感器主体时容置所述探测部。在这种情况下，具有第一凹槽和第二凹槽的容置区能够和分析物传感器相配合，从而对分析物传感器进行限位和容置。
[0008]根据本技术所涉及的承载器具，可选地，所述主体部还具有与所述主体部的第一表面相对设置的第二表面；所述第一凹槽的远离所述主体部的第一表面的一侧端面与所述第二凹槽的远离所述主体部的第一表面的一侧端面呈共面设置；和/或，在所述主体部形成有连通所述第一凹槽和所述主体部的第二表面的第一通孔；和/或，在所述第二凹槽形成有连通所述第二凹槽和所述主体部的第二表面的第二通孔。在这种情况下，通过具有共面设置的第一凹槽和第二凹槽的容置区，能够适应分析物传感器的外形，减少承载时对分析物传感器造成的磨损，通过在第一凹槽设置的第一通孔和在第二凹槽设置的第二通孔，在分析物生产制造时，承载器具能够和设备的真空系统配合，使分析物传感器能够更好的被吸附于承载器具的容置区，且能够减少分析物传感器发生翘起而不利于进行生产测试的情况。
[0009]根据本技术所涉及的承载器具，可选地，所述主体部的第二表面的平面度不超过10μm。在这种情况下，在生产或测试分析物传感器过程中，使用承载器具配合各种设备的真空系统时，承载器具的第二表面的平面度数值越小则配合度越高，从而能够减少分析物传感器吸附不到位和或吸附时破真空的情况。
[0010]根据本技术所涉及的承载器具，可选地，还包括至少一个形成于所述主体部的第一表面的让位槽，所述让位槽连通所述第二凹槽，所述让位槽的深度为第一深度，所述第二凹槽的深度为第二深度，所述第一深度大于所述第二深度；所述让位槽被配置为当所述探测部凸伸出所述第二凹槽远离所述第一凹槽的一端时，使所述探测部凸伸出所述第二凹槽的一端而悬空设置。在这种情况下，通过设置让位槽，能够在分析物传感器容置于承载器具时，使分析物传感器中需要特别维护的区域被悬空，减少其与承载器具发生磨损的情况。
[0011]根据本技术所涉及的承载器具，可选地，所述容置区以矩阵方式排布于所述第一表面。在这种情况下，能够使分析物传感器以矩阵排布的方式规则地容置于容置区内，便于生产或测试，且矩阵排布的方式能够利于让位槽的设置，同时矩阵排布的方式还利于节省空间从而利于分析物传感器的批量化生产。
[0012]根据本技术所涉及的承载器具，可选地，在所述主体部的第一表面设置有至少一个定位突起部；和/或在所述主体部设置有至少一个定位孔，所述定位孔贯穿所述主体部设置；和/或在所述主体部设置至少一个定位缺口，所述定位缺口远离所述主体部的第一表面设置；和/或在所述主体部的侧沿设置有至少一个缺口部，所述缺口部凹设于所述主体部的侧沿。在这种情况下，通过设置定位突起部和定位孔，能够使承载器具在和生产设备配合使用时便于进行定位，或便于其他辅助器具帮助进行固定限位分析物传感器；通过设置定位缺口，能够方便承载器具在和生产设备进行配合使用；通过设置缺口部，能够方便操作人员在使用承载器具时方便进行握持和辨别使用承载器具的方向，减少误操作。
[0013]另外，根据本技术的第二方面，可选地，能够提供一种检测设备，是用于对分析物传感器的外观进行检测的设备，所述检测设备包括：控制器、图像获取装置以及载物平台；所述载物平台用于放置本技术的第一方面所涉及的任一项所述承载器具，所述图像获取装置用于获取所述承载器具上的所述分析物传感器的图像，所述控制器与所述图像获取装置电连接，所述控制器被配置为接收所述图像获取装置获取的所述分析物传感器的图像并输出检测结果。
[0014]在这种情况下，能够将容置有分析物传感器的承载器具与检测设备的载物平台配合，以使分析物传感器位于预定位置，从而便于检测设备对分析物传感器进行外观检测。
[0015]另外，根据本技术的第三方面，可选地，能够提供一种测试设备，是用于对分析物传感器的性能进行测试的设备，所述测试设备包括：测试装置、控制器以及载物平台；所述载物平台用于放置本技术的第一方面所涉及的任一项所述承载器具，所述测试装置用于对所述分析物传感器进行电学性能测试，所述控制器与所述测试装置电连接，所述控制器被配置为接收所述测试装置的电学性能的测试信号并输出测试结果。
[0016]在这种情况下，能够将容置有分析物传感器的承载器具与测试设备的载物平台配合，以使分析物传感器位于预定位置，从而便于测试设备对分析物传感器进行电学性能测试。
[0017]根据本技术第一、二、三方面，能够提供一种分析物传感器的承载器具、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于生产分析物传感器的承载器具，其中所述分析物传感器包括传感器主体和设于所述传感器主体的探测部，其特征在于，包括：主体部，所述主体部具有第一表面，所述主体部的第一表面形成有至少一个容置区，所述容置区被配置为容置所述传感器主体。2.据权利要求1所述的承载器具，其特征在于，至少一个所述容置区为凹设于所述主体部的第一表面的凹槽。3.根据权利要求2所述的承载器具，其特征在于，每一所述凹槽分别包括第一凹槽和与所述第一凹槽相连通的第二凹槽，所述第一凹槽被配置为容置所述传感器主体；所述第二凹槽被配置为当所述探测部凸伸出所述传感器主体时容置所述探测部。4.根据权利要求3所述的承载器具，其特征在于，所述主体部还具有与所述第一表面相对设置的第二表面；所述第一凹槽的远离所述主体部的第一表面的一侧端面与所述第二凹槽的远离所述主体部的第一表面的一侧端面呈共面设置；和/或，在所述主体部形成有连通所述第一凹槽和所述主体部的第二表面的第一通孔；和/或，在所述第二凹槽形成有连通所述第二凹槽和所述主体部的第二表面的第二通孔。5.根据权利要求4所述的承载器具，其特征在于，所述主体部的第二表面的平面度不超过10μm。6.根据权利要求3所述的承载器具，其特征在于，还包括至少一个形成于所述主体部的第一表面的让位槽，所述让位槽连通所述第二凹槽，所述让位槽的深度为第一深度，所述第二凹槽的深度为第二深度，所述第一深度大于所述第二深度；所述让位槽被配置为当所述探测部凸伸...

【专利技术属性】
技术研发人员：王顺兵，张木生，敬高鹏，
申请(专利权)人：深圳硅基传感科技有限公司，
类型：新型
国别省市：