用于光电模组的检测结构、光功率检测系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及一种用于光电模组的检测结构、光功率检测系统及方法，其中检测结构应用于一个或多个光电模组，每个光电模组中的模组包括一个或多个激光器。检测结构包括连接板、一个或多个为对应模组中的各个激光器供电的电源线路、一个或多个获取对应的控制信号的通信线路及一个或多个驱动控制电路，模组连接在连接板上，电源线路、通信线路和驱动控制电路设置在连接板上。每个驱动控制电路分别与对应的通信线路、电源线路及模组中的各个激光器连接，以根据控制信号将电源进行电流转换，并将转换成的驱动电流输出至对应的模组中的对应激光器，以使其发射测试光信号。本方案结构简单，检测结果准确且检测效率高。测结果准确且检测效率高。测结果准确且检测效率高。

【技术实现步骤摘要】
用于光电模组的检测结构、光功率检测系统及方法


[0001]本专利技术一般地涉及光通信
更具体地，本专利技术涉及一种用于光电模组的检测结构、用于光电模组的光功率检测系统及光功率检测方法。

技术介绍

[0002]目前，在一些应用场景中需要对激光器进行光功率检测，以便通过检测结果进行相应操作。例如，在有源AOC场景中需要对激光器进行老化处理，通过老化处理可以筛选出早期失效的激光器，从而达到提高产品可靠性的目的。其中的一种筛选方式是检测激光器在老化前后光功率的变化，并以此来判断激光器是否失效。目前，激光器的光功率检测可以在激光器的不同阶段进行，例如可以在半成品耦合完Lens(透镜)等光组件之后、Wafer(晶圆)阶段以及激光器封装成半成品IC之后进行。
[0003]在半成品耦合完Lens等光组件之后进行光功率检测时，由于光组件本身存在公差，这使得利用其进行光功率检测容易受到耦合精度的影响，从而使得光纤无法准确接收到激光器发射的光信号，进而使得光功率检测结果不准确。另外，在该阶段光组件和固定光纤的器件的安装误差以及固定光纤的器件多次使用产生的磨损等产生的误差也会产生上述的检测结果不准确的问题。检测结果的误差势必会导致激光器的失效检测结果不准确，进而导致误判。
[0004]另外，上述检测设备的结构复杂，从而使得其成本较高。进一步，由于在进行光功率检测时，每个激光器都需要耦合光纤，由此使得测试过程比较繁琐，进而使得在对大量的激光器进行光功率检测时效率较低。
[0005]在Wafer阶段进行光功率检测时，检测设备需要占用较多晶圆的面积，这必然会降低激光器的产量，从而导致激光器生产成本的提高。为了解决该问题，目前常采用抽检的方式进行光功率检测，但该种方式显然无法保证所有激光器是的长期稳定合格的。
[0006]另外，在激光器封装成半成品IC时，由于形成的TO封装结构外形较大，从而使得目前追求小型化AOC的线缆等无法适用，进而无法进行测试。

