一种基于PVD沉积方法的陶瓷板和金属薄膜连接方法技术

本发明专利技术公开了一种基于PVD沉积方法的AlN陶瓷板和金属薄膜的连接方法，所述的方法是：首先在氮化铝陶瓷板表面通过PVD沉积方法形成一层钛膜，然后再沉积一定厚度的银锡层，接着用夹持模具将氮化铝陶瓷板镀膜面和镀有铜膜的金属板(块)贴合并施加一定的压力，最后放入真空退火炉中加热并保温，即可实现氮化铝陶瓷板和金属薄膜的高强度连接。本发明专利技术在获得氮化铝陶瓷板与金属高焊接强度的同时，简化了传统陶瓷金属连接方法工艺，避免了直接覆铜法中靠氧化物结合而导致的结合面气密性的问题，而且还提高了基板的抗菌性能。还提高了基板的抗菌性能。还提高了基板的抗菌性能。

【技术实现步骤摘要】
一种基于PVD沉积方法的陶瓷板和金属薄膜连接方法


[0001]本专利技术属于陶瓷金属化领域，特别涉及一种基于PVD沉积方法的AlN陶瓷板和金属薄膜的连接方法。

技术介绍

[0002]高功率、高密度和高集成电子器件的散热问题严重影响器件的使用效率和寿命，是制约器件发展的主要问题。氮化铝(AlN)陶瓷具有很好的导热性能(导热系数可达150～300W/m
·
K)，以及较高的机械强度和无毒性等优良性能，是新一代医疗器械表面等电子器件封装理想的基板材料。
[0003]但是氮化铝陶瓷因其很强的共价键，很难与电子芯片或者金属铜热沉实现有效连接，从而限制了氮化铝陶瓷作为封装基板的使用。目前通用的技术都是利用直接覆铜法(DBC法)将氮化铝陶瓷和金属薄膜的连接。直接覆铜法依靠将铜表面氧化的氧化亚铜(Cu2O)和氮化铝表面氧化的氧化铝(Al2O3)在一定温度下生成CuAlO2中间产物而实现氮化铝陶瓷和铜的连接。但陶瓷基板与金属反应能力低，润湿性差导致连接强度不高，且CuAlO2中间产物导热率极低严重降低了整体的导热性能，同时还因为大量氧的引入，还降低了器件封装的气密性。
[0004]还有一种传统技术通过引入氧化物中间层的方法解决氮化铝陶瓷和铜的结合。但是氧化物中间层的热导率很低，大大降低了氮化铝陶瓷基板的性能。还有通过将固相反应合成所得到的含有活泼金属的非氧化物共晶合金粉末置于氮化铝陶瓷和铜之间，然后经过高温处理实现氮化铝陶瓷和铜的直接结合。这种方法的过程较为繁琐，且须经过高温处理。还有提供了一种使用磁控溅射沉积NiCr结合过渡层然后在NiCr结合过渡层上利用脉冲磁控溅射铜层，得到氮化铝陶瓷覆铜板的方法，指出NiCr与氮化铝陶瓷的反应区只有一两个原子层厚，且氧也在结合中起到重要作用，所以这种方法仅对连接较薄的铜层有效，且也会降低氮化铝陶瓷板的导热性能。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种基于PVD沉积方法的AlN陶瓷板和金属薄膜的连接方法，以解决上述问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：一种基于PVD沉积方法的AlN陶瓷板和金属的连接方法，包括以下步骤：步骤1，对待使用的氮化铝陶瓷基板进行清洗；步骤2，在氮化铝陶瓷板上利用磁控溅射沉积一层钛过渡层；步骤3，在镀好的钛过渡层上再沉积一定厚度的银锡焊料层；步骤4，将氮化铝陶瓷板与镀有铜膜的金属贴合，在真空退火炉中加热并保温，完成氮化铝陶瓷板和金属的连接。
[0007]进一步的，步骤2中，进行钛过渡层沉积时，磁控溅射腔室的本底真空度为1
×
10
‑
4Pa～3
×
10
‑
4Pa，溅射气体为纯度为99.999％的氩气，气压为0.3Pa～0.5Pa，钛靶采用直流电源功率150W，先对纯度为99.999％的钛靶溅射20min～25min，然后加基底负偏压为﹣50V～﹣100V，基底加温100℃～400℃，沉积80nm～120nm后完成钛过渡层的沉积制备。
[0008]进一步的，步骤3中，磁控溅射沉积银锡膜焊料层时，通入纯度为99.999％的氩气，气流20sccm～40sccm，气压为0.3Pa～0.5Pa，银锡靶采用直流电源功率130W～160W，基底负偏压为﹣60V～﹣100V，沉积80min～100min完成银锡焊料层的制备。
[0009]进一步的，步骤4中，通过夹持模具将氮化铝陶瓷板与镀有铜膜的金属贴合，氮化铝陶瓷板与金属贴合时夹持模具施加的压力为1MPa～3MPa，加热前真空退火炉腔室的气压在5
×
10
‑4Pa以下，加热温度为380℃～400℃，保温时间10min～15min，待腔室温度低于30℃后取出并卸去加载力，完成氮化铝陶瓷板和金属的连接。
[0010]进一步的，步骤1中氮化铝陶瓷板的清洗为：在无水乙醇中浸泡后，依次在丙酮和无水乙醇中超声10min～15min，烘干后在磁控溅射腔室中利用射频等离子体清洗30min～45min。
[0011]进一步的，步骤3中，步骤3中，焊料层为能够润湿金属的锡
‑
银系无铅焊料。
