一种半导体制冷片检测设备制造技术

本实用新型专利技术涉及半导体制冷片技术领域，且公开了一种半导体制冷片检测设备，包括底座、机架、检测机构、传送机构、分拣机构和支撑机构，所述机架位于底座的上端，所述检测机构位于机架的上端，所述传送机构位于底座的外端，所述分拣机构位于机架的左端，所述支撑机构位于底座的下端。该半导体制冷片检测设备，在检测检测探头组到不合格工件时，会将不合格信号传输给控制面板，控制面板将信号转化为电信号，并控制打开电动推杆，电动推杆带动推板向右运动，从而可以将不合格的半导体制冷片从传送机构上推出，完成对不合格半导体制冷片的自动分拣，不需要人工进行分拣，提高了半导体制冷片的检测效率，也降低了人工成本。也降低了人工成本。也降低了人工成本。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体制冷片检测设备


[0001]本技术涉及半导体制冷片
，具体为一种半导体制冷片检测设备。

技术介绍

[0002]半导体制冷片，也叫热电制冷片，是一种热泵，它的优点是没有滑动部件，应用在一些空间受到限制，可靠性要求高，无制冷剂污染的场合。
[0003]现有技术中，在对半导体制冷片的性能进行检测时，在检测到不合格的半导体制冷片时，通常需要人为地将不合格的半导体制冷片分拣出来，再对其他的半导体制冷片进行检测，此种分拣方法效率较低，严重影响了半导体制冷片检测的效率。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]本技术的目的在于提供一种半导体制冷片检测设备，以解决上述
技术介绍
中提出现有技术中，在对半导体制冷片的性能进行检测时，在检测到不合格的半导体制冷片时，通常需要人为地将不合格的半导体制冷片分拣出来，再对其他的半导体制冷片进行检测，此种分拣方法效率较低，严重影响了半导体制冷片检测的效率的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体制冷片检测设备，包括底座、机架、检测机构、传送机构、分拣机构和支撑机构，所述机架位于底座的上端，所述检测机构位于机架的上端，所述传送机构位于底座的外端，所述分拣机构位于机架的左端，所述支撑机构位于底座的下端；
[0008]所述分拣机构包括电动推杆、输出杆、推板、控制面板、分拣箱和槽口，所述电动推杆固定安装在机架的左端，所述输出杆固定安装在电动推杆输出端的右端，所述输出杆贯穿机架，所述推板固定安装在输出杆的右端，所述控制面板固定安装在机架左端的上方，通过安装电动推杆，可以带动推板左右运动，将不合格的半导体制冷片从传送机构上推出。
[0009]优选的，所述控制面板与电动推杆之间电性连接，所述分拣箱固定安装在机架的下端，所述分拣箱位于传送机构的右端，所述槽口固定设置在底座的上端，所述槽口与分拣箱相连通，通过设置控制面板，控制面板接收到不合格工件的信号，控制电动推杆将不合格工件推到分拣箱内部。
[0010]优选的，所述检测机构包括液压缸、传动杆、固定座和检测探头组，所述液压缸固定安装在机架上端的左侧，所述传动杆固定安装在液压缸输出端的下端，所述固定座固定安装在传动杆的下端，通过设置液压缸，可以带动传动杆以及固定座上下运动。
[0011]优选的，所述检测探头组固定安装在固定座的下端，所述检测探头组与控制面板之间信号连接，通过安装检测探头组，液压缸可以带动检测探头组上下运动，从而完成对不同厚度的半导体制冷片的检测，在检测到不合格工件时，将不合格信号传输给控制面板，控制面板将信号转化为电信号，并控制打开电动推杆。
[0012]优选的，所述传送机构包括支架、驱动电机、转轴、输送轮、输送带和收集箱，所述支架固定安装在底座的前后两侧，所述驱动电机固定安装在支架左端的前侧，所述转轴固定安装在驱动电机传动端的右端，所述转轴与支架活动连接，所述输送轮固定安装在转轴的外端，所述输送轮与支架活动连接，通过设置驱动电机，可以带动转轴以及输送轮转动。
[0013]优选的，所述输送带旋转安装在输送轮的外端，所述收集箱固定安装在底座的后端，通过安装输送带，前侧输送轮的转动可以带动输送带旋转，并带动后侧输送轮转动，从而完成对工件的输送。
[0014]优选的，所述支撑机构包括支撑腿和支撑脚，所述支撑腿固定安装在底座的下端，所述支撑脚固定安装在支撑腿的下端，通过安装支撑腿和支撑脚，可以对本装置进行支撑。
[0015]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0016]1、该半导体制冷片检测设备，在检测检测探头组到不合格工件时，会将不合格信号传输给控制面板，控制面板将信号转化为电信号，并控制打开电动推杆，电动推杆带动推板向右运动，从而可以将不合格的半导体制冷片从传送机构上推出，完成对不合格半导体制冷片的自动分拣，不需要人工进行分拣，提高了半导体制冷片的检测效率，也降低了人工成本；
