UV清洗验证设备及清洗验证方法技术

本发明专利技术提供一种UV清洗验证设备UV清洗设备及清洗验证方法，其中验证方法包括通过专用控制器启动UV清洗室内的UV灯；检测所述UV灯的能量是否达到预设标准值；当所述UV灯的能量达到预设标准值后，向所述电子产品物料照射UV光进行预设时间的清洗，其中，在所述UV光的照射下，所述电子产品物料的表面发生光敏作用产生臭氧和原子氧；通过所述原子氧将所述电子产品物料的表面污染物分解为可挥发气体，完成所述电子产品物料的清洗；通过视觉检测系统对清洗后的电子产品物料进行清洁度检测，以确定清洗后的电子产品物料是否达到清洁要求。利用本发明专利技术，用于验证不同材质的材料清洗的最佳参数，根据最佳参数设计制造与之匹配的UV清洗设备。根据最佳参数设计制造与之匹配的UV清洗设备。根据最佳参数设计制造与之匹配的UV清洗设备。

【技术实现步骤摘要】
UV清洗验证设备及清洗验证方法


[0001]本专利技术涉及UV清洗
，更为具体地，涉及一种UV清洗设备及清洗验证方法。

技术介绍

[0002]在电子类产品制造过程中，特别是电路板等电子产品零部件，其焊接面或液金面及其其他不同类型的接触面清洗是不可或缺的关键工序环节，清洁度直接关系到电子产品稳定性和可靠性，直接影响到产品核心竞争力。
[0003]目前在国内行业中普遍采用无尘布或专用海绵蘸取乙醇或其他清洗剂擦洗的工艺，存在影响安全、效率、质量等要素的诸多弊端，难以满足国内消费电子行业的日益提升的质量和效率要求，制约产品质量和核心竞争力提升。

