温度控制方法与数据存储系统技术方案

技术编号:33995362 阅读:67 留言:0更新日期:2022-07-02 10:44
本发明专利技术提供一种温度控制方法与数据存储系统。所述方法包括:检测存储器装置是否处于忙碌状态;检测所述存储器装置的温度是否高于第一门槛值;响应于所述存储器装置处于所述忙碌状态且所述存储器装置的所述温度高于所述第一门槛值,指示所述存储器装置执行降温程序;以及响应于所述存储器装置不处于所述忙碌状态且所述存储器装置的所述温度低于第二门槛值,指示所述存储器装置结束所述降温程序。因此,可提高对于存储器装置的温度控制能力。可提高对于存储器装置的温度控制能力。可提高对于存储器装置的温度控制能力。

【技术实现步骤摘要】
温度控制方法与数据存储系统


[0001]本专利技术涉及一种温度控制技术,且尤其涉及一种温度控制方法与数据存储系统。

技术介绍

[0002]一般来说,存储器装置或其他类型的电子装置普遍都内建有温度控制机制。当装置内部的温度过高时,此温度控制机制就可被启动以进行降温。然而,大部分的电子装置所采用的温度控制机制都是根据厂商评估的温度变化曲线所预先设定的。以存储器装置为例,当温度高于默认的门槛值时,存储器装置一般可采用默认的降温手段(例如降低数据存取效能)来进行降温。但是,实际在存储器装置与主机系统的配合操作中,当存储器装置处于忙碌状态时,即便存储器装置的温度暂时下降,但一旦停止降温程序则存储器装置的温度可能会马上又飙高。反复的启动与停止降温程序除了容易造成存储器装置的存取效能不稳定外,也可能导致存储器装置降温不及而造成装置损坏。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种温度控制方法与数据存储系统,可提高对于存储器装置的温度控制能力。
[0004]本专利技术的实施例提供一种温度控制方法,其用于控制存储器装置的温度,所述温度控制方法包括:检测所述存储器装置是否处于忙碌状态;检测所述存储器装置的所述温度是否高于第一门槛值;响应于所述存储器装置处于所述忙碌状态且所述存储器装置的所述温度高于所述第一门槛值,指示所述存储器装置执行降温程序;以及响应于所述存储器装置不处于所述忙碌状态且所述存储器装置的所述温度低于第二门槛值,指示所述存储器装置结束所述降温程序。
[0005]本专利技术的实施例另提供一种数据存储系统,其包括主机系统与存储器装置。所述存储器装置连接至所述主机系统。所述主机系统用以检测所述存储器装置是否处于忙碌状态。所述主机系统更用以检测所述存储器装置的温度是否高于第一门槛值。所述主机系统更用以响应于所述存储器装置处于所述忙碌状态且所述存储器装置的所述温度高于所述第一门槛值,指示所述存储器装置执行降温程序。所述主机系统更用以响应于所述存储器装置不处于所述忙碌状态且所述存储器装置的所述温度低于第二门槛值,指示所述存储器装置结束所述降温程序。
[0006]基于上述,本专利技术可根据存储器装置是否处于忙碌状态以及存储器装置的温度是否高于第一门槛值(或低于第二门槛值)来作为是否启动(或停止)降温程序的双重验证。藉此,可有效提高对于存储器装置的温度控制能力。
附图说明
[0007]图1是根据本专利技术的实施例所示出的数据存储系统的示意图;
[0008]图2是根据本专利技术的实施例所示出的计数值与存储器装置的累积忙碌时间之间的
对应的示意图;
[0009]图3是根据本专利技术的实施例所示出的第一计数值与第二计数值在时间上的相关关系的示意图;
[0010]图4是根据本专利技术的实施例所示出的温度控制方法的流程图。
具体实施方式
[0011]现将详细地参考本专利技术的示范性实施例,示范性实施例的实例说明于附图中。只要有可能,相同元件符号在附图和描述中用来表示相同或相似部分。
[0012]图1是根据本专利技术的实施例所示出的数据存储系统的示意图。请参照图1,数据存储系统10包括主机系统11与存储器装置12。主机系统11可将数据存储至存储器装置12中,或从存储器装置12中读取数据。例如,主机系统11为可实质地与存储器装置12配合以存储数据的任意系统,例如,计算机系统、数码相机、摄相机、通信装置、音频播放器、视频播放器或平板计算机等,而存储器装置12则可为U盘、存储卡、固态硬盘(Solid State Drive,SSD)、安全数字(Secure Digital,SD)卡、小型快闪(Compact Flash,CF)卡或嵌入式存储装置等各式非易失性存储器装置。
[0013]在本实施例中,主机系统11包括处理器111与连接接口112。处理器111可包括中央处理单元(CPU)、或是其他可编程的一般用途或特殊用途的微处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、可编程控制器、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuits,ASIC)、可编程逻辑器件(Programmable Logic Device,PLD)或其他类似装置或这些装置的组合。处理器111用以控制主机系统11的整体或部分运作。以下实施例中,对主机系统11的操作的描述可等同于对处理器111的操作的描述。