[0017]2、该半导体制冷片检测设备，通过安装检测探头组，液压缸可以带动检测探头组上下运动，从而完成对不同厚度的半导体制冷片的检测；
[0018]3、该半导体制冷片检测设备，驱动电机可以带动转轴以及输送轮转动，侧输送轮的转动可以带动输送带旋转，并带动后侧输送轮转动，从而完成对工件的输送，并且合格的半导体制冷片会自动输送至收集箱内部。
附图说明
[0019]图1为本技术立体结构示意图；
[0020]图2为本技术剖面结构示意图；
[0021]图3为本技术图1中A处结构放大示意图；
[0022]图4为本技术图2中B处结构放大示意图。
[0023]图中：1、底座；2、机架；3、检测机构；301、液压缸；302、传动杆；303、固定座；304、检测探头组；4、传送机构；401、支架；402、驱动电机；403、转轴；404、输送轮；405、输送带；406、收集箱；5、分拣机构；501、电动推杆；502、输出杆；503、推板；504、控制面板；505、分拣箱；506、槽口；6、支撑机构；601、支撑腿；602、支撑脚。
具体实施方式
[0024]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0025]请参阅图1
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4，本技术提供一种技术方案：一种半导体制冷片检测设备，包括底座1、机架2、检测机构3、传送机构4、分拣机构5和支撑机构6，机架2位于底座1的上端，检测机构3位于机架2的上端，传送机构4位于底座1的外端，分拣机构5位于机架2的左端，支撑
机构6位于底座1的下端；
[0026]分拣机构5包括电动推杆501、输出杆502、推板503、控制面板504、分拣箱505和槽口506，电动推杆501固定安装在机架2的左端，输出杆502固定安装在电动推杆501输出端的右端，输出杆502贯穿机架2，推板503固定安装在输出杆502的右端，控制面板504固定安装在机架2左端的上方，通过安装电动推杆501，可以带动推板503左右运动，从而可以将不合格的半导体制冷片从传送机构4上推出，完成分拣；
[0027]控制面板504与电动推杆501之间电性连接，分拣箱505固定安装在机架2的下端，分拣箱505位于传送机构4的右端，槽口506固定设置在底座1的上端，槽口506与分拣箱505相连通，通过设置控制面板504，控制面板504接收到不合格工件的信号，控制电动推杆501将不合格工件推到分拣箱505内部；检测机构3包括液压缸301、传动杆302、固定座303和检测探头组304，液压缸301固定安装在机架2上端的左侧，传动杆302固定安装本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体制冷片检测设备，包括底座(1)、机架(2)、检测机构(3)、传送机构(4)、分拣机构(5)和支撑机构(6)，其特征在于：所述机架(2)位于底座(1)的上端，所述检测机构(3)位于机架(2)的上端，所述传送机构(4)位于底座(1)的外端，所述分拣机构(5)位于机架(2)的左端，所述支撑机构(6)位于底座(1)的下端；所述分拣机构(5)包括电动推杆(501)、输出杆(502)、推板(503)、控制面板(504)、分拣箱(505)和槽口(506)，所述电动推杆(501)固定安装在机架(2)的左端，所述输出杆(502)固定安装在电动推杆(501)输出端的右端，所述输出杆(502)贯穿机架(2)，所述推板(503)固定安装在输出杆(502)的右端，所述控制面板(504)固定安装在机架(2)左端的上方。2.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片检测设备，其特征在于：所述控制面板(504)与电动推杆(501)之间电性连接，所述分拣箱(505)固定安装在机架(2)的下端，所述分拣箱(505)位于传送机构(4)的右端，所述槽口(506)固定设置在底座(1)的上端，所述槽口(506)与分拣箱(505)相连通。3.根据权利要求2所述的一种半导体制冷片检测设备，其特征在于：所述检测机构(3)包括液压缸(301)、传动杆(302)、固定座(303)和检测探头组(304)，所述液压缸(301)固定安装在机架...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊妙，
申请(专利权)人：广州偲瑞电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：