本实用新型专利技术公开了带匹配负载的密封测量装置，包括测量头、连接外壳、匹配电阻、测量底座、接触内芯、待测密封容器和绝缘套，测量底座与待测密封容器固定连接，连接外壳的下端与测量底座连接、上端与测量头连接，接触内芯套在绝缘套内，接触内芯下端伸入待测密封容器与分压器连接、上端伸入连接外壳内，匹配电阻设于连接外壳内且匹配电阻上端与测量头连接、下端与接触内芯连接，绝缘套与测量底座之间设有第一密封结构，接触内芯与绝缘套之间设有第二密封结构，测量底座与待测密封容器之间设有第三密封结构。本实用新型专利技术解决了密封环境下测量头密封泄漏的问题，将匹配电阻和测量头集成到一起，匹配电阻可以根据测量需求更换，无需再外加匹配负载。加匹配负载。加匹配负载。
【技术实现步骤摘要】
一种带匹配负载的密封测量装置
[0001]本技术涉及高电压测试
，尤其涉及一种带匹配负载的密封测量装置。
技术介绍
[0002]在高电压脉冲功率
，经常需要监测各种各样的电压信号，为减少对被测系统的影响，这时往往采用分压器来检测高电压信号，而高电压的输出环境大多都是在密封的真空环境或绝缘气体、油介质里，因此测量需要一个带密封的测量头。
[0003]通常一般情况下在市场上可直接购买带密封的N型头，这种N型密封头它中间的接触内芯是通过绝缘体进行轴向密封的，但这种密封N型头适用性不行，在极端的环境使用过程中经常出现泄漏的情况，甚至在制作过程中焊接时间稍微过长也会导致中间内芯泄漏，满足不了应用要求，另外在采用电容分压器测量信号的时候，往往还需要加一个匹配负载，这个匹配负载与N型测量头相连接才能进行测量，这样导致用的接头很多，使用起来也比较麻烦复杂。
技术实现思路
[0004]本技术要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种解决了密封环境下测量头密封泄漏的问题，将匹配电阻和测量头集成到一起，匹配电阻可以根据测量需求更换，无需再外加匹配负载的带匹配负载的密封测量装置。
[0005]为解决上述技术问题，本技术采用以下技术方案：
[0006]一种带匹配负载的密封测量装置，包括测量头、连接外壳、匹配电阻、测量底座、接触内芯、待测密封容器和绝缘套，所述测量底座与待测密封容器固定连接，所述连接外壳的下端与测量底座连接、上端与测量头连接，所述绝缘套设于测量底座内，所述接触内芯套在绝缘套内，且接触内芯下端伸入待测密封容器与分压器连接、上端伸入连接外壳内，所述匹配电阻设于连接外壳内且匹配电阻上端与测量头连接、下端与接触内芯连接，所述绝缘套与测量底座之间设有第一密封结构，所述接触内芯与绝缘套之间设有第二密封结构，所述测量底座与待测密封容器之间设有第三密封结构。
[0007]作为上述技术方案的进一步改进，所述绝缘套与测量底座之间设有密封圈一，所述绝缘套的上端具有沉头槽，所述接触内芯的顶部沉头位于所述沉头槽内，所述沉头槽内设有密封圈二，所述接触内芯的顶部沉头位于所述沉头槽内，并与密封圈二接触，所述密封圈一构成第一密封结构，所述密封圈二构成第二密封结构。
[0008]作为上述技术方案的进一步改进，所述绝缘套的上端具有沉台部，所述沉头槽设于沉台部上，所述沉台部位于测量底座的外部并由测量底座的上端面支撑，所述密封圈一设于沉台部与测量底座的上端面之间。
[0009]作为上述技术方案的进一步改进，所述密封圈一与密封圈二均为耐高低温的O型密封圈。
[0010]作为上述技术方案的进一步改进，所述连接外壳内设有绝缘垫环，所述绝缘垫环套在匹配电阻的外部。
[0011]作为上述技术方案的进一步改进，所述绝缘套的上端伸入连接外壳内，所述连接外壳的内壁设有定位台阶，所述绝缘垫环的上端与定位台阶相抵，下端压紧在绝缘套的上端。
[0012]作为上述技术方案的进一步改进，所述待测密封容器具有安装孔，所述测量底座的下端焊接在安装孔内，所述测量底座与安装孔之间的焊接连接构成第三密封结构。
[0013]作为上述技术方案的进一步改进，所述连接外壳的下端设有法兰一，测量底座上的上端设有法兰二，法兰一与法兰二通过螺栓连接。
[0014]作为上述技术方案的进一步改进，所述绝缘套为聚四氟乙烯套，所述绝缘垫环为聚四氟乙烯垫环。
[0015]作为上述技术方案的进一步改进，所述测量头通过螺栓与连接外壳连接。
[0016]与现有技术相比，本技术的优点在于：
[0017]本技术的带匹配负载的密封测量装置，通过连接外壳和测量底座实现了测量头与待测密封容器的连接，同时在测量底座与待测密封容器的连接位置设置第三密封结构进行密封，在绝缘套与测量底座之间设有第一密封结构进行密封，在接触内芯与绝缘套之间设有第二密封结构进行密封，三处的密封结构实现了匹配电阻、接触内芯密封安装在连接外壳和测量底座内，实现了密封环境下的测量头对电容分压器的测量，避免了待测密封容器内气体或者液体的泄露，解决了密封环境下测量头密封泄漏的问题；同时将匹配电阻和测量头集成到一起，当测量使用时，匹配电阻可以根据测量需求任意更换，无需再外加匹配负载，也满足密封环境下的测量需求，整体结构可拆拆卸式，具有结构简单、加工精度要求不高、制造成本低、便于安装、拆卸，可推广应用的优点。
