一种电线测试电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电线测试电路，涉及电线测试领域，包括MCU处理模块，以及与MCU处理模块连接的测试端口、设置电路、报警指示电路以及供电电路；测试端口包括线束A端接口J2和线束B端接口J1，线束A端接口J2和线束B端接口J1上设有数量相同的接线口，线束A端接口J2的接线口和线束B端接口J1的接线口相对应，线束A端接口J2和线束B端接口J1分别与MCU处理模块的发送口、接收口连接。本实用新型专利技术实现了自动判断电线通断电的目的，可以同步自动测试、判断多根电线，实现了对电线的是否断开进行一批次多跟线同时自动判断的功能，实现快速测试的电线的功能，效率高、可靠性强、使用便捷。使用便捷。使用便捷。

A wire test circuit

【技术实现步骤摘要】
一种电线测试电路


[0001]本技术涉及电线测试领域，尤其涉及一种电线测试电路。

技术介绍

[0002]在电线生产过程中，或一些使用电线的场合，需要对电线进行通断电的测试，测试电线是否完好，一般的电线测试设备，不能实现同时对多根电线测试，测试效率低，使用不够方便。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种电线测试电路。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0005]一种电线测试电路，包括MCU处理模块，以及与MCU处理模块连接的测试端口、设置电路、报警指示电路以及供电电路；所述测试端口包括线束A端接口J2和线束B端接口J1，线束A端接口J2和线束B端接口J1上设有数量相同的接线口，线束A端接口J2的接线口和线束B端接口J1的接线口相对应，线束A端接口J2和线束B端接口J1分别与MCU处理模块的发送口、接收口连接。
[0006]本技术实现了自动判断电线通断电的目的，可以同步自动测试、判断多根电线，实现了对电线的是否断开进行一批次多跟线同时自动判断的功能，实现快速测试的电线的功能，效率高、可靠性强、使用便捷。输入电压经过供电电路后稳压成MCU处理模块的使用电压，为MCU处理模块的提供稳定可靠的使用电源，使其不受供电电源波动的影响；电线的测试数量使用设置电路的BCD码（8421）来设置，MCU处理模块读取BCD码来确定需要测试几根线，对应的为线束A端接口J2发出信号，信号经过测试线后，由线束B端接口J1经限流电阻后回到MCU处理模块的接收端，MCU处理模块对接收的信号进行判断，将判断（测试）结果输出到报警指示电路的测试指示灯和蜂鸣器上；如果电线没有断开，MCU处理模块发出的信号经过电线能够再回传到MCU处理模块，MCU处理模块判断合格；如果测试电线断开，MCU处理模块发出的信号无法经过电线能够再回传到MCU处理模块，MCU处理模块判断不合格。
[0007]进一步的，所述MCU处理模块包括LQFP48芯片IC1B、芯片IC1A和若干电容，芯片IC1A的第28引脚、第29引脚、第42引脚、第43引脚均与电容C7的第一端、电容C6的第一端、电容C5的第一端、电容C4的第一端连接，电容C7的第二端、电容C6的第二端、电容C5的第二端、电容C4的第二端连接并接地；芯片IC1A的VDD引脚与电容C8的第二端连接，芯片IC1A的VREF引脚与电容C9的第二端连接，电容C8的第一端与电容C9的第一端均与芯片IC1A的第44引脚、第31引脚连接。MUC处理模块读取设置电路的BCD码来确认需要发几个信号给线束A端接口J2，同时读取对应线束B端接口J1的信号，信号完整判断合格，无信号判断为断开，根据判断结果来控制对应的指示灯，若测试线中有断开的，则蜂鸣器报警。
[0008]进一步的，所述线束A端接口J2和线束B端接口J1均包括11个接线口，线束A端接口J2的接线口分别与线束B端接口J1的接线口对应。
[0009]进一步的，所述设置电路包括拨码开关K1，拨码开关K1的公共端接地，另一端与MCU处理模块连接。使用BCD码来设置测试线的个数，硬件上使用拨码开关，接地时被MCU处理模块识别为开。拨码开关K1包括M1、M2、M4、M8,1）测试几根线，设置N根线,最多测试11根线（与线束A端接口J2的接线口、线束B端接口J1的接线口对应），使用BCD编码，如设置3根线，1+2=3，故M1,M2打开；设置9根线，1+8=9，故M1,M8打开。
