一种产品测试方法、装置、终端设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种产品测试方法、装置、存储介质及终端设备，所述方法包括：获取测试请求信息，并根据所述测试请求信息确定与待测产品对应的产品类型；根据所述产品类型，确定与所述产品类型所对应的测试指令；将所述测试指令发送至所述待测产品，以对所述待测产品进行测试。本发明专利技术通过获取待测产品的产品类型，并根据产品类型确定对应的测试指令，以便所述待测产品可根据确定的测试指令进行性能测试，即便是针对不同产品类型的待测产品都可以获取到对应的测试指令进行测试，无需更换测试上位机，实现测试流程的通用，提高测试效率。提高测试效率。提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种产品测试方法、装置、终端设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及产品测试
，尤其涉及产品测试方法方法、装置、终端设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在产品生产阶段，需要对各个产品进行生产测试。由于每个产品的功能都不一样，且测试流程也并不通用。因此在对每个产品进行测试时，是需要分别对不同的产品进行不一样的测试，具体测试时需要更换测试模式，甚至是更换或者更新用于测试的上位机，以实现对不同产品的测试。可见，现有技术中的产品测试过程繁琐且不通用，并且不断更像的测试模式与上位机容易导致测试成本的增加。
[0003]因此，现有技术还有待改进和提高。

技术实现思路

[0004]本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种产品测试方法、装置、终端设备及存储介质，旨在解决现有技术中的产品测试过程繁琐且不通用，并且不断更像的测试模式与上位机容易导致测试成本的增加的问题。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术所采用的技术方案如下：
[0006]第一方面，本专利技术提供一种产品测试方法，其中，所述方法包括：
[0007]获取测试请求信息，并根据所述测试请求信息确定与待测产品对应的产品类型；
[0008]根据所述产品类型，确定与所述产品类型所对应的测试指令；
[0009]将所述测试指令发送至所述待测产品，以对所述待测产品进行测试。
[0010]在一种实现方式中，所述获取测试请求信息，并根据所述测试请求信息确定与待测产品对应的产品类型，包括：
[0011]对所述测试请求信息进行解析，得到所述测试请求信息中的产品描述信息；
[0012]根据所述产品描述信息，确定所述待测产品的产品类型。
[0013]在一种实现方式中，所述根据所述产品描述信息，确定所述待测产品的产品类型，包括：
[0014]获取所述产品描述信息中的产品名称信息以及产品功能信息；
[0015]根据所述产品名称信息以及所述产品功能信息，确定所述待测产品的产品类型。
[0016]在一种实现方式中，所述根据所述产品类型，确定与所述产品类型所对应的测试指令，包括：
[0017]根据所述产品类型，确定与所述产品类型所对应的测试项目，其中，所述测试项目用于反映所述产品类型对应的待测产品在进行测试时所需要完成的测试内容；
[0018]根据所述测试项目，确定与所述测试项目对应的测试指令。
[0019]在一种实现方式中，所述根据所述产品类型，确定与所述产品类型所对应的测试项目，包括：
[0020]根据所述产品类型，确定与所述产品类型所对应的测试内容的编号信息；
[0021]根据所述测试内容的编号信息，确定与所述测试内容的编号信息对应的测试项目。
[0022]在一种实现方式中，所述根据所述测试项目，确定与所述测试项目对应的测试指令，包括：
[0023]根据所述测试项目，获取与所述测试项目所对应的测试内容名称信息与测试内容参数信息；
[0024]根据所述测试内容名称信息以及所述测试内容参数信息，生成所述测试指令。
[0025]在一种实现方式中，所述将所述测试指令发送至所述待测产品，以对所述待测产品进行测试，包括：
[0026]将所述测试指令发送至所述待测产品，并接收所述待测产品根据所述测试指令进行测试后所生成测试结果；
[0027]根据所述测试结果，下发测试结束指令，以完成对所述待测产品的测试。
[0028]第二方面，本专利技术实施例还提供一种产品测试装置，其中，所述装置包括：
[0029]产品类型确定单元，用于获取测试请求信息，并根据所述测试请求信息确定与待测产品对应的产品类型；
[0030]测试指令确定单元，用于根据所述产品类型，确定与所述产品类型所对应的测试指令；
[0031]测试指令下发单元，用于将所述测试指令发送至所述待测产品，以对所述待测产品进行测试。
