一种图像校正方法、校正装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种图像校正方法，涉及图像处理领域，尤其涉及一种图像校正方法、校正装置、计算机设备及存储介质；本申请通过设置对应不同灰阶的校正图像，可对已有的且存在干扰横纹的图像，进行图像的校正，消除原图像中由于曝光剂量波动产生的横纹，从而实现图像的优化，提高图像质量，有效提高经济效益。有效提高经济效益。有效提高经济效益。

【技术实现步骤摘要】
一种图像校正方法、校正装置、计算机设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及图像处理领域，尤其涉及一种图像校正方法、校正装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]X射线机是一种能够产生X射线的设备，主要包括X射线管、高压发生器以及高压电缆。工业软射线机主要用于理化检测的衍射分析仪等。而工业硬射线机主要应用于厚材料的检测等。医学上用于诊断的X射线机称为诊断X射线机，可以作透视、摄影检查。X射线透视主要依据的是X射线的穿透作用，差别吸收及荧光作用。
[0003]高压发生器的主要作用是供给X射线管阴、阳两极直流高压和灯丝加热电压。现有的工频X射线高压发生器由于输出的曝光脉冲频率很低，在曝光的同时进行连续图像采集，会在图像上看到曝光剂量波动产生的横纹，该横纹会直接影响图像质量，进而影响诊断结果，甚至生成的图像无法正常使用。
[0004]因此，针对现有技术中存在的问题，亟需提供一种能够去图像中的干扰横纹的技术显得尤为重要。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种能够去图像中的干扰横纹的技术，以解决现有技术中存在的上述问题。
[0006]本专利技术的目的通过以下技术方案实现：
[0007]一种图像校正方法，包括以下步骤：
[0008]S1：获取多个校正图像，每个校正图像对应一个灰阶，每个灰阶设有对应的灰度值范围，校正图像包括第一干扰横纹；
[0009]S2：获取待校正图像，待校正图像包括第二干扰横纹；
[0010]S3：对待校正图像进行灰阶匹配，匹配出对应的校正图像；
[0011]S4：对第一干扰横纹与第二干扰横纹进行坐标匹配；
[0012]S5：通过对待校正图像与对应的校正图像进行灰度值求差计算，消除第二干扰横纹。
[0013]具体的，步骤S1包括以下步骤：
[0014]S11：确定每个灰阶对应的灰度值范围以及曝光电流；
[0015]S12：根据确定的曝光电流采集对应的亮场图像作为校正图像；
[0016]更具体的，第一干扰横纹及第二干扰横纹均包括若干条干扰横纹，且数量相同；步骤S1还包括：S13：在校正图像中，确定第一干扰横纹的纵向起点坐标与终点坐标。
[0017]更具体的，步骤S4包括以下步骤：
[0018]S41：在待校正图像中，确定第二干扰横纹的纵向起点坐标与终点坐标；
[0019]S42：通过图像偏移，使第一干扰横纹与第二干扰横纹具有相同的纵向起点坐标与
终点坐标。
[0020]进一步的，第一干扰横纹的纵向起点坐标与终点坐标，以及第二干扰横纹的纵向起点坐标与终点坐标，均采用像素行来表示。
[0021]更进一步的，校正图像包括第一像素矩阵；待校正图像包括第二像素矩阵；步骤 S4还包括：S43：进行偏移计算，计算出偏移后的第一像素矩阵或第二像素矩阵。
[0022]更进一步的，步骤S5包括：对偏移计算后的第二像素矩阵与第一像素矩阵进行求差计算。
[0023]为实现上述目的，本专利技术还提供一种采用图像校正方法的校正装置，包括：依次逐一连接的存储模块、灰阶划分模块、灰阶匹配模块、坐标匹配模块、数据处理模块以及图像生成模块；存储模块用于对数据进行存储，且存储有若干校正图像；灰阶划分模块用于在确定的灰度值范围内进行灰阶的划分，且每个灰阶都匹配有对应的校正图像；灰阶匹配模块用于对待校正图像进行灰阶匹配，匹配出对应的校正图像；坐标匹配模块用于对待校正图像与校正图像进行坐标匹配，使一干扰横纹与第二干扰横纹的纵向坐标相同；数据处理模块用于对第一像素矩阵或第二像素矩阵进行坐标偏移计算，以及对第二像素矩阵与第一像素矩阵进行求差计算；图像生成模块根据数据处理模块计算后的结果，合成并输出图像。
[0024]为实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。
