硅橡胶老化程度的检测方法及其应用技术

本发明专利技术提供一种硅橡胶老化程度的检测方法。所述检测方法包括以下步骤：对高温硫化硅橡胶标准样进行加速热老化处理；热加速老化时每间隔一段时间检测标准样中硅

【技术实现步骤摘要】
硅橡胶老化程度的检测方法及其应用


[0001]本专利技术属于硅橡胶老化检测
，具体涉及一种硅橡胶老化程度的检测方法及其应用。

技术介绍

[0002]电力设备在使用过程中，会出现材料老化，如复合绝缘子等硅橡胶老化，老化后复合绝缘子的透气透水性增强、水分以及酸等介质容易进入复合绝缘子内部，导致芯棒劣化，严重时会导致复合绝缘子异常断裂，而引发安全事故。因此，有必要对电力设备的复合绝缘子进行老化检测。但是目前的检测方法主要为有损检测，并且需要电力设备停止工作才能检测，不仅会对电力设备造成损伤，而且还影响电力设备的正常运行。

技术实现思路

[0003]针对目前电力设备复合绝缘子老化检测过程中对电力设备造成损伤以及影响电力设备正常等问题，本专利技术提供一种硅橡胶老化程度的检测方法。
[0004]为实现上述专利技术目的，本专利技术采用的技术方案如下：
[0005]一种硅橡胶老化程度的检测方法，包括以下步骤：
[0006]对标准样进行加速热老化处理；所述标准样为高温硫化硅橡胶；
[0007]在所述加热老化处理过程中，每间隔一段时间检测所述标准样中硅
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硅键的红外光谱信息以及太赫兹时域光谱的吸收系数信息；
[0008]根据获得的所述红外光谱信息以及所述太赫兹时域光谱的吸收系数信息，绘制所述标准样的红外光谱吸收峰面积随老化时间变化的曲线以及太赫兹1.25THz处的吸收系数随老化时间变化的曲线；
[0009]对待测样本进行红外光谱和太赫兹时域光谱吸收系数检测，获取所述待测样本中硅
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硅键的红外光谱吸收峰面积以及太赫兹时域光谱的吸收系数；
[0010]将所述待测样本中获得的信息与所述标准样中红外光谱吸收峰面积随老化时间变化的曲线以及太赫兹1.25THz处的吸收系数随老化时间变化的曲线进行比较，以获取所述待测样本的老化程度信息。
[0011]优选地，所述加速老化处理包括以下步骤：
[0012]将所述标准样置于200℃～250℃的恒温条件中静置处理。
[0013]优选地，所述检测所述标准样中硅
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硅键的红外光谱信息以及太赫兹时域光谱的吸收系数信息的时间间隔为0.5天～10天。
[0014]优选地，所述标准样为复合缘子用高温硫化硅橡胶。
[0015]优选地，对所述标准样进行加速老化处理之前，还包括将所述标准样进行干燥处理的步骤。
[0016]优选地，所述干燥处理的温度为50℃～100℃。
[0017]优选地，所述干燥处理的时间为10天～20天。
[0018]优选地，所述标准样的厚度为0.5mm～2.0mm。
[0019]优选地，所述待测样本与所述标准样热加速老化前为相同的材质。
[0020]相应地，上述硅橡胶老化程度的检测方法在电力设备复合绝缘子老化程度检测的应用。
[0021]本专利技术的有益效果为：
[0022]相对于现有技术，本专利技术提供的钌硅橡胶老化程度的检测方法，通过对标准样进行加速老化，以获取所述标准样中硅
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硅键在不同老化程度的红外光谱信息以及太赫兹时域光谱的吸收系数信息，并根据所获得的信息，绘制所述标准样的红外光谱吸收峰面积随老化时间变化的曲线以及太赫兹1.25THz处的吸收系数随老化时间变化的曲线，再对待测样本进行红外光谱和太赫兹时域光谱习俗检测，并与所述标准样的两条曲线进行对比，以获得待测样本的老化程度信息，一方面，可以直接在待测样本上进行检测，不需要将待测样本从其附着的部件或者设备中取下，这不仅不会对待测样本产生损伤，而且也不会影响待测样本所附着的样本或者设备的正常工作；另一方面，检测过程简单高效，而且还可以精准获得待测样本的老化程度。将该检测方法用于电力设备的复合缘子进行检测时，不影响电力设备的正常工作，也不会对电力设备产生损伤。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1为本专利技术实施例提供的硅橡胶老化程度的检测方法的流程示意图；