附图说明
[0018]图1是本技术的带匹配负载的密封测量装置的结构示意图。
[0019]图中各标号表示：
[0020]1、测量头；2、连接外壳；21、定位台阶；22、法兰一；3、匹配电阻；4、测量底座；41、法兰二；5、接触内芯；6、待测密封容器；61、安装孔；7、绝缘套；71、沉头槽；72、沉台部；81、密封圈一；82、密封圈二；9、绝缘垫环。
具体实施方式
[0021]以下结合说明书附图和具体实施例对本技术作进一步详细说明。
[0022]本技术的描述中，需要说明的是，术语“上端”与“下端”等指示方位或者位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或者暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制，如当该密封测量装置平放时，“上端”与“下端”可以理解为“一端”和“另一端”。此外，术语“第一”、“第二”和“第三”进用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，也不代表先后顺序，可相互独立存在。
[0023]如图1所示，本实施例的带匹配负载的密封测量装置，包括测量头1、连接外壳2、匹
配电阻3、测量底座4、接触内芯5、待测密封容器6和绝缘套7。测量底座4与待测密封容器6固定连接。连接外壳2的下端与测量底座4连接，其上端与测量头1连接。绝缘套7设于测量底座4内，接触内芯5套在绝缘套7内，接触内芯5的下端伸入到待测密封容器6内与待测密封容器6内的分压器连接，接触内芯5的上端伸入到连接外壳2内。匹配电阻3设于连接外壳2内，匹配电阻3的上端与测量头1连接，其下端与接触内芯5连接。绝缘套7既起到防止接触内芯5与测量底座4接触的作用，也起到安装接触内芯5的作用。
[0024]其中，绝缘套7与测量底座4之间设有第一密封结构，接触内芯5与绝缘套7之间设有第二密封结构，测量底座4与待测密封容器6之间设有第三密封结构。
[0025]该测量装置，通过连接外壳2和测量底座4实现了测量头1与待测密封容器6的连接，同时在测量底座4与待测密封容器的连接位置设置第三密封结构进行密封，在绝缘套7与测量底座4之间设有第一密封结构进行密封，在接触内芯5与绝缘套7之间设有第二密封结构进行密封，三处的密封结构实现了匹配电阻3、接触内芯5密封安装在连接外壳2和测量底座4内，实现了密封环境下的测量头1对电容分压器的测量，避免了待测密封容器6内气体或者液体的泄露，解决了密封环境下测量头1密封泄漏的问题。本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种带匹配负载的密封测量装置，其特征在于：包括测量头(1)、连接外壳(2)、匹配电阻(3)、测量底座(4)、接触内芯(5)、待测密封容器(6)和绝缘套(7)，所述测量底座(4)与待测密封容器(6)固定连接，所述连接外壳(2)的下端与测量底座(4)连接、上端与测量头(1)连接，所述绝缘套(7)设于测量底座(4)内，所述接触内芯(5)套在绝缘套(7)内，且接触内芯(5)下端伸入待测密封容器(6)与分压器连接、上端伸入连接外壳(2)内，所述匹配电阻(3)设于连接外壳(2)内且匹配电阻(3)上端与测量头(1)连接、下端与接触内芯(5)连接，所述绝缘套(7)与测量底座(4)之间设有第一密封结构，所述接触内芯(5)与绝缘套(7)之间设有第二密封结构，所述测量底座(4)与待测密封容器(6)之间设有第三密封结构。2.根据权利要求1所述的带匹配负载的密封测量装置，其特征在于：所述绝缘套(7)与测量底座(4)之间设有密封圈一(81)，所述绝缘套(7)的上端具有沉头槽(71)，所述沉头槽(71)内设有密封圈二(82)，所述接触内芯(5)的顶部沉头位于所述沉头槽(71)内，并与密封圈二(82)接触，所述密封圈一(81)构成第一密封结构，所述密封圈二(82)构成第二密封结构。3.根据权利要求2所述的带匹配负载的密封测量装置，其特征在于：所述绝缘套(7)的上端具有沉台部(72)，所述沉头槽(71)设于沉台部(72)上，所述沉台部(72)位于测量底座(4)的外部并由测量底座(4)的上端面支...
【专利技术属性】
技术研发人员：洪志强，李志强，王弘刚，殷毅，毛元其，胡宏亮，
申请(专利权)人：湖南华成迈创电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。