烘焙设备的控制方法、装置、烘焙设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种烘焙设备的控制方法、装置、烘焙设备及存储介质，该方法包括：获取预设时长内温度传感器检测到的烘焙设备的实际工作温度，并获取烘焙设备的设定工作温度；根据实际工作温度和设定工作温度确定烘焙设备在预设时长内的温差数据；确定设定工作温度对应的补偿温度；根据温差数据和补偿温度确定加热组件的工作参数，并基于工作参数控制加热组件工作。即本发明专利技术实施例可以根据温差数据和补偿温度确定加热组件的工作参数，并基于该工作参数控制加热组件工作，能够提高控温精度，温差数据和补偿温度的获取周期可调且可控，可以满足烘焙设备的产品快速上市的需求，以及适应烘焙设备的产品快速迭代上市的节奏。以及适应烘焙设备的产品快速迭代上市的节奏。以及适应烘焙设备的产品快速迭代上市的节奏。

【技术实现步骤摘要】
烘焙设备的控制方法、装置、烘焙设备及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及家电控制技术，尤其涉及一种烘焙设备的控制方法、装置、烘焙设备及存储介质。

技术介绍

[0002]烘焙设备一般用于烘焙食物，为了使用户使用烘焙设备烘焙出口感更好的食物，则需要提高烘焙设备的控温能力。
[0003]目前烘焙设备的控温方法主要是当温度超出设定温度点的上临界值或者下临界值时，控制加热组件停止加热或者开始加热，从而控制烘焙设备的温度。
[0004]由于烘焙设备内部的温场系统惯性较大，加热组件停止工作时，温度不能立刻下降，导致控温精度较低。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供一种烘焙设备的控制方法、装置、烘焙设备及存储介质，能够提高控温精度，温差数据和补偿温度的获取周期可调且可控，可以满足烘焙设备的产品快速上市的需求，以及适应烘焙设备的产品快速迭代上市的节奏。
[0006]第一方面，本专利技术实施例提供一种烘焙设备的控制方法，所述烘焙设备具有温度传感器和加热组件，所述方法包括：
[0007]获取预设时长内所述温度传感器检测到的所述烘焙设备的实际工作温度，并获取所述烘焙设备的设定工作温度；
[0008]根据所述实际工作温度和所述设定工作温度确定所述烘焙设备在所述预设时长内的温差数据；
[0009]确定所述设定工作温度对应的补偿温度；
[0010]根据所述温差数据和所述补偿温度确定所述加热组件的工作参数，并基于所述工作参数控制所述加热组件工作。
[0011]第二方面，本专利技术实施例提供了一种烘焙设备的控制装置，所述烘焙设备具有温度传感器和加热组件，所述装置包括：
[0012]工作温度获取模块，用于获取预设时长内所述温度传感器检测到的所述烘焙设备的实际工作温度，并获取所述烘焙设备的设定工作温度；
[0013]温差数据确定模块，用于根据所述实际工作温度和所述设定工作温度确定所述烘焙设备在所述预设时长内的温差数据；
[0014]补偿温度确定模块，用于确定所述设定工作温度对应的补偿温度；
[0015]工作参数确定模块，用于根据所述温差数据和所述补偿温度确定所述加热组件的工作参数，并基于所述工作参数控制所述加热组件工作。
[0016]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种烘焙设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如本专利技术实施
例中任一所述的烘焙设备的控制方法。
[0017]第四方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本专利技术实施例中任一所述的烘焙设备的控制方法。
[0018]本专利技术实施例中，烘焙设备具有温度传感器和加热组件，可以获取预设时长内温度传感器检测到的烘焙设备的实际工作温度，并获取烘焙设备的设定工作温度；根据实际工作温度和设定工作温度确定烘焙设备在预设时长内的温差数据；确定设定工作温度对应的补偿温度；根据温差数据和补偿温度确定加热组件的工作参数，并基于工作参数控制加热组件工作。即本专利技术实施例可以根据温差数据和补偿温度确定加热组件的工作参数，并基于该工作参数控制加热组件工作，能够提高控温精度，温差数据和补偿温度的获取周期可调且可控，可以满足烘焙设备的产品快速上市的需求，以及适应烘焙设备的产品快速迭代上市的节奏。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0020]图1是本专利技术实施例提供的烘焙设备的控制方法的一种流程示意图；
[0021]图2是本专利技术实施例提供的烘焙设备的一种结构示意图；
[0022]图3是本专利技术实施例提供的烘焙设备的控制方法的另一种流程示意图；
[0023]图4是本专利技术实施例提供的烘焙设备的控制装置的一个结构示意图；
[0024]图5是本专利技术实施例提供的烘焙设备的一个结构示意图。
具体实施方式
[0025]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。