技术实现思路

[0007]至少针对上述
技术介绍
中的缺陷，本专利技术实施例提供一种用于光电模组的检测结构、用于光电模组的光功率检测系统及光功率检测方法。
[0008]在第一方面中，本专利技术提供一种用于光电模组的检测结构，其应用于一个或多个光电模组，并且每个所述光电模组中的模组包括一个或多个激光器；所述检测结构包括：连接板，一个或多个模组用于连接在所述连接板上；一个或多个电源线路，其设置在所述连接板上并且其中每个电源线路用于通过外部电源为对应的模组中的各个激光器提供电源；一个或多个通信线路，其设置在所述连接板上并且其中每个通信线路用于从外部控制设备处获取对应的控制信号；以及一个或多个驱动控制电路，其设置在所述连接板上并且其中每个驱动控制电路分别与对应的通信线路、对应的电源线路以及对应的模组中的各个激光器
电连接，以用于：从对应的通信线路处获取所述控制信号；从对应的电源线路处获取电源；以及根据所述控制信号将所述电源进行电流转换，并将转换生成的驱动电流输出至对应的模组中的对应激光器，以使所述激光器根据所述驱动电流发射用于进行光功率检测的测试光信号。
[0009]在一个实施例中，所述驱动控制电路包括：MCU，其与对应的通信线路电连接，以用于从所述通信线路处获取所述控制信号；以及驱动器，其分别与所述MCU、对应的电源线路以及对应的模组中的各个激光器电连接，以用于：从所述MCU处获取所述控制信号；从对应的电源线路处获取电源；以及根据所述控制信号将所述电源进行电流转换，并将转换生成的驱动电流输出至对应的模组中的对应激光器，以使所述激光器根据所述驱动电流发射所述测试光信号。
[0010]在一个实施例中，所述连接板上设置一个或多个单板，每个所述模组和对应的驱动控制电路布置在对应的单板上，并且所述连接板上还设置有：一个或多个槽孔，其中在每个单板的一侧或多侧对应设置有一个或多个所述槽孔，以便与所述单板上的驱动控制电路连接的电源线路和通信线路从所述槽孔中穿过。
[0011]在一个实施例中，所述槽孔为椭圆形槽孔。
[0012]在一个实施例中，所述槽孔设置在所述连接板的表面或内部。
[0013]在一个实施例中，所述连接板上还设置有：多条切割线，在每个单板的至少两侧各设置有一条所述切割线，并且所述切割线设置在所述连接板的表面，以用于通过所述切割线将所述单板从所述连接板上分离，其中所述槽孔最低端距离所述连接板表面的距离大于所述切割线最低端距离所述连接板表面的距离。
[0014]在一个实施例中，对于设置在所述单板同一侧的槽孔和切割线，所述槽孔的中心与所述单板中心线之间的垂直距离大于所述切割线与所述单板中心线之间的垂直距离，其中所述槽孔的中心为所述槽孔在垂直于所述切割线方向上的中心，并且所述单板中心线为所述单板在垂直于所述切割线方向上的中心线。
[0015]在第二方面中，本专利技术还提供一种用于光电模组的光功率检测系统，包括：一个或多个根据前述任一实施例所述的检测结构；以及光功率检测器，其包括光敏面并且用于：通过所述光敏面接收一个或多个模组中对应激光器发射的测试光信号；以及根据所述测试光信号检测所述激光器的光功率。
[0016]在一个实施例中，光功率检测系统还包括：供电电源，其与所述一个或多个电源线路电连接并且用于通过对应的电源线路为对应的模组中的激光器提供电源；以及控制器，其与所述一个或多个通信线路电连接并且用于向所述一个或多个通信线路传输控制信号。
[0017]在第三方面中，本专利技术还提供一种光功率检测方法，其应用于前述实施例的光功率检测系统。光功率检测方法包括：通过所述光功率检测器的光敏面接收一个或多个模组中对应激光器发射的测试光信号；以及根据所述测试光信号检测所述对应激光器的光功率。
[0018]基于上述关于本专利技术方案的描述，本领域技术人员可以理解本方案由于在激光器所处的连接板上设置用以发射测试光信号的驱动控制电路、通信线路和电源线路，从而使得其可以在未耦合光组件时进行早期的检测，因此使得检测结构的结构简单，成本较低。另外，本方案的检测结构无需占用用以生产激光器的晶圆的面积，从而可以降低激光器的生
产成本。进一步，本方案可以通过光敏面面积远远大于激光器的发光元件的发光面面积的光功率检测器直接接收(一般为无线接收方式)激光器发射的测试光信号，因此可以准确接收到测试光信号，从而可以保证光功率检测结果的准确性，进而可以保证例如激光器失效检测等检测结果的准确性。此外，本方案只需控制模组中的激光器的驱动电流，再通过光功率检测器接收其所发射的测试光信号便可以进行光功率检测，相对于现有技术提高了光功率检测的效率。
附图说明
[0019]通过参考附图阅读下文的详细描述，本专利技术示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中，以示例性而非限制性的方式示出了本专利技术的若干实施方式，并且相同或对应的标号表示相同或对应的部分其中：
[0020]图1是一种现有的光功率检测系统的示意图；
[0021]图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于光电模组的检测结构，其应用于一个或多个光电模组，并且每个所述光电模组中的模组包括一个或多个激光器；其特征在于，所述检测结构包括：连接板，一个或多个所述模组用于连接在所述连接板上；一个或多个电源线路，其设置在所述连接板上并且其中每个电源线路用于通过外部电源为对应的模组中的各个激光器提供电源；一个或多个通信线路，其设置在所述连接板上并且其中每个通信线路用于从外部控制设备处获取对应的控制信号；以及一个或多个驱动控制电路，其设置在所述连接板上并且其中每个驱动控制电路分别与对应的通信线路、对应的电源线路以及对应的模组中的各个激光器电连接，以用于：从对应的通信线路处获取所述控制信号；从对应的电源线路处获取电源；以及根据所述控制信号将所述电源进行电流转换，并将转换生成的驱动电流输出至对应的模组中的对应激光器，以使所述激光器根据所述驱动电流发射用于进行光功率检测的测试光信号。2.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，其中所述驱动控制电路包括：MCU，其与对应的通信线路电连接，以用于从所述通信线路处获取所述控制信号；以及驱动器，其分别与所述MCU、对应的电源线路以及对应的模组中的各个激光器电连接，以用于：从所述MCU处获取所述控制信号；从对应的电源线路处获取电源；以及根据所述控制信号将所述电源进行电流转换，并将转换生成的驱动电流输出至对应的模组中的对应激光器，以使所述激光器根据所述驱动电流发射所述测试光信号。3.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，其中所述连接板上设置一个或多个单板，每个所述模组和对应的驱动控制电路布置在对应的单板上，并且所述连接板上还设置有：一个或多个槽孔，其中在每个单板的一侧或多侧对应设置有一个或多个所述槽孔，以便与所述单板上的驱动控制电路连接的电源线路和通信线路从所述槽孔中穿过。4.根据权利要求3所述的检测结构...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪绪茂，王群泽，周一环，李德振，江辉，
申请(专利权)人：长芯盛武汉科技有限公司，
类型：发明
国别省市：