[0010]进一步的，所述报警指示电路包括与线束A端接口J2、线束B端接口J1的接线口数量对应的发光二极管，每个二极管的正极与一个电阻的第二端连接，对应电阻的第一端与MCU处理模块连接，所有二极管的负极连接并接地。11个试线端口分别对应11个指示灯，指示灯由MCU处理模块直接控制，测试线导通，对应指示灯常亮；测试线断开，对应指示灯闪烁，同时蜂鸣器报警。
[0011]进一步的，所述报警指示电路包括MOS管、蜂鸣器和两个电阻，MOS管的漏极与蜂鸣器连接，MOS管的栅极与电阻R24的第二端连接，电阻R24的第一端与电阻R23的第二端连接。
[0012]进一步的，所述供电电路包括接口J3、二极管VD1、电解电容E1、LM317芯片IC2、若干电阻和若干电容，接口J3的第1引脚与二极管VD1的正极连接，二极管VD1的负极分别与电解电容E1的第一端、电容C1的第一端、LM317芯片IC2的第3引脚连接，电解电容E1的第二端、电容C1的第二端均与电阻R27的第二端、电容C2的第二端、电容C3的第二端、发光二极管D12的负极连接，电阻R27的第一端与LM317芯片IC2的第1引脚、电阻R26的第一端连接，电阻R26的第二端与LM317芯片IC2的第2引脚、电容C2的第一端、电容C3的第一端、电阻R25的第一端连接，电阻R25的第二端与发光二极管D12的正极连接。发光二极管D12作为供电指示灯使用。
附图说明
[0013]图1为本技术整体模块连接图。
[0014]图2为本技术MCU处理模块示意图。
[0015]图3为本技术测试端口示意图。
[0016]图4为本技术设置电路示意图。
[0017]图5为本技术报警指示电路。
[0018]图6为本技术供电电路。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]请参阅图1，本技术提供一种电线测试电路，包括MCU处理模块，以及与MCU处理模块连接的测试端口、设置电路、报警指示电路以及供电电路；测试端口包括线束A端接口J2和线束B端接口J1，线束A端接口J2和线束B端接口J1上设有数量相同的接线口，线束A端接口J2的接线口和线束B端接口J1的接线口相对应，线束A端接口J2和线束B端接口J1分别与MCU处理模块的发送口、接收口连接。
[0021]请参阅图2，MCU处理模块包括LQFP48芯片IC1B、芯片IC1A和若干电容，芯片IC1A的第28引脚、第29引脚、第42引脚、第43引脚均与电容C7的第一端、电容C6的第一端、电容C5的第一端、电容C4的第一端连接，电容C7的第二端、电容C6的第二端、电容C5的第二端、电容C4的第二端连接并接地；芯片IC1A的VDD引脚与电容C8的第二端连接，芯片IC1A的VREF引脚与电容C9的第二端连接，电容C8的第一端与电容C9的第一端均与芯片IC1A的第44引脚、第31引脚连接。MUC处理模块读取设置电路的BCD码来确认需要发几个信号给线束A端接口J2，同时读取对应线束B端接口J1的信号，信号完整判断合格，无信号判断为断开，根据判断结果来控制对应的指示灯，若测试线中有断开的，则蜂鸣本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电线测试电路，其特征在于，包括MCU处理模块，以及与MCU处理模块连接的测试端口、设置电路、报警指示电路以及供电电路；所述测试端口包括线束A端接口J2和线束B端接口J1，线束A端接口J2和线束B端接口J1上设有数量相同的接线口，线束A端接口J2的接线口和线束B端接口J1的接线口相对应，线束A端接口J2和线束B端接口J1分别与MCU处理模块的发送口、接收口连接。2.根据权利要求1所述的一种电线测试电路，其特征在于，所述MCU处理模块包括LQFP48芯片IC1B、芯片IC1A和若干电容，芯片IC1A的第28引脚、第29引脚、第42引脚、第43引脚均与电容C7的第一端、电容C6的第一端、电容C5的第一端、电容C4的第一端连接，电容C7的第二端、电容C6的第二端、电容C5的第二端、电容C4的第二端连接并接地；芯片IC1A的VDD引脚与电容C8的第二端连接，芯片IC1A的VREF引脚与电容C9的第二端连接，电容C8的第一端与电容C9的第一端均与芯片IC1A的第44引脚、第31引脚连接。3.根据权利要求1所述的一种电线测试电路，其特征在于，所述线束A端接口J2和线束B端接口J1均包括11个接线口，线束A端接口J2的接线口分别与线束B端接口J1的接线口对应。4.根据权利要求1所述的一种电线测试电路，其特征在于，所述设置电路包括拨码开关K1，拨码开关K1的公共...

【专利技术属性】
技术研发人员：马振波，柴晓兰，王书仓，
申请(专利权)人：浙江嘀视科技有限公司，
类型：新型
国别省市：