技术实现思路

[0004]鉴于上述问题，本专利技术的目的是提供一种UV清洗验证设备及清洗验证方法，用于验证不同材质的材料清洗的最佳参数，根据最佳参数设计制造与之匹配的UV清洗设备，以解决现有的电子产品零部件清洗存在影响安全、效率、质量等要素的问题。
[0005]本专利技术提供的UV清洗验证设备，包括UV清洗室、物料输送系统、排风系统、电控系统，以及视觉检测系统，其中，
[0006]所述UV清洗室，用于对电子产品物料的表面进行照射清洗；
[0007]所述物料输送系统贯穿所述UV清洗室，将待清洗的电子产品物料输送至所述UV清洗室，并将清洗后的电子产品物料从所述UV清洗室输送至所述视觉检测系统；
[0008]所述排风系统与所述UV清洗室相连通，所述排风系统用于抽排所述UV清洗室内的空气；
[0009]所述视觉检测系统，用于检测清洗后电子产品物料的清洁度；
[0010]所述电控系统与所述UV清洗室、物料输送系统、排风系统、视觉检测系统电连接，并控制所述UV清洗室、所述物料输送系统以及所述排风系统相互配合，完成对所述电子产品物料的清洗。
[0011]此外，优选的方案是，在所述UV清洗室设置有UV灯和与所述UV灯相适配的专用控制器；
[0012]所述UV灯为平板型UV灯、螺旋型UV灯或者异型UV灯；
[0013]所述专用控制器，用于控制所述UV灯的停启。
[0014]此外，优选的方案是，所述UV灯的清洗功率为20mW～15000mW。
[0015]此外，优选的方案是，在所述UV清洗室设置有温度传感器、湿度传感器、臭氧检测仪以及UV灯测控仪，其中，
[0016]所述温度传感器分别安装在所述UV灯所在的位置，以及所述电子产品物料清洗时所在的位置；
[0017]所述温度传感器，用于监控UV灯的工作温度和UV清洗室的工作温度；
[0018]所述湿度传感器，用于检测所述UV清洗室的工作湿度；
[0019]所述臭氧检测仪，用于检测所述UV清洗室的臭氧含量；
[0020]所述UV灯测控仪，用于检测所述UV灯工作的电流。
[0021]此外，优选的方案是，在所述排风系统内设置有风速测量仪，其中，
[0022]所述风速测量仪，用于测量所述排风系统抽排所述UV清洗室内的风速。
[0023]此外，优选的方案是，所述视觉检测系统采用纯白画面检测方式用于检测所述清洗后电子产品物料的清洁度。
[0024]本专利技术还提供一种UV清洗验证方法，采用上述UV清洗设备对电子产品物料进行照射清洗验证，所述UV清洗验证方法包括：
[0025]通过专用控制器启动UV清洗室内的UV灯；
[0026]检测所述UV灯的能量是否达到预设标准值；
[0027]当所述UV灯的能量达到预设标准值后，向所述电子产品物料照射UV光进行预设时间的清洗，其中，
[0028]在所述UV光的照射下，所述电子产品物料的表面发生光敏作用产生臭氧和原子氧；
[0029]通过所述原子氧将所述电子产品物料的表面污染物分解为可挥发气体，完成所述电子产品物料的清洗；
[0030]通过视觉检测系统对清洗后的电子产品物料进行清洁度检测，以确定清洗后的电子产品物料是否达到清洁要求。
[0031]此外，优选的方案是，在所述电子产品物料清洗的过程中，通过臭氧检测仪实时检测所述UV清洗室的臭氧含量，所述臭氧含量的浓度不超过120PPM否则发出报警提示；
[0032]根据所述报警提示，电控系统控制排风系统抽排所述UV清洗室的空气，以调节所述UV清洗室内的空气状态。
[0033]此外，优选的方案是，在所述电子产品物料清洗的过程中，通过控制所述UV清洗室的温度、湿度，确定所述UV清洗室的排风速度。
[0034]此外，优选的方案是，在所述电子产品物料清洗的过程中，通过控制预设清洗时间、UV灯的清洗功率、所述UV灯与所述电子产品物料之间的清洗间距、所述UV清洗室的温度和湿度，控制所述电子产品物料的清洁度。
[0035]从上面的技术方案可知，本专利技术提供的UV清洗验证设备以及清洗验证方法，通过电控系统控制UV清洗室、物料输送系统、排风系统相互配合完成对所述电子产品物料的全自动清洗验证，验证不同材质的材料清洗的最佳参数，根据最佳参数设计制造与之匹配的UV清洗设备，以解决现有的电子产品零部件清洗存在影响安全、效率、质量等要素的诸多问题。
[0036]为了实现上述以及相关目的，本专利技术的一个或多个方面包括后面将详细说明的特征。下面的说明以及附图详细说明了本专利技术的某些示例性方面。然而，这些方面指示的仅仅是可使用本专利技术的原理的各种方式中的一些方式。此外，本专利技术旨在包括所有这些方面以及它们的等同物。
附图说明
[0037]通过参考以下结合附图的说明的内容，并且随着对本专利技术的更全面理解，本专利技术的其它目的及结果将更加明白及易于理解。在附图中：
[0038]图1为根据本专利技术实施例的UV清洗验证设备结构示意图；
[0039]图2为根据本专利技术实施例的UV清洗验证方法流程图。
[0040]其中的附图标记包括：1、支架，2、UV清洗室，3、物料输送系统，4、排风系统，5、电控系统，6、报警器，7、视觉检测系统，71、工业相机，72、工业镜头，73、视觉检测光源。
[0041]在所有附图中相同的标号指示相似或相应的特征或功能。
具体实施方式
[0042]在下面的描述中，出于说明的目的，为了提供对一个或多个实施例的全面理解，阐述了许多具体细节。然而，很明显，也可以在没有这些具体细节的情况下实现这些实施例。在其它例子中，为了便于描述一个或多个实施例，公知的结构和设备以方框图的形式示出。
[0043]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种UV清洗验证设备，包括UV清洗室、物料输送系统、排风系统、电控系统，以及视觉检测系统，其中，所述UV清洗室，用于对电子产品物料的表面进UV光照射清洗；所述物料输送系统贯穿所述UV清洗室，将待清洗的电子产品物料输送至所述UV清洗室，并将清洗后的电子产品物料从所述UV清洗室输送至所述视觉检测系统；所述排风系统与所述UV清洗室相连通，所述排风系统用于抽排所述UV清洗室内的空气；所述视觉检测系统，用于检测清洗后电子产品物料的清洁度；；所述电控系统与所述UV清洗室、物料输送系统、排风系统、视觉检测系统电连接，并控制所述UV清洗室、所述物料输送系统以及所述排风系统相互配合，完成对所述电子产品物料的清洗验证。2.如权利要求1所述的UV清洗验证设备，其特征在于，在所述UV清洗室设置有UV灯和与所述UV灯相适配的专用控制器；所述UV灯为平板型UV灯、螺旋型UV灯或者异型UV灯；所述专用控制器，用于控制所述UV灯的停启。3.如权利要求2所述的UV清洗验证设备，其特征在于，所述UV灯的清洗功率为20mW～15000mW。4.如权利要求1所述的UV清洗验证设备，其特征在于，在所述UV清洗室设置有温度传感器、湿度传感器、臭氧检测仪以及UV灯测控仪，其中，所述温度传感器分别安装在所述UV灯所在的位置，以及所述电子产品物料清洗时所在的位置；所述温度传感器，用于监控UV灯的工作温度和UV清洗室的工作温度；所述湿度传感器，用于检测所述UV清洗室的工作湿度；所述臭氧检测仪，用于检测所述UV清洗室的臭氧含量；所述UV灯测控仪，用于检测所述UV灯工作的电流。5.如权利要求1所述的UV清洗验证设备，其特征在于，在所述排风系统内设置有风速测量仪，其中，所述风速测量仪...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈安兵，周忠伟，李建新，马晓，郭安伟，衣艳彬，赵志林，朱凤祥，窦衍君，徐海泉，
申请(专利权)人：歌尔股份有限公司，
类型：发明
国别省市：