器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质技术

本申请实施例提供了一种器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质，所述方法包括：以第一恒流电流对待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取待测试器件的第一器件亮度变化信息；根据第一器件亮度变化信息，判断待测试器件是否达到在第一恒流电流下的第一器件最大亮度；在待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大第一恒流电流的值，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；以第二恒流电流对待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。本申请实施例通过由较低的第一恒流电流开始逐步增加至第二恒流电流，保证了器件既得到充分的通电，又减少对器件的损伤，降低待测试器件因起始状态不稳定造成的亮度波动，提高提高寿命测试准确性。寿命测试准确性。寿命测试准确性。

【技术实现步骤摘要】
器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质


[0001]本申请属于用电设备测试领域，尤其涉及一种器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质。

技术介绍

[0002]近年来，量子点发光二极管(QLED)及有机发光二极管(OLED)因具备高亮度、低功耗、广色域、易加工等诸多优点在照明和显示领域获得了广泛的关注与研究。相对比有机发光二极管(OLED)，在同等画质下，QLED的节能性有望达到OLED的两倍，发光率将提升30％至40％。同时，QLED具有启亮电压低、光致发光光谱半高宽窄、发光波长与颜色可通过量子点颗粒尺寸进行调节和低成本溶液法制备等优点，在固态照明和显示领域有巨大的应用潜力。作为一种显示器件，在实际研发过程中，需要对器件进行寿命测试评估。
[0003]然而，现有的器件寿命测试方法中，通常采用加速老化手段，例如在提高测试环境温度或湿度，使器件在严苛的测试条件下加速老化测试。在加速老化测试时，起始测试时，对器件损伤大，器件状态不稳定，导致亮度波动大，使得亮度准确性下降，而起始亮度值不准确，会造成器件寿命测试的结果有较大的误差。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质，可以有效减少加速老化测试对器件的损伤，提高寿命测试准确性。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种器件寿命测试方法，包括：
[0006]以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息；r/>[0007]根据所述第一器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第一恒流电流下的第一器件最大亮度；
[0008]在所述待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大所述第一恒流电流的值，并将增大后的恒流电流更新为第一恒流电流，返回执行以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息的步骤，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；
[0009]以所述第二恒流电流对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。
[0010]第二方面，本申请实施例提供了一种器件寿命测试设备，包括：
[0011]获取模块，用于以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息；
[0012]判断模块，用于根据所述第一器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第一恒流电流下的第一器件最大亮度；
[0013]通电模块，用于在所述待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大所述第一恒流电流的值，并将增大后的恒流电流更新为第一恒流电流，返回执行以第一恒流电流对所述
待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息的步骤，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；
[0014]测试模块，用于以所述第二恒流电流对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。
[0015]第三方面，本申请实施例提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现器件寿命测试方法的步骤。
[0016]第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现器件寿命测试方法的步骤。
[0017]可以理解的是，上述第二方面至第四方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。
[0018]本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：本申请实施例提供了一种器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质，所述方法包括：以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息；根据所述第一器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第一恒流电流下的第一器件最大亮度；在所述待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大所述第一恒流电流的值，并将增大后的恒流电流更新为第一恒流电流，返回执行以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息的步骤，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；以所述第二恒流电流对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。本申请实施例通过由较低的第一恒流电流开始逐步增加至第二恒流电流，保证了器件在每个电流阶段既得到充分的通电的同时，又减少对待测试器件的损伤，降低待测试器件因起始状态不稳定造成的亮度波动，提高提高寿命测试准确性。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1是本申请一实施例提供的器件寿命测试方法的流程示意图；
[0021]图2是本申请一实施例提供的器件寿命测试方法中亮度不可恢复的示意图；
[0022]图3是本申请一实施例提供的器件寿命测试方法中亮度可恢复的示意图；
[0023]图4是本申请一实施例提供的器件寿命测试方法的效果示意图；
[0024]图5是本申请一实施例提供的器件寿命测试设备的结构示意图；
[0025]图6是本申请一实施例提供的终端设备的结构示意图。
具体实施方式
[0026]以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体
细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
[0027]应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0028]还应当理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0029]如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到所描述条件或事件”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到所描述条件或事件”或“响应于检测到所描述条件或事件”。
[0030]另外，在本申请说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0031]在本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种器件寿命测试方法，其特征在于，包括：以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息；根据所述第一器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第一恒流电流下的第一器件最大亮度；在所述待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大所述第一恒流电流的值，并将增大后的恒流电流更新为第一恒流电流，返回执行以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息的步骤，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；以所述第二恒流电流对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。2.如权利要求1所述的器件寿命测试方法，其特征在于，以所述第二恒流电流对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试，包括：获取所述待测试器件在所述第二恒流电流下的第二器件亮度变化信息，所述第二恒流电流大于所述第一恒流电流，且所述第二恒流电流大于所述待测试器件的工作电流；根据所述第二器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第二恒流电流下的第二器件最大亮度，在所述待测试器件达到所述第二器件最大亮度时，对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。3.如权利要求1所述的器件寿命测试方法，其特征在于，增大所述第一恒流电流的值，包括：等差增大、等比增大、线性增大、对数增大或者指数增大所述第一恒流电流的值。4.如权利要求1所述的器件寿命测试方法，其特征在于，根据所述第一器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第一恒流电流下的第一器件最大亮度，包括：根据所述第一器件亮度变化信息，若确定出所述待测试器件在第一目标时刻的器件亮度大于所述第一目标时刻前一时刻的器件亮度，又大于所述第一目标时刻后一时刻的器件亮度，则判断所述待测试器件在所述第一目标时刻达到所述第一恒流电流下的最大亮度。5.如所述权利要求2所述的器件寿命测试方法，其特征在于，根据所述第二器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第二恒流电流下的第二器件最大亮度，包括：根据所述第二器件亮度变化信息，若确定出所述待测试器件在第二目标时刻的器件亮度大于所述第二目标时刻前一时刻的器件亮度，又大于所述第二目标时刻后一时刻的器件亮度，则判断所述待测试器件在所述第二目标时刻达到所述第二恒流电流下的最大亮度。6.如权利要求1所述的器件寿命测试方法，其特征在于，所述方法还包括：获取由亮度计测量的参考亮度，所述参考亮度为所述待测试器件在参考时刻对应的亮度。7.如权利要求4所述的器件寿命测试方法，其特征在于，所述参考亮度包括：由亮度计测得的第一器件最大亮度、由亮度计测得的第二器件最大亮度，或者由亮度计测得的所述待测试器件的结束亮度。8.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪佳婷，敖资通，芦子哲，柳春美，贺晓光，严围，
申请(专利权)人：TCL科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：