[0025]为实现上述目的，本专利技术还提供计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。
[0026]本专利技术达到的有益效果：一种图像校正方法，通过设置对应不同灰阶的校正图像，可对已有的且存在干扰横纹的图像，进行图像的校正，消除原图像中由于曝光剂量波动产生的横纹，从而实现图像的优化，提高图像质量，有效提高经济效益。
附图说明
[0027]通过结合附图对于本专利技术公开的示例性实施例进行描述，可以更好地理解本专利技术，在附图中：
[0028]图1所示的是根据本专利技术公开实施例的图像校正方法的示意性流程图；
[0029]图2所示的是根据本专利技术公开实施例的采用图像校正方法的图像校正装置示意性方框图；
[0030]图3所示的是根据本专利技术公开实施例的计算设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
[0031]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0032]本专利技术提供的一种图像校正方法、校正装置、计算机设备及计算机可读存储介质，一种图像校正方法，以消除原图像中由于曝光剂量波动产生的横纹。本专利技术创造性地提出
了一种图像校正方法，通过设置对应不同灰阶的校正图像，不仅可对新生成的图像进行图像校正处理，消除原图像中由于曝光剂量波动产生的横纹，还可对已有的且存在干扰横纹的图像进行图像的校正处理，有效提高图像质量。
[0033]实施例一
[0034]请参阅图1，本实施例提出一种图像校正方法，包括以下步骤：
[0035]S1：获取多个校正图像，每个校正图像对应一个灰阶，每个灰阶设有对应的灰度值范围，校正图像包括第一干扰横纹；
[0036]S2：获取待校正图像，待校正图像包括第二干扰横纹；
[0037]S3：对待校正图像进行灰阶匹配，匹配出对应的校正图像；
[0038]S4：对第一干扰横纹与第二干扰横纹进行坐标匹配；
[0039]S5：通过对待校正图像与对应的校正图像进行灰度值求差计算，消除第二干扰横纹；
[0040]S6：根据步骤S5获得的数据进行图像合成，生成并输出图像。
[0041]其中，第一干扰横纹及第二干扰横纹均包括若干条干扰横纹，且数量相同。
[0042]具体的，步骤S1中的各个校正图像，通过以下步骤获得：
[0043]S11：确定每个灰阶对应的灰度值范围以及曝光电流；
[0044]S12：根据确定的曝光电流采集对应的亮场图像作为校正图像；
[0045]S13：在校正图像中，确定第一干扰横纹的纵向起点坐标与终点坐标。
[0046]其中，每个灰阶本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像校正方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取多个校正图像，每个校正图像对应一个灰阶，每个灰阶设有对应的灰度值范围，所述校正图像包括第一干扰横纹；S2：获取待校正图像，所述待校正图像包括第二干扰横纹；S3：对待校正图像进行灰阶匹配，匹配出对应的校正图像；S4：对第一干扰横纹与第二干扰横纹进行坐标匹配；S5：通过对待校正图像与对应的校正图像进行灰度值求差计算，消除第二干扰横纹。2.根据权利要求1所述的一种图像校正方法，其特征在于，所述步骤S1包括以下步骤：S11：确定每个灰阶对应的灰度值范围以及曝光电流；S12：根据确定的曝光电流采集对应的亮场图像作为校正图像。3.根据权利要求1或2所述的一种图像校正方法，其特征在于：所述第一干扰横纹及第二干扰横纹均包括若干条干扰横纹，且数量相同；所述步骤S1还包括：S13：在校正图像中，确定第一干扰横纹的纵向起点坐标与终点坐标。4.根据权利要求3所述的一种图像校正方法，其特征在于，所述步骤S4包括以下步骤：S41：在待校正图像中，确定第二干扰横纹的纵向起点坐标与终点坐标；S42：通过图像偏移，使第一干扰横纹与第二干扰横纹具有相同的纵向起点坐标与终点坐标。5.根据权利要求4所述的一种图像校正方法，其特征在于：所述第一干扰横纹的纵向起点坐标与终点坐标，以及第二干扰横纹的纵向起点坐标与终点坐标，均采用像素行来表示。6.根据权利要求5所述的一种图像校正方法，其特征在于，所述步骤S4还包括：所述校正...

【专利技术属性】
技术研发人员：许馨，冯岩河，
申请(专利权)人：上海昊博影像科技有限公司，
类型：发明
国别省市：