[0032]第三方面，本专利技术实施例还提供一种终端设备，其中，所述终端设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的产品测试程序，所述产品测试程序被所述处理器执行时，实现如上述方案中任一项所述的产品测试方法的步骤。
[0033]第四方面，本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有产品测试程序，所述产品测试程序被处理器执行时，实现如上述方案中任一项所述的产品测试方法的步骤。
[0034]有益效果：与现有技术相比，本专利技术提供了一种产品测试方法，首先，本专利技术获取测试请求信息，并根据所述测试请求信息确定与待测产品对应的产品类型。由于在对不同产品类型的待测产品进行测试时，所测试的项目是不相同的，为了实现测试流程的通用，本专利技术在确定出产品类型后，可根据所述产品类型，确定与所述产品类型所对应的测试指令。该测试指令是用于执行待测产品的测试流程的，因此本专利技术可将所述测试指令发送至所述待测产品，以对所述待测产品进行测试，从而完成所述待测产品的测试。可见，本专利技术是根据产品类型来获取对应的测试指令，通过获取到的测试指令来实现对待测产品的测试，即便是针对不同产品类型的待测产品都可以获取到对应的测试指令来进行测试，无需更换测试上位机，实现测试流程的通用，提高了测试效率。
附图说明
[0035]图1为本专利技术实施例提供的产品测试方法的具体实施方式的流程图。
[0036]图2为本专利技术实施例提供的产品测试方法中确定产品类型的流程图。
[0037]图3为本专利技术实施例提供的产品测试方法中确定测试指令的流程图。
[0038]图4为本专利技术实施例提供的产品测试方法中测试内容的示意图。
[0039]图5为本专利技术实施例提供的产品测试方法中下发测试指令的流程图。
[0040]图6是本专利技术实施例提供的产品测试装置的原理框图。
[0041]图7是本专利技术实施例提供的终端设备的内部结构原理框图。
具体实施方式
[0042]为使本专利技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本专利技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0043]在产品生产阶段，需要对各个产品进行生产测试。由于每个产品的功能都不一样，且测试流程也并不通用。因此在对每个产品进行测试时，是需要分别对不同的产品进行不一样的测试，具体测试时需要更换测试模式，甚至是更换或者更新用于测试的上位机，以实现对不同产品的测试。可见，现有技术中的产品测试过程繁琐且不通用，并且不断更像的测试模式与上位机容易导致测试成本的增加。并且，在具体应用时，由于某个产品设备可能会存在多个部件需要进行测试，而在现有技术中的测试过程中，所有需要测试的部件是不会同时到达的，需要所有的部件全部到达后才可以进行测试，且因各个部件的测试项目不相同，因此采用不同的测试流程或需要更换测试上位机才能实现测试，从而影响了产品的测试效率。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种产品测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取测试请求信息，并根据所述测试请求信息确定与待测产品对应的产品类型；根据所述产品类型，确定与所述产品类型所对应的测试指令；将所述测试指令发送至所述待测产品，以对所述待测产品进行测试。2.根据权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，所述获取测试请求信息，并根据所述测试请求信息确定与待测产品对应的产品类型，包括：对所述测试请求信息进行解析，得到所述测试请求信息中的产品描述信息；根据所述产品描述信息，确定所述待测产品的产品类型。3.根据权利要求2所述的产品测试方法，其特征在于，所述根据所述产品描述信息，确定所述待测产品的产品类型，包括：获取所述产品描述信息中的产品名称信息以及产品功能信息；根据所述产品名称信息以及所述产品功能信息，确定所述待测产品的产品类型。4.根据权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，所述根据所述产品类型，确定与所述产品类型所对应的测试指令，包括：根据所述产品类型，确定与所述产品类型所对应的测试项目，其中，所述测试项目用于反映所述产品类型对应的待测产品在进行测试时所需要完成的测试内容；根据所述测试项目，确定与所述测试项目对应的测试指令。5.根据权利要求4所述的产品测试方法，其特征在于，所述根据所述产品类型，确定与所述产品类型所对应的测试项目，包括：根据所述产品类型，确定与所述产品类型所对应的测试内容的编号信息；根据所述测试内容的编号信息，确定与所述测试内容的编号信息对应的测试项目。6.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：关翦泰，
申请(专利权)人：深圳TCL新技术有限公司，
类型：发明
国别省市：