OTDR曲线拼接方法、系统、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种OTDR曲线拼接方法、系统、装置及存储介质，包括：确定OTDR系统在最大测试条件下的动态范围，将动态范围平均分成若干个等级的测试条件，并分别对不同等级的测试条件进行测试以获取测试曲线；分别确定不同等级的测试曲线的第一有效拼接点和第二有效拼接点，并根据每条测试曲线的第一有效拼接点和第二有效拼接点确定事件合并区域；根据不同等级的测试曲线的事件合并区域与对应区域的重叠曲线、最低等级的测试曲线的起始点至有效拼接点之间的区域曲线、最高等级的测试曲线的第二有效拼接点至末端之间的区域曲线进行拼接以形成结果曲线。本发明专利技术实施例在保留各区域特性的基础上，扩大动态范围，可广泛应用于光通信领域。信领域。信领域。

OTDR curve splicing method, system, device and storage medium

【技术实现步骤摘要】
OTDR曲线拼接方法、系统、装置及存储介质


[0001]本专利技术涉及光通信领域，尤其涉及一种OTDR曲线拼接方法、系统、装置及存储介质。

技术介绍

[0002]目前的OTDR（optical time
‑
domain reflectometer，光时域反射仪）系统，动态范围直接决定了可测量光纤的长度。影响动态范围的因素主要有：激光发光功率大小、脉冲宽度、平均时间、信号接收和放大电路的带宽和增益等；如功率大越大传播距离就越长，动态范围也就越大。但OTDR是一种峰值功率受限系统，在提高动态范围时会牺牲某些区域的性能，如牺牲盲区性能。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术实施例的目的是提供一种OTDR曲线拼接方法、系统、装置及存储介质，在保留各区域特性的基础上，扩大动态范围。
[0004]第一方面，本专利技术实施例提供了一种OTDR曲线拼接方法，包括以下步骤：确定OTDR系统在最大测试条件下的动态范围，将所述动态范围平均分成若干个等级的测试条件，并分别对不同等级的测试条件进行测试以获取测试曲线；分别确定不同等级的测试曲线的第一有效拼接点和第二有效拼接点，并根据每条测试曲线的第一有效拼接点和第二有效拼接点确定事件合并区域；根据不同等级的测试曲线的事件合并区域与对应区域的重叠曲线、最低等级的测试曲线的起始点至最低等级的测试曲线的有效拼接点之间的区域曲线、最高等级的测试曲线的第二有效拼接点至最高等级的测试曲线的末端之间的区域曲线进行拼接以形成结果曲线。
[0005]可选地，所述根据不同等级的测试曲线的事件合并区域与对应区域的重叠曲线、最低等级的测试曲线的起始点至最低等级的测试曲线的有效拼接点之间的区域曲线、最高等级的测试曲线的第二有效拼接点至最高等级的测试曲线的末端之间的区域曲线进行拼接以形成结果曲线，具体包括步骤：将所有等级的测试曲线按等级降序进行排序；从最高等级开始，将相邻等级中较高等级的测试曲线的事件合并区域的重叠曲线叠加到相邻等级中较低等级对应区域的测试曲线中，并将相邻等级中较高等级的测试曲线的第二有效拼接点至末端之间的区域替换较低等级的对应区域曲线以拼接形成新的较高等级的测试曲线；继续对相邻等级中的较高等级与相邻等级中的较低等级进行拼接，直至拼接完所有等级的测试曲线得到第一拼接曲线；将最低等级的测试曲线的起始点至最低等级的测试曲线的第一有效拼接点之间的区域曲线、所述第一拼接曲线进行拼接以形成结果曲线。
[0006]可选地，所述根据不同等级的测试曲线的事件合并区域与对应区域的重叠曲线、最低等级的测试曲线的起始点至最低等级的测试曲线的有效拼接点之间的区域曲线、最高等级的测试曲线的第二有效拼接点至最高等级的测试曲线的末端之间的区域曲线进行拼接以形成结果曲线，具体包括步骤：将所有等级的测试曲线按等级升序进行排序；将不同等级的测试曲线的事件合并区域与对应位置区域的重叠曲线进行叠加得到若干个叠加曲线；将若干个叠加曲线、相邻等级中较低等级的第二有效拼接点至较低等级的测试曲线的第三有效拼接点之间的区域曲线按对应位置进行拼接得到第二拼接曲线；其中，所述第三有效拼接点指相邻等级中较高等级的第一有效拼接点对应相邻等级中较低等级的曲线位置；所述将最低等级的测试曲线的起始点至最低等级的测试曲线的第二有效拼接点之间的区域曲线、所述第二拼接曲线、最高等级的测试曲线的第二有效拼接点至最高等级的测试曲线的末端之间的区域曲线进行拼接以形成结果曲线。
[0007]可选地，所述方法还包括：计算每个等级的测试曲线的第一有效拼接点与第二有效拼接点之间的距离；当同一等级的测试曲线的第一有效拼接点与第二有效拼接点之间的距离小于第二预设值，抛弃对应等级的测试曲线。
[0008]可选地，所述第一有效拼接点通过以下方法确定：寻找测试曲线的饱和盲区；选取低于所述饱和盲区的预设功率的位置作为第一有效拼接点。
[0009]可选地，所述第二有效拼接点通过以下方法确定：计算测试曲线的信噪比；选取信噪比高于第一预设值的位置作为第二有效拼接点。
[0010]第二方面，本专利技术实施例提供了一种OTDR曲线拼接系统，包括：第一模块，用于确定OTDR系统在最大测试条件下的动态范围，将所述动态范围平均分成若干个等级的测试条件，并分别对不同等级的测试条件进行测试以获取测试曲线；第二模块，用于分别确定不同等级的测试曲线的第一有效拼接点和第二有效拼接点，并根据每条测试曲线的第一有效拼接点和第二有效拼接点确定事件合并区域；第三模块，用于根据不同等级的测试曲线的事件合并区域与对应区域的重叠曲线、最低等级的测试曲线的起始点至最低等级的测试曲线的有效拼接点之间的区域曲线、最高等级的测试曲线的第二有效拼接点至最高等级的测试曲线的末端之间的区域曲线进行拼接以形成结果曲线。
