超低功耗集成电路中的缓冲器制造技术

技术编号:3409738 阅读:361 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种超低功耗集成电路中的缓冲器。本发明专利技术利用两个第一级反相器产生的电压驱动第二级反相器达到缓冲器目的,同时,两个第一级反相器中的PMOS管和NMOS管的宽长比不同,导致其导通时间不同,从而其产生的电压到达第二级反相器的时间点不同,防止第二级反相器中的PMOS管和NMOS管同时导通而产生导通电流。本发明专利技术可以应用于超低功耗集成电路中。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于超低功耗集成电路中的缓冲器,其特征在于,其包括第一级反相器(A1)、第一级反相器(A2)和第二级反相器(B),其中,第一级反相器(A1)和(A2)的输入端连接到一起,第一级反相器(A1)的输出电压输入到第二级反相器(B)中的PMOS管M5的栅极,第一级反相器(A2)的输出电压输入到第二级反相器(B)中的NMOS管M6的栅极。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王坤李向宏刘新东
申请(专利权)人:上海贝岭股份有限公司
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]

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