[0025]图2为本专利技术实施例提供的硅橡胶老化程度的检测方法中使用的检测系统简化示意图；
[0026]图3为本专利技术实施例1提供的硅橡胶老化程度的检测方法获得的标准样的红外光谱信息；
[0027]图4为本专利技术实施例1提供的硅橡胶老化程度的检测方法获得的标准样的太赫兹时域光谱吸收系数信息；
[0028]图5为本专利技术实施例1提供的硅橡胶老化程度的检测方法获得的标准样的红外光谱吸收峰面积随老化时间变化的曲线以及太赫兹1.25THz处的吸收系数随老化时间变化的曲线；
[0029]附图标记：
[0030]10、检测系统；
[0031]11、太赫兹辐射模块；111、飞秒激光器；112、分束器；113、时间延迟装置；114、太赫兹发射器；115、计算机辅助设备；
[0032]12、太赫兹探测模块；121、太赫兹探测器；
[0033]13、样本承载模块；131、样本承载平台；132、切换器；
[0034]20、样本。
具体实施方式
[0035]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0036]请参阅图1，本专利技术实施例提供一种硅橡胶老化程度的检测方法。具体地，该检测方法包括以下步骤：
[0037]步骤S01、对标准样进行加速热老化处理；所述标准样为高温硫化硅橡胶。
[0038]在步骤S01中，在一些实施方式中，标准样为复合缘子用高温硫化硅橡胶。在一些实施方式中，标准样进行加速热老化处理前，还包括将标准样进行清洗和干燥处理的步骤，以排除标准样中残留的杂质以及水分等对标准样的加速热老化产生影响。在一些实施方式中，采用去离子水、乙醇等对标准样进行清洗处理。在一些实施方式中，将清洗后的标准样置于50℃～100℃的环境中静置10天至20天，以有效排除对标准样老化数据准确性的影响。在一些实施方式中，标准样的厚度在0.5mm～2.0mm，在这个厚度范围内，能够获得标准样的准确老化程度数据，可以避免标准样过薄而焦化，或者标准样过厚而各个部位的老化程度不均而影响检测结果的可靠性。
[0039]在一些实施方式中，对标准样进行加热老化时，将经过干燥的标准样置于200℃～250℃的恒温条件下中静置处理。优选加速热老化的恒温条件为205℃～215℃。
[0040]步骤S02、在所述加热老化处理过程中，每间隔一段时间检测所述标准样中硅
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硅橡胶老化程度的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：对标准样进行加速热老化处理；所述标准样为高温硫化硅橡胶；在所述加热老化处理过程中，每间隔一段时间检测所述标准样中硅
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硅键的红外光谱信息以及太赫兹时域光谱的吸收系数信息；根据获得的所述红外光谱信息以及所述太赫兹时域光谱的吸收系数信息，绘制所述标准样的红外光谱吸收峰面积随老化时间变化的曲线以及太赫兹1.25THz处的吸收系数随老化时间变化的曲线；对待测样本进行红外光谱和太赫兹时域光谱吸收系数检测，获取所述待测样本中硅
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硅键的红外光谱吸收峰面积以及太赫兹时域光谱的吸收系数；将所述待测样本中获得的信息与所述标准样中红外光谱吸收峰面积随老化时间变化的曲线以及太赫兹1.25THz处的吸收系数随老化时间变化的曲线进行比较，以获取所述待测样本的老化程度信息。2.如权利要求1所述的硅橡胶老化程度的检测方法，其特征在于，所述加速老化处理包括以下步骤：将所述标准样置于200℃～250℃的恒温条件中静置处理。3.如权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：成立，刘云帆，张思达，陈荣新，杨丽君，廖瑞金，
申请(专利权)人：重庆大学，
类型：发明
国别省市：