[0014]连接接口112连接至处理器111并用以将数据传输至存储器装置12或从存储器装置12接收数据。在一实施例中,主机系统11还包含任何实务上所需的硬件装置,例如电池单元、网络接口卡、键盘(或触控板)、屏幕和/或扬声器等等。
[0015]存储器装置12包括连接接口121、存储器控制器122及存储器模块123。连接接口121用以连接主机系统11的连接接口112并经由连接接口112与主机系统11通信。在一实施例中,连接接口112与121符合NVM Express(NVMe)接口规范。在另一实施例中,连接接口112与121亦可以符合串行高级技术附件(Serial Advanced Technology Attachment,SATA)、并行高级技术附件(Parallel Advanced Technology Attachment,PATA)、高速周边零件连接接口(Peripheral Component Interconnect Express,PCI Express)或通用串行总线(Universal Serial Bus,USB)等各式连接接口标准。
[0016]存储器控制器122连接至连接接口121与存储器模块123。存储器控制器122用以执行以硬件型式或固件型式实作的多个逻辑门或控制指令并且根据主机系统11的指令在存储器模块123中进行数据的写入、读取与抹除等运作。此外,存储器控制器122也可控制存储器装置12的整体运作。在一实施例中,存储器控制器122亦称为快闪存储器控制器。
[0017]存储器模块123用以存储主机系统11所写入的数据。例如,存储器模块123可包括单阶单元(single level cell,SLC)NAND型快闪存储器模块(即,一个存储单元可存储1个比特的快闪存储器模块)、多阶单元(multi level cell,MLC)NAND型快闪存储器模块(即,一个存储单元可存储2个比特的快闪存储器模块)、三阶单元(triple level cell,TLC)
NAND型快闪存储器模块(即,一个存储单元可存储3个比特的快闪存储器模块)和/或四阶单元(quad level cell,QLC)NAND型快闪存储器模块(即,一个存储单元可存储4个比特的快闪存储器模块)。此外,存储器模块123中的存储单元是以临界电压的改变来存储数据。
[0018]在一实施例中,主机系统11可检测存储器装置12是否处于忙碌状态。在忙碌状态下,由于存储器装置12可能需要持续处理来自主机系统11的指令和/或执行其他数据存取本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种温度控制方法,其特征在于,用于控制存储器装置的温度,所述温度控制方法包括:检测所述存储器装置是否处于忙碌状态;检测所述存储器装置的所述温度是否高于第一门槛值;响应于所述存储器装置处于所述忙碌状态且所述存储器装置的所述温度高于所述第一门槛值,指示所述存储器装置执行降温程序;以及响应于所述存储器装置不处于所述忙碌状态且所述存储器装置的所述温度低于第二门槛值,指示所述存储器装置结束所述降温程序。2.根据权利要求1所述的温度控制方法,其中检测所述存储器装置是否处于所述忙碌状态的步骤包括:从所述存储器装置读取计数值,其中所述计数值反映所述存储器装置处于所述忙碌状态的累积时间长度;以及根据所述计数值来决定所述存储器装置是否处于所述忙碌状态。3.根据权利要求2所述的温度控制方法,其中所述计数值包括于第一时间点从所述存储器装置读取的第一计数值与于第二时间点从所述存储器装置读取的第二计数值,所述第二时间点晚于所述第一时间点,且根据所述计数值来决定所述存储器装置是否处于所述忙碌状态的步骤包括:根据所述第一计数值与所述第二计数值之间的数值相对关系决定所述存储器装置是否处于所述忙碌状态。4.根据权利要求3所述的温度控制方法,其中根据所述第一计数值与所述第二计数值之间的所述数值相对关系决定所述存储器装置是否处于所述忙碌状态的步骤包括:若所述第二计数值大于所述第一计数值,判定所述存储器装置处于所述忙碌状态;以及若所述第二计数值不大于所述第一计数值,判定所述存储器装置不处于所述忙碌状态。5.根据权利要求2所述的温度控制方法,还包括:响应于所述存储器装置处于所述忙碌状态的时间增加默认时间长度,由所述存储器装置更新所述计数值。6.一种数据存储系统,其特征在于,包括:主机系统...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄意中傅子瑜
申请(专利权)人:宏碁股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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