[0012]进一步的，步骤4中，金属基板表面用PVD沉积铜膜。
[0013]与现有技术相比，本专利技术有以下技术效果：本专利技术克服了目前氮化铝陶瓷板与金属连接强度普遍较低，导热性能严重降低，工艺过程复杂，需要高温处理耗能大等缺点。主要体现在：一.采用物理气相沉积钛膜、银锡膜，在普通的真空退火炉加热连接，这些步骤都是设备通用、工艺成熟、控制条件简单、工艺兼容性强、全过程无污染，可以在目前通用的磁控溅射镀膜设备和真空退火炉上实现同样的效果。
[0014]二.采用钛层做过渡层，并在沉积时进行基底低温加热，无需后续热处理即可实现一定的钛膜和氮化铝陶瓷板的冶金结合，提高了结合强度，因为没有引入氧，不仅没有降低氮化铝陶瓷板导热性能，而且还使得经金属化后陶瓷板的导热性能有所提高。同时通过引入钛过渡层和银锡焊料层降低了氮化铝与铜热膨胀失配的程度，减少了因热应力而开裂的情况。
[0015]三.由于将银锡焊料以磁控溅射的方式沉积在金属化后的氮化铝陶瓷基板表面，连接的尺寸精度高，用料可控，焊接后焊料溢流现象少。此外，还可以连接除铜以外可以被银锡润湿的其他金属材料。
[0016]四.金属表面镀铜，可以连接的金属种类多，无需因改变金属而更换焊料，工艺适应性高。
附图说明
[0017]图1为本专利技术基于PVD沉积方法的AlN陶瓷板和金属连接的方法工艺流程图。
[0018]图2为本专利技术氮化铝陶瓷板和金属连接后的结构示意图：图中：氮化铝陶瓷板1、钛镀层2、银锡镀层3、铜层4、金属板5。
具体实施方式
[0019]以下结合附图对本专利技术进一步说明：
请参阅图1，基于PVD沉积方法的AlN陶瓷板和金属连接的方法，包括以下步骤：步骤1，对待使用的氮化铝陶瓷基板进行清洗；步骤2，在氮化铝陶瓷板上利拥磁控溅射沉积一层钛过渡层；步骤3，在镀好的钛层上再沉积一定厚度的银锡焊料层；步骤4，利用夹持模具将氮化铝陶瓷板与镀有铜膜的金属贴合，在真空退火炉中加热并保温，完成氮化铝陶瓷板和金属的连接。
[0020]步骤1中氮化铝陶瓷板的清洗为：在无水乙醇中浸泡后，依次在丙酮和无水乙醇中超声10min～15min，烘干后在磁控溅射腔室中利用射频等离子体清洗30min～45min；步骤2中进行钛膜制备时，磁控溅射腔室的本底真空度为1
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4～3
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4Pa,溅射气体为纯度为99.999％的氩气，气流20sccm～40sccm,气压0.3Pa～0.5Pa，钛靶采用直流电源功率120W～150W，先对纯度为99.999％的钛靶溅射20min～25min，然后加基底负偏压
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50V～
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100V，基底加温100℃～400℃，沉积80本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于PVD沉积方法的AlN陶瓷板和金属的连接方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，对待使用的氮化铝陶瓷基板进行清洗；步骤2，在氮化铝陶瓷板上利用磁控溅射沉积一层钛过渡层；步骤3，在镀好的钛过渡层上再沉积4～6μm银锡焊料层；步骤4，镀有钛过渡层和银锡焊料层的一侧与镀有铜膜的金属贴合，在真空退火炉中加热并保温，完成氮化铝陶瓷板和金属的连接；步骤2中，进行钛过渡层沉积时，磁控溅射腔室的本底真空度为1
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4Pa～3
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4Pa，溅射气体为纯度为99.999％的氩气，气压为0.3Pa～0.5Pa，钛靶采用直流电源功率150W，先对纯度为99.999％的钛靶溅射20～25min，然后加基底负偏压为﹣50～﹣100V，基底加温150～400℃，沉积80～120nm后完成钛过渡层的沉积制备。2.根据权利要求1所述的一种基于PVD沉积方法的AlN陶瓷板和金属的连接方法，其特征在于，步骤3中，磁控溅射沉积银锡膜焊料层时，通入纯度为99.999％的氩气，气流20sccm～40sccm，气压为0.3Pa～0.5Pa，银锡靶采用直流电源功率130～160W，基底负偏...

【专利技术属性】
技术研发人员：王志博，周睿，宋忠孝，张恩永，杨添皓，
申请(专利权)人：王志博，
类型：发明
国别省市：