[0011]第三方面，本专利技术实施例提供了一种OTDR曲线拼接装置，包括：至少一个处理器；至少一个存储器，用于存储至少一个程序；当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行，使得所述至少一个处理器实现上述方法。
[0012]第四方面，本专利技术实施例提供了一种存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，
所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行上述的方法。
[0013]第五方面，本专利技术实施例提供了一种OTDR曲线拼接系统，包括OTDR以及与所述OTDR连接的计算机设备；其中，所述OTDR，用于按照控制信号发射预设脉冲宽度的测试光信号；所述计算机设备包括：至少一个处理器；至少一个存储器，用于存储至少一个程序；当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行，使得所述至少一个处理器实现上述方法。
[0014]实施本专利技术实施例包括以下有益效果：本实施例将最大测试条件下的动态范围平均分成若干个等级的测试条件，再分别确定不同等级的测试曲线的第一有效拼接点、第二有效拼接点及事件合并区域，最后根据不同等级的测试曲线的事件合并区域与对应区域的重叠曲线、最低等级的起始点至有效拼接点之间的区域曲线、最高等级的测试曲线的第二有效拼接点至末端之间的区域曲线进行拼接以形成结果曲线；将最大测试条件下的动态范围分成不同的测试条件分别进行测量，再将不同测试条件的测试曲线进行拼接，从而在保留各区域特性的基础上，扩大动态范围。
附图说明
[0015]图1是本专利技术实施例提供的一种OTDR曲线拼接方法的步骤流程示意图；图2是本专利技术实施例提供的一种确定第一拼接点方法的步骤流程示意图；图3是本专利技术实施例提供的一种确定第二拼接点方法的步骤流程示意图；图4是本专利技术实施例提供的一种测试曲线筛选方法的步骤流程示意图；图5是本专利技术实施例提供的一种OTDR最大测试条件下的多等级测试曲线图；图6是本专利技术实施例提供的一种多等级测试曲线图拼接后的结果曲线图；图7是本专利技术实施例提供的一种结果曲线确定方法的步骤流程示意图；图8是本专利技术实施例提供的另一种OTDR最大测试条件下的多等级测试曲线图；图9是本专利技术实施例提供的一种OTDR拼接的示意图；图10是本专利技术实施例提供的另一种OTDR拼接的示意图；图11是本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种OTDR曲线拼接方法，其特征在于，包括：确定OTDR系统在最大测试条件下的动态范围，将所述动态范围平均分成若干个等级的测试条件，并分别对不同等级的测试条件进行测试以获取测试曲线；分别确定不同等级的测试曲线的第一有效拼接点和第二有效拼接点，并根据每条测试曲线的第一有效拼接点和第二有效拼接点确定事件合并区域；根据不同等级的测试曲线的事件合并区域与对应区域的重叠曲线、最低等级的测试曲线的起始点至最低等级的测试曲线的有效拼接点之间的区域曲线、最高等级的测试曲线的第二有效拼接点至最高等级的测试曲线的末端之间的区域曲线进行拼接以形成结果曲线。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据不同等级的测试曲线的事件合并区域与对应区域的重叠曲线、最低等级的测试曲线的起始点至最低等级的测试曲线的有效拼接点之间的区域曲线、最高等级的测试曲线的第二有效拼接点至最高等级的测试曲线的末端之间的区域曲线进行拼接以形成结果曲线，具体包括步骤：将所有等级的测试曲线按等级降序进行排序；从最高等级开始，将相邻等级中较高等级的测试曲线的事件合并区域的重叠曲线叠加到相邻等级中较低等级对应区域的测试曲线中，并将相邻等级中较高等级的测试曲线的第二有效拼接点至末端之间的区域替换较低等级的对应区域曲线以拼接形成新的较高等级的测试曲线；继续对相邻等级中的较高等级与相邻等级中的较低等级进行拼接，直至拼接完所有等级的测试曲线得到第一拼接曲线；将最低等级的测试曲线的起始点至最低等级的测试曲线的第一有效拼接点之间的区域曲线、所述第一拼接曲线进行拼接以形成结果曲线。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据不同等级的测试曲线的事件合并区域与对应区域的重叠曲线、最低等级的测试曲线的起始点至最低等级的测试曲线的有效拼接点之间的区域曲线、最高等级的测试曲线的第二有效拼接点至最高等级的测试曲线的末端之间的区域曲线进行拼接以形成结果曲线，具体包括步骤：将所有等级的测试曲线按等级升序进行排序；将不同等级的测试曲线的事件合并区域与对应位置区域的重叠曲线进行叠加得到若干个叠加曲线；将若干个叠加曲线、相邻等级中较低等级的第二有效拼接点至较低等级的测试曲线的第三有效拼接点之间的区域曲线按对应位置进行拼接得到第二拼接曲线；其中，所述第三有效拼接点指相邻等级中较高等级的第一有效拼接点对应相邻等级中较低等级的曲线位置；所述将最低等级的测试曲线的起始点至最低等级的测试曲线的第二有效拼接点之间的区域曲线、所述第二拼接曲线、最高等级的测试曲...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧秀平，潘浩，陈雄颖，蔡俊，罗丁元，刘德良，邓林波，
申请(专利权)人：高勘广州技术有限公司，
类型：发明
国别省市：