[0026]图1是本专利技术实施例提供的烘焙设备的控制方法的一种流程示意图，该方法可以由本专利技术实施例提供的烘焙设备的控制装置来执行，该装置可采用软件和/或硬件的方式实现。在一个具体的实施例中，该装置可以集成在烘焙设备中，图2是本专利技术实施例提供的烘焙设备的一种结构示意图，如图2所示，烘焙设备21可以包括控制器211、温度传感器212和加热组件213，控制器211可以用于确定加热组件213的工作参数；温度传感器212可以用于检测烘焙设备21的实际工作温度，加热组件213可以用于基于控制器211发送的工作参数进行工作，本专利技术实施例提供的方法相当于是一种控制程序，该控制程序可以在控制器211中运行；烘焙设备比如可以是烤箱、烘焙机、空气炸锅，微波炉等。以下实施例将以该装置集成在烘焙设备中为例进行说明，参考图1，该方法具体可以包括如下步骤：
[0027]步骤101，获取预设时长内温度传感器检测到的烘焙设备的实际工作温度，并获取烘焙设备的设定工作温度。
[0028]其中，预设时长可以理解为具体的时间长度限制，例如，可以是4分钟；实际工作温
度可以理解为烘焙设备在烘焙过程中的实际烘焙温度；设定工作温度可以理解为用户使用烘焙设备时设定的烘焙温度。
[0029]具体地，可以通过温度传感器在预设时长内检测烘焙设备的实际工作温度，然后获取预设时长内温度传感器检测到的烘焙设备的实际工作温度；可以在用户设定完成烘焙设备的烘焙温度后，获取烘焙设备的设定工作温度。
[0030]示例地，若烘焙设备为烤箱，在用户将需要烘烤的食物放入烤箱内部并设定烤箱的烘焙温度为A后，可以获取烤箱的设定工作温度(A)；可以通过温度传感器在4分钟内检测烤箱的实际工作温度，然后获取4分钟内温度传感器检测到的烤箱的实际工作温度B。
[0031]步骤102，根据实际工作温度和设定工作温度确定烘焙设备在预设时长内的温差数据。
[0032]其中，温差数据可以理解为预设时长内的设定工作温度与多个实际工作温度对应的多个差值数据。
[0033]具体地，可以通过计算预设时长内的设定工作温度与多个实际工作温度的多个温度差值以及多个温度差值对应的积分，进而根据多个温度差值以及多个温度差值对应的积分确定烘焙设备在预设时长内的温差数据。
[0034]示例地，继续上述举例，可以通过计算烤箱的实际工作温度(B)和设定工作温度(A)在4分钟内的温度差值以及多个温度差值对应的积分，进而根据多个温度差值以及多个温度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种烘焙设备的控制方法，其特征在于，所述烘焙设备具有温度传感器和加热组件，所述方法包括：获取预设时长内所述温度传感器检测到的所述烘焙设备的实际工作温度，并获取所述烘焙设备的设定工作温度；根据所述实际工作温度和所述设定工作温度确定所述烘焙设备在所述预设时长内的温差数据；确定所述设定工作温度对应的补偿温度；根据所述温差数据和所述补偿温度确定所述加热组件的工作参数，并基于所述工作参数控制所述加热组件工作。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述实际工作温度包括当前实际工作温度和历史实际工作温度，所述根据所述实际工作温度和所述设定工作温度确定所述烘焙设备在所述预设时长内的温差数据，包括：根据所述当前实际工作温度和所述设定工作温度确定温差当前数据；根据所述历史实际工作温度和所述设定工作温度确定所述预设时长内的温差积分数据；将所述温差当前数据和所述温差积分数据确定为所述烘焙设备在所述预设时长内的温差数据。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述实际工作温度和所述设定工作温度确定所述烘焙设备在所述预设时长内的温差数据，包括：根据所述实际工作温度和所述设定工作温度确定所述预设时长内的温差平均数据；根据所述实际工作温度和所述设定工作温度确定所述预设时长内的温差积分数据；将所述温差平均数据和所述温度积分数据确定为所述烘焙设备在所述预设时长内的温差数据。4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述根据所述温差数据和所述补偿温度确定所述加热组件的工作参数，包括：按照如下公式对所述温差数据和所述补偿温度进行处理，得到所述加热组件的工作参数：其中，t表示时间，t1表示所述预设时长的起始时间，t2表示当前工作时间，u(t)表示所述加热组件的工作参数，p(t)表示所述温差当前数据或所述温差平均数据，q(t)表示温差，表示所述温差积分数据，k
p
表示第一放大参数，k
q
表示第二放大参数，C
补偿
表示所述补偿温度。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述设定工作温度对应的补偿温度，包括：获取补偿参数；通过所述补偿参数和所述设定工作温度确定所述设定工作温度对应的补偿温度。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述获取补偿参数包括：获取测试数据集，所述测试数据集中包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：王丕昱，张小君，杨青，
申请(专利权)人：海尔智家股份有限公司，
类型